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公开(公告)号：CN115014523A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202210765706.1
申请日：2022-07-01
Applicant: 长光卫星技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种模拟在轨环境的漫反光折式动态实验室辐射定标装置，其包括：均光系统和漫反射光折暗室；漫反射光折暗室的入光口接收均光系统中的积分球的出光端发出的均匀光线；漫反射光折暗室的漫反射板能够将进入漫反射光折暗室内的均匀光线控制光强度后反射给被测传感器，漫反射板上靠近漫反射光折暗室的入光口的一端能够沿着上下对称设置的两个滑动轨道移动，两个滑动轨道分别嵌设于漫反射光折暗室的顶壁和底壁内。本发明通过控制漫反射板在漫反射光折暗室内转动，从而控制漫反射板平面与出光口平面的开合角度，进而实现控制进入成像传感器光的强度，实现模仿在轨定标，使得卫星在发射前就可以对其进行在轨状态的模拟辐射定标测试。
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公开(公告)号：CN109632100A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811634754.7
申请日：2018-12-29
Applicant: 苏州市产品质量监督检验院 , 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种蓝光加权辐亮度空间分布的测量方法，通过测量光源的配光曲线、发光面尺寸、典型辐照距离下的光源辐亮度和光源光谱，采用蓝光加权辐亮度空间分布拟合算法，计算得到蓝光加权辐亮度的空间分布表。本发明针对蓝光危害的空间分布情况进行测量和计算，能够计算得出光源应用场景内的蓝光危害空间分布情况，即空间中任意位置的蓝光加权辐亮度的大小。
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公开(公告)号：CN102901564A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201210265276.3
申请日：2012-07-27
Applicant: 中国科学院空间科学与应用研究中心
Abstract: 本发明提供一种互补测量的时间分辨单光子光谱计数成像系统及方法。该系统由光学部分和电学部分组成，光学部分将光成像在空间光调制器上，经调制将光出射至两臂方向，分别对其准直和分光，电学部分完成探测、控制和计算等。该方法采用可见光和近红外光单光子探测器线阵同时探测空间光调制器两臂出射光的光谱，一臂探测可见光光谱，一臂探测近红外光光谱，实现互补测量和最大光通量，灵敏度高；以时幅变换或延时计数门宽的方式实现周期对象皮秒级时间分辨，以逐帧测量方式实现非周期对象秒级时间分辨；根据矩阵互补，以关联的压缩传感算法同时获得可见光和近红外光的彩色视频帧序列，提高了成像质量和速度；并统计出时间分辨光谱图以便光谱分析。
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公开(公告)号：CN102162751B
公开(公告)日：2012-12-05
申请号：CN201010263625.9
申请日：2010-08-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Inventor： 刘子龙
IPC: G01J3/457
Abstract: 本发明公开了一种空间光学分布函数测量方法，其包括以下过程：测量无样品状态下入射光源的垂直入射亮度值及相应的反射立体角，计算通过理论推演得到的空间光学分布函数算子；设置测试角度；根据所述空间光学分布函数算子和所述测试角度，计算空间光学分布函数的绝对量值。在整个测量过程中，采用光谱辐射计作为信号探测系统来测量。本发明将实现辐亮度测量的光谱辐射计作为信号的探测器进行快速测量，既可以将空间光学分布函数测定需要限定的光学条件集成在光谱辐射计上，最大限度的减小了系统误差和分别校准带来的困难；又可以实现整个光谱区域的快速测量，为大量的数据测量带来了方便。
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公开(公告)号：CN101493357B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910042791.3
申请日：2009-03-05
Applicant: 谭成忠
Inventor： 谭成忠
IPC: G01J3/457
Abstract: 本发明宽频带光谱仪主要应用在光谱分析和光谱测量方面，也可用于材料的结构分析和光学吸收及反射测量、工业过程控制如高温测量和气体成份分析领域。它包括光源(1)、光源准直系统、起偏振器(4)、光学活性物质构成的偏振旋转片(5)、检偏振器(6)、探测器(8)和数据采集控制系统(9)，光源准直系统由两棱镜(2)组成，其特征在于：在光源(1)至探测器(8)的光路上依次排列安装有光源(1)、光源准直系统、起偏振器(4)、光学活性物质构成的偏振旋转片(5)、检偏振器(6)、聚光棱镜(7)及探测器(8)。本发明宽频带光谱仪它具有宽频带、多路性和高通量的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100385214C
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN200310109347.1
申请日：2003-12-12
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种非线性光谱相似性度量方法，属于信息技术领域。本发明一是采用核主成分分析方法去除了光谱波段之间的强相关性：针对光谱波段间的强相关性，利用非线性变换将原始光谱向量变换到一个新的特征空间，在特征空间中，利用核函数和主成分分析方法得到协方差矩阵所有非零特征特征值和特征向量，将特征值按降序排列，选择前N个特征值对应的特征向量，并以此构造一组标准正交基，最后，将特征空间中光谱向量投影到标准正交基上；二是合并光谱反射和吸收特征：将核变换以后反射率向量和归一化以后的吸收率向量对应波段值相乘，构成一个复合的光谱向量。本发明能去除波段间的强相关性，同时兼顾光谱反射和吸收特征在光谱相似性度量中的作用。
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公开(公告)号：CN1546959A
公开(公告)日：2004-11-17
申请号：CN200310109347.1
申请日：2003-12-12
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种非线性光谱相似性度量方法，属于信息技术领域。本发明一是采用核主成分分析方法去除了光谱波段之间的强相关性：针对光谱波段间的强相关性，利用非线性变换将原始光谱向量变换到一个新的特征空间，在特征空间中，利用核函数和主成分分析方法得到协方差矩阵所有非零特征特征值和特征向量，将特征值按降序排列，选择前N个特征值对应的特征向量，并以此构造一组标准正交基，最后，将特征空间中光谱向量投影到标准正交基上；二是合并光谱反射和吸收特征：将核变换以后反射率向量和归一化以后的吸收率向量对应波段值相乘，构成一个复合的光谱向量。本发明能去除波段间的强相关性，同时兼顾光谱反射和吸收特征在光谱相似性度量中的作用。
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公开(公告)号：CN119573897A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411691396.9
申请日：2020-03-27
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 本发明的色散测量装置(1A)具备脉冲形成部(3)、相关光学系统(4)、光检测部(5)和运算部(6)。脉冲形成部(3)根据从脉冲激光光源2输出的被测量光脉冲(Pa)，形成包含彼此具有时间差且中心波长彼此不同的多个光脉冲的光脉冲串(Pb)。相关光学系统(4)接收从脉冲形成部(3)输出的光脉冲串(Pb)，输出包含光脉冲串(Pb)的互相关或自相关的相关光(Pc)。光检测部(5)检测从相关光学系统(4)输出的相关光(Pc)的时间波形。运算部(6)基于相关光(Pc)的时间波形的特征量，推算脉冲激光光源(2)的波长色散量。由此，实现能够通过简单的结构测量波长色散的色散测量装置、脉冲光源、色散测量方法和色散补偿方法。
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公开(公告)号：CN118641035A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202410739081.0
申请日：2024-06-07
Applicant: 中山大学
Abstract: 本发明涉及光谱仪的技术领域，提出一种基于随机螺旋波导的片上中红外光谱仪，包括依次连接的输入耦合器、输入波导、分光模块、螺旋波导阵列、输出波导和输出耦合器；其中，所述输入耦合器的输入端用于接收光束；所述分光模块具有若干个输出端，所述螺旋波导阵列包括若干个螺旋波导，所述分光模块的一个输出端连接一个螺旋波导；其中，每个螺旋波导包括S型波导和两根阿基米德螺线波导，所述S型波导的一端通过一阿基米德螺线波导与所述分光模块的一个输出端相连，所述S型波导的另一端通过另一阿基米德螺线波导与输出波导的输入端相连。
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公开(公告)号：CN107870038B
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN201710854952.3
申请日：2017-09-20
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种用于检测入射光的波长光谱的方法和电子装置。电子装置包括：图像传感器，包括像素阵列，其中，像素阵列包括单位像素，单位像素包括被配置为将入射光聚焦的微透镜和被配置为响应于入射光输出电信号的两个或更多个光检测器；处理器，被配置为基于来自所述两个或更多个光检测器的输出值检测入射光的波长光谱。
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