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公开(公告)号:CN101266349B
公开(公告)日:2010-09-22
申请号:CN200810083626.8
申请日:2008-03-12
Applicant: 索尼公司
IPC: G02F1/133 , G02F1/1362 , G09G3/36 , H01L27/12
CPC classification number: G01J1/18 , G01J1/02 , G01J1/0219 , G01J1/4204 , G01J1/46 , G01J2001/444 , G02F2001/13312 , G09G3/3406 , G09G2330/06 , G09G2360/144
Abstract: 本发明提供一种显示装置,具备:显示面板;驱动显示面板的驱动电路;对显示面板进行照明的照明单元;具有对外部光线的明暗进行检测的光传感器Ts以及通过第一开关单元S1以规定的基准电压充电的电容器Cw的光检测部Ls;读取该光检测部的检测值的光传感器读取部Re1;和根据所述光传感器读取部的输出对照明单元进行控制的控制单元,其中,光传感器读取部,设置有避免由在驱动电路的操作时产生的干扰所诱发的光检测部的错误检测的干扰避免单元。由于具备这样的构成,从而能够提供一种能够不受在光传感器与显示面板的电极、布线之间所形成的寄生电容所产生的干扰的影响地检测外部光线的明暗的显示装置。
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公开(公告)号:CN101464187A
公开(公告)日:2009-06-24
申请号:CN200810183749.9
申请日:2008-12-15
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01J1/10 , G02F1/13 , G02F1/1362
Abstract: 本申请公开了一种光传感器测试单元、测试光传感器的方法以及显示设备,在光传感器测试单元中,将测试电路嵌入在显示面板中并且与感测外部光强度的光传感器的输出节点连接。在将具有预定强度的外部光提供给光传感器时,测试电路响应于从输出节点输出的感测信号输出驱动信号。测试像素部分包括从布置在显示面板中的多个像素中选择的像素,并且从测试电路接收驱动信号以显示与驱动信号相对应的灰度。亮度测量仪对与测试像素部分中显示的灰度相对应的亮度进行测量,以便将测量的亮度与预定的亮度相比较,从而测试是否正常地操作嵌入显示面板中的光传感器。
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公开(公告)号:CN101178330A
公开(公告)日:2008-05-14
申请号:CN200710185087.4
申请日:2007-11-08
Applicant: 夏普株式会社
Inventor: 清水隆行
CPC classification number: G01J1/44 , G01J1/18 , Y10S323/907
Abstract: 提供了一种光电流感测电路、一种光电传感器和一种电子设备,该光电流感测电路包括:对数压缩电路(1);消除电路(2),其用对数压缩具有基本等于光电流的温度系数的电流,以便将其转换为电压,并且对转换后的电压和通过对数压缩而从光电流转换的电压执行加法或减法;对数运算电路(4),其用对数压缩从消除电路(2)接收的电压以产生第一电压,用对数压缩与光电流的热电压成比例的电压以产生第二电压,用对数压缩具有几乎为0的热相关性的电流以产生第三电压,并且相对于第一电压而执行第二电压和第三电压中的每一个的加法或减法以产生第四电压;以及反对数变换电路(5),其对第四电压执行反对数变换以输出电流。
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公开(公告)号:CN107493647A
公开(公告)日:2017-12-19
申请号:CN201710436250.3
申请日:2017-06-09
Applicant: 法雷奥照明公司
Inventor: 阿诺·费弗尔
CPC classification number: G01J1/0425 , F21S41/16 , F21S41/176 , F21S45/70 , F21V9/30 , F21V23/0457 , F21Y2115/30 , G01J1/0488 , G01J1/18 , G01J2001/0276 , G01J2001/0285 , G01J2001/4247 , G01J2001/446 , H01S3/0007 , H01S5/02296 , H01S5/06825 , H01S5/0683 , H01S5/32341 , H05B33/089 , Y02B20/341 , H05B37/03 , B60Q11/005
Abstract: 本发明涉及一种灯模块,包括:激光源,所述激光源能够发射给定波长的相干光束;第一传感器,所述第一传感器能够采集波长落在以所述给定波长为中心的第一波段中的第一光信号;和第二传感器,所述第二传感器能够采集波长落在以与所述给定波长不同的波长为中心的第二波段中的第二光信号。特别地,所述灯模块包括检测装置(26),所述检测装置能够将至少一个为所述信号的函数的值与阈值进行比较并且能够根据所述比较命令激光源停止。
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公开(公告)号:CN106052857A
公开(公告)日:2016-10-26
申请号:CN201610705742.3
申请日:2016-08-22
Applicant: 成都三零嘉微电子有限公司
IPC: G01J1/18 , G01J1/02 , H03K19/003 , H03K19/0185 , H03K19/14
CPC classification number: G01J1/18 , G01J1/0252 , H03K19/00384 , H03K19/018507 , H03K19/14
Abstract: 本发明公开了具有温度补偿功能的光电检测电路,包括将光信号转换为电信号的光电二极管,用于将光电流转换为电压信号的电阻,用于检测电压信号的比较电路;所述光电二极管第一端接地或接电源电压,光电二极管第二端接电阻的第一端,光电二极管与电阻的公共节点连接比较电路的第一信号输入端,电阻的第二端连接比较电路的第二信号输入端。本发明只包括光电二极管、电阻和比较电路,与传统的光电检测电路相比,无需运算放大器、参考电压或者参考电流源,降低了电路的复杂度,有效减小电路面积和成本。本发明可应用芯片安全防护领域,也可用于光纤通信领域。
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公开(公告)号:CN103256980B
公开(公告)日:2016-09-28
申请号:CN201210599138.9
申请日:2012-11-29
Applicant: 兴业法兰西红外探测器-索弗拉迪尔公司
IPC: G01J1/46
Abstract: 一种具有改进的光照范围的辐射检测装置。一种像素包括光探测器(1)和控制电路(3)。该像素具有设计成与分析电路(4)连接的输出端子(8)。该光探测器(1)被配置为具有与不同偏置条件相关联的两个不同工作模式。将光探测器(1)连接到像素的输出端子(8)的开关(9)、和用于将控制电路(3)与像素的输出端子(8)和光探测器(1)连接/断开(6,7)的电路,允许在两个工作模式之间切换。比较器(10)将电容性负载(5)两端的电压与阈值相比较,并根据比较输出第一和第二信号。比较器(10)被连接到用于连接/断开控制电路(3)的电路(6,7)并被连接到开关(9)。
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公开(公告)号:CN105547468A
公开(公告)日:2016-05-04
申请号:CN201610063775.2
申请日:2016-01-29
Applicant: 福建省计量科学研究院
CPC classification number: G01J1/18 , G01J1/02 , G01J2001/4266
Abstract: 本发明提供了一种总辐射表灵敏度快速校准装置,包括一灯源暗箱、螺旋丝杆、一可升降的底座、一步进电机、一测试台暗箱、一激光定位装置、一主控设备以及一旋转电机;灯源暗箱和测试台暗箱中间能快速对位连接成上下相通的大暗箱,所述中间设置有一可活动的遮光板;所述螺旋丝杆贯穿设置于灯源暗箱内,螺旋丝杆一端连接一灯源,另一端与步进电机连接,可升降的底座设置于测试台暗箱内,所述底座上设置有一旋转盘,旋转盘上开设有多个的螺孔;激光定位装置设置于底座顶面,底座上设置有一电压信号采集数表;所述主控设备设置于测试台暗箱外。本发明可自动调节光源的辐照度,快速找到辐照度均匀的区域开展校准总辐射表灵敏度的校准工作。
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公开(公告)号:CN102739233B
公开(公告)日:2015-08-05
申请号:CN201210070740.3
申请日:2012-03-16
Applicant: 株式会社东芝
Inventor: 常次幸男
IPC: H03K19/14
CPC classification number: H03K17/78 , G01J1/18 , G01J1/44 , H03K5/2481
Abstract: 本发明的实施方式提供能够通过使阈值电压的偏置电平变化来抑制振荡的接收电路。实施方式所涉及的接收电路具备:受光元件,接收光信号,输出与所述光信号对应的光电流;信号电压生成部,将所述光电流变换为信号电压进行输出;比较器,将所述信号电压与第一阈值或第二阈值进行比较;基准电压生成部,输出用于输入所述比较器的基准电压;以及开关,基于所述比较器的输出,将所述基准电压切换为所述第一阈值及所述第二阈值中的某个。
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公开(公告)号:CN104508462A
公开(公告)日:2015-04-08
申请号:CN201380041133.7
申请日:2013-05-16
Applicant: 奥林巴斯株式会社
Inventor: 山口光城
CPC classification number: G01J1/18 , G01B11/14 , G01N21/6458 , G01N2001/282 , G01N2035/0493 , G02B21/00 , G02B21/0048 , G02B21/0076 , G02B21/06 , G02B21/26 , G02B27/1006
Abstract: 本发明提供一种在使用用于扫描分子计数法、FCS、FIDA、PCH等光分析技术的共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统的光分析技术中能够在光强度测量前判定在光学系统中是否实现了预定的状态的技术。在本发明的测量来自配置在样本溶液中的光检测区域的光强度并进行光强度的分析的光分析技术中,根据一边使光检测区域相对于样本容器的位置移动一边由光检测器输出的信号强度的大小来执行判定处理,在该判定处理中,对光检测区域是否被配置在样本溶液中且是否能够执行来自光检测区域的光强度的测量和/或能够执行光强度的测量的上述光检测区域相对于样本容器的位置或该位置的范围进行判定。
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公开(公告)号:CN104024919A
公开(公告)日:2014-09-03
申请号:CN201280065001.3
申请日:2012-12-17
Applicant: 夏普株式会社
Inventor: 松本和刚
CPC classification number: G03G15/043 , B41J2/44 , G01J1/18 , G01J2001/186 , G02B26/10 , G02B26/127 , G06K15/1219 , H04N1/113
Abstract: 本发明能够准确地检测光束的通过时刻,并且能够抑制成本。光束检测电路(2)具备:检测信号生成部(34),其用1个光传感器(10)接受对被扫描体(101A)进行扫描的光束,生成与受光量相应的检测信号;基准信号输出部(44),其输出与射出光束的发光元件(LD1)的光量控制信号成比例的基准信号;和同步信号生成部(35),其通过将检测信号生成部(34)生成的检测信号与基准信号输出部(44)输出的基准信号进行比较,生成同步信号,该同步信号用于确定光束对被扫描体(101A)的扫描开始位置。
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