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公开(公告)号：KR1020170115255A
公开(公告)日：2017-10-17
申请号：KR1020160042620
申请日：2016-04-07
Applicant: 인하대학교 산학협력단
CPC classification number: G02B6/02347 , G02B6/0056 , G02B6/12004 , G02B6/366
Abstract: 본발명에따른평면도파로집적형다중브릿지편광분파기는, 반도체기판; 상기반도체기판상부에구비된평판형의하부클래드층; 상기하부클래드층 상부에각각소정의폭과높이를가지며서로평행하게위치하는구간이생기도록이격되어구비되고, 각각입력단및 출력단을가지는한 쌍의광 도파로; 및상기하부클래드층 상부중 상기한 쌍의광 도파로가서로평행하게위치한구간에소정의폭과높이를가지고서로이격되어구비되되, 상기한 쌍의광 도파로와나란히구비되어편광을분리시키는기능을하는 2개이상의브릿지형광 도파로; 를포함하여구성된다.
Abstract translation: 根据本发明的平面波导集成多桥偏振分束器包括：半导体衬底; 设置在半导体衬底上的平面型的下覆层; 一对光波导，设置在下部包覆层上并且彼此间隔开预定的宽度和高度以便彼此平行并且分别具有输入端和输出端; 并且，在一对光波导路平行排列的部分，以规定的宽度和高度相互隔开间隔地配置有一对光波导路， 两个或更多桥式荧光波导; 它被配置为包括。
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公开(公告)号：KR101108693B1
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：KR1020090121335
申请日：2009-12-08
Applicant: 인하대학교 산학협력단
Abstract: 본 발명은 광소재의 굴절률 측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 해결하고자 하는 기술적 과제는 상대적으로 간단한 간섭계 구도와 원리로서 단순한 형태의 샘플 준비만으로도 연속적이고 넓은 파장 영역에서의 위상 굴절률의 절대값을 일시에 측정할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는데 있다.
이를 위해 본 발명에 따른 굴절률 측정 장치는, 다중 파장의 광 신호를 출력하는 광원(10); 상기 광원(10)으로부터 입력되는 광 신호를 2개로 분배하는 광 신호 분배기(101,201), 상기 광 신호 분배기(101,201)를 통하여 분배된 광 신호 중 어느 하나를 수신하는 기준팔(110,210), 상기 광 신호 분배기(101,201)를 통하여 분배된 광 신호 중 다른 하나를 수신하여 측정 대상인 광 샘플로 통과시키고 상기 광 샘플을 회전시킬 수 있는 스테이지를 구성하는 샘플팔(120,220), 상기 기준팔(110,210) 및 상기 샘플팔(120,220)을 거쳐 출력되는 광 신호들을 결합하여 상호 간섭시키는 광 신호 결합기(102,202)를 포함하는 광 간섭계(100,200); 및 상기 광 간섭계(100,200)에서 간섭된 광 신호를 전달받아 스펙트럼을 분석하는 광 스펙트럼 분석기(20);를 포함하는 것을 특징으로 하는 굴절률 측정 장치를 개시한다.
굴절률, 간섭무늬, 마이켈슨, 마하젠더, 간섭계-
公开(公告)号：KR1020110064649A
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：KR1020090121335
申请日：2009-12-08
Applicant: 인하대학교 산학협력단
Abstract: PURPOSE: A refraction index measuring device based on white light interferometer and a method are provided to measure the absolute value of the phase refraction index at the wide wavelength area fast and easy and conveniently and thoroughly by not using the complex apparatuses. CONSTITUTION: The refraction index measuring device based on white light interferometer includes: a light source(10); an optical signal distributor(101); a reference arm(110); a sample arm(120); an optical interferometer(100); and an optical spectrum analyzer(20). The light source outputs the optical signal of the multi frequency. The optical signal distributor distributes the optical signal inputted from the light source into 2. The reference arm receives a message one among the optical signal divided through the optical signal distributor. The sample arm receives a message the other one among the optical signal divided through the optical signal distributor and forms the stage passing through by the measurement target luminance sample and rotating the luminance sample. The interferometer optic includes the optical coupler(102). The optical coupler unites the optical signals output through the sample pal and the reference arm and interferes mutually. The optical spectrum analyzer analyzes spectrum after receiving the interfered optical signal from the interferometer optic.
Abstract translation: 目的：提供一种基于白光干涉仪的折射率测量装置和方法，通过不使用复杂装置，快速，简便，彻底地测量宽波长区域的相位折射率的绝对值。 构成：基于白光干涉仪的折射率测量装置包括：光源（10）; 光信号分配器（101）; 参考臂（110）; 样品臂（120）; 光学干涉仪（100）; 和光谱分析仪（20）。 光源输出多频光信号。 光信号分配器将从光源输入的光信号分配到2中。参考臂在通过光信号分配器划分的光信号中接收消息。 样本臂通过光信号分配器分配的光信号中的另一个信号接收消息，并通过测量目标亮度样本形成通过的阶段并旋转亮度样本。 干涉仪光学元件包括光耦合器（102）。 光耦合器将通过样品盘和参考臂输出的光信号相互关联并相互干扰。 光谱分析仪在接收干涉仪光学干涉光信号后分析光谱。
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公开(公告)号：KR1020100122763A
公开(公告)日：2010-11-23
申请号：KR1020090041827
申请日：2009-05-13
Applicant: 인하대학교 산학협력단
CPC classification number: G01N21/636 , G01N21/1717 , G01N21/21 , G01N21/23 , G01N21/45 , G01N2021/1721
Abstract: PURPOSE: An electro-optical and thermo-optic coefficient system using a interference pattern measurement which does not use complex device and an electro-optical and thermo-optic coefficient measurement using the same are provided to use interference system structure of simple principles and samples of simple form, thereby rapidly and accurately measures an electro-optical or thermo-optic coefficient about an optical element and an optical material according to the wavelength. CONSTITUTION: A light source(10) outputs an optical signal of multi frequency. An interferometer optic(100) comprises a light signal distribution means distributing the optical signal into two, a reference arm receiving one divided optical signal, a sample arm, and a optical signal combining means which combines and interferences optical signals outputted through the reference arm and the sample arm. A sample arm receives the other divided optical signal and adds the voltage to an optical sample. An optical spectrum analyzing device(20) receives an optical signal interfered in a interferometer optic system and analyzes the spectrum.
Abstract translation: 目的：提供一种使用不使用复杂器件的干涉图案测量和使用其的电光和热光系数测量的电光和热光系数系统，以使用简单原理和样品的干涉系统结构 从而根据波长快速且准确地测量关于光学元件和光学材料的电光或热光学系数。 构成：光源（10）输出多频光信号。 干涉仪光学器件（100）包括光信号分配装置，将光信号分成两个，接收一个划分的光信号的参考臂，采样臂和光信号组合装置，其组合和干扰通过参考臂输出的光信号和 样品臂。 样品臂接收另一个分割的光信号，并将电压加到光学样品上。 光谱分析装置（20）接收在干涉仪光学系统中干涉的光信号并分析光谱。
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公开(公告)号：KR100585293B1
公开(公告)日：2006-06-02
申请号：KR1020050026076
申请日：2005-03-29
Applicant: 인하대학교 산학협력단
IPC: H04J14/02 , H04B10/07 , H04B10/2581
Abstract: 본 발명은 광통신 기술의 파장 채널에 대한 국제 규격에 맞는 광원신호 및 광소자의 파장 특성을 측정함과 동시에 출력 및 스펙트럼을 확인할 수 있음은 물론, 파장가변필터와 일정한 간격의 파장 표준화 소자로 일정한 파장 또는 주파수 간격의 파장 채널 확인 및 특정 광신호의 연속적인 파장 분포와 그 변화 상태를 측정할 수 있으며, 저가형 및 초소형이며 충격에도 안정되어 휴대용으로 적합한 광신호 파장 채널 측정기를 제공한다.
이러한 본 발명은 측정하고자하는 입력 광신호의 파장을 선택하는 파장가변필터; 상기 파장가변필터의 출력 광신호를 2개의 경로로 분기하는 광신호 분리기; 상기 광신호 분리기에서 분리된 일측 광경로 상의 광신호를 측정하기 위한 광검출기; 상기 광신호 분리기에서 분리된 타측 광경로의 광신호를 입력으로 가지며, 일정한 주파수 간격에 대한 광학 특성을 보이는 광파장 채널 표준기; 상기 광검출기 및 광파장 채널 표준기의 출력으로부터 입력 광신호에 대한 파장 채널의 출력 및 파장 분포와 파장 채널 확인결과를 출력하는 신호 처리기;를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
WDM-PON, 파장 채널 측정기, 파장가변필터, 광검출기Abstract translation: 本发明能够测量光通信技术的波长信道的光源信号和符合国际标准的光器件的波长特性，并且可以确定输出和光谱，以及波长可调滤波器和波长可调滤波器， 确定一个频率信道间隔的波长，并且可以测量在连续波长分布和特定的光信号的变化状态是稳定的，甚至低成本和紧凑的，并且提供合适的便携式撞击信号光波长的测量信道。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101656183B1
公开(公告)日：2016-09-09
申请号：KR1020150055914
申请日：2015-04-21
Applicant: 인하대학교 산학협력단
CPC classification number: G02F1/0955 , G02B6/126 , G02B6/2766 , G02F1/0136
Abstract: 평면도파로집적형비가역편광회전기가제시된다. 일실시예에따른평면도파로집적형비가역적 90도편광회전기는광 도파로형입력및 출력단; 비대칭광 도파로구조의가역적 45도편광회전기; 자기광학소재의크래드층을가진광 도파로형비가역적 45도편광회전기; 및상기가역적 45도편광회전기와상기비가역적 45도편광회전기사이에배치되어편광모드위상차이를보정해주는위상보정기를포함한다.
Abstract translation: 公开了一种集成的平面波导型不可逆偏振旋转器。 根据实施例，集成平面波导型不可逆90偏振旋转器包括：光波导型输入和输出端; 不对称光波导结构的可逆45偏振旋转器; 具有磁性光学材料的包覆层的光波导型不可逆45偏振旋转器; 以及布置在可逆45偏振旋转器和不可逆45偏振旋转器之间以校正偏振模式相位差的相位校正器。
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公开(公告)号：KR101331657B1
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：KR1020120050174
申请日：2012-05-11
Applicant: 인하대학교 산학협력단
CPC classification number: H01S3/0675 , G02B6/29361 , H01S3/08027 , H01S3/1312
Abstract: The present invention relates to a single longitudinal mode optical fiber laser device using a transformative saturable absorber capable of controlling output power widely by inserting the transformative saturable absorber into the device as well as reducing the threshold current of laser and increasing energy converting efficiency. Moreover a saturable absorbing level of the laser can be widely controlled by inserting pump light, which is having a pulse of a C-band (Conventional band, 1530 nm ~ 1560 nm), into a rate-earth added optical fiber saturable absorber. Moreover wide band pulse transformative single longitudinal optical fiber laser, which is having a planarization processed output applied with the transformative saturable absorber, is provided.
Abstract translation: 本发明涉及一种使用变形饱和吸收器的单纵模式光纤激光装置，其能够通过将变形饱和吸收体插入到装置中并且降低激光器的阈值电流并提高能量转换效率来广泛地控制输出功率。 此外，通过将具有C波段（常规波段，1530nm〜1560nm）的脉冲的泵浦光插入速率 - 地球添加的光纤可饱和吸收体中，可以广泛地控制激光器的可饱和吸收水平。 此外，还提供了具有施加变换饱和吸收体的平坦化处理输出的宽带脉冲变换单纵向光纤激光器。
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公开(公告)号：KR101210004B1
公开(公告)日：2012-12-07
申请号：KR1020110006426
申请日：2011-01-21
Applicant: 인하대학교 산학협력단
IPC: G01B11/16
Abstract: 본발명의일실시예에따른변위감지장치는떨어진곳에위치한관측대상체에고정된광원의변위와더불어상기광원으로부터발광되는광 신호에포함된펄스신호를수신하는광 센서, 상기광 센서의신호를이용하여상기펄스구동동기신호를재생하는동기신호재생부및 상기재생되는펄스구동동기신호를기반으로상기관측대상체에대한변위정보를측정하는변위감지부로구성된원거리변위관측장치이다.
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9.发明授权간섭무늬 측정을 이용한 전기광학 및 열광학 계수 측정시스템 그리고 이를 이용한 전기광학 및 열광학 계수 측정방법 有权使用干涉条纹测量的电光和热光系数测量系统以及使用其的光电和热光系数测量方法
公开(公告)号：KR101062021B1
公开(公告)日：2011-09-05
申请号：KR1020090041827
申请日：2009-05-13
Applicant: 인하대학교 산학협력단
CPC classification number: G01N21/636 , G01N21/1717 , G01N21/21 , G01N21/23 , G01N21/45 , G01N2021/1721
Abstract: 본 발명은 광소자 및 광소재의 전기광학 계수 및 열광학 계수를 측정하기 위한 것으로, 더욱 자세하게는 복잡한 장비를 이용하지 않고도 측정대상이 되는 넓은 파장에서의 광학 특성을 정밀하게 측정할 수 있도록 한 "간섭무늬 측정을 이용한 전기광학 및 열광학 계수 측정시스템 그리고 이를 이용한 전기광학 및 열광학 계수 측정방법"에 관한 것이다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 전기광학 계수 측정시스템은, 다중 파장의 광신호를 출력하는 광원; 상기 광원으로부터 입력되는 광신호를 2개로 분배하는 광신호 분배수단, 분배된 광신호 중 어느 하나를 수신하는 기준팔, 분배된 두 광신호 중 다른 하나를 수신하며 측정대상인 광 샘플이 연결되어 상기 광 샘플에 전압을 가하는 샘플팔, 상기 기준팔 및 상기 샘플팔을 거쳐 출력되는 광신호들을 결합하여 상호 간섭시키는 광신호 결합수단을 포함하는 광 간섭계; 및 상기 광 간섭계에서 간섭된 광신호를 전달받아 스펙트럼을 분석하는 광 스펙트럼 분석장치;를 포함한다.
광, 간섭무늬, 전기광학 계수, 열광학 계수, 마하젠더, 마이켈슨, 간섭계Abstract translation: 本发明的用于测量电光系数和光学装置的热光系数和光学材料，更具体地是＆QUOT精确地测量在很宽的波长的光学特性，而无需使用复杂的设备，以被测量 ;使用干涉条纹测量的电光和热光系数测量系统，以及使用其的光电和热光系数测量方法。
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公开(公告)号：KR101000974B1
公开(公告)日：2010-12-13
申请号：KR1020080120439
申请日：2008-12-01
Applicant: 인하대학교 산학협력단
CPC classification number: G01M11/335 , G01M11/331 , G01M11/338
Abstract: 본 발명은 간섭무늬 측정시스템을 이용한 광도파로샘플의 색분산 특성 측정방법에 관한 것으로, 특히 길이가 짧거나 혹은 색분산 값이 작은 피측정 광도파로샘플에 대해서도 복잡한 측정장치를 사용하지 않고 간편하면서도 정밀하게 색분산 특성을 측정할 수 있는 간섭무늬 측정시스템을 이용한 광도파로샘플의 색분산 특성 측정방법에 관한 것이다.
본 발명의 간섭무늬 측정시스템을 이용한 광도파로샘플의 색분산 특성 측정방법은 다중 파장의 광신호 광원; 상기 광원으로부터 입력되는 광신호를 전송길이가 가변될 수 있는 기준팔과 측정될 광도파로샘플이 연결되는 샘플팔에 분배하는 광신호분배기 및 상기 분배된 광신호를 결합하여 간섭시키는 광신호결합기를 포함하는 광 간섭계 및; 상기 광 간섭계에서 간섭된 광신호를 전달받아 스펙트럼을 분석하는 광스펙트럼 분석장치를 포함하는 간섭무늬 측정시스템을 이용한 광도파로샘플의 색분산 특성 측정방법에 있어서, 상기 샘플팔에 광도파로샘플이 연결되지 않은 상태에 대하여, 상기 광스펙트럼 분석장치에서 측정되어 나타나는 스펙트럼이 상기 간섭된 광신호의 특성을 상대적으로 잘 나타내도록 상기 기준팔의 광신호 전송길이를 조절한 후, 상기 간섭계를 통과하여 나오는 스펙트럼을 측정하고 파장을 주파수로 바꾸어 주파수 스펙트럼을 얻는 (a) 단계; 상기 (a) 단계에서 얻어진 주파수 스펙트럼을 이용하여 미리 정해진 기준 주파수로부터의 주파수 변화에 따른 위상차이값을 계산하는 (b) 단계; 상기 샘플팔에 광도파로샘플이 연결된 상태에 대 하여, 상기 광스펙트럼 분석장치에서 측정되어 나타나는 스펙트럼이 상기 간섭된 광신호의 특성을 상대적으로 잘 나타내도록 상기 기준팔의 광신호 전송길이를 조절한 후, 상기 간섭계를 통과하여 나오는 스펙트럼을 측정하고 파장을 주파수로 바꾸어 주파수 스펙트럼을 얻는 (c) 단계; 상기 (c) 단계에서 얻어진 주파수 스펙트럼을 이용하여 미리 정해진 기준 주파수로부터의 주파수 변화에 따른 위상차이값을 계산하는 (d) 단계; 상기 (b) 단계 및 상기 (d) 단계에서 계산된 주파수 변화에 따른 위상차이값들을 테일러 급수 전개에 데이터 피팅하여 테일러 급수의 계수들을 결정하는 (e) 단계 및 상기 (e) 단계에서 결정된 테일러 급수의 계수들을 이용하여 색분산 값을 계산하는 (f) 단계를 포함할 수 있다.
색분산, 마하젠더 간섭계, 위상, 테일러 급수
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