변형 상태 측정장치
    1.
    发明授权
    변형 상태 측정장치 有权
    变形测量装置使用刺激

    公开(公告)号:KR101221103B1

    公开(公告)日:2013-01-11

    申请号:KR1020110015994

    申请日:2011-02-23

    Abstract: 본 발명은 변형 상태 측정장치에 관한 것으로서, 광원 유니트에서 출사된 레이저 광을 도파하여 측정대상체에 출사하는 프로브 광섬유와, 프로브 광섬유의 종단에 결합되어 측정대상체에 자극신호를 출력하는 자극생성부를 갖는 프로브유니트와, 광원유니트에서 출사되어 제1경로로 입사된 광을 프로브 광섬유로 전송하고, 측정대상체에서 반사되어 프로브 광섬유를 통해 역방향으로 진행하는 광을 제2경로로 출력하는 광분배기와, 광분배기에 제2경로를 통해 출력되는 광을 제3경로와 제4경로로 분배하는 빔스플릿터와, 제3경로를 통해 진행되는 광을 반사시키는 제1미러와, 제4경로를 통해 진행되는 광을 반사시키는 제2미러와, 제1미러의 빔스플릿터에 대해 이격간격을 조정하는 제1구동부와, 제2미러의 빔스플릿터에 대한 각도를 조정하는 제2구동부 와, 제1미러와 제2미러로부터 반사되어 빔스플릿터로부터 출력되는 간섭 이미지를 촬상하는 촬상부와, 자극생성부의 구동을 제어하며, 제1 미러의 이격간격 및 제2미러의 각도가 조정되게 제1구동부와 제2구동부를 제어하면서 촬상부에 의해 촬상된 간섭 이미지를 측정대상체의 변형상태를 진단할 수 있도록 제공하는 분석부를 구비한다. 이러한 변형 상태 측정장치에 의하면, 구조가 간단하면서도 진동에 의한 자극에 의해 변형하는 요소에 대해 전단간섭방법에 의해 변형상태를 측정할 수 있는 장점을 제공한다.

    마이켈슨 간섭계를 이용한 익스텐소미터
    2.
    发明授权
    마이켈슨 간섭계를 이용한 익스텐소미터 失效
    引伸计使用michelson干涉仪

    公开(公告)号:KR100996294B1

    公开(公告)日:2010-11-23

    申请号:KR1020080048223

    申请日:2008-05-23

    Abstract: 본 발명에 따른 마이켈슨 간섭계를 이용한 익스텐소미터는 시료의 인장 또는 압축에 따른 미세 길이 변화를 측정하기 위한 것으로, 레이저 광원과, 상기 레이저 광원의 전면에 설치되는 빔분할 수단과, 상기 레이저 광원과 동축상으로 설치되며 상기 빔 분할수단에 의해 분할된 빔을 반사시키는 시료의 일측에 설치되는 가동미러와, 상기 빔분할수단의 상부측에 설치되어 빔 분할수단에 의해 분할된 빔을 반사시키는 것으로 기준 광경로를 이루기 위한 고정미러와, 상기 빔 분할수단의 하부에 설치되어 기준광경로를 통하여 입사되는 광신호와, 상기 가동미러와 빔 분할수단을 통하여 입사되는 광신호를 검출하여 가동미러의 이동거리를 검출하기 위한 광검출기를 구비한다.
    본 발명의 마이켈슨 간섭계를 이용한 익스텐소미터는 인장, 압축, 온도변화등에 의해 미세하게 변하는 시료의 길이 뿐만아니라 길이 변화측정을 위한 각종 장치에 널리 사용가능하다.
    레이저광원, 빔 스프리터, 고정미러, 반사미러.

    전단간섭법을 이용한 변형측정장치
    3.
    发明公开
    전단간섭법을 이용한 변형측정장치 有权
    使用剪裁的变形测量​​装置

    公开(公告)号:KR1020150085424A

    公开(公告)日:2015-07-23

    申请号:KR1020140005281

    申请日:2014-01-15

    CPC classification number: G01B11/16 G01B9/02

    Abstract: 본발명은전단간섭법을이용한변형측정장치에관한것으로서, 측정대상체를지지할수 있도록지지부와, 지지부에지지된측정대상체에광을조사하는메인광원부와, 측정대상체에조사된후 반사된광을제1경로와제1경로와직교되는방향인제2경로로분할하여출력하는빔스플릿터와, 빔스플릿터에서제1경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된기준미러와, 빔스플릿터에서제2경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된가변미러와, 가변미러를제2경로를중심으로좌우방향및 상하방향에대해틸팅시킬수 있도록된 틸팅부와, 기준미러와가변미러로부터빔스플릿터에재입사되어제3경로로출력되는광을촬상하는촬상부와, 틸팅부를제어하여가변미러의틸팅각도를조정하면서촬상부에의해촬상된간섭무늬를수신하여표시부를통해표시되게처리하는처리유니트를구비한다. 이러한전단간섭법을이용한변형측정장치에의하면, 가변미러가두 축방향에대해기울임이가능하여결함측정정밀도를높일수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种使用剪切方法的变形测量​​装置,包括:支撑单元,用于支撑被测量物体; 用于将光照射到由支撑单元支撑的被测量物体的主光源; 分束器,其将被照射到待测量物体上的反射的光分成与第一路径垂直的方向的第一路径和第二路径,并输出光; 基础反射镜,其安装成允许光通过反射从分束器到达第一路径的光线重新进入分束器; 安装的可变镜,以通过反射从分束器到达第二路径的光来允许光重新进入分束器; 倾斜单元,用于基于所述第二路径相对于水平和垂直方向倾斜所述可变镜; 成像单元,用于对从基镜和可变镜重新进入分束器的光进行成像并输出到第三路径; 以及处理单元,通过接收由成像单元成像的干涉条纹,通过控制倾斜单元来调节可变反射镜的倾斜角度,通过显示单元显示干涉条纹。 本发明通过使可变反射镜相对于两轴方向倾斜来提高缺陷测量精度的效果。

    전단간섭법을 이용한 변형측정방법 및 이를 이용한 장치
    4.
    发明公开
    전단간섭법을 이용한 변형측정방법 및 이를 이용한 장치 有权
    使用剪裁的QUNTITATIVE OUT-OF-PLAN变形测量方法和装置

    公开(公告)号:KR1020120016546A

    公开(公告)日:2012-02-24

    申请号:KR1020100079003

    申请日:2010-08-16

    Abstract: PURPOSE: A deformation measurement method using Shearography and a device using the same is provided to measure whole deformation of an object by measuring a base deformation created in the object. CONSTITUTION: A deformation measurement method using Shearography is as follows. By changing shear amount due to using a shearing interferometer(130), several topological maps of an object(10)'s defective part according to each shearing amount is obtained. The deformation diagram of the defective part is calculated. The linear gradient between shearing change and shearing variation is calculated by a deformation diagram of the defective part according to shearing amount so that a maximum deformation diagram according to shearing amount is calculated. The deformation amount which shearing amount becomes zero is estimated by the maximum deformation diagram.

    Abstract translation: 目的:提供使用剪切方法的变形测量​​方法和使用其的装置,通过测量在物体中产生的基部变形来测量物体的整体变形。 构成:使用剪切方法的变形测量​​方法如下。 通过使用剪切干涉仪(130)改变剪切量,获得根据每个剪切量的物体(10)的缺陷部分的几个拓扑图。 计算缺陷部分的变形图。 通过根据剪切量的缺陷部分的变形图计算剪切变化和剪切变化之间的线性梯度,从而计算根据剪切量的最大变形图。 通过最大变形图来估计剪切量变为零的变形量。

    각도 조절장치
    5.
    发明授权
    각도 조절장치 失效
    方向角度控制装置

    公开(公告)号:KR100910704B1

    公开(公告)日:2009-08-04

    申请号:KR1020070062691

    申请日:2007-06-26

    Abstract: 본 발명은 카메라나 광학부품을 원하는 각도나 기울기로 손쉽게 조절할 수 있고, 그 상태로 고정할 수 있도록 한 각도 조절장치에 관한 것이다.
    이를 위하여, 본 발명은 베이스와; 베이스의 상면으로부터 일정 거리 떨어져 설치되되 다리를 매개로 베이스 상에 고정 설치된 구체와; 구체를 그 내측에 수용하여 회전 가능하게 설치되고, 좌우로 기울일 수 있도록 그 저면에 다리를 수용하기 위한 수용홈이 형성되며, 그 상면에 카메라 또는 광학부품을 고정하기 위한 체결수단이 구비된 테이블과; 테이블의 회전각을 조절할 수 있도록 테이블에 내재되되 구체의 외주면과 밀착되고 그 일측단이 스프링에 의해 탄지된 테이퍼 핀과, 테이퍼 핀을 후퇴시켜 구체와의 결속력을 해제시키기 위한 버튼부로 이루어진 스토퍼;가 구비된다.
    상기의 기술적 구성에 따르면, 카메라 또는 광학부품 등의 대상물을 원하는 각도나 기울기로 조절하고, 그 상태로 고정할 수 있어 사용상 매우 편리하다는 효과가 있다. 또한 카메라 또는 광학부품의 각도나 기울기를 조절하기 위한 기술적 구조가 간단하여 내구성을 더욱 향상시킬 수 있고, 그에 따른 제작비용을 절감할 수 있어 매우 경제적이라는 효과가 있다.
    각도, 회전각, 베이스, 구체, 회전각, 테이블

    전단간섭계를 이용한 면외변형의 정량계측방법
    6.
    发明公开
    전단간섭계를 이용한 면외변형의 정량계측방법 无效
    使用剪切的平面外变形的量化测量方法

    公开(公告)号:KR1020080065784A

    公开(公告)日:2008-07-15

    申请号:KR1020070002867

    申请日:2007-01-10

    Abstract: A quantitative measurement method of out-of-plane deformation using shearography is provided to enhance industrial application of the shearography by quantitatively measuring the out-of-plane deformation generated at an article. A quantitative measurement method of out-of-plane deformation using shearography includes the steps of: obtaining an image before deformation of an article by the shearography; obtaining an image after the deformation of the article by the shearography; and measuring the out-of-deformation by numerically integrating with parallel translation values of the images before/after the deformation after subtracting the images before/after the deformation. ESPI(Electronic Speckle Pattern Interferometry) is stably applied in a non-destructive measurement method by using the shearography.

    Abstract translation: 提供使用剪切法的平面外变形的定量测量方法,以通过定量测量在物品处产生的平面外变形来增强剪切力的工业应用。 使用剪切法的平面外变形的定量测量方法包括以下步骤:通过剪切获得制品变形前的图像; 通过剪切获得物品变形后的图像; 并且通过在变形之前/之后减去图像之前/之后的图像的平行平移值通过数值积分来测量失真变形。 通过使用剪切方法,以非破坏性测量方法稳定地应用ESPI(电子斑点图案干涉测量)。

    전단간섭법을 이용한 변형측정장치
    7.
    发明授权
    전단간섭법을 이용한 변형측정장치 有权
    使用剪裁的变形测量​​装置

    公开(公告)号:KR101551486B1

    公开(公告)日:2015-09-08

    申请号:KR1020140005281

    申请日:2014-01-15

    Abstract: 본발명은전단간섭법을이용한변형측정장치에관한것으로서, 측정대상체를지지할수 있도록지지부와, 지지부에지지된측정대상체에광을조사하는메인광원부와, 측정대상체에조사된후 반사된광을제1경로와제1경로와직교되는방향인제2경로로분할하여출력하는빔스플릿터와, 빔스플릿터에서제1경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된기준미러와, 빔스플릿터에서제2경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된가변미러와, 가변미러를제2경로를중심으로좌우방향및 상하방향에대해틸팅시킬수 있도록된 틸팅부와, 기준미러와가변미러로부터빔스플릿터에재입사되어제3경로로출력되는광을촬상하는촬상부와, 틸팅부를제어하여가변미러의틸팅각도를조정하면서촬상부에의해촬상된간섭무늬를수신하여표시부를통해표시되게처리하는처리유니트를구비한다. 이러한전단간섭법을이용한변형측정장치에의하면, 가변미러가두 축방향에대해기울임이가능하여결함측정정밀도를높일수 있다.

    용접용 지그
    8.
    发明公开
    용접용 지그 有权
    焊接JIG

    公开(公告)号:KR1020140101113A

    公开(公告)日:2014-08-19

    申请号:KR1020130014315

    申请日:2013-02-08

    Abstract: The present invention relates to a jig for welding. In particular, the jig can measure deforming force imposed on a base material when a butt welding process is performed on the planar base materials. The jig for welding of the present invention includes a base table; a first clamp which is installed on one side of the base table to fix a first base material on the base table; a second clamp which is installed on the other side of the base table to face the first clamp and fixes a second base material to be welded with the first base material on the base table; and a stress measuring part which is installed on the first clamp or the second clamp to measure stress generated on the first base material or the second base material.

    Abstract translation: 本发明涉及一种焊接用夹具。 特别地,当在平面基材上进行对接焊接工艺时,夹具可以测量施加在基材上的变形力。 本发明的焊接用夹具包括:基台; 第一夹具,其安装在基座的一侧,以将第一基材固定在基台上; 第二夹具,其安装在所述基台的另一侧以面对所述第一夹具,并将与所述第一基材的待焊接的第二基材固定在所述基台上; 以及应力测量部件,其安装在所述第一夹具或所述第二夹具上,以测量在所述第一基材或所述第二基材上产生的应力。

    압력용기의 결함 검출장치
    9.
    发明公开
    압력용기의 결함 검출장치 有权
    用于高压和高温容器的裂纹和探伤装置

    公开(公告)号:KR1020120121280A

    公开(公告)日:2012-11-05

    申请号:KR1020110039167

    申请日:2011-04-26

    CPC classification number: G01N25/72 G01M3/002 Y02E30/32

    Abstract: PURPOSE: A device for detecting defects of a pressure container is provided to photograph variations on a surface of a pressure container caused by a heating body in the inside of the pressure container as thermal images and displays the same, thereby precisely inspecting the pressure container after cooling a surface of a pressure container in order to have a uniform temperature distribution. CONSTITUTION: A device for detecting defects of a pressure container comprises a pressure container(100), a cooling unit, a photographing unit(300), a display unit(400), and a controlling unit(500). A heating body having thermal energy is embedded or moved in the inside of an accommodation unit of the pressure container. The pressure container is heated by the thermal energy of the heating body. The cooling unit jets a cooling gas on a surface of the pressure container, thereby cooling the surface of the pressure container. The photographing unit photographs variations on the surface temperature of the pressure container as thermal images. The displaying unit the thermal images photographed by the photographing unit. The controlling unit controls the operation of the cooling unit and photographing unit.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于检测压力容器的缺陷的装置,用于拍摄由压力容器内部的加热体引起的压力容器的表面上的变化作为热像并显示它,由此精确地检查压力容器 冷却压力容器的表面以具有均匀的温度分布。 构成:用于检测压力容器的缺陷的装置包括压力容器(100),冷却单元,拍摄单元(300),显示单元(400)和控制单元(500)。 具有热能的加热体嵌入或移动到压力容器的容纳单元的内部。 压力容器被加热体的热能加热。 冷却单元在压力容器的表面喷射冷却气体,从而冷却压力容器的表面。 拍摄单元将压力容器的表面温度的变化作为热图像拍摄。 显示单元由拍摄单元拍摄的热图像。 控制单元控制冷却单元和拍摄单元的操作。

    각도 조절장치
    10.
    发明公开
    각도 조절장치 失效
    方向角控制装置

    公开(公告)号:KR1020080113787A

    公开(公告)日:2008-12-31

    申请号:KR1020070062691

    申请日:2007-06-26

    CPC classification number: G03B17/561 F16M11/04 G03B17/04 H04N5/2252

    Abstract: A tilting device is provided to regulate and fix an object to the desired direction easily. A tilting device comprises a sphere which is located apart from the top surface of a base(10) and fixed to the base by the medium of a leg, a table(40) in which a leg receiving groove(41) is formed on the bottom surface in order to tilt left and right and a fastening member for fixing the object is provided on the upper side, and a stopper(50) consisting of a button unit for pulling back a taper pin and releasing the unity force with the sphere.

    Abstract translation: 提供倾斜装置以容易地将物体调节和固定到期望的方向。 倾斜装置包括:球体,其位于与基座(10)的顶表面分开并且通过腿的介质固定到基座;桌子(40),其上形成有腿部容纳槽(41) 底部表面以向左和向右倾斜,并且用于固定物体的紧固构件设置在上侧;以及止动件(50),其由用于拉回锥形销的按钮单元和用球体释放单位力构成。

Patent Agency Ranking