디스플레이 모듈
    3.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2022025394A1

    公开(公告)日:2022-02-03

    申请号:PCT/KR2021/005553

    申请日:2021-05-03

    Abstract: 디스플레이 모듈이 개시된다. 디스플레이 모듈은 글라스 기판과 글라스 기판의 일면에 형성된 TFT(Thin Film Transistor) 층을 포함하는 TFT 기판과, TFT 층에 형성된 다수의 TFT 전극에 전기적으로 연결된 다수의 LED(Light Emitting Diode)를 포함하며, TFT 층은 다수의 LED에 각각 병렬로 연결되어 TFT 층에 발생하는 정전기를 흡수하는 다수의 희생 스위칭 소자를 포함한다.

    디스플레이 모듈, 디스플레이 장치 및 그 제조방법

    公开(公告)号:WO2022225214A1

    公开(公告)日:2022-10-27

    申请号:PCT/KR2022/004369

    申请日:2022-03-29

    Inventor: 정영기 정철규

    Abstract: 2차원으로 배열되는 복수의 픽셀을 포함하는 일 실시예에 따른 디스플레이 모듈은, 투명 기판과, 상기 투명 기판 상에 배치되는 픽셀 회로층과 복수의 전원 전극층을 포함하는 백플레이트; 및 상기 백플레이트 상에 배치되는 복수의 무기 발광 소자;를 포함하는 디스플레이 패널; 및 상기 디스플레이 패널 후방에 배치되는 이미지 센서;를 포함하고, 상기 복수의 픽셀 각각은, 상기 복수의 무기 발광 소자 중 둘 이상의 무기 발광 소자로 이루어지고, 상기 디스플레이 패널은, 상기 이미지 센서의 위치에 대응하는 영역에 형성되며, 외부의 빛이 상기 이미지 센서로 입사되도록 마련되는 복수의 투명 영역;을 포함하고, 상기 복수의 투명 영역 각각은, 상기 복수의 픽셀 중 둘 이상의 픽셀 각각의 개구부(aperture) 사이에 마련되고, 상기 복수의 전원 전극층 각각에 형성되어 일 방향으로 중첩되는 복수의 핀홀을 포함한다.

    디스플레이 패널 및 이를 이용한 대형 디스플레이 장치

    公开(公告)号:WO2020017823A1

    公开(公告)日:2020-01-23

    申请号:PCT/KR2019/008546

    申请日:2019-07-11

    Abstract: 디스플레이 기판이 개시된다. 개시된 디스플레이 기판은 박막 트랜지스터 기판; 박막 트랜지스터 기판의 일면에 배열된 다수의 마이크로 엘이디; 및 일면이 박막 트랜지스터 기판의 타면에 결합되고 테두리의 적어도 일부가 박막 트랜지스터 기판의 테두리보다 돌출되어 박막 트랜지스터 기판과 함께 단차부를 형성한 후방 기판; 및 박막 트랜지스터 기판의 일면과 후방 기판의 타면을 전기적으로 연결하도록 단차부와 후방 기판의 타면에 형성되는 다수의 배선;을 구비할 수 있다.

    발광 다이오드 및 이를 이용한 디스플레이 모듈

    公开(公告)号:WO2022244931A1

    公开(公告)日:2022-11-24

    申请号:PCT/KR2021/016123

    申请日:2021-11-08

    Abstract: 발광 다이오드 및 이를 이용하는 디스플레이 모듈이 개시된다. 개시된 발광 다이오드는 제1 반도체 층과, 제1 반도체 층 상에 제공된 활성 층과, 활성 층 상에 제공된 제2 반도체 층과, 제2 반도체 층의 상면의 제1 부분과 제2 반도체 층의 제1 측면의 일부를 덮는 제1 칩 전극과, 상기 제2 반도체 층의 상면의 제1 부분과 다른 제2 반도체 층의 상면의 제2 부분을 덮고 상기 제2 반도체 층의 제1 측면과 다른 제2 반도체 층의 제2 측면을 덮는 제2 칩 전극을 포함한다.

    디스플레이 모듈
    7.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2022086038A1

    公开(公告)日:2022-04-28

    申请号:PCT/KR2021/014142

    申请日:2021-10-13

    Abstract: 디스플레이 모듈이 개시된다. 디스플레이 모듈은 기판과, 기판에 형성된 다수의 실장 홈에 마련되고 제1 칩 전극과 제2 칩 전극을 가지는 다수의 무기 발광 다이오드와, 각 실장 홈의 바닥면에 마련되고 제1 칩 전극에 전기적으로 연결되는 제1 기판 전극 패드와 상기 제2 칩 전극에 전기적으로 연결되는 제2 기판 전극 패드 및 실장 홈의 주변에 마련된 제3 기판 전극 패드와 제4 기판 전극 패드를 포함할 수 있다.

    디스플레이 장치, 발광 다이오드 모듈

    公开(公告)号:WO2022015126A1

    公开(公告)日:2022-01-20

    申请号:PCT/KR2021/095056

    申请日:2021-05-26

    Abstract: 발광 다이오드 모듈의 각 영역별로 영상 출력을 제어하여 고화질의 영상을 효율적으로 출력할 수 있는 발광 다이오드 모듈은 유리 기판; 상기 유리 기판 상부에 형성되고, 수동 매트릭스(Passive matrix)회로로 연결된 복수의 전극을 포함하는 신호 배선층; 및 상기 복수의 전극과 연결되고 상기 유리 기판을 향하여 발광하도록 마련된 복수의 발광 다이오드 모듈;을 포함하고, 상기 신호 배선층은, 상기 발광 다이오드 모듈을 복수의 단위 영역으로 구분하는 경계 영역을 포함할 수 있다.

    픽업 유니트 검사장치
    9.
    发明公开
    픽업 유니트 검사장치 失效
    检验单位的设备

    公开(公告)号:KR1020020060514A

    公开(公告)日:2002-07-18

    申请号:KR1020010001640

    申请日:2001-01-11

    Abstract: PURPOSE: A device for inspecting pickup units is provided to inspect characteristics of the various models of pickup units, without transforming the inspecting device according to models of the pickup units. CONSTITUTION: An inspected pickup unit(22) is separated from an optical disk(D). A signal amplifier(23) amplifies a signal detected by the pickup unit, for outputting. A pickup signal measurer(24) measures and analyzes a detection signal amplified by the signal amplifier, and outputs an analyzed result. A spindle motor rotates the optical disk. A feed motor(21) adjusts a position of the optical disk. The spindle motor and the feed motor are driven by driving signals amplified to an appropriate size by the signal amplifier. An inspecting computer(25) includes an inspection unit(26), an input unit(27) and a display unit(28). The display unit displays the analyzed result by the pickup signal measurer. The inspection unit is composed of a servo controller(26a), a ROM(Read Only Memory,26b) and a RAM(Random Access Memory,26c). The RAM stores reference data inputted by the input unit and corresponding to a model of the inspected pickup unit. The ROM stores a program to control a series of inspection processes. And the servo controller reads the program from the ROM to perform the inspection processes.

    Abstract translation: 目的:提供用于检查拾取单元的装置,用于检查各种型号的拾取单元的特性,而不会根据拾取单元的型号转换检查装置。 构成:被检测的拾取单元(22)与光盘(D)分离。 信号放大器(23)放大由拾取单元检测到的信号,用于输出。 拾取信号测量器(24)测量并分析由信号放大器放大的检测信号,并输出分析结果。 主轴电机旋转光盘。 进给电动机(21)调整光盘的位置。 主轴电动机和进给电动机由信号放大器通过放大到适当尺寸的驱动信号驱动。 检查计算机(25)包括检查单元(26),输入单元(27)和显示单元(28)。 显示单元通过拾取信号测量器显示分析结果。 检查单元由伺服控制器(26a),ROM(只读存储器26b)和RAM(随机存取存储器26c)构成。 RAM存储由输入单元输入并对应于所检查的拾取单元的模型的参考数据。 ROM存储一个程序来控制一系列检查过程。 并且伺服控制器从ROM读取程序以执行检查过程。

    테스트시퀀스데이터의압축방법
    10.
    发明授权
    테스트시퀀스데이터의압축방법 失效
    如何压缩测试序列数据

    公开(公告)号:KR100311013B1

    公开(公告)日:2001-11-22

    申请号:KR1019980026970

    申请日:1998-07-04

    Inventor: 정영기

    Abstract: 본 발명의 테스트 시퀀스 데이터의 압축 방법은, 인쇄회로기판에 실장된 집적회로소자의 입력핀에 인가될 테스트 시퀀스 데이터가 저장되는 핀 램; 및 핀 램의 출력 시퀀스에 따른 어드레스를 저장하기 위한 시퀀서 램;이 마련된 인쇄회로기판 검사 시스템에 적용될 테스트 시퀀스 데이터의 압축 방법이다. 이 방법은, 테스트 시퀀스 데이터 중에서 서로 중복되지 않은 단위 시퀀스 데이터를 구하고 구해진 단위 시퀀스 데이터에 일련 번호를 부여하여, 핀 램에 저장될 데이터 리스트를 구하는 단계 (a)를 포함한다. 테스트 시퀀스 데이터는 일련 번호의 리스트로 변환되어, 시퀀서 램에 저장될 시퀀스 리스트가 구해진다(단계 b). 이 시퀀스 리스트에서 반복 연속되는 번호의 블록은 또다른 번호로 치환되고, 그 정보가 데이터 리스트에 추가된다(단계 c). 시퀀스 리스트의 인접 번호쌍들 중에서 그 반복 횟수가 가장 많은 인접 번호쌍이 또다른 번호로 치환되고, 그 정보가 데이터 리스트에 추가된다(단계 d). 시퀀스 리스트의 각각의 인접 번호쌍에 대하여, 데이터 리스트에서 중복 사용된 횟수가 그 반복 횟수와 같아질 때까지 단계 (d)가 반복 수행된다(단계 e).

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