分光光度计
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101069085A

    公开(公告)日:2007-11-07

    申请号:CN200580041483.9

    申请日:2005-12-01

    Inventor: H·V·朱尔

    Abstract: 分光光度计(2)包括辐射源(6),优选地为光学辐射源,该源被放置以向样品容器(4)内的样品发射多个波长下的辐射,还包括用于探测和样品相互作用后的辐射的探测装置8。该样品容器(4)适用于对于发射的辐射给出多个穿过样品的不同波程长度。可操作性地连接运算单元(10;10b),以接收来自探测装置(8)的取决于强度的输出,以及适用于存储所探测到的多个不同波程长度中两个或更多个波程长度下发射的辐射的强度值,该强度值和波长挂钩,以及适用于计算取决于两个波程长度中每一个波程长度下挂钩的强度值的比率的值,借此可以获取所存放的样品内感兴趣物质存在的指示。

    气体测量池及设有气体测量池的气体分析仪

    公开(公告)号:CN107421890A

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201710414774.2

    申请日:2017-06-05

    CPC classification number: G01N21/0303 G01N2201/066

    Abstract: 本发明提供一种气体测量池及设有气体测量池的气体分析仪,属于气体分析领域,该气体测量池包括腔体、入射模块、出射模块及反射模块,通过将反射模块与腔体进行固定连接,通过调节入射模块及出射模块来实现对入射光进行光路调节;克服了现有技术中通过对反射模块进行调节来实现光路的调节,而反射模块与腔体之间存在倾角,导致部分光没有通过出射模块射出,影响检测结果的准确性的问题;达到了确保从入射模块进入的光能够通过出射模块射出,提高检测结果的准确性的技术效果。

    一种青铜器表面及亚表面微缺陷检测方法及系统

    公开(公告)号:CN106546604A

    公开(公告)日:2017-03-29

    申请号:CN201610940787.9

    申请日:2016-11-02

    Applicant: 山西大学

    Inventor: 雷水 陈小三

    Abstract: 本发明涉及青铜器表面及亚表面微缺陷检测方法及系统,所述检测方法包括以下步骤:PLC控制两激光器同时发出两束中心频率不同的激光,通过光路系统集成作用于待测含缺陷青铜器表面的同一点;在待测青铜器受激光辐射同侧表面放置电容式位移传感器测量激光激发超声信号;接收的超声信号经数据采集系统集成存储于数据处理系统用于频率分析使用;通过数据处理系统集成可以对青铜器表面或亚表面存在的缺陷进行二维平面成像检测;进而可以对缺陷深度进行检测。本发明方法及其系统能够扫描检测到青铜器表面或亚表面缺陷的三维位置及尺寸信息,具有高效率、高精度、对被测体无损伤等优点。

    用于微结构检测的高空间分辨率光反射差装置和方法

    公开(公告)号:CN105424654A

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201510982186.X

    申请日:2015-12-25

    Inventor: 赵昆 王金 詹洪磊

    Abstract: 本发明提供一种用于微结构检测的高空间分辨率光反射差装置和方法,包括入射光路、样品台、出射光路、信号放大和数据采集处理系统,入射光路包括激光器、起偏器、光弹调制器和移相器,出射光路包括检偏器和光电信号转换器,入射光路还包括设置于移相器和样品台之间的聚焦装置,出射光路中还包括设置于样品台和检偏器之间的扩束装置,光电信号转换器为面阵CCD,本发明的装置结构简单,易于操作,大大提高信噪比,可以对微结构进行快速精准测量。

    分光光度计
    20.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101069085B

    公开(公告)日:2010-07-14

    申请号:CN200580041483.9

    申请日:2005-12-01

    Inventor: H·V·朱尔

    Abstract: 分光光度计(2)包括辐射源(6),优选地为光学辐射源,该源被放置以向样品容器(4)内的样品发射多个波长下的辐射,还包括用于探测和样品相互作用后的辐射的探测装置8。该样品容器(4)适用于对于发射的辐射给出多个穿过样品的不同波程长度。可操作性地连接运算单元(10;10b),以接收来自探测装置(8)的取决于强度的输出,以及适用于存储所探测到的多个不同波程长度中两个或更多个波程长度下发射的辐射的强度值,该强度值和波长挂钩,以及适用于计算取决于两个波程长度中每一个波程长度下挂钩的强度值的比率的值,借此可以获取所存放的样品内感兴趣物质存在的指示。

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