Abstract:
Un procédé permettant de fabriquer un dispositif informatique optique utilisant un élément informatique intégré à base de cristal photonique est décrit. Le procédé comprend la sélection d'une structure de cristal photonique avec une suite de conception stockée sur un support non transitoire lisible par ordinateur et obtenant un spectre de transmission pour le cristal photonique sélectionné. En outre, le procédé comprend la détermination d'un pouvoir prédictif d'un élément informatique intégré à base de cristal photonique pour une caractéristique d'un échantillon utilisant le spectre de transmission et une base de données spectrale. Et l'ajustement du spectre de transmission afin d'améliorer un pouvoir prédictif de l'élément informatique intégré à base de cristal photonique pour la mesure d'une caractéristique d'un échantillon sous analyse. Mais également, la fabrication d'une structure de cristal photonique pour l'élément informatique intégré à base de cristal photonique à base de cristal photonique lorsque le pouvoir prédictif dépasse un seuil présélectionné.
Abstract:
Dispositif informatique optique comprenant : une source de rayonnement électromagnétique pour émettre un rayonnement électromagnétique dans un train optique ; un élément informatique intégré (ICE) placé dans le train optique avant ou après un échantillon situé dans le train optique pour générer un rayonnement électromagnétique modifié dans le train optique ; un filtre à large bande sélectif selon l'angle (BASF) placé dans le train optique pour transmettre le rayonnement électromagnétique et/ou le rayonnement électromagnétique modifié dans le train optique à un angle incident cible, générant ainsi un rayonnement électromagnétique modifié sélectionné selon l'angle (ASMR) ; et pour refléter une ou plusieurs réflexions de rayonnement parasite à des angles qui ne sont pas coïncidants avec l'angle incident cible ; et un détecteur pour recevoir l'ASMR et pour générer une signal de sortie correspondant à une caractéristique de l'échantillon.
Abstract:
L'invention concerne un système d'essai d'éléments optiques comprenant un filtre à large bande sélectif selon l'angle disposé le long d'un chemin optique avec un élément optique à tester. Le système comprend aussi un transducteur de rayonnement électromagnétique, qui émet un signal en réponse au rayonnement électromagnétique qui traverse le filtre à large bande sélectif selon l'angle. Le système comprend aussi un dispositif d'enregistrement qui enregistre des données correspondant à la sortie de signaux à partir du transducteur de rayonnement électromagnétique, les données indiquant une propriété de l'élément optique en réponse à un test.
Abstract:
Multivariate optical computing using polarizers to modulate the intensity of sample-interacted light. The polarizer(s), along with other device components, produce a spectroscopic intensity profile that mimics the regression vector that corresponds to the sample characteristic(s) of interest.
Abstract:
Systems and methods of engineering the optical properties of an optical Integrated Computational Element device using ion implantation during fabrication are provided. A system as disclosed herein includes a chamber, a material source contained within the chamber, an ion source configured to provide a high-energy ion beam, a substrate holder to support a multilayer stack of materials that form the Integrated Computational Element device, a measurement system, and a computational unit. The material source provides a material layer to the multilayer stack, and at least a portion of the ion beam is deposited in the material layer according to an optical value provided by the measurement system.
Abstract:
Disclosed herein are methods and systems for capture and measurement of a target component. A fluid sampling tool for sampling fluid from a subterranean formation may include a sample chamber having a fluid inlet, wherein the sample chamber is lined with a coating of a material that can reversibly hold a target component.
Abstract:
Bereitgestellt wird ein Verfahren zum Herstellen einer optischen Rechenvorrichtung mithilfe eines integrierten Rechenelements auf Basis von photonischem Kristall. Das Verfahren beinhaltet Auswählen einer photonischen Kristallstruktur mit einer Auslegungssammlung, die in einem nicht transitorischen, computerlesbaren Medium gespeichert ist, und Erlangen eines Durchlässigkeitsspektrums für den ausgewählten photonischen Kristall. Ferner beinhaltet das Verfahren das Bestimmen einer Vorhersageleistung eines integrierten Rechenelements auf Basis von photonischem Kristall für eine Charakteristik einer Probe mithilfe des Durchlässigkeitsspektrums und einer spektralen Datenbank. Und das Anpassen des Durchlässigkeitsspektrums zum Verbessern einer Vorhersageleistung des integrierten Rechenelements auf Basis von photonischem Kristall zum Messen einer Charakteristik einer analysierten Probe. Auch das Herstellen der photonischen Kristallstruktur für das integrierte Rechenelement auf Basis von photonischem Kristall, wenn die Vorhersageleistung einen im Voraus ausgewählten Schwellenwert überschreitet.
Abstract:
Optische Rechenvorrichtungen, einschließend eine elektromagnetische Strahlungsquelle zum Emittieren elektromagnetischer Strahlung in einen optischen Strahlengang; ein integriertes Rechenelement (ICE), das in dem optischen Strahlengang vor oder nach einer Probe lokalisiert wird, die in dem optischen Strahlengang lokalisiert wird, um in dem optischen Strahlengang modifizierte elektromagnetische Strahlung zu generieren; einen selektiven Breitbandwinkelfilter (BASF), der in dem optischen Strahlengang lokalisiert wird, um die elektromagnetische Strahlung und/oder die modifizierte elektromagnetische Strahlung in dem optischen Strahlengang mit einem Zieleinfallswinkel zu übertragen, wodurch eine nach dem Winkel ausgewählte modifizierte elektromagnetische Strahlung (ASMR) generiert wird, und um eine oder mehrere Streustrahlungsreflexionen mit Winkeln zu reflektieren, die nicht mit dem Zieleinfallswinkel übereinstimmen; und einen Detektor, der die ASMR empfängt und ein Ausgabesignal generiert, das einem Charakteristikum der Probe entspricht.
Abstract:
Ein Prüfsystem für optische Elemente beinhaltet ein winkelselektives Breitbandfilter, das entlang eines Strahlengangs mit einem zu prüfenden optischen Element angeordnet ist. Das System beinhaltet auch einen Wandler elektromagnetischer Strahlung, der ein Signal als Reaktion auf elektromagnetische Strahlung ausgibt, die durch das winkelselektive Breitbandfilter hindurchgeht. Das System beinhaltet auch eine Speichervorrichtung, die Daten speichert, die dem Signal entsprechen, das von dem Wandler elektromagnetischer Strahlung ausgegeben wird, wobei die Daten eine Eigenschaft des optischen Elements als Reaktion auf eine Prüfung angeben.