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公开(公告)号：KR101682407B1
公开(公告)日：2016-12-05
申请号：KR1020150033146
申请日：2015-03-10
Applicant: 한국과학기술연구원
CPC classification number: G01J1/44 , A61B1/00 , G01J1/0228 , G01J1/0266 , G02B27/225 , G06F17/18 , H04N13/302
Abstract: 본발명의일 실시예에따른최적기준데이터수 결정방법은, 서로다른데이터수를기준으로측정데이터를스무딩하는단계; 상기스무딩전의측정데이터와상기스무딩된측정데이터의편차를얻는단계; 및상기편차에기초하여최적기준데이터수를결정하는단계;를포함한다. 또한, 본발명의일 실시예에따른측정데이터의보정방법은, 측정데이터와상기측정데이터를스무딩(smoothing)하여얻어지는스무딩된데이터의편차들을얻는단계; 상기편차들을기초로기준편차를얻는단계; 및상기기준편차에기초하여상기측정데이터를보정하는단계;를포함한다.
Abstract translation: 公开了一种确定最佳参考数据编号的方法，包括：根据不同的数据数据平滑测量数据; 获得平滑后的测量数据和平滑的测量数据的偏差; 以及基于偏差确定最佳参考数据数。 此外，公开了一种用于校正测量数据的方法，其包括：获得测量数据的偏差和通过平滑测量数据获得的平滑数据; 基于偏差获得参考偏差; 并且基于参考偏差校正测量数据。
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公开(公告)号：KR1020160109175A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：KR1020150033146
申请日：2015-03-10
Applicant: 한국과학기술연구원
CPC classification number: G01J1/44 , A61B1/00 , G01J1/0228 , G01J1/0266 , G02B27/225 , G06F17/18 , H04N13/302 , H04N13/327 , G06T7/564 , G06T7/593
Abstract: 본발명의일 실시예에따른최적기준데이터수 결정방법은, 서로다른데이터수를기준으로측정데이터를스무딩하는단계; 상기스무딩전의측정데이터와상기스무딩된측정데이터의편차를얻는단계; 및상기편차에기초하여최적기준데이터수를결정하는단계;를포함한다. 또한, 본발명의일 실시예에따른측정데이터의보정방법은, 측정데이터와상기측정데이터를스무딩(smoothing)하여얻어지는스무딩된데이터의편차들을얻는단계; 상기편차들을기초로기준편차를얻는단계; 및상기기준편차에기초하여상기측정데이터를보정하는단계;를포함한다.
Abstract translation: 根据本发明的实施例，一种用于确定最佳参考数据数量的方法包括以下步骤：基于不同的数据数据平滑测量数据; 获得平滑后的测量数据与平滑的测量数据之间的变化; 以及基于所述变化确定最佳参考数据编号。 此外，根据本发明的实施例，一种用于校正测量数据的方法包括以下步骤：获得测量数据与通过平滑测量数据获得的平滑数据之间的变化; 基于变化获得参考变化; 以及基于参考变化来校正测量数据。 可以客观地确定参考数据编号，其可以在数据平滑时具有数据可靠性最小化噪声和波动。
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公开(公告)号：KR1020160091621A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：KR1020150011946
申请日：2015-01-26
Applicant: 한국과학기술연구원
CPC classification number: G01J1/4228 , G01J2001/444
Abstract: 광특성측정시스템은빛을발하는장치로부터의광량을측정하는측정부를포함하되, 상기측정부는복수의센서를포함할수 있다. 또한, 일실시예에따른광특성측정시스템은상기복수의센서의측정값을보정하는보정부를더 포함할수 있다. 이로써광량측정시간을단축시킬수 있고, 신뢰성이향상된측정결과를얻을수 있다.
Abstract translation: 本发明涉及一种光学性能测量系统，其包括具有多个传感器的测量单元，以测量来自发光器件的光学量。 此外，根据实施例的光学性质测量系统还可以包括用于补偿多个传感器的测量的更多补偿单元。 因此，本发明可以减少光量的测量时间并获得提高的可靠性的测量结果。
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公开(公告)号：KR101765563B1
公开(公告)日：2017-08-07
申请号：KR1020150096728
申请日：2015-07-07
Applicant: 한국과학기술연구원
Abstract: 본발명의일 실시예에따른광센서측정값의보정방법은, 광센서에의해측정된균일한광원의광세기값에기초하여, 상기광센서의픽셀들중 불량픽셀을결정하는제1단계; 및상기광센서에의해측정된발광장치의광세기값들중 상기제1단계에서불량픽셀로결정된픽셀의측정값을보정하는제2단계;를포함한다. 또한, 본발명의일 실시예에따른광센서측정값의노이즈제거방법은, 광센서에의해측정된광세기값들을입력받는단계; 및입력받은광세기값들중 상기광센서내의복수의픽셀에의해측정된광세기값들을평균화또는합산하는단계;를포함한다.
Abstract translation: 根据本发明实施例的校正光学传感器测量值的方法包括：第一步骤，基于由光学传感器测量的均匀光源的光强度值来确定光学传感器的像素中的缺陷像素; 以及第二步骤，对由所述光学传感器测量的所述发光器件的光强度值中的被确定为所述第一步骤中的缺陷像素的像素的测量值进行校正。 根据本发明的另一方面，提供了一种从光学传感器测量值去除噪声的方法，所述方法包括：接收由光学传感器测量的光强度值; 并且对输入光强度值中由光学传感器中的多个像素测量的光强度值进行平均或求和。
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