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公开(公告)号：CN101405562A
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN200780009534.9
申请日：2007-01-19
Applicant: 光视有限公司
IPC: G01B11/02
CPC classification number: G01B9/02044 , G01B9/02068 , G01B9/02087 , G01B9/02091 , G01J3/02 , G01J3/0289 , G01J3/45 , G01J3/4537
Abstract: 公开了一种傅立叶域光学相干断层摄影(OCT)成像仪。根据本发明的OCT成像仪可具有自动对准过程。自动对准过程自动调整成像仪光谱仪的至少一个光学部件而使光谱仪在成像会话期间被对准。除了自动对准过程以外，对OCT谱进行背景谱和噪声特性的规一化处理，以提供更为精确而清晰的OCT图像。
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公开(公告)号：CN1659424A
公开(公告)日：2005-08-24
申请号：CN03810389.3
申请日：2003-03-06
Applicant: 埃斯柏克特瑞克斯公司
Inventor： 托马斯·W.·哈格勒
IPC: G01J3/04
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/0229 , G01J3/027 , G01J3/0289 , G01J3/06 , G01J3/1804 , G01J3/2846 , G01J3/42 , G01J2001/4242 , G01J2003/1217
Abstract: 使用分析器和编码器分析辐射的装置和方法，该分析器和编码器采用了按波长分散或沿直线成像的辐射的空间调制。
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公开(公告)号：CN108801460A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810945393.1
申请日：2018-08-20
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0256 , G01J3/0289 , G01J3/0294 , G01J2003/2826
Abstract: 本发明公开了一种共口径多通道全波段高光谱成像系统，采用二次视场分离法，通过在主反射镜和次反射镜形成的中间像面上设置轴上视场分离器实现一次视场分离，将不同视场的光线进行分离形成2个视场通道，再经三反射镜反射至离轴视场分离器实现二次视场分离，再次将不同视场的光线进行分离形成6个视场通道，为多个光谱仪模块化对接提供更为充足的布局空间，突破了传统分光器件无法实现全波段高衍射效率分光的限制，满足全波段高光谱成像系统的需求；该系统容易实现大口径设计，进行大视场成像，且结构紧凑，有利于实现全波段高光谱载荷设计的轻小型化。
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公开(公告)号：CN104884935B
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201480003887.8
申请日：2014-06-19
Applicant: 罗斯蒙特分析公司
Inventor： 彼得·沙辛格
CPC classification number: G01J3/0202 , G01J3/0289 , G01J3/28 , G01N21/15 , G01N21/39 , G02B7/1824 , G02B7/1825
Abstract: 提供了一种用于激光光谱系统(100)中的光学装置(212)的可调节座架(300)。可调节座架(300)包括被构造成用于安装到过程和反射器座架(230)的主体(232)，该座架具有被构造成用于安装光学装置(212)的特征。主体(232)和反射器座架(230)之间的界面(234)允许主体(232)和反射器座架(230)之间的相对运动。至少一个对准装置(220)被构造成用于接合反射器座架(230)与主体(232)，以相对于主体(232)固定反射器座架(230)的位置。光学装置(212)独立于对准装置(220)而被可移除地安装到反射器座架(230)，并且被密封到反射器座架(230)。
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公开(公告)号：CN107576394A
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201710533700.0
申请日：2017-07-03
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
IPC: G01J3/02
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01J3/45
Abstract: 本发明涉及一种用于限定对于光谱仪的入射角（102）的装置（100），其中，所述装置（100）具有：调焦的元件（104），以用于把入射到被设置在所述装置（100）后面的光谱的元件上的光线（116）调焦到焦点（112）上；遮挡元件（108）；和转向的元件（106），以用于把在遮挡元件（108）的遮挡口（110）内的聚焦的光线（116）进行转向，其中，所述遮挡元件（108）在所述焦点（112）的区域中布置在聚焦的元件（104）和转向的元件（106）之间的光学的轴线（114）上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104316191B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201410643707.4
申请日：2014-11-07
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
Inventor： 周丽佳
CPC classification number: G01J3/506 , G01J3/0229 , G01J3/0237 , G01J3/0248 , G01J3/0289
Abstract: 本发明公开了一种色度测试方法和色度测试设备。所述色度测试方法包括：S1、测量待测试产品的像素的尺寸；S2、根据步骤S1中测量得到的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径；S3、根据步骤S2中确定的孔径选择相应的透光孔对所述待测试产品进行色度测试。本发明在进行色度测试之前首先对待测试产品的像素的尺寸进行实时测量，然后根据实测信息选择合适的透光孔进行测试，减少了因透光孔选择不恰当而导致的时间的浪费，在保证测试准确性的同时提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN105372178A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510487608.6
申请日：2015-08-10
Applicant: 仕富梅集团公司
Inventor： 伊恩·C·加斯金 , 詹姆斯·D·霍比 , 理查德·P·科瓦契奇 , 马丁·洛佩斯 , 格拉哈姆·R·特里
IPC: G01N21/01
CPC classification number: G02B7/003 , G01B11/272 , G01J3/0202 , G01J3/0289 , G01J3/42 , G01N21/39 , G01N2201/06113 , G01N2201/068 , G02B7/004 , G02B7/023 , G02B27/0006 , G02B27/62
Abstract: 本发明提供了一种具有两个角自由度的对准设备以及发射器/接收器系统。对准设备是可调的，使其适于将第一装置相对于第二装置对准。第一装置可以朝向第二装置发射电磁波、声波与物质中的一种或多种以供第二装置进行探测。第一装置与第二装置可以布置在诸如在工业处理塔的附近发现的恶劣环境中。在一些实施方式中，第一装置是激光器，优选地是二极管发光器，并且第二装置是包括探测器的接收器。在这些实施方式中，此装置可以被用于关于流动通过工业处理塔的处理气体执行激光吸收光谱分析。
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公开(公告)号：CN102680094B
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201210071529.3
申请日：2012-03-16
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 中村纪元
CPC classification number: G02B5/20 , G01J3/0205 , G01J3/0256 , G01J3/0289 , G01J3/28 , G01J3/36 , G01J2003/1226 , H01L27/1462 , H01L27/14623
Abstract: 本发明涉及分光传感器以及角度限制滤光器，所述角度限制滤光器包括：第一遮光层，其包含第一遮光性材料，且设置有第一开口部；第二遮光层，其包含第二遮光性材料，且位于至少部分包围第一遮光层的区域内；第三遮光层，其包含第一遮光性材料，且设置有至少部分与第一开口部重合的第二开口部，并且位于第一遮光层的上方；第四遮光层，其包含第二遮光性材料，并且位于至少部分包围第三遮光层的区域内且第二遮光层的上方。
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公开(公告)号：CN104884935A
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：CN201480003887.8
申请日：2014-06-19
Applicant: 罗斯蒙特分析公司
Inventor： 彼得·沙辛格
CPC classification number: G01J3/0202 , G01J3/0289 , G01J3/28 , G01N21/15 , G01N21/39 , G02B7/1824 , G02B7/1825
Abstract: 提供了一种用于激光光谱系统(100)中的光学装置(212)的可调节座架(300)。可调节座架(300)包括被构造成用于安装到过程和反射器座架(230)的主体(232)，该座架具有被构造成用于安装光学装置(212)的特征。主体(232)和反射器座架(230)之间的界面(234)允许主体(232)和反射器座架(230)之间的相对运动。至少一个对准装置(220)被构造成用于接合反射器座架(230)与主体(232)，以相对于主体(232)固定反射器座架(230)的位置。光学装置(212)独立于对准装置(220)而被可移除地安装到反射器座架(230)，并且被密封到反射器座架(230)。
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公开(公告)号：CN104685342A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201380038749.9
申请日：2013-07-17
Applicant: 德尔格安全股份两合公司
Inventor： 汉斯-乌尔里希·汉斯曼 , 安德烈亚斯·莫尔曼 , 阿尔内·特勒尔斯徹 , 赖纳·波尔齐乌斯
CPC classification number: G01J3/501 , G01J3/0202 , G01J3/0267 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01N21/05 , G01N21/783 , G01N2021/7763
Abstract: 一种气体测量系统，用于通过反应支撑单元上的至少一种反应物质的颜色变化来测量气体混合物的气态和/或蒸汽组分的浓度，至少一种反应物质以这样一种方式布置在至少两个透光的通道中，即，可以低成本在多个单独的位置处检测反应物质上的颜色变化。检测颜色变化的检测单元可设计为具有电子图像转换器或者图像传感器以及成像光学系统(例如，透镜系统)的数码相机。还描述了相关系统、方法、装置以及物品。
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