반도체장치의 승압전압 검출기 및 승압전압 조절방법
    11.
    发明公开
    반도체장치의 승압전압 검출기 및 승압전압 조절방법 无效
    半导体器件的升压检测器及其电压控制方法

    公开(公告)号:KR1020050055550A

    公开(公告)日:2005-06-13

    申请号:KR1020030088776

    申请日:2003-12-08

    CPC classification number: G11C5/145 G11C5/143 G11C5/147

    Abstract: 테스트 동작시 각 모드들에서 승압전압 레벨을 용이하게 독립적으로 조절할 수 있는 반도체장치의 승압전압 검출기 및 승압전압 조절방법이 개시된다. 상기 승압전압 검출기는, 제1모드신호 또는 제2모드신호중 어느 하나에 응답하여 기준전압을 발생하는 기준전압 발생회로, 상기 기준전압과 승압전압을 비교하여 승압전압 레벨 조절신호를 발생하는 비교회로, 상기 비교회로의 출력단에 연결되고 상기 제1모드신호에 응답하여 온/오프되는 제1부하저항, 및 상기 비교회로의 출력단에 연결되고 상기 제2모드신호에 응답하여 온/오프되는 제2부하저항을 구비하는 것을 특징으로 한다. 상기 제1모드신호는 상기 반도체장치의 테스트 동작의 제1모드를 나타내는 신호이고 상기 제2모드신호는 상기 반도체장치의 테스트 동작의 제2모드를 나타내는 신호이다.

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