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公开(公告)号：CN107532939A
公开(公告)日：2018-01-02
申请号：CN201680027627.3
申请日：2016-04-27
Applicant: 霍尼韦尔国际公司
CPC classification number: G01J1/429 , G01J1/0228 , G01J1/4228 , G01J1/44 , G01J5/0018 , G01J2001/444 , G01J2001/4446
Abstract: 本文描述了利用淬灭时间对紫外（UV）传感器管去离子化。一种方法包括监测UV传感器管内的点火事件，其中特定点火事件开始装备UV传感器管，开始淬灭时间以便对UV传感器管去离子化，其中淬灭时间包括使UV传感器管解除装备以便防止点火事件。
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公开(公告)号：CN107003180A
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201580057425.9
申请日：2015-10-19
Applicant: 库卡工业有限两合公司
CPC classification number: G01J1/0228 , G01J1/0271 , G01J1/42 , G01J1/44 , G01J2001/0285 , G01J2001/4466
Abstract: 本发明涉及一种借助光学传感器监测辐射尤其是激光射线的方法，该光学传感器至少在遭遇辐射时产生影响该辐射的信号、尤其是关停信号，其特征是，采用具有暗电流脉冲的传感器，所述暗电流脉冲作为该传感器的功能能力信号被分析。
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公开(公告)号：CN106164630A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201580018311.3
申请日：2015-03-30
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
CPC classification number: G01J1/4204 , G01J1/0219 , G01J1/0228 , G01J1/4228 , G01J2001/4266
Abstract: 本公开涉及一种被配置为确定由对象经历的环境光暴露的量的光感测系统。本发明在相同用户的不同的可穿戴设备之间和/或在不同用户的设备之间无线地交换光信息。本地光剖面数据库和/或中心光剖面数据库由所述系统建立并且在所述设备之间共享，使得针对在特定日和年的时间处的位置典型的光数据能够被用于估计针对其中未能获取测量结果的情形的当前环境光水平。
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公开(公告)号：CN104221475A
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN201380019405.3
申请日：2013-04-04
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: H05B37/02
CPC classification number: G01J1/0228 , H05B37/0254 , H05B37/0272
Abstract: 用于监控照明控制系统的传感器的方法和系统。该方法包括：施行照明控制系统的多个传感器的训练（210）以确定给定时间t处的照度的联合概率分布函数（PDF）；收集来自所述训练的参数并将该参数存储在之前的数据存储中（S212）；观察多个传感器的照度（S222）；部分基于存储在之前的数据存储中的参数来确定多个传感器当中是否有至少故障传感器（S224）；以及基于确定存在至少故障传感器以及之前的数据来定位故障传感器（S232，S234）。
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公开(公告)号：CN103364177A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201310058976.X
申请日：2013-02-25
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 江南世志
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01J1/4257 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4228 , G01J3/505 , G01J3/51 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种用于测量光源的配光特性的配光特性测量装置和配光特性测量方法。配光特性测量装置包括以具有规定的相对关系的方式配置的多个检测器。一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复。配光特性测量装置还包括：驱动单元，其将多个检测器作为一体来进行驱动，由此更新多个检测器相对于光源的位置关系；以及计算单元，其根据由多个检测器在相同的时刻获取到的各个检测结果，进行与多个检测器的相对关系和检测范围的重复中的至少一方相应的处理，计算光源的配光特性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103292978A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310054909.0
申请日：2013-02-20
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01M11/02
CPC classification number: F21V21/14 , G01J1/0223 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供光源支承装置及采用该光源支承装置的光辐射特性测定装置。该光源支承装置包括：基座部；第1支承部，其用于将基座部能够绕第1轴旋转地支承；第1臂部和第2臂部，其分别连接于基座部的两端，沿着与第1轴平行的方向延伸；一对第2支承部，其设置在第1臂部和第2臂部的彼此面对的各个位置，用于支承被测定光源。一对第2支承部构成为使所支承的被测定光源能够绕与第1轴垂直的第2轴旋转。第1臂部和第2臂部中的至少一个臂部相对于基座部装卸自如。
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公开(公告)号：CN101552278A
公开(公告)日：2009-10-07
申请号：CN200910132431.2
申请日：2009-03-27
Applicant: 爱普生映像元器件有限公司
CPC classification number: G09G3/3648 , G01J1/0228 , G01J1/32 , G02F1/133371 , G02F2201/58 , G02F2203/09 , G09G3/3406 , G09G2320/043 , G09G2320/0626 , G09G2360/145
Abstract: 本发明提供了光检测装置、电光装置及电子设备以及光劣化修正方法，其可以降低光劣化修正功能的实现所需成本且提高检测精度，其具备：光传感器部，其具有光检测用晶体管，输出与对该光检测用晶体管的照射光量相应的信号；阈值电压检测部，其具有与光检测用晶体管相邻配置并与光检测用晶体管在同一工艺中形成的阈值检测用晶体管，检测该阈值检测用晶体管的阈值电压；传感器输出值生成部，其根据光传感器部的输出信号，生成与照射光量相关的传感器输出值；修正系数确定部，其根据用于修正由光劣化引起的传感器输出值的变化的修正系数和阈值电压的对应关系，确定与阈值电压检测部检测的阈值电压对应的修正系数；以及修正处理部，其根据修正系数确定部确定的修正系数，修正传感器输出值。
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公开(公告)号：CN101233395A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200680028046.8
申请日：2006-05-15
Applicant: 罗斯蒙德公司
Inventor： 戈布瑞尔·拉查罗·赛拉 , 马克斯·安东尼奥·佩鲁松 , 劳伦·迈克尔·安格斯塔德 , 威廉·托马斯·安德森
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01J1/4228 , G01D5/268 , G01J1/0228 , G01J1/0271 , G01J1/04 , G01J1/0425 , G01J5/02 , G01J5/025 , G01J5/026 , G01J5/08 , G01J5/0818 , G01J5/0821 , G01J5/0893
Abstract: 一种现场设备(30)，测量来自与过程相关联的多个位置的红外辐射，所述现场设备(30)包括多个输入信道(32)、多个IR传感器(34)、以及数据处理器(38)。来自与过程相关联的位置的红外辐射由输入信道(32)接收，而且IR传感器(34)测量该红外辐射的强度，以产生代表性的传感器信号。数据处理器(38)产生作为所选传感器信号的函数的输出。
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公开(公告)号：CN101162726A
公开(公告)日：2008-04-16
申请号：CN200710181178.0
申请日：2007-10-12
Inventor： 武市吉正
IPC: H01L27/146 , H01L31/0232 , G02B5/20 , G02B5/28
CPC classification number: H04N9/04 , G01J1/02 , G01J1/0209 , G01J1/0228 , G01J1/0295 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0488 , G01J1/42 , H01L31/0203 , H01L31/02162
Abstract: 以前的光电变换装置中虽然拦截了不需要的红外线，但同时也存在可见光区域的光的透光率也减少这一问题。本发明的光电变换装置中，具有形成有光电变换元件的半导体基板(2)、设置在半导体基板(2)上的滤色片(8)、以及粘合在滤色片(8)上的支撑基体(21)，支撑基体(21)具有层叠了多个电介质层的反射红外线的干涉膜滤片(11)，通过这样能够解决上述问题。进而，通过将滤色片(8)的透光性调整成人类的可见度，能够实现一种被调整成了人类的可见度的光电变换装置。
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公开(公告)号：CN107003180B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201580057425.9
申请日：2015-10-19
Applicant: 库卡工业有限两合公司
CPC classification number: G01J1/0228 , G01J1/0271 , G01J1/42 , G01J1/44 , G01J2001/0285 , G01J2001/4466
Abstract: 本发明涉及一种借助光学传感器监测辐射尤其是激光射线的方法，该光学传感器至少在遭遇辐射时产生影响该辐射的信号、尤其是关停信号，其特征是，采用具有暗电流脉冲的传感器，所述暗电流脉冲作为该传感器的功能能力信号被分析。
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