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公开(公告)号：CN108603789A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201780009256.0
申请日：2017-01-27
Applicant: 科磊股份有限公司
Inventor： 安德鲁·V·希尔
CPC classification number: G01N21/4795 , G01J3/00 , G01N21/4788 , G01N21/9501 , G01N21/95623 , G01N2021/4709 , G01N2021/4711 , G01N2021/8461 , G02B3/0006 , G02B27/10 , G02B27/1013 , G02B27/4205 , G03F7/70616
Abstract: 本发明揭示一种计量系统，其包含：照明源，其经配置以产生照明光束；一或多个照明光学器件，其经配置以将所述照明光束引导到样本；一或多个收集光学器件，其经配置以收集从所述样本发出的照明；检测器；及超光谱成像子系统。所述超光谱成像子系统包含：分散元件，其定位于所述组收集光学器件的光瞳平面处，所述分散元件经配置以光谱分散所述所收集的照明；透镜阵列，其包含聚焦元件阵列；及一或多个成像光学器件。所述一或多个成像光学器件组合所述光谱分散的所收集的照明以在所述透镜阵列上形成所述光瞳平面的图像。所述透镜阵列的所述聚焦元件使所述所收集的照明以阵列图案分布于所述检测器上。
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公开(公告)号：CN106289519A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610616097.8
申请日：2016-07-29
Applicant: 华中科技大学
CPC classification number: G01J3/00 , B23K26/21 , B23K26/705
Abstract: 本发明公开了一种熔池等离子体辐射光谱采集机构，其包括激光辅助对中组件及与所述激光辅助对中组件间隔设置的光纤探头夹持调整组件。所述激光辅助对中组件包括激光发射器，其通过滑动使所述激光发射器的中心与工件的焊缝表面共面；所述激光发射器用于向所述光纤探头夹持调整组件发射激光，所述激光在所述光纤探头夹持调整组件上反射形成激光红色斑点。所述光纤探头夹持调整组件包括光纤探头，其依据所述激光红色斑点的位置滑动相应距离，以使所述光纤探头的中心、所述焊缝的表面及所述激光发射器的中心共面。本发明还涉及具有如上所述的熔池等离子体辐射光谱采集机构的激光焊接装置。
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公开(公告)号：CN105938015A
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201610118561.0
申请日：2016-03-02
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
Abstract: 本发明提供了能够实施高精度的测色处理的分光测定装置、图像形成装置以及分光测定方法。打印机(10)包括：包括来自测定对象的光入射的波长可变干涉滤波器的分光仪(17)；以及使分光仪(17)相对于测定对象沿着X方向移动的滑架移动单元(14)。并且，打印机(10)在测定对象为色块的情况下，在使分光仪(17)在X方向上移动期间的第一期间，改变通过波长可变干涉滤波器的光的波长并进行分光测定，并在第一期间中的测定开始时以及测定结束时，使初始波长的光从波长可变干涉滤波器通过，把测定开始时的分光测定的测定值即第一输出值与测定结束时的分光测定的测定值即第二输出值进行比较。
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公开(公告)号：CN102397061A
公开(公告)日：2012-04-04
申请号：CN201110270999.8
申请日：2011-09-14
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Inventor： A.阿尔布雷希特
CPC classification number: A61B5/01 , A61B5/6817 , G01J3/00 , G01J5/025 , G01J5/049 , G01K13/004
Abstract: 一种在壳体中（17，32）带有红外传感器（11）、控制单元（12）以及电压供给单元（14）的耳温度计（10，30），所述耳温度计具有无线的通讯接口（13）。所述无线的通讯接口（13）是用于与基站（20）通讯的无线局域网或者蓝牙接口，在所述基站中显示并且储存温度测量值。
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公开(公告)号：CN1643662A
公开(公告)日：2005-07-20
申请号：CN03807422.2
申请日：2003-03-26
Applicant: 兰姆研究有限公司
IPC: H01L21/306 , B24B49/12 , G01B11/28
CPC classification number: B24B49/12 , B24B37/013 , G01B11/0625 , G01B11/0683 , G01J3/00
Abstract: 公开了一种用于在化学机械抛光制程中检测终点的系统与方法，包括利用第一宽频带光束(132)照射晶片(300)表面的第一部分。接收第一反射光谱数据。第一反射光谱数据(308)对应于从晶片表面的第一照射部分反射的第一光谱的光。利用第二宽频带光束照射晶片表面的第二部分。第二反射光谱数据对应于从晶片表面的第二照射部分反射的第二光谱的光。将第一反射光谱数据和第二反射光谱数据标准化，基于标准化的第一光谱数据与第二光谱数据之间的差别来确定终点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109477786A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201780044540.1
申请日：2017-07-19
Applicant: 艺康美国股份有限公司
CPC classification number: G01N1/40 , A61B5/00 , G01J3/00 , G01J3/2823 , G01N17/006 , G01N17/043 , G01N21/75
Abstract: 提供了一种分析与工业系统中存在的流体接触的基板的方法。所述方法包括：在所述基板与所述工业系统中存在的所述流体接触时产生所述基板的一系列数字图像。限定所述基板的所述一系列数字图像中的感兴趣区域。识别所述基板的所述一系列数字图像中的所述感兴趣区域中的腐蚀特征。分析所述基板的所述一系列数字图像中的所述感兴趣区域中的所述腐蚀特征以确定所述工业系统的腐蚀趋势。在所述方法的某些实施例中，所述流体是工业用水，并且所述工业系统是工业用水系统。
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公开(公告)号：CN108344506A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810067997.0
申请日：2018-01-24
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/26 , G01J1/06 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/0289 , G02B5/003 , G02B2207/123 , G01J3/00
Abstract: 本发明涉及限制光的入射角的器件，制造该器件的方法和显微光谱仪。本发明涉及一种用于限制光的入射角的器件（100），其中所述器件（100）在所述器件（100）的衬底（106）的第一侧面上具有横向于光的入射方向（108）来取向的第一光圈结构（102），而且在所述衬底（106）的与所述第一侧面对置的第二侧面上具有横向于所述入射方向（108）来取向的第二光圈结构（104），其中所述光圈结构（102、104）各具有光圈孔（114）的图案（110、112）。
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公开(公告)号：CN108279069A
公开(公告)日：2018-07-13
申请号：CN201810133544.3
申请日：2018-02-09
Applicant: 东北大学
IPC: G01J3/00
CPC classification number: G01J3/00
Abstract: 本发明提供一种基于螺旋形干涉图像特征提取技术的光学相位差解调方法，该方法可以对两光束之间的光学相位差进行解调。包括：获取轨道角动量光束与高斯光束干涉形成的螺旋形干涉图像；提取共同特征图像，用于对一系列对应不同光学相位差的螺旋形干涉图像进行分析，得到其共同特征图像；特征解调，将螺旋形干涉图像映射到以共同特征图像为基矢量的二维空间，求出螺旋形干涉图像在二维空间中的坐标值，实现螺旋形干涉图像的数据降维；光学相位差计算，利用二维空间中的坐标值计算光学相位差。本发明的螺旋形干涉图像便于特征提取，通过对螺旋形干涉图像的数据进行降维，提高信号解调的效率，可以有效避免光束功率波动对光学相位差解调结果造成影响。
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公开(公告)号：CN107656609A
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201710251636.7
申请日：2017-04-18
Applicant: 富士施乐株式会社
Inventor： 山崎尚人
CPC classification number: H04N1/00408 , G01J3/00 , G01J3/0264 , G01J3/52 , G01J3/524 , G06T11/001 , G06T11/60 , H04N1/00015 , H04N1/00023 , H04N1/00034 , H04N1/00045 , H04N1/00087 , G06F3/011 , G06F3/14 , G06T2207/10024
Abstract: 测色系统、图像生成设备和图像生成方法。一种测色系统包括：显示器，所述显示器向用户呈现通过将显示图像组合到真实空间中而得到的增强现实空间；以及图像生成单元，所述图像生成单元生成在所述用户通过所述显示器查看介质时获得的所述显示图像，所述介质上具有将被执行测色的测色目标图像。显示图像包括指示测色目标图像的位置的信息。
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公开(公告)号：CN107430057A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201580072472.0
申请日：2015-12-03
Applicant: 马昆麦崔斯股份有限公司
IPC: G01N21/00
CPC classification number: G02B7/14 , G01J3/00 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/0291 , G01N21/15 , G01N21/65 , G01N2021/015 , G01N2021/656 , G01N2201/0221 , G01N2201/0245 , G01N2201/065 , G02B7/027
Abstract: 本发明揭示可移除光学组件的示例实施例。可移除光学组件被可移除地附着至光学分析仪的探头。该可移除光学组件可包括球形光学元件。该可移除光学组件的一个实施例可允许接触探询样本。在一些实施例中，该可移除光学组件可包括内部光学元件。在其它实施例中，该可移除光学组件可包括外部光学元件。该可移除光学组件的制造可包括整体式实施例或包括多个子组件的组装式实施例。该可移除光学组件的实施例可为圆锥形的、圆柱形的或平面的形状。在一些实施例中，该可移除光学组件可为消耗性的及/或一次性的。
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