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    Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie
    12.
    发明专利
    Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie 未知

    公开(公告)号：DE102004029733B4

    公开(公告)日：2022-03-31

    申请号：DE102004029733

    申请日：2004-06-21

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ULRICH HEINRICH DR ,  KNEBEL WERNER DR

    IPC: G02B21/00 ,  G01N21/64 ,  G02B5/20

    Abstract: Rastermikroskop mit einem Non-Descan-Detektor zur Detektion des von einer Probe ausgehenden Detektionslichtes, wobei im Lichtweg des Detektionslichtes ein Bandpassfilter vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass der Bandpassfilter eine Kombination aus mindestens einem Kurzpassfilter und mindestens einem Langpassfilter beinhaltet, dass der Lichtweg des Detektionslichtes mehrere Detektionskanäle umfasst, und dass der Bandpassfilter die Aufteilung der Detektionskanäle bewirkt.

    Lichtscheibenmikroskop
    13.
    发明专利
    Lichtscheibenmikroskop 未知

    公开(公告)号：DE102005027077B4

    公开(公告)日：2018-02-08

    申请号：DE102005027077

    申请日：2005-06-11

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  HOFFMANN JÜRGEN DR

    IPC: G02B21/06

    Abstract: Mikroskop (1) mit einem Objektiv (23) durch das Detektionslicht entlang eines Detektionsstrahlenganges, der im Bereich des Objektivs (23) eine Detektionsrichtung definiert, zu einem Detektor (29) gelangt und mit einer Beleuchtungseinrichtung (3), die einen Lichtstreifen erzeugt, der eine Probe in einer Beleuchtungsebene (19) flächenartig beleuchtet, dadurch gekennzeichnet, dass die Beleuchtungsebene (19) einen von 90 Grad verschiedenen Winkel zur Detektionsrichtung aufweist.

    Verfahren zur lichtoptischen Abtastung eines Objekts und Rastermikroskop zur Anwendung des Verfahrens
    14.
    发明专利
    Verfahren zur lichtoptischen Abtastung eines Objekts und Rastermikroskop zur Anwendung des Verfahrens 未知

    公开(公告)号：DE19957418B4

    公开(公告)日：2016-02-04

    申请号：DE19957418

    申请日：1999-11-29

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  BRADL JOACHIM DR

    IPC: G02B21/00 ,  G02F1/11

    Abstract: Verfahren zur lichtoptischen Abtastung eines Objekts bei der konfokalen Laserscanning-Mikroskopie, wobei die Intensität des Lichts geregelt wird, dadurch gekennzeichnet, dass zur Optimierung der Signalausbeute die Intensität des Lichts in Abhängigkeit von der jeweiligen axialen und/oder lateralen Fokusposition (2) im Objektbereich (3) des gerasterten, fokussierten Lichtstrahls derart geregelt wird, dass bei zu geringem Signal-zu-Rausch-Verhältnis des gemessenen Signals das abzutastende Objekt mit mehr oder weniger Licht beaufschlagt wird, so dass das zu detektierende Streu-, Reflexions- oder Fluoreszenzlicht zumindest in einem gewissen Bereich in seiner Intensität erhöht oder verringert wird, wodurch eine Anpassung des Detektionslichts an den Dynamikbereich des jeweils verwendeten Detektors erzielt wird.

    Verfahren zum Generieren eines dreidimensionalen Objekts
    15.
    发明专利
    Verfahren zum Generieren eines dreidimensionalen Objekts 未知

    公开(公告)号：DE10027323B4

    公开(公告)日：2013-09-26

    申请号：DE10027323

    申请日：2000-06-05

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  HOFFMANN JUERGEN DR

    IPC: G01B11/24 ,  G02B21/00 ,  B22C7/00 ,  B29C67/00 ,  G02B21/22 ,  G03F7/20 ,  G06T1/00

    Abstract: Verfahren zum Generieren eines dreidimensionalen Objekts (1) aus einer dreidimensionalen Objektvorlage (2), wobei die Objektvorlage (2) mit einem Lichtstrahl (3) einer Lichtquelle (4) abgetastet wird und das von der Objektvorlage (2) zurückkehrende Licht (5) detektiert wird, wobei die Abtastoptik (7, 8, 9) konfokal arbeitet und der Abtastvorgang von einer Steuereinrichtung (11) gesteuert und der Lichtstrahl (3, 5) von einer Strahlablenkeinrichtung (12) abgelenkt wird, wobei die Transparenz von Objektbereichen der Objektvorlage unter Zugrundelegung einer Zuordnungsvorschrift der Eigenschaft des detektierten Objektvorlagelichts zu der Eigenschaft der generierten Objektmaterialausführung vorlagengetreu nachbildbar ist, wobei die detektierten Objektbilddaten eine dem Auflösungsvermögen entsprechende und in Abhängigkeit der Raumrichtung unterschiedliche Ausdehnung und/oder Pixelgröße aufweisen und entsprechend skaliert werden.

    17.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE10038049A1

    公开(公告)日：2002-02-14

    申请号：DE10038049

    申请日：2000-08-02

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER DR

    IPC: G01J3/06 ,  G01J3/14 ,  G01J3/18 ,  G01J3/32 ,  G01J3/443 ,  G01N21/27 ,  G01N21/64 ,  G02B5/18 ,  G02B21/00 ,  G02B26/08 ,  G01J3/36 ,  G01N21/25

    Abstract: Optical arrangement for selection and detection of the light from a spectral region of a light beam (1) in a confocal raster microscope with a prism (2) for spectral separation of the light beam and a shutter (3) for selection of a particular spectral region (4). To effect the spectral region (4) of the spectrally divided light beam (19), it and the detector device can be moved relative to each other. Relative displacement of the spectral region of the light beam and the detector is achieved using a galvanometer for rotational or translational displacement.

    Fluoreszenzmikroskop und Verfahren zur Durchführung von Multipositionierungen in einer Screening-Applikation
    18.
    发明专利
    Fluoreszenzmikroskop und Verfahren zur Durchführung von Multipositionierungen in einer Screening-Applikation 未知

    公开(公告)号：DE102010016382B4

    公开(公告)日：2022-06-02

    申请号：DE102010016382

    申请日：2010-04-09

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER DR

    IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

    Abstract: Fluoreszenzmikroskop (20) zum Untersuchen mindestens einer Probe (42),mit einer Lichtquelle (22), die Anregungslicht (24) erzeugt,mehreren Detektorelementen zur Detektion von Fluoreszenzlicht (44), mehreren Lichtleitern (41), die das Anregungslicht (24) als Teilstrahlen (30) zu der Probe (42) leiten, welches Farbstoffpartikel der Probe (42) zum Fluoreszieren anregt, und die von der Probe (42) emittiertes Fluoreszenzlicht zu den Detektorelementen leiten,einer Fokussieroptik, die in Richtung der Teilstrahlen (30) zwischen den Lichtleitern (41) und der Probe (42) angeordnet ist,wobei jedem Lichtleiter (41) mindestens ein Detektorelement zugeordnet ist,und mit mehreren schaltbaren optischen Elementen (72), die jeweils einen ersten Schaltzustand und einen zweiten Schaltzustand haben und die das Anregungslicht (24) in die Teilstrahlen (30) aufspalten, wobei die optischen Elemente (72) im ersten Schaltzustand die Teilstrahlen (30) zu den Lichtleitern (41) lenken und wobei die optischen Elemente (72) im zweiten Schaltzustand die Teilstrahlen (30) nicht zu den Lichtleitern (41) lenken.

    Rastermikroskop
    19.
    发明专利
    Rastermikroskop 未知

    公开(公告)号：DE10356826B4

    公开(公告)日：2021-12-02

    申请号：DE10356826

    申请日：2003-12-05

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BÖHM INGO ,  KNEBEL WERNER DR ,  ULRICH HEINRICH DR

    IPC: G02B21/06 ,  G02B21/00 ,  G02F1/11 ,  G02F1/29

    Abstract: Rastermikroskop mit mindestens einer Lichtquelle, die ein Beleuchtungslichtstrahlenbündel erzeugt, mit einem akustooptischen Bauteil zur Einstellung der Lichtleistung des Beleuchtungslichtstrahlenbündels und mit einer Strahlablenkeinrichtung zum Führen des Beleuchtungslichtstrahlenbündels über und/oder durch eine Probe, dadurch gekennzeichnet, dass das akustooptische Bauteil ein Manipulationslichtstrahlenbündel aus dem Beleuchtungslichtstrahlenbündel räumlich abspaltet, und dass Strahlführungsmittel vorgesehen sind, die das Manipulationslichtstrahlenbündel zur Manipulation auf die Probe lenken, und dass das Rastermikroskop ein Objektiv aufweist, das das übrige Beleuchtungslichtstrahlenbündel auf die Probe fokussiert.

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