Verfahren zur lichtoptischen Abtastung eines Objekts und Rastermikroskop zur Anwendung des Verfahrens

    公开(公告)号:DE19957418B4

    公开(公告)日:2016-02-04

    申请号:DE19957418

    申请日:1999-11-29

    Abstract: Verfahren zur lichtoptischen Abtastung eines Objekts bei der konfokalen Laserscanning-Mikroskopie, wobei die Intensität des Lichts geregelt wird, dadurch gekennzeichnet, dass zur Optimierung der Signalausbeute die Intensität des Lichts in Abhängigkeit von der jeweiligen axialen und/oder lateralen Fokusposition (2) im Objektbereich (3) des gerasterten, fokussierten Lichtstrahls derart geregelt wird, dass bei zu geringem Signal-zu-Rausch-Verhältnis des gemessenen Signals das abzutastende Objekt mit mehr oder weniger Licht beaufschlagt wird, so dass das zu detektierende Streu-, Reflexions- oder Fluoreszenzlicht zumindest in einem gewissen Bereich in seiner Intensität erhöht oder verringert wird, wodurch eine Anpassung des Detektionslichts an den Dynamikbereich des jeweils verwendeten Detektors erzielt wird.

    2.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE50015213D1

    公开(公告)日:2008-07-31

    申请号:DE50015213

    申请日:2000-11-09

    Abstract: The invention concerns an apparatus for beam deflection, in particular for scanning microscopy, a light beam being deflectable by a mirror arrangement that is alternatingly rotatable by a rotary drive. The apparatus for beam deflection makes possible maximum variability in terms of frequency range and maximally achievable oscillation frequency, and is thus usable in flexible and versatile fashion. It moreover allows almost any desired angular offset from the zero point position to be established, and is characterized in that the rotary drive comprises two mutually independent drive units which rotate the mirror arrangement, together or mutually independently, about a rotation axis.

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