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公开(公告)号：CN118794541A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410810577.2
申请日：2024-06-21
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及X射线和可见光的复合观测系统及方法，具体涉及一种X射线和可见光共孔径光学系统及观测方法，解决了现有X射线与可见光多波段复合观测系统空间坐标融合技术难度较高、硬件资源浪费等技术问题。本发明包括全反射光学装置、分频器件、X射线探测器和可见光成像器件，利用分频器件透射X射线以及反射可见光，实现X射线和可见光的分光，从而有效实现X射线和可见光的共孔径、同视场探测成像，有效减少复合波段探测硬件资源的投入，并减少多波段成像系统空间坐标融合的技术难点。
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公开(公告)号：CN118603312A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410697525.9
申请日：2024-05-31
Applicant: 华中科技大学
Inventor： 卢文龙
Abstract: 本发明提供了一种双峰信号模式的线扫描色散共焦测量方法及装置，涉及光谱共焦测量领域技术领域；方法包括：根据通过色散共焦组件的光线，在待测物上形成多个测量光斑；将滤波窗放置在待测物的中心位置，截取光斑中心，得到单峰特征信号；沿扫描方向不断移动滤波窗，直至单峰特征信号逐渐凹陷，单峰裂变为双峰；截取光斑护栏位置，在光斑护栏位置采集测量光斑的光谱功率分布信号并进行处理，得到双峰特征信号；对双峰特征信号进行峰值特征定位，并对峰值特征信号进行处理，得到测量结果。本发明沿扫描方向将滤波窗进行偏移产生双峰信号，获得更稳健的光谱功率分布信号，从而提高了输出结果的精确度和准确度。
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公开(公告)号：CN118415598A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410616044.0
申请日：2024-05-17
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及光学成像探测技术领域，具体提供一种宽波段快照式乳腺肿瘤偏振干涉成像检测系统与方法，宽波段光源照射乳腺肿瘤组织样本，反射的信号光被前置光学系统收集并准直后依次经第一光线整形单元和第二光线整形单元进行两次剪切和两次偏振态转变后，得到两束线偏振光和两束圆偏振光，两束线偏振光和两束圆偏振光由成像透镜成像至面阵探测器获得偏振干涉图并交给解调处理获得乳腺肿瘤组织样本的全部斯托克斯参数。本发明在不使用检偏器的条件下实现了乳腺肿瘤的宽波段全斯托克斯参数的快照成像，相比于传统采用检偏器的偏振成像仪器，光通量提高了一倍；此外，本发明具有结构紧凑，无运动部件，易于装调，无需图像配准等优点。
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公开(公告)号：CN118329205A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410452317.2
申请日：2024-04-16
Applicant: 上海默乐光检科技有限公司
Inventor： 熊敏
Abstract: 本发明提供一种角分辨光谱测量方法及系统，测量方法包括如下步骤：部署物镜、成像透镜组、可调光阑、收集透镜和光谱仪，成像透镜组至少包括第一成像透镜和第二成像透镜；调节第一成像透镜，使第一成像透镜的焦平面与物镜后焦面重合，在第一成像透镜的焦平面上形成携带光谱角度信息的影像；调节第二成像透镜，使第二成像透镜的焦平面与可调光阑重合，将携带光信号角度信息的影像投影到可调光阑，使得光谱的角度采集范围与可调光阑的通光孔径一一对应；收集透镜将不同角度的光信号耦合进光谱仪，调节可调光阑的通光孔径，通过光谱仪多次采集不同角度范围的光信号的光谱数据。如此，实现不同角度光谱信息的可靠快速测量，实现角分辨率的有效调节。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118276238A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202311806335.8
申请日：2023-12-26
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔光学分析股份有限公司
Abstract: 本发明涉及波导和电磁光谱仪。一种用于利用输入端和输出端传送光以供应电磁光谱仪的波导包括：输入端，所述输入端在所述输入端处具有所述波导的横截面的凸形包络，所述包络限定圆形形状或具有n1个角的正多边形的形状，其中n1是大于3的自然数；输出端，所述输出端具有限定狭缝形状的横截面；以及多个纤丝，其中所述多个纤丝的布置限定所述输入端和所述输出端处的横截面，其中每个纤丝包括芯和覆盖所述芯的横向区域的反射涂层，其中所述芯包括光学透明材料。
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公开(公告)号：CN118190157A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410452569.5
申请日：2020-01-27
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
Abstract: 本发明提供光检测装置、光检测系统及滤波器阵列。光检测装置具备：滤波器阵列，包括配置在二维平面内的多个滤波器；以及图像传感器，配置在接受透射了滤波器阵列的光的位置，多个滤波器包括第1滤波器、以及透射光谱与第1滤波器不同的第2滤波器，第1及第2滤波器分别包括第1反射层、第2反射层以及该两个反射层之间的中间层，第1反射层包括：第1折射率层；第2折射率层，具有比第1折射率层高的折射率，并且与第1折射率层相邻；第3折射率层；以及第4折射率层，具有比第3折射率层高的折射率，并且与第3折射率层相邻，第1及第2折射率层分别具有第1光学长度，第3及第4折射率层分别具有与第1光学长度不同的第2光学长度。
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公开(公告)号：CN118135038A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410237171.X
申请日：2024-03-01
Applicant: 广州彩熠灯光股份有限公司
Abstract: 本申请涉及一种同色异谱光谱的生成方法、装置、电子设备、存储介质和计算机程序产品。该方法包括：将每三个基色作为一个基色组合，得到多个基色组合；基于色品图，在多个基色组合中确定目标颜色的多个关联基色组合；确定每个关联基色组合中的三个基色对应的第一基色混合比例，对多个关联基色组合进行任意组合得到至少一个关联基色组合集合；基于每个关联基色组合集合中的各个关联基色组合之间的任意组合混合比例，和每个关联基色组合集合对应的各个第一基色混合比例，对每个关联基色组合集合中的各个关联基色组合进行混合处理，得到对应于目标颜色的一个同色异谱光谱。采用本方法能够提高同色异谱光谱的生成效率。
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公开(公告)号：CN117928730A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410010435.8
申请日：2024-01-04
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本发明提供了一种二维单探测器的光谱芯片及光谱重构方法，光谱芯片包括：由上至下设置的单层石墨烯、第一介电材料氮化硼BN、第一金电极、二维双极性材料MoSe2、二维铁电材料、和与二维铁电材料位于同一层的第二金电极、第二介电材料氮化硼BN和Si/SiO2衬底堆叠而成。本发明技术方案克服现有技术中光谱芯片功耗高，光谱响应难调控，光谱重构速率慢，不能满足智能化测量需求等问题。
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公开(公告)号：CN117705276A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202310315370.3
申请日：2023-03-28
Applicant: 上海理工大学 , 苏州金燧光电科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于远红外传感及光谱集成芯片的时域光谱系统，包括：飞秒光源、设置于飞秒光源一侧的光束分束与延迟控制单元、设置于光束分束与延迟控制单元中的远红外传感及光谱集成芯片、设置于远红外传感及光谱集成芯片一侧的超快光电探测模块及与超快光电探测模块信号连接的计算机及存储介质。根据本发明，大大减少了器原件数量，通过消除远红外波空间传播和减小损耗，提高样品检测的效率和准确性，同时降低了远红外时域光谱系统的制作成本。
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