현미경 장치
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:KR101742389B1

    公开(公告)日:2017-06-01

    申请号:KR1020150151955

    申请日:2015-10-30

    Abstract: 일실시예에따른현미경장치는, 시편의영상을획득하기위한빛을방출하는가시레이저광원, 상기시편을고정하기위한빛을방출하는적외선레이저광원, 상기가시레이저광원에서방출된빛과상기적외선레이저광원에서방출되어빛을시편에집광시키는대물렌즈, 상기대물렌즈와결합하여상기대물렌즈를이동시키는엑추에이터, 상기가시레이저광원에서방출되고상기시편에서반사된빛을검출하는광 검출기및 상기광 검출기에서검출된빛의신호를통하여상기시편의영상을복원할수 있는제어부를포함할수 있다. 상기제어부는상기시편의영상을획득함에있어서상기엑추에이터에의한상기대물렌즈의이동을보상하기위해상기적외선레이저광원에서방출된빛의초점을변조시킬수 있다.

    현미경 장치
    12.
    发明公开
    현미경 장치 有权
    显微镜装置

    公开(公告)号:KR1020170050434A

    公开(公告)日:2017-05-11

    申请号:KR1020150151955

    申请日:2015-10-30

    Abstract: 일실시예에따른현미경장치는, 시편의영상을획득하기위한빛을방출하는가시레이저광원, 상기시편을고정하기위한빛을방출하는적외선레이저광원, 상기가시레이저광원에서방출된빛과상기적외선레이저광원에서방출되어빛을시편에집광시키는대물렌즈, 상기대물렌즈와결합하여상기대물렌즈를이동시키는엑추에이터, 상기가시레이저광원에서방출되고상기시편에서반사된빛을검출하는광 검출기및 상기광 검출기에서검출된빛의신호를통하여상기시편의영상을복원할수 있는제어부를포함할수 있다. 상기제어부는상기시편의영상을획득함에있어서상기엑추에이터에의한상기대물렌즈의이동을보상하기위해상기적외선레이저광원에서방출된빛의초점을변조시킬수 있다.

    Abstract translation: 根据实施例的显微镜装置包括:发射用于获取样本图像的光的可见激光源;发射用于固定样本的光的红外激光源; 物镜,用于移动物镜;光检测器,用于检测从样品反射并从可见激光源发射的光;以及光检测器,用于检测从样品反射的光, 还有一个控制器,用于通过检测到的光信号恢复样本的图像。 控制器可以调制从红外激光源发射的光的焦点,以补偿由致动器在获取样本的图像时物镜的移动。

    이중 검출 반사 공초점 현미경 및 이를 사용하는 시편의 높이의 정보를 검출하는 방법
    13.
    发明授权
    이중 검출 반사 공초점 현미경 및 이를 사용하는 시편의 높이의 정보를 검출하는 방법 有权
    双重检测共焦反射显微镜及使用其测定样品高度信息的方法

    公开(公告)号:KR101505745B1

    公开(公告)日:2015-03-26

    申请号:KR1020130128066

    申请日:2013-10-25

    CPC classification number: G02B21/008 G02B21/0032 G02B21/06 G02B21/18 G02B21/26

    Abstract: 시편의 높이의 정보를 검출하는 공초점 현미경 및 시편의 높이의 정보를 검출하는 방법이 제공된다. 실시예의 공초점 현미경은 복수의 핀홀을 구비하고, 복수의 핀홀을 통과한 반사광의 세기에 기반하여 시편의 높이의 정보를 검출할 수 있고, 검출된 시편의 높이의 정보에 기반하여 시편의 3 차원이 생성될 수 있다. 실시예의 공초점 현미경은 공초점 현미경 및/또는 시편의 기계적인 이송 없이 시편의 높이의 정보를 검출할 수 있고, 시편을 2 차원 평면에서 스캔하는 것만으로 시편의 3 차원 영상을 생성할 수 있다.

    Abstract translation: 提供了共焦显微镜和用于检测关于样品的高度的信息的方法。 根据本发明的实施例,具有多个针孔的共聚焦显微镜能够基于穿过针孔传输的反射光的强度来检测样本的高度的信息,并且能够产生三维图像 基于检测到的关于样品高度的信息。 共聚焦显微镜能够检测样品的高度信息,而不需要共聚焦显微镜和/或样品的机械运动,并且能够通过在两个样品上扫描样品来产生样品的三维图像 维平面。 共聚焦显微镜包括:透射发射到样本的光的物镜,并且当光发射到样本时由样本反射的反射光被透射; 透射通过分束器从反射光分离第一反射光的第一针孔; 第二针孔,通过分束器沿与第一反射光不同的方向从反射光分离的第二反射光透过该第二针孔; 以及处理部,其基于所述第一反射光的第一强度和所述第二反射光的第二强度,检测由所述共聚焦显微镜观察到的所述样本的高度的信息,其中,所述第一和第二销孔的尺寸不同 。

    광섬유 비공진 스캐닝 방식의 내시현미경 프로브
    14.
    发明公开
    광섬유 비공진 스캐닝 방식의 내시현미경 프로브 有权
    基于光纤非共振扫描的内微波探测

    公开(公告)号:KR1020140116341A

    公开(公告)日:2014-10-02

    申请号:KR1020130031131

    申请日:2013-03-22

    Abstract: The present invention relates to an endo-microscopic probe based on the non-resonant scanning of optical fiber. An endo-microscopic probe includes: a housing of a preset size; optical fiber which is located in the inner part of the housing and transmits a light source; a tube-type piezoelectric element which includes a guide part which has a structure of surrounding the optical fiber in the housing, has an end for guiding the movement of the optical fiber, receives power from the outside to transmit a deformation value according to deformation to the optical fiber through the guide part, and provides the deformation (deformation value); and a lens part which is located in the inner part of the piezoelectric element to transmit light emitted from the end of the optical fiber to a sample and is fixed at the end of the housing.

    Abstract translation: 本发明涉及一种基于光纤的非共振扫描的内窥镜探针。 内窥镜探针包括:预定尺寸的壳体; 光纤,其位于壳体的内部并透射光源; 一种管状压电元件,其包括具有围绕壳体中的光纤的结构的引导部,具有用于引导光纤的移动的端部,从外部接收功率以将变形值根据变形传递到 光纤通过引导部分,并提供变形(变形值); 以及透镜部,其位于压电元件的内部,用于将从光纤端部发射的光透射到样品,并且固定在壳体的端部。

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