公开(公告)号：CN103308169A

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN201310156285.3

申请日：2013-03-08

Applicant: 株式会社理光

Inventor： 上条直裕 ,  新保晃平 ,  窪田阳一 ,  瀬尾学

IPC: G01J3/42 ,  G03G15/01 ,  G02B26/10

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/18 ,  G01J3/24 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/50 ,  G01J2003/503 ,  G03G15/00 ,  G03G15/5062

Abstract: 一种光谱仪，包括将光束投射至目标物的光源；包括多个孔径的光学元件，其中被目标物反射的光束传输通过该孔径；用于从传输通过该光学元件的多个光束中形成衍射图像的衍射元件；和光接收元件，用于接收由衍射元件形成的衍射图像，且包括以遮蔽除了特定级数衍射图像以外的衍射图像的光学屏蔽。

公开(公告)号：CN102027340B

公开(公告)日：2013-08-28

申请号：CN200980117277.X

申请日：2009-05-07

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  能野隆文 ,  笠原隆 ,  伊藤将师 ,  吉田杏奈

IPC: G01J3/18 ,  G02B7/00

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0297 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/1814 ,  G02B7/025 ,  Y10T156/10

Abstract: 本发明涉及分光模块的制造方法以及分光模块。在分光模块(1)的制造方法中，由光学树脂剂(63)将通过贴合光检测元件(5)和光透过板(56)而构成的光检测单元(10)粘结于基板(2)的前表面(2a)。此时，因为光检测元件(5)的光通过孔(50)被光透过板(56)覆盖，所以能够防止光学树脂剂(63)进入到光通过孔(50)内。而且，在准备光检测单元(10)的时候，因为在贴合设置有光检测部(5a)的半导体基板(91)和光透过板(56)之后，将光通过孔(50)形成于半导体基板(91)，所以能够可靠地防止可能成为发生折射和散射等的原因的物体进入到光通过孔(50)内。

公开(公告)号：CN102027340A

公开(公告)日：2011-04-20

申请号：CN200980117277.X

申请日：2009-05-07

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  能野隆文 ,  笠原隆 ,  伊藤将师 ,  吉田杏奈

IPC: G01J3/18 ,  G02B7/00

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0297 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/1814 ,  G02B7/025 ,  Y10T156/10

Abstract: 本发明涉及分光模块的制造方法以及分光模块。在分光模块(1)的制造方法中，由光学树脂剂(63)将通过贴合光检测元件(5)和光透过板(56)而构成的光检测单元(10)粘结于基板(2)的前表面(2a)。此时，因为光检测元件(5)的光通过孔(50)被光透过板(56)覆盖，所以能够防止光学树脂剂(63)进入到光通过孔(50)内。而且，在准备光检测单元(10)的时候，因为在贴合设置有光检测部(5a)的半导体基板(91)和光透过板(56)之后，将光通过孔(50)形成于半导体基板(91)，所以能够可靠地防止可能成为发生折射和散射等的原因的物体进入到光通过孔(50)内。

公开(公告)号：CN101408459A

公开(公告)日：2009-04-15

申请号：CN200810168101.4

申请日：2004-03-31

Applicant: 佐勒技术公司

Inventor： 安德鲁·D.·萨匹 ,  詹姆斯·豪厄尔 ,  亨里克·霍夫范德 ,  B.·P.·马斯特森

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J5/60 ,  G01N21/39

CPC classification number: G01J3/36 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/108 ,  G01J3/1809 ,  G01J5/601 ,  G01J2003/104 ,  G01J2003/423 ,  G01N21/359 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/399 ,  G02B6/14

Abstract: 传感设备，包括多于一个具有选择激光频率的二极管激光器、与上述二极管激光器的输出光耦合的复用器而此复用器再光耦合投射侧光纤。复用的激光经此投射侧光纤传至与一可以是燃煤或燃气发电设备的燃烧室或锅炉的处理室有效结合的投射光学件。此投射光学件定向成将复用激光输出投射通过此处理室。此外，由此处理室有效定向的是一与该投射光学件光通信以接收投射通过此处理室的复用激光输出的捕集光学件。此捕集光学件光耦合一将此复用激光输出传给分用器的光纤。此分用器分用上述激光并将所选激光频率的光光耦合到一对此所选激光频率之一敏感的探测器。

公开(公告)号：CN101213428A

公开(公告)日：2008-07-02

申请号：CN200680020430.3

申请日：2006-06-08

Applicant: RSP系统有限责任公司

Inventor： 莫藤·亨内贝格 ,  斯蒂芬·O·班克

IPC: G01J3/44 ,  G01J3/08

CPC classification number: G01J3/08 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/44 ,  G01J2003/4424

Abstract: 本发明涉及一种测量光束至少两种光谱学上位移的光谱分布的光谱设备，所述设备包括色散元件和检测器，所述色散元件当被光束照射时，适用于产生所述光束中光谱分量的空间色散；该检测器适用于测量至少一部分所述色散光谱分量的强度；所述设备还包括光学位移装置，适用于以至少两种不同方式照射所述色散元件，使所述光束不同地投射到所述色散元件上，从而使所述色散元件产生所述光束中光谱分量的至少两种空间上位移的空间色散。本发明还涉及一种探测系统，该探测系统包括：测量光束至少两种光谱学上位移的光谱分布的所述光谱设备，和测量光束至少两种光谱学上位移的光谱分布的方法。

公开(公告)号：CN1982944A

公开(公告)日：2007-06-20

申请号：CN200610076439.8

申请日：2006-04-20

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 柴田康平

IPC: G02B27/10 ,  G02B27/42 ,  H04B10/00 ,  H04J14/02

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/0297 ,  G02B5/1866 ,  G02B6/29311 ,  G02B6/29358 ,  G02B6/29397

Abstract: 多波长分光装置。在使用多个衍射光栅的多波长分光装置中，第一衍射光栅是p偏振光和s偏振光的衍射效率在工作波长范围的短波长侧相等的衍射光栅，第二衍射光栅是p偏振光和s偏振光的衍射效率在工作波长范围的长波长侧相等的衍射光栅。通过使用两个这种衍射光栅进行色散，可以增大角色散量，并且可以制造下述的分光装置，该分光装置消除了衍射效率的波长依赖性，并具有很小的衍射效率的波长依赖性。

公开(公告)号：CN108731811A

公开(公告)日：2018-11-02

申请号：CN201810353379.2

申请日：2018-04-19

Applicant: 德塔颜色公司

Inventor： Z·徐 ,  M·H·布里尔

IPC: G01J3/46

CPC classification number: G01J3/524 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/46 ,  G01J3/462 ,  G01J3/465 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513 ,  G01N21/25

Abstract: 在一个示例中，从包括多个颜色通道的目标颜色测量仪器接收电子信号。从信号中提取目标颜色测量仪器对由目标发光设备发射的光的响应。响应被校准以最小化响应和标准观测仪的颜色匹配函数的输出之间的差异。校准包括将响应乘以校准矩阵。校准矩阵组合来自可调谐光源的第一多个光的测量值和来自目标发光设备的第二多个光的测量值。第一多个和第二多个光的测量值的第一子集由目标颜色测量仪器进行，而第一多个和第二多个光的测量值的第二子集由参考光谱辐射计进行。

公开(公告)号：CN104769421B

公开(公告)日：2018-06-08

申请号：CN201380055603.5

申请日：2013-10-23

Applicant: 菲尼克斯电气公司

Inventor： 弗雷德·格鲁纳特 ,  弗雷德里克·海勒尔 ,  托马斯·尼姆茨

IPC: G01N21/89

CPC classification number: G01J3/0297 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31 ,  G01N21/8806

Abstract: 一种材料表面照明设备，包括：通过校准光(105)照明所述材料表面(103)的照明设备(101)；用于记录所述材料表面(103)响应于所述校准光(105)而发射的测量光(109)的记录设备(107)；以及用于记录所述测量光(109)的光谱特性的处理设备(111)，所述光谱特性表征了所述材料表面(103)的漫反射光谱，其中，所述照明设备(101)用于生成照明所述材料表面(103)的照明光(113)，该照明光具有与所述测量光(109)相对应的光谱特性。

公开(公告)号：CN107923791A

公开(公告)日：2018-04-17

申请号：CN201680043528.4

申请日：2016-07-21

Applicant: 仪器系统光学测量技术有限责任公司

Inventor： F·弗兰克 ,  M·埃斯特曼 ,  C·卡佩尔 ,  F·舍韦 ,  R·黑林 ,  A·温克勒 ,  C·M·R·格里夫斯

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G02B19/00 ,  G02B27/10 ,  G02B27/42

CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/104 ,  G01J2003/1286 ,  G02B19/0066 ,  G02B27/1086 ,  G02B27/425

Abstract: 本发明涉及一种用于发光的设备，其包括：多个光源(1)；控制装置(2)，其驱动光源(1)；叠加光学单元，其将光源(1)发射的光叠加在出口(3)中。本发明的目的在于提供一种与现有技术相比有所改进的设备。为此，本发明提出所述叠加光学单元包括：第一凹面镜(4)，光源(1)布置在所述第一凹面镜的焦平面中；光栅(5)，第一凹面镜(4)将由光源(1)发射的光(6)反射到所述光栅上，以及第二凹面镜(7)，其将在光栅(5)处衍射的光(8)反射到位于第二凹面镜(7)的焦点处的出口(3)上。

公开(公告)号：CN107687900A

公开(公告)日：2018-02-13

申请号：CN201710778389.6

申请日：2017-09-01

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 谢锋 ,  邵红兰 ,  刘成玉 ,  王建宇 ,  舒嵘

IPC: G01J5/00 ,  G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J5/00 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/2823 ,  G01J2005/0055 ,  G01J2005/0077 ,  G01J2005/0081

Abstract: 本发明公开一种适用于机载热红外成像光谱仪大气校正系统和方法。首先利用该系统与机载成像光谱仪同步测量飞机高度上的大气下行热红外辐射。其次利用MODITRAN生成不同大气状况下大气下行热红外辐射、大气程辐射和大气透过率，建立参考数据库。再次从参考数据库中搜索与该系统测量结果最匹配的大气下行热红外辐射光谱，查找对应的大气程辐射、地表大气下行热红外辐射和大气透过率。最后以时间为基准，根据辐射传输方程，从辐射定标后的成像光谱仪获取的热红外高光谱数据中，逐像元计算离地辐射光谱，实现热红外成像光谱仪的大气校正。本发明的大气校正系统和方法可获取实时大气下行热红外辐射信息，可大幅度提高机载热红外高光谱数据大气校正精度。