Abstract:
PURPOSE: A manufacturing method of silica coated magnetite nanopowder and silica coated magnetite nanopowder which is manufactured using the method are provided to manufacture the nanopowder using vapor phase reaction without using organic material. CONSTITUTION: A manufacturing method of silica coated magnetite nanopowder comprises the following steps: generating thermal plasma jet in thermal plasma apparatus; Bubbling by disemboguing nitrogen into iron pentacarbonyl(Fe(CO)5) and TEOS(tetraethly orthosilicate) at room temperature; injecting the bubbled iron pentacarbonyl and tetraethyl orthosilicate into the thermal plasma apparatus; generating the vapor phase reaction; and collecting the powder after quickly cooling the powder. The graphite felt is installed on inner wall of the thermal plasma apparatus in the step of generation of thermal plasma jet in order to make the particle small and equal sized. The thermal plasma is generated by using 6-7kW electricity argon gas as generation gas.
Abstract:
본 발명은 광소재의 굴절률 측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 해결하고자 하는 기술적 과제는 상대적으로 간단한 간섭계 구도와 원리로서 단순한 형태의 샘플 준비만으로도 연속적이고 넓은 파장 영역에서의 위상 굴절률의 절대값을 일시에 측정할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는데 있다. 이를 위해 본 발명에 따른 굴절률 측정 장치는, 다중 파장의 광 신호를 출력하는 광원(10); 상기 광원(10)으로부터 입력되는 광 신호를 2개로 분배하는 광 신호 분배기(101,201), 상기 광 신호 분배기(101,201)를 통하여 분배된 광 신호 중 어느 하나를 수신하는 기준팔(110,210), 상기 광 신호 분배기(101,201)를 통하여 분배된 광 신호 중 다른 하나를 수신하여 측정 대상인 광 샘플로 통과시키고 상기 광 샘플을 회전시킬 수 있는 스테이지를 구성하는 샘플팔(120,220), 상기 기준팔(110,210) 및 상기 샘플팔(120,220)을 거쳐 출력되는 광 신호들을 결합하여 상호 간섭시키는 광 신호 결합기(102,202)를 포함하는 광 간섭계(100,200); 및 상기 광 간섭계(100,200)에서 간섭된 광 신호를 전달받아 스펙트럼을 분석하는 광 스펙트럼 분석기(20);를 포함하는 것을 특징으로 하는 굴절률 측정 장치를 개시한다. 굴절률, 간섭무늬, 마이켈슨, 마하젠더, 간섭계
Abstract:
본 발명은 아르곤과 질소의 혼합가스를 이용하여 열플라즈마 제트를 발생시키는 단계(단계 1); 상기 발생된 열플라즈마 제트에 수산화인듐과 이염화주석의 혼합분말을 주입하여 기화시킨 후 산소를 주입하여 반응시킴으로써 기상의 인듐-주석 산화물을 합성하는 단계(단계 2); 및 합성된 기상의 인듐-주석 산화물을 냉각시켜서 나노크기의 인듐-주석 산화물을 제조하는 단계(단계 3)를 포함하는 열플라즈마를 이용한 인듐-주석 산화물의 제조방법 및 이에 의해 제조된 인듐-주석 산화물 나노분말에 관한 것으로, 본 발명에 따른 방법은 열플라즈마 제트를 이용하여 단일공정으로 전구체인 수산화인듐과 이염화주석으로부터 인듐-주석 산화물을 제조할 수 있고, 제조된 분말의 주석 함량을 용이하게 조절할 수 있고, 제조된 분말은 5~25 nm의 평균입경을 가지며, 가시광선의 빛을 투과하고, 높은 전기전도성을 나타내므로 디스플레이, 태양전지 등에 사용될 수 있다. 열플라즈마, 인듐-주석 산화물, 나노분말
Abstract:
PURPOSE: A refraction index measuring device based on white light interferometer and a method are provided to measure the absolute value of the phase refraction index at the wide wavelength area fast and easy and conveniently and thoroughly by not using the complex apparatuses. CONSTITUTION: The refraction index measuring device based on white light interferometer includes: a light source(10); an optical signal distributor(101); a reference arm(110); a sample arm(120); an optical interferometer(100); and an optical spectrum analyzer(20). The light source outputs the optical signal of the multi frequency. The optical signal distributor distributes the optical signal inputted from the light source into 2. The reference arm receives a message one among the optical signal divided through the optical signal distributor. The sample arm receives a message the other one among the optical signal divided through the optical signal distributor and forms the stage passing through by the measurement target luminance sample and rotating the luminance sample. The interferometer optic includes the optical coupler(102). The optical coupler unites the optical signals output through the sample pal and the reference arm and interferes mutually. The optical spectrum analyzer analyzes spectrum after receiving the interfered optical signal from the interferometer optic.