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公开(公告)号：KR100910704B1
公开(公告)日：2009-08-04
申请号：KR1020070062691
申请日：2007-06-26
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: 본 발명은 카메라나 광학부품을 원하는 각도나 기울기로 손쉽게 조절할 수 있고, 그 상태로 고정할 수 있도록 한 각도 조절장치에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 베이스와; 베이스의 상면으로부터 일정 거리 떨어져 설치되되 다리를 매개로 베이스 상에 고정 설치된 구체와; 구체를 그 내측에 수용하여 회전 가능하게 설치되고, 좌우로 기울일 수 있도록 그 저면에 다리를 수용하기 위한 수용홈이 형성되며, 그 상면에 카메라 또는 광학부품을 고정하기 위한 체결수단이 구비된 테이블과; 테이블의 회전각을 조절할 수 있도록 테이블에 내재되되 구체의 외주면과 밀착되고 그 일측단이 스프링에 의해 탄지된 테이퍼 핀과, 테이퍼 핀을 후퇴시켜 구체와의 결속력을 해제시키기 위한 버튼부로 이루어진 스토퍼;가 구비된다.
상기의 기술적 구성에 따르면, 카메라 또는 광학부품 등의 대상물을 원하는 각도나 기울기로 조절하고, 그 상태로 고정할 수 있어 사용상 매우 편리하다는 효과가 있다. 또한 카메라 또는 광학부품의 각도나 기울기를 조절하기 위한 기술적 구조가 간단하여 내구성을 더욱 향상시킬 수 있고, 그에 따른 제작비용을 절감할 수 있어 매우 경제적이라는 효과가 있다.
각도, 회전각, 베이스, 구체, 회전각, 테이블-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101862790B1
公开(公告)日：2018-07-04
申请号：KR1020170055213
申请日：2017-04-28
Applicant: 조선대학교산학협력단
CPC classification number: F16B7/0406 , A47B91/02
Abstract: 본발명은간편길이조절식지주구조체에관한것으로서, 더욱상세하게는회전각도에따라길이를늘이거나줄이거나고정시킬수 있는간편길이조절식지주구조체에관한것이다. 본발명에따른간편길이조절식지주구조체는내부에원형의중공부가형성된메인로드와; 상기메인로드의중공부에삽입되게설치되는입출로드와; 상기메인로드에대한상기입출로드의회전각도에따라상기입출로드를상기메인로드의내측으로만인입시키거나외측으로만인출시키거나일정위치에서정지시킬수 있게상기메인로드와상기입출로드사이에마련되는길이조절부;를구비하는것을특징으로한다. 그리고, 본발명에따른간편길이조절식지주구조체는메인로드에대해입출로드를일정각도회전시켜길이를줄어들게하거나, 길이를늘어나게할 수있을뿐만아니라, 위치의고정또한매우쉽게할 수있어조작이매우간편하며, 래칫(Ratchet) 구조를적용함으로써동작의신뢰성이높은장점이있다.
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公开(公告)号：KR100996293B1
公开(公告)日：2010-11-23
申请号：KR1020080048205
申请日：2008-05-23
Applicant: 조선대학교산학협력단
IPC: G01J1/02
Abstract: 본 발명은 다수개의 레이저 다이오드를 포함하는 레이저 조사유니트를 구비하는 광학 결함 검사장치에 관한 것으로, 본 발명에 따른 광학 결함 검사장치는 레이저를 이용하여 검사대상 물체의 결함 정도를 측정할 수 있도록 된 것으로, 상기 검사대상 물체에 레이저 광을 조사하기 위한 레이저 유니트와, 상기 검사대상 물체로부터 반사된 광을 수광하여 반사광에 포함된 상기 검사대상 물체의 영상정보를 획득하는 영상입력부를 포함하는 검사 유니트를 구비하며, 상기 레이저 유니트는 복수개의 레이저 다이오드들을 포함한다.
본 발명에 따른 광학 결함 검사장치는 복수개의 레이저 다이오드를 사용하며, 각 레이저 다이오드들의 온도가 동일하게 유지됨으로써 조사되는 레이저의 파잔을 균일하게 유지할 수 있기 때문에 검사대상 물체의 정확한 결함 여부를 파악할 수 있는 이점이 있다.-
公开(公告)号：KR100936861B1
公开(公告)日：2010-01-14
申请号：KR1020080001729
申请日：2008-01-07
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: 본 발명은 일정부분의 참조광과 물체광의 광 감도를 일치시켜 측정결과의 품질향상을 기대할 수 있도록 한 광간섭법을 이용한 측정결과의 향상방법에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 광간섭계로부터 참조광과 물체광을 각각 입사받아 CCD카메라를 통해 이미지화하는 단계와, 이미지화 단계에서 얻어진 참조광 이미지와 물체광 이미지의 일정부분의 광 감도를 비교하는 단계와, 광 감도 비교단계에서 기 설정된 기준치 범위인 경우 광간섭법을 이용한 측정을 개시하고, 기 설정된 기준치 범위를 벗어난 경우 상기 광간섭계를 조절하여 참조광과 물체광을 각각 재측정하여 반복수행하는 것을 특징으로 한다.
상기의 기술적 구성에 따르면, 참조광과 물체광의 이미지를 각각 획득하여 일정부분에 대하여 광 감도를 비교 판단함으로써 참조광과 물체광의 광 감도가 일치하는 경우 광간섭법을 이용한 측정을 개시함으로써 측정자의 주관을 배제하고, 그 결과 측정결과의 품질향상을 기대할 수 있게 된다.
광간섭계, 물체광, 참조광, 측정결과 향상-
公开(公告)号：KR1020090122028A
公开(公告)日：2009-11-26
申请号：KR1020080048223
申请日：2008-05-23
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: PURPOSE: An extensometer using a Michelson interferometer is provided to simplify a structure relatively and measure accurate length change of a sample due to tension or compression. CONSTITUTION: An extensometer(10) using a Michelson interferometer comprises a laser light source(11), a beam splitter(20), a movable mirror(30), a fixed mirror(40), and an optical detector(50). The beam splitter is installed on the front side of the laser light source. The movable mirror is installed coaxially with the laser light source. The movable mirror reflects a beam divided by the beam splitter. The fixed mirror is installed at the upper side of the beam splitter. The fixed mirror reflects the beam divided by the beam splitter. The optical detector is installed at the lower side of the beam splitter corresponding to the fixed mirror. The optical detector detects the optical signals incident from the fixed mirror.
Abstract translation: 目的：提供使用迈克尔逊干涉仪的引伸计，以简化相对的结构，并测量由于张力或压缩引起的样品的精确长度变化。 构成：使用迈克尔逊干涉仪的引伸计（10）包括激光源（11），分束器（20），可移动镜（30），固定镜（40）和光学检测器（50）。 分束器安装在激光光源的前侧。 可动镜与激光光源同轴安装。 可移动镜反射由分束器分割的光束。 固定镜安装在分束器的上侧。 固定镜反射由分束器分割的光束。 光检测器安装在对应于固定镜的分束器的下侧。 光检测器检测从固定镜入射的光信号。
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公开(公告)号：KR1020090122016A
公开(公告)日：2009-11-26
申请号：KR1020080048205
申请日：2008-05-23
Applicant: 조선대학교산학협력단
IPC: G01J1/02
Abstract: PURPOSE: An optical defect detecting device is provided to maintain uniform wavelength of a laser light incident from each laser diode by maintaining uniform temperature of each laser diode. CONSTITUTION: An optical defect detecting device comprises a laser unit(100) and an inspection unit(20). The laser unit emits laser light on an object(11) to be inspected. The inspection unit determines the defects of the object through a laser reflecting light reflected from the object. The laser unit comprises a laser diode and a supporting member. The laser diode is arranged on an inline. The inspection unit comprises an image lens(21) and an image segmentation part(22). The image lens receives the reflecting light of the laser emitted on the object. The image segmentation part divides the light received in the image lens into first and second image lights(23,24).
Abstract translation: 目的：提供光学缺陷检测装置，通过保持每个激光二极管的均匀温度来保持从每个激光二极管入射的激光的均匀波长。 构成：光学缺陷检测装置包括激光单元（100）和检查单元（20）。 激光单元在要检查的物体（11）上发射激光。 检查单元通过反射从物体反射的光的激光来确定物体的缺陷。 激光单元包括激光二极管和支撑构件。 激光二极管排列在一起。 检查单元包括图像透镜（21）和图像分割部分（22）。 图像透镜接收在物体上发射的激光的反射光。 图像分割部分将接收在图像透镜中的光分成第一和第二图像光（23,24）。
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