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    방사선 영상 촬영 장치 및 방법
    11.
    发明公开
    방사선 영상 촬영 장치 및 방법 无效
    摄影摄影图像的装置和方法

    公开(公告)号：KR1020140104399A

    公开(公告)日：2014-08-28

    申请号：KR1020140092161

    申请日：2014-07-21

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 박준영

    IPC: A61B6/00 ,  A61B6/03

    Abstract: The present invention relates to a method for photographing a radiography image using an apparatus for photographing a radiography image. According to an embodiment of the present invention, the method for photographing a radiography image includes a step of displaying the parameter value of an apparatus for photographing a radiography image with regard to the preset part of an object and a preview image corresponding to the parameter value; a step of changing the parameter value or the preview image based on the input of a user; and a step of changing the parameter value according to the changed preview image or changing the preview image according to the changed parameter value.

    Abstract translation: 本发明涉及使用摄影摄影图像的装置拍摄放射线图像的方法。 根据本发明的实施例，拍摄放射线照相图像的方法包括以下步骤：对于与物体的预设部分相关的用于拍摄放射线照相图像的装置的参数值和对应于参数值的预览图像 ; 基于用户的输入来改变参数值或预览图像的步骤; 以及根据改变的预览图像改变参数值或者根据改变的参数值改变预览图像的步骤。

    온 다이 터미네이션을 포함하는 반도체 메모리 장치, 메모리 콘트롤러, 메모리 시스템 및 온 다이 터미네이션 제어방법
    12.
    发明公开
    온 다이 터미네이션을 포함하는 반도체 메모리 장치, 메모리 콘트롤러, 메모리 시스템 및 온 다이 터미네이션 제어방법 无效
    半导体存储器件，存储器控制器和存储器终端的存储器系统及其控制终端的方法

    公开(公告)号：KR1020130003551A

    公开(公告)日：2013-01-09

    申请号：KR1020110064966

    申请日：2011-06-30

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 박준영

    IPC: G11C7/10

    CPC classification number: H03K19/003 ,  G11C7/1057 ,  G11C7/1084 ,  H03K19/017509

    Abstract: PURPOSE: A semiconductor memory device including an on-die termination, a memory controller, a memory system, and a method for controlling the on-die termination are provided to improve the fidelity of a signal by preventing the change of an ODT(on-die termination) equivalent resistance in an operation state combination of different chips and confliction due to the skew of the ODT control timing. CONSTITUTION: A first memory chip(1210) includes a first pad to receive a first signal and a first ODT unit(1213) which is electrically connected to the first pad. The first pad is connected to a first terminal of the semiconductor memory device. A second memory chip(1220) includes a second pad to receive the first signal and a second ODT unit(1223) which is electrically connected to the second pad. The second pad is connected to the first terminal of the semiconductor memory device. One of the first ODT unit and the second ODT unit is on or off according to a memory operation and the other is off regardless of the memory operation. The ODT unit which is on or off is changed to the first ODT unit or the second ODT unit.

    Abstract translation: 目的：提供包括片上终端，存储器控制器，存储器系统和用于控制片上端接的方法的半导体存储器件，以通过防止ODT的变化来提高信号的保真度（on- 芯片端接）不同芯片的操作状态组合中的等效电阻和由于ODT控制时序的偏斜引起的冲突。 构成：第一存储器芯片（1210）包括用于接收第一信号的第一焊盘和电连接到第一焊盘的第一ODT单元（1213）。 第一焊盘连接到半导体存储器件的第一端子。 第二存储器芯片（1220）包括用于接收第一信号的第二焊盘和电连接到第二焊盘的第二ODT单元（1223）。 第二焊盘连接到半导体存储器件的第一端子。 根据存储器操作，第一个ODT单元和第二个ODT单元中的一个是开或关，另一个关闭而不管存储器操作。 打开或关闭的ODT单元被改变为第一ODT单元或第二ODT单元。

    반도체 칩 오픈 테스트 회로 및 이를 포함한 반도체 칩 테스트 시스템
    13.
    发明公开
    반도체 칩 오픈 테스트 회로 및 이를 포함한 반도체 칩 테스트 시스템 无效
    半导体芯片打开测试电路和包括其中的半导体芯片测试系统

    公开(公告)号：KR1020100049755A

    公开(公告)日：2010-05-13

    申请号：KR1020080108714

    申请日：2008-11-04

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 최훈대 ,  박준영 ,  장영찬 ,  신성철

    IPC: G11C29/00 ,  G11C11/36 ,  G11C5/14

    CPC classification number: G01R31/2812 ,  G11C29/025 ,  G11C29/50 ,  G11C2029/5004 ,  H02H9/046

    Abstract: PURPOSE: A semiconductor chip open test circuit and a semiconductor chip test system including the same are provided to accurately determine the open state of a semiconductor chip electrode by connecting a negative voltage line inputted with a negative voltage, which is lower than a ground voltage, to a protective diode. CONSTITUTION: A test node(210) is short circuited with an electrode of a semiconductor chip connected between a first protection diode connected to a source voltage line and a second protection diode connected to a grounded voltage line. A current source(240) applies a negative current to the test node. An ESD(Electric Static Discharge) protection part(220) comprises a third protection diode connected to the source voltage line and a fourth protection diode connected to the negative voltage line.

    Abstract translation: 目的：提供一种半导体芯片开路测试电路及其半导体芯片测试系统，用于通过连接输入低于接地电压的负电压的负电压线来精确地确定半导体芯片电极的开路状态， 到保护二极管。 构成：测试节点（210）与连接到连接到源极电压线的第一保护二极管和连接到接地电压线的第二保护二极管之间的半导体芯片的电极短路。 电流源（240）向测试节点施加负电流。 ESD（静电放电）保护部件（220）包括连接到源电压线的第三保护二极管和连接到负电压线的第四保护二极管。

    단층 영상 처리 장치 및 단층 영상 처리 방법
    14.
    发明授权
    단층 영상 처리 장치 및 단층 영상 처리 방법 有权
    断层图像处理设备和断层图像处理方法

    公开(公告)号：KR101844513B1

    公开(公告)日：2018-04-02

    申请号：KR1020160102440

    申请日：2016-08-11

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 박준영 ,  정연모

    IPC: A61B6/00 ,  A61B6/03

    CPC classification number: G06T11/003 ,  G06T11/005 ,  G06T2211/421

    Abstract: 단층영상처리장치및 단층영상처리방법이개시된다. 개시된일 실시예에따른단층영상처리장치는, 선택된대상체의단면에대응하는제2 로데이터에복수의필터를적용하여복수의프리뷰영상을생성하고, 복수의프리뷰영상중에서선택된프리뷰영상에적용된필터를선택된대상체의단면을포함하는대상체의영역에대응하는제1 로데이터에적용하여단층영상을재구성하는프로세서, 및재구성된단층영상을표시하는디스플레이를포함할수 있다.

    Abstract translation: 公开了断层图像处理设备和断层图像处理方法。 根据本文公开的一个实施例中的单层的图像处理装置应用到多个过滤器，以在所述第二对应于所选对象的横截面，以产生多个预览图像的数据，所述过滤器应用于从多个预览图像中选择的预览图像 处理器，用于通过将对应于包括所选对象的横截面的对象的区域的第一数据应用于第一数据来重建断层图像，以及用于显示重建的断层图像的显示器。

    전자 장치 및 전자 장치의 동작 제어 방법
    16.
    发明公开
    전자 장치 및 전자 장치의 동작 제어 방법 审中-实审
    电子设备和操作控制方法

    公开(公告)号：KR1020170098059A

    公开(公告)日：2017-08-29

    申请号：KR1020160019958

    申请日：2016-02-19

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 이우용 ,  권범준 ,  박재열 ,  박준영 ,  이기혁

    IPC: H04N5/232 ,  H04N5/225 ,  H04N5/235

    CPC classification number: H04N5/23216 ,  H04N5/2257 ,  H04N5/23229 ,  H04N5/23245 ,  H04N5/23293 ,  H04N5/772 ,  H04N5/907

    Abstract: 본발명의일 실시예에의한전자장치는, 디스플레이, 카메라모듈, 상기디스플레이및 상기카메라모듈에전기적으로연결된프로세서및 상기프로세서에전기적으로연결된메모리를포함할수 있다. 상기메모리는, 실행시에, 상기프로세서가, 상기전자장치의상태를모니터링하고, 모니터링결과에적어도일부기초하여카메라관련어플리케이션의실행을제어하도록하는인스트럭션들을저장할수 있다. 이밖의다양한실시예들이가능하다.

    Abstract translation: 根据本发明实施例的电子设备可以包括显示器，相机模块，电连接到显示器和相机模块的处理器以及电耦合到处理器的存储器。 存储器可存储在运行时使处理器监视电子设备的状态并至少部分地基于监视结果控制摄像机相关应用的执行的指令。 各种其他实施例是可能的。

    반도체 소자 및 이를 포함하는 테스트 장치
    18.
    发明授权
    반도체 소자 및 이를 포함하는 테스트 장치 有权
    半导体装置及具有该半导体装置的测试装置

    公开(公告)号：KR101640831B1

    公开(公告)日：2016-07-20

    申请号：KR1020100023407

    申请日：2010-03-16

    Applicant: 삼성전자주식회사 ,  포항공과대학교 산학협력단

    Inventor： 송기재 ,  장웅진 ,  박준영 ,  이승구 ,  연홍석

    IPC: G01R31/319 ,  G01R31/3183 ,  G11C29/56

    CPC classification number: G01R31/31922 ,  G11C29/56 ,  G11C29/56012

    Abstract: 반도체소자및 테스트장치에관해개시한다. 이를위해본 발명은, 제 1 클럭과동기화된직렬커맨드(serial command)를수신하고, 상기직렬커맨드를병렬커맨드(parallel command)로변환하도록구성된커맨드분배기(command distributor), 상기병렬커맨드를수신하고, 상기병렬커맨드를기초로패턴시퀀스(pattern sequence)를생성하도록구성된커맨드디코더(command decoder), 및상기패턴시퀀스를수신하여제 2 클럭과동기화된동작신호들을생성하도록구성된신호생성기(signal generator)를포함하고, 상기제 1 클럭의주파수는상기제 2 클럭의주파수보다작은것을특징으로하는반도체소자를제공한다.

    의료 영상 처리 장치 및 그에 따른 의료 영상 처리 방법
    20.
    发明公开
    의료 영상 처리 장치 및 그에 따른 의료 영상 처리 방법 有权
    摄影医学图像的装置及其医疗图像处理方法

    公开(公告)号：KR1020160035538A

    公开(公告)日：2016-03-31

    申请号：KR1020150073926

    申请日：2015-05-27

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 박준영 ,  데사이나시르 ,  정연모 ,  메흐로트라아브히나브

    IPC: A61B6/03 ,  G06T1/00 ,  A61B6/00

    Abstract: 대상체에대한단면영상을재구성하는프로세싱유닛들을복수개포함하는영상처리부; 및복수개의프로세싱유닛들의고장여부를감지하고, 감지결과에근거하여, 복수개의프로세싱유닛들중 적어도하나에제 1 우선순위를갖는단면영상의재구성동작인제 1 동작및 제 1 우선순위보다낮은우선순위인제 2 우선순위를갖는단면영상의재구성동작인제 2 동작중 적어도하나를할당하는제어부를포함하는, 단층영상처리장치가개시된다.

    Abstract translation: 公开了一种用于处理能够以正常速度获得平面图像的断层图像的装置，即使在多个图形处理单元中的某些图形处理单元异常操作时。 本发明的装置包括：图像处理单元，包括重新配置物体的平面图像的多个处理单元; 以及控制单元，其检测处理单元是否具有错误，并且分配作为重构运动的作为具有第一优先级的平面图像的重新配置运动的第一运动和作为重新配置运动的第二运动中的至少一个 具有第二优先级的平面图像的至少一个处理单元，其中第二优先级比第一优先级低。

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