MANUFACTURING PROCESS FOR INTEGRATED COMPUTATIONAL ELEMENTS

    公开(公告)号:CA2935173C

    公开(公告)日:2018-05-01

    申请号:CA2935173

    申请日:2014-03-21

    Abstract: Disclosed are methods of fabricating an integrated computational element for use in an optical computing device. One method includes providing a substrate that has a first surface and a second surface substantially opposite the first surface, depositing multiple optical thin films on the first and second surfaces of the substrate via a thin film deposition process, and thereby generating a multilayer film stack device, cleaving the substrate to produce at least two optical thin film stacks, and securing one or more of the at least two optical thin film stacks to a secondary optical element for use as an integrated computational element (ICE).

    Problemanalysewerkzeug, das einen winkelselektiven Breitbandfilter einsetzt

    公开(公告)号:DE112015006132T5

    公开(公告)日:2017-11-02

    申请号:DE112015006132

    申请日:2015-08-12

    Abstract: Ein Probenanalysewerkzeug beinhaltet eine Probenkammer, um eine Probe zu halten. Das Werkzeug beinhaltet auch ein winkelselektives Breitbandfilter, das entlang eines Strahlengangs mit der Probenkammer angeordnet ist. Das Werkzeug beinhaltet auch einen Wandler elektromagnetischer Strahlung (ER), der ein Signal als Reaktion auf elektromagnetische Strahlung ausgibt, die durch das winkelselektive Breitbandfilter hindurchgeht. Das Werkzeug beinhaltet auch eine Speichervorrichtung, die Daten speichert, die dem Signal entsprechen, das von dem ER-Wandler ausgegeben wird, wobei die Daten eine Eigenschaft der Probe angeben.

    5.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:FR3035217A1

    公开(公告)日:2016-10-21

    申请号:FR1651929

    申请日:2016-03-08

    Abstract: Un dispositif informatique optique comprenant une pluralité de sources de rayonnement électromagnétique, chacune à un déplacement angulaire unique autour d'un train optique et chacune à au moins une longueur d'onde unique de rayonnement électromagnétique ; un élément informatique intégré (ICE) situé dans le train optique avant ou après un échantillon situé dans le train optique pour générer un rayonnement électromagnétique modifié dans le train optique ; un filtre à large bande sélectif selon l'angle (BASF) situé dans le train optique qui est pivotable autour d'un axe en une pluralité d'orientations uniques pour transmettre le rayonnement électromagnétique et/ou le rayonnement électromagnétique modifié dans le train optique à un angle incident cible correspondant à l'une de la pluralité des sources de rayonnement électromagnétique pour générer un rayonnement électromagnétique modifié sélectionné selon l'angle (ASMR) ; et un détecteur permettant de recevoir l'ASMR et pour générer un signal de sortie correspondant à une caractéristique de l'échantillon.

    OUTILS DE FOND DE PUITS ET PROCEDES D'ISOLATION ET D'ANALYSE DE GAZ A PARTIR DE FLUIDES DE FOND DE PUITS

    公开(公告)号:FR3060643B1

    公开(公告)日:2019-11-29

    申请号:FR1760918

    申请日:2017-11-20

    Abstract: Des outils de fond de puits pour isoler et analyser un ou plusieurs gaz incluent un ensemble de séparation de gaz en communication fluidique avec un analyseur spécifique de gaz. L'ensemble de séparation de gaz inclut un piston disposé à l'intérieur d'un logement et un volume de séparation défini entre le piston et le logement. Le piston peut être déplacé pour séparer un composant gazeux et un composant liquide à partir d'un fluide de formation de fond de puits à l'intérieur du volume de séparation. L'analyseur spécifique de gaz sert à mesurer une ou plusieurs propriétés du composant gazeux. Dans certaines configurations, l'analyseur spécifique de gaz est un ensemble optique contenant une source de lumière, un détecteur optique, et une cellule de gaz qui contient un volume d'observation. L'ensemble optique sert à mesurer une ou plusieurs propriétés du composant gazeux à l'intérieur du volume d'observation via la source de lumière et le détecteur optique.

    Optisch-analytische Vorrichtungen mit kapazitätsbasierten Nanomaterialdetektoren

    公开(公告)号:DE112015006898T5

    公开(公告)日:2018-05-24

    申请号:DE112015006898

    申请日:2015-11-13

    Abstract: Optische Rechenvorrichtungen können kapazitätsbasierte Nanomaterialdetektoren beinhalten. Beispielsweise kann eine optische Rechenvorrichtung folgendes beinhalten: eine Lichtquelle, die elektromagnetische Strahlung in ein Optiksystem abstrahlt, das sich von der Lichtquelle zu einem kapazitätsbasierten Nanomaterialdetektor erstreckt; ein Material, das im Optiksystem angeordnet ist, um optisch mit der elektromagnetischen Strahlung zu interagieren und Licht mit optischer Interaktion zu erzeugen; und den kapazitätsbasierten Nanomaterialdetektor, der ein oder mehrere Materialien in Nanogröße umfasst, die dazu konfiguriert sind, ein Absorptionsspektrum aufzuweisen, das einer Resonanzabstimmung unterzogen wurde, und dazu konfiguriert sind, das Licht mit optischer Interaktion aufzunehmen, einen Vektor, der mit der interessierenden Charakteristik in Beziehung steht, auf das Licht mit optischer Interaktion anzuwenden unter Verwendung des Absorptionsspektrum, das einer Resonanzabstimmung unterzogen wurde, und ein Ausgangssignal zu erzeugen, das die interessierende Charakteristik angibt.

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