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公开(公告)号：WO2010008257A3
公开(公告)日：2010-01-21
申请号：PCT/KR2009/004012
申请日：2009-07-20
Applicant: 이재학
Inventor： 이재학
Abstract: 본 발명은 스프링 조립체 및 스프링 조립체를 포함한 테스트 소켓에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 반도체 칩의 리드단자와 테스트장비의 테스트단자를 전기적으로 연결하기 위한 테스트 소켓에 이용되며, 상기 리드단자 및 상기 테스트단자와 접촉하는 스프링 조립체에 있어서, 탄성 및 전도성을 가지며 일 방향으로 코일형태로 감긴 제1 스프링; 및 탄성 및 전도성을 가지며 제1 스프링이 감긴 일 방향과 반대 방향으로 코일형태로 감기고, 제1 스프링 내부에 삽입되도록 제1스프링의 내주 직경보다 작은 외주 직경을 가지는 제2 스프링;을 포함하는 것을 특징으로 하는 스프링 조립체 및 상기 스프링 조립체를 포함하는 테스트 소켓에 관한 것이다. 본 발명에 의하면, 코일형태로 감긴 2개의 스프링 조립체는 전기 저항 및 인덕턴스가 감소하여 전기 전달 특성이 개선되며, 원하는 길이의 스프링을 이용하여 간단하게 테스트 소켓의 높이 조절을 가능하게 하며, 스프링에 도금만을 해서 형성되기 때문에 그 제작 비용이 매우 저렴하여 적용 분야가 다양하다.
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公开(公告)号：WO2009136721A2
公开(公告)日：2009-11-12
申请号：PCT/KR2009/002360
申请日：2009-05-06
Applicant: (주)아이에스시테크놀러지 , 이재학
Inventor： 이재학
IPC: H01R33/76
CPC classification number: G01R1/0735 , H05K7/1069
Abstract: 본 발명은 테스트용 소켓 및 그 테스트용 소켓의 제작방법에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 전기부품의 단자와 테스트장치의 패드를 전기적으로 연결하기 위한 테스트용 소켓에 있어서, 상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 상하방향으로 다수의 관통공이 형성된 하우징; 및 상기 하우징과 결합되어 상기 전기부품의 단자 및 상기 테스트장치의 패드와 전기적으로 연결되는 전도성부재로 이루어지되, 상기 전도성부재는: 상기 하우징의 상측에 상기 관통공과 대응되는 위치에 다수개가 배열되며, 제1필름에 의하여 서로 간의 위치가 일정하게 유지되는 다수의 제1도전부; 상기 하우징의 하측에 상기 관통공과 대응되는 위치에 다수개가 배열되며, 상기 하우징에 결합되는 제2필름에 의하여 서로 간의 위치가 일정하게 유지되는 다수의 제2도전부; 및 상기 관통공에 삽입되고, 상단은 상기 제1도전부의 하면과 접촉되고 그 하단은 상기 제2도전부의 상면과 접촉되는 통전부재를 포함하고, 상기 제1도전부와 상기 통전부재는 솔더링 접합되고, 상기 제2도전부와 통전부재도 솔더링 접합되어 있는 테스트용 소켓 및 그 테스트용 소켓을 제작하는 방법에 대한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及一种测试插座及其制造方法。 特别地，本发明涉及一种用于电连接用于电气部件的端子和测试装置的焊盘的测试插座及其制造方法，所述测试插座包括：具有多个纵向延伸的通孔的壳体，形成在 电子元件端子的计数器位置; 以及与所述壳体接合并与所述电子部件的端子和所述测试装置的焊盘电连接的导电部件，其中，所述导电部件包括：多个第一导体，其布置在所述壳体的上侧， 通过第一膜保持在相对于彼此的固定位置的通孔的位置; 多个第二导体，在所述壳体的下侧上布置在所述通孔的对置位置，同时通过粘合到所述壳体的第二膜保持在相对于彼此的固定位置; 以及电连接的构件，其插入通孔中，每个具有接触第一导体的下表面的上端和与第二导体的顶表面接触的下端。 这里，第一导体和电连接构件通过焊接连接在一起，并且第二导体和电连接构件也通过焊接连接在一起。
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公开(公告)号：WO2013162343A1
公开(公告)日：2013-10-31
申请号：PCT/KR2013/003671
申请日：2013-04-29
Applicant: 이재학
Inventor： 이재학
CPC classification number: G01R1/0416 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , G01R31/28 , H01R12/714 , H01R12/73 , H01R13/2414 , H01R13/2421 , H01R2201/20
Abstract: 본 발명은 위치정렬이 용이한 테스트용 소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 전기적으로 연결시키기 위한 테스트용 소켓으로서, 상기 피검사 디바이스의 단자 또는 검사장치의 패드와 대응되는 위치마다 다수의 관통공이 형성되어 있으며 검사장치의 패드에 각각의 관통공이 위치될 수 있도록 상기 검사장치에 부착되는 정렬부재; 및 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 배치되되 절연성 탄성물질 내에 다수의 도전성 입자가 분포되는 도전부와, 각각의 도전부를 지지하면서 서로 인접한 도전부와의 전기적 접속을 단절시키는 절연성 지지부와, 상기 도전부로부터 하측으로 돌출되며 상기 정렬부재의 관통공 내에 삽입될 수 있는 돌출도전부를 포함하는 탄성 도전시트;로 구성되되, 상기 돌출도전부가 상기 정렬부재의 관통공 내에 삽입되었을 때 상기 탄성 도전시트가 위치정렬될 수 있는 위치정렬이 용이한 테스트용 소켓에 대한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及一种允许对准方便的测试插座。 更具体地，本发明涉及一种测试插座，其容易进行对准并且被插入待检查装置和检查装置之间，以便电连接待检查装置的端子和检查装置的焊盘， 所述测试插座包括对准构件，所述对准构件在与所述待检查装置的端子相对应的位置处具有多个通孔或者与所述检查装置的所述衬垫相连接，所述对准构件附接到所述检查装置，使得所述通孔可 位于检查装置的各个垫上; 以及弹性导电片，其包括布置在与待检查装置的端子相对应的点处的导电部分，具有分布在绝缘弹性材料中的多个导电颗粒的导电部分，用于支撑每个导电部分并且断开电气的绝缘支撑部分 相邻的导电部分之间的连接，以及从导电部分向下突出的突出导电部件，以插入对准部件的通孔中。 当突出的导电部件插入到对准构件的通孔中时，弹性导电片可以对准。
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公开(公告)号：WO2013151316A1
公开(公告)日：2013-10-10
申请号：PCT/KR2013/002748
申请日：2013-04-03
Applicant: 이재학
Inventor： 이재학
CPC classification number: G01R1/0441 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , G01R1/07314 , G01R3/00 , H01R12/714 , H01R12/73 , H01R13/2414 , H01R43/002
Abstract: 본 발명은 고밀도 도전부를 가지는 테스트용 소켓 및 그 제조방법에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결하는 테스트용 소켓으로서, 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치에 배치되되, 탄성물질 내에 다수의 제1도전성 입자가 두께방향으로 배열되는 제1도전부와, 상기 제1도전부를 지지하면서 인접한 제1도전부로부터 절연시키는 절연성 지지부를 포함하는 탄성 도전시트; 상기 탄성 도전시트의 상면측 및 하면측 중 적어도 어느 한 곳에 부착되되, 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 관통공이 형성되는 지지시트; 및 상기 지지시트의 관통공 내에 배치되되, 탄성물질 내에 다수의 제2도전성 입자가 두께방향으로 배치되는 제2도전부를 포함하여 구성되되, 상기 제2도전성 입자는 상기 제1도전성 입자보다 상기 탄성물질 내에 고밀도로 배치된다.
Abstract translation: 本发明涉及一种具有高密度导电单元的测试插座及其制造方法，更具体地，涉及一种插入待测试装置和测试装置之间的测试插座，以便将端子 的待测试设备到测试设备的焊盘。 本发明的测试插座包括：布置在与待测器件的端子对应的位置处的弹性导电片，并且包括第一导电单元，其中多个第一导电粒子沿着厚度方向布置在弹性材料中 以及绝缘支撑单元，用于支撑所述第一导电单元并将所述第一导电单元与相邻的第一导电单元绝缘; 支撑片，其附接到弹性导电片的上表面或下表面的至少一个，并且在与被测试装置的端子对应的每个点形成通孔; 以及第二导电单元，其布置在所述支撑片的通孔中，并且多个第二导电粒子在弹性材料中沿厚度方向布置。 所述第二导电粒子比所述第一导电粒子更密集地布置在所述弹性材料中。
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公开(公告)号：WO2013077671A1
公开(公告)日：2013-05-30
申请号：PCT/KR2012/009984
申请日：2012-11-23
Applicant: 이재학
Inventor： 이재학
CPC classification number: G01R1/0466 , G01R1/0483 , H01R12/716 , H01R13/2414 , H01R2201/20
Abstract: 본 발명은 스토퍼부분이 형성된 테스트소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 두께방향으로 도전성을 나타내며 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 도전부가 형성되는 도전성 부분과, 상기 도전성 부분의 주위에 위치하며 상기 도전성 부분을 지지하는 지지부분으로 이루어지고, 상기 지지부분의 상면이 상기 도전성 부분의 상면보다 낮은 위치에 배치되어 피검사 디바이스를 테스트 소켓에 안착시키기 위하여 하강이동하는 인서트가 진입할 수 있는 공간이 형성되되, 상기 지지부분의 상면에는 진입하는 인서트가 소정의 높이에서 하강을 멈출 수 있도록 상기 지지부분의 상면으로부터 돌출되며 상기 인서트의 하면에 접촉하는 스토퍼부분이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓에 대한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及一种具有止动部分的测试插座，更具体地，涉及一种具有止动部分的测试插座，该测试插座由在宽度方向上具有导电性的导电部分组成，导电部分形成在对应于 血液检查装置的端子和设置在导电部分附近以支撑导电部分的支撑部分。 支撑部分的上表面设置在比导电部分的上表面更低的位置处，以形成插入件可以前进的空间，该空间被降低以将血液测试装置放置在测试插座上。 在支撑部分的上表面处，为了使前进插入件能够以预定的高度停止下降，止动部分设置成从支撑部分的上表面突出并与下部的接触 插入物的表面。
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Patent Agency Ranking16.发明申请
公开(公告)号：WO2012081880A2
公开(公告)日：2012-06-21
申请号：PCT/KR2011/009571
申请日：2011-12-13
CPC classification number: C07D249/04 , A61K51/04 , A61K51/0406 , A61K51/0453 , A61K51/0455 , A61K51/0465 , A61K51/047 , A61K51/0491 , C07B59/00 , C07C229/60 , C07D403/12 , C07D417/14 , C07D487/04 , C07H19/06 , C08F8/02 , C08F8/30 , C08F8/34 , C08F8/44 , C08F12/26 , C08F12/30 , C08F212/08 , C08F212/14 , C08F212/32 , C08F12/18 , C08F12/22 , C08F212/36
Abstract: 본 발명은 고체 지지체를 포함하는 유기염 형태의 고체 전구체 및 이의 제조방법과 응용에 관한 것이다. 본 발명의 고체 전구체는 별도의 카트리지를 이용한 [ 18 F]플루오라이드 정제 과정과 과량의 상전이 촉매 사용을 생략할 수 있고, 전구체 내 고체 지지체에 의해 반응 후 남은 물질의 제거가 용이하다. 본 발명의 고체 전구체를 카트리지에 충전하여 사용할 경우, [ 18 F]플루오르화 반응의 전반적인 과정을 수행할 수 있는 올인원(all-in-one) 시스템으로 자동화 합성 장치에 매우 적합하다.
Abstract translation: 本发明涉及有机盐形式的固体前体，固体前体具有固体支持物，其制备方法及其应用。 本发明的固体前体使用附加的滤芯省略了[18 F]氟化物精炼过程，并且使用过量的相转移催化剂，并且可以通过前体中的固体支持物容易地除去反应后的剩余物质。 本发明的固体前体非常适合作为一体化系统的自动化合成装置，其可以在通过在筒中充电使用时进行[18 F]氟中毒反应的总体过程。
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公开(公告)号：WO2013191432A1
公开(公告)日：2013-12-27
申请号：PCT/KR2013/005344
申请日：2013-06-18
Applicant: 이재학
Inventor： 이재학
CPC classification number: G01R1/0433 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , G01R1/07378 , H01R13/2414 , H01R2201/20
Abstract: 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키는 검사용 소켓에 있어서, 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 배치되고 두께방향으로의 도전성을 나타내는 도전부로서, 상기 도전부는 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열되어 배치되는 도전부; 및 상기 각각의 도전부를 지지하면서 절연시키는 절연성 지지부를 포함하여 구성되되, 상기 도전성 입자는, 어느 한 일면과. 상기 일면 이외의 다른 면을 관통하는 관통공이 마련되어 있고 상기 탄성 절연물질은 상기 관통공을 채우고 있는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓에 대한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及一种设置在血液检查装置和测试装置之间的测试插座，用于将血液检查装置的端子和测试装置的焊盘彼此电连接。 布置在与血液检查装置的端子对应的位置并且在厚度方向上显示导电性的导电单元具有：以弹性绝缘材料在厚度方向上布置多个导电颗粒的方式布置的导电单元; 以及支撑并绝缘每个导电单元的绝缘支撑单元。 导电性粒子具有通过一个表面而不是一个表面的另一个表面钻孔的通孔，并且通孔填充有弹性绝缘材料。
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公开(公告)号：WO2011004996A2
公开(公告)日：2011-01-13
申请号：PCT/KR2010/004371
申请日：2010-07-06
Applicant: 이재학
Inventor： 이재학
CPC classification number: G01N33/487
Abstract: 본 발명은 매개부재의 제조방법 및 그 제조방법에 의하여 제조된 매개부재로서, 상금형과 하금형으로 이루어지며 내부에 성형공간이 마련되는 한 쌍의 금형을 마련하는 금형준비단계; 상기 매개부재의 도전부와 대응되는 위치에 자성체층이 형성되고 그 자성체층 사이에 비자성체층이 마련되는 자성체부를 마련하는 자성체부 마련단계; 상기 자성체부를 상기 금형의 성형공간 내에 배치하는 배치단계; 액상의 절연성 물질 내에 다수의 도전성 입자가 배치되는 매개부재 성형재료를 상기 성형공간 내에 충진하는 충진단계; 및 상기 상금형과 하금형의 외부에서 자장을 가하여 상기 도전성 입자가 상기 피검사기판과 대응되는 위치로 정렬하도록 하는 정렬단계;를 포함하되, 상기 자성체부 마련단계는, 비자성소재로 이루어진 시트를 준비하는 시트 준비단계; 상기 시트에 두께방향으로 다수의 상기 도전부와 대응되는 위치에 형성되는 관통구멍을 형성하는 구멍 형성단계; 및 상기 각각의 관통구멍 내에 자성분말을 채워넣음으로서 자성체층을 형성하는 자성체층 형성단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 매개부재의 제조방법 및 그 제조방법에 의하여 제조된 매개부재에 대한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及一种用于制造中间构件的方法和通过该方法制造的中间构件，所述方法包括：提供由上模具和下模具对组成的模具的步骤，使得模制空间形成在 模子; 提供磁性单元的步骤，其中在对应于中间构件的导电部分的位置处形成磁性层，并且其中在磁性层之间形成非磁性层; 在所述模具的模制空间内布置所述磁性单元的步骤; 用形成中间部件的材料填充成型空间的步骤，其中在液体绝缘材料内设置有多个导电颗粒; 以及向上模具和下模具的外侧施加磁场的步骤，使得导电颗粒在与待检查的基板相对应的位置对准。 提供磁性单元的步骤包括：提供由非磁性材料制成的片材的步骤; 在对应于导电部分的位置处，通过片材在厚度方向上形成通孔的步骤; 以及用磁性粉末填充每个通孔以形成磁性层的步骤。 本发明还涉及通过该方法制造的中间构件。
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公开(公告)号：WO2010082715A1
公开(公告)日：2010-07-22
申请号：PCT/KR2009/003413
申请日：2009-06-24
Applicant: (주)아이에스시테크놀러지 , 이재학
Inventor： 이재학
IPC: H01R33/76
CPC classification number: H01R13/2414 , G01R1/06755 , H01R13/2421
Abstract: 본 발명은 전기적 접속체 및 그 전기적 접속체를 포함한 테스트 소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 반도체 디바이스의 단자와 전기적으로 접속되는 전기적 접속체에 있어서, 상기 반도체 디바이스의 단자와 접속가능한 위치에 배치되는 다수의 도전부; 및 상기 다수의 도전부와 각각 결합하여 그 도전부를 지지하기 위한 지지부재;로 구성되고, 상기 도전부에는, 고경도의 탄성물질 내에 다수의 전도성입자가 포함되어 있는 도전성 탄성영역을 포함하되, 그 탄성물질은 쇼어 A 경도 (shore A hardness)가 60 이상 또는 쇼어 D 경도가 30 이상인 것을 특징으로 하는 전기적 접속체 및 그 전기적 접속체를 포함한 테스트 소켓에 대한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及电连接器和包括电连接器的测试插座。 更具体地，本发明涉及一种电连接到半导体器件的端子的电连接器，包括：多个导电单元，其布置在可连接到半导体器件的端子的位置，以及支撑构件， 分别耦合到并支撑导电单元。 导电单元包括具有高硬度的弹性材料中的多个导电颗粒的导电弹性区域。 弹性材料的Shore A硬度为60以上，弹性材料的D硬度为30以上。
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