公开(公告)号：CN102007389B

公开(公告)日：2013-05-15

申请号：CN200980113172.7

申请日：2009-03-30

Applicant: 株式会社拓普康

Inventor： 井崎雄三 ,  鹤冈政义

IPC: G01J3/36

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/2803

Abstract: 测光装置(2)的受光部(4)包括配置在与由截止滤光器(26)阻隔的短波长一侧的光线对应的位置上的受光元件(4a)，配置在与截止滤光器(26)阻隔的短波长一侧的光线对应的位置上的受光元件(4a)的输出作为暗电流输出来使用。在运算电路(6)中设置有修正电路(30)，该修正电路(30)使用暗电流输出来修正配置在与相较于被阻隔的短波长一侧的光线而言的长波长一侧的波长的光线相对应的位置上的各受光元件(4a)产生的测光输出。

公开(公告)号：CN103082996A

公开(公告)日：2013-05-08

申请号：CN201310026985.0

申请日：2004-09-08

Applicant: 通用医疗公司

Inventor： 尹锡贤 ,  布雷特·尤金·鲍马 ,  吉列尔莫·J·蒂尔尼 ,  约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔

IPC: A61B5/00 ,  G02B27/48

CPC classification number: H01S5/5045 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/7257 ,  G01B9/02002 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02043 ,  G01B9/02075 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02083 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01N21/4795 ,  G02B6/3604 ,  G02B26/12 ,  G02B27/48 ,  G02F1/093 ,  G02F1/11 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08063 ,  H01S3/105 ,  H01S3/1068 ,  H01S5/0071 ,  H01S5/0078 ,  H01S5/1025 ,  H01S5/14 ,  H01S5/141 ,  H01S5/146

Abstract: 提供了一种设备和方法。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。

公开(公告)号：CN103033926A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201210270369.5

申请日：2012-07-31

Applicant: 徕卡显微系统复合显微镜有限公司

Inventor： F·施莱柏

IPC: G02B26/08 ,  G01J3/14 ,  G01J3/32 ,  G02B21/00

CPC classification number: G02B21/0076 ,  G01J1/0414 ,  G01J3/021 ,  G02B26/0833

Abstract: 描述了一种用于光线的可变偏转的装置（100），其包括微机械镜排列（14），该微机械镜排列（14）具有多个反光镜致动器(18、20、22、24、26)；以及控制单元（32），通过该控制单元可控制镜致动器(18、20、22、24、26)至不同反射位置以改变光偏转。该装置（100）具有背反射结构（60），其系统性地适于镜排列（14），用于以目标形式将反射至背反射结构（60）的光从一部分镜致动器(18、20、22、24、26)反射返回至另一部分镜致动器(18、20、22、24、26)。

公开(公告)号：CN102971655A

公开(公告)日：2013-03-13

申请号：CN201180024869.4

申请日：2011-05-12

Applicant: ITRES研究有限公司

Inventor： 史蒂芬·艾查尔

IPC: G02B17/00 ,  G01J3/18 ,  G02B17/08 ,  G02B27/40

CPC classification number: G02B17/08 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/2823 ,  G02B13/22 ,  G02B17/0892

Abstract: 本发明提供一种光传递成像仪，可以合并到高光谱线形扫描仪、摄谱仪或非衍射图像中继装置中，更具体来说，涉及一种具有较之大多数先前设计更容易制造且具有优良成像品质的更简单光学设计的设计。本发明包含一种通用的第一光学组件，用以将入射光传递到狭缝或针孔上；第二光学组件，作为折射校正器操作，将入射光引导到弯曲反射衍射光栅或弯曲镜上，使得光谱色散或反射的光（取决于特定实施例）穿过同一第二光学组件回来，所述第二光学组件将光聚焦到与所述狭缝大概在同一平面中的焦平面阵列上。所述狭缝和PFA优选在折射校正器的光轴的相反侧上对称位移。

公开(公告)号：CN102269623B

公开(公告)日：2013-03-06

申请号：CN201110032744.8

申请日：2011-01-30

Applicant: 北京智朗芯光科技有限公司

Inventor： 李国光 ,  刘涛 ,  艾迪格·基尼欧 ,  马铁中 ,  严晓浪

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/02 ,  G01B11/06 ,  G01B11/24 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明提供一种易于调节聚焦的、可实现无色差的、可保持偏振特性的、且结构简单的垂直入射宽带偏振光谱仪。该垂直入射宽带偏振光谱仪利用至少一个平面反射元件改变会聚光束传播方向，实现探测光束垂直入射并会聚于样品表面的垂直入射宽带偏振光谱仪。而且，该垂直入射宽带偏振光谱仪包含至少一个偏振器，从而能够测量各向异性或非均匀性样品，如包含周期性结构的薄膜的三维形貌和材料光学常数。

公开(公告)号：CN102483351A

公开(公告)日：2012-05-30

申请号：CN201080037678.7

申请日：2010-08-31

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  能野隆文

IPC: G01J3/18

CPC classification number: G01J3/0262 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2823

Abstract: 本发明的分光模块中，以比衍射层(6)厚的方式，沿着衍射层(6)的周缘(6a)一体形成凸缘部(7)，且在透镜部(3)的曲面(3a)中与凸缘部(7)接触的部分为粗糙面。由此，由与曲面(3a)的粘着性高的凸缘部(7)包围衍射层(6)。因此，即使将衍射层(6)薄型化，也可防止衍射层(6)从透镜部(3)的凸状曲面(3a)剥离。而且，该分光模块中，在凸缘部(7)中与透镜部(3)的曲面(3a)相对的后表面(7a)成为平坦面。由此，即使光入射至凸缘部(7)内，该光也会到达凸缘部(7)的平坦面即后表面(7a)。因此，可减少作为杂散光直接成像于光检测元件的光检测部的光。

公开(公告)号：CN102478429A

公开(公告)日：2012-05-30

申请号：CN201110262087.6

申请日：2011-09-06

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 舟本达昭

IPC: G01J3/00 ,  G01J3/10

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/32

Abstract: 本发明提供一种分光测量装置，该分光测量装置包括：发射在所述可见光波长区域无峰值波长、并且随着波长由短波向长波的增大光量增大的光的钨灯；发射在可见光波长区域具有峰值波长的光的紫色LED；将钨灯和紫色LED发射的光混合的光混合器；让在所述光混合器混合的光入射、并且使混合的光的入射光中的特定波长的光透过的标准具；接收透过标准具的光的光接收部；转换可透过标准具的光波长，并根据光接收部接收到的光来测量透过标准具的光的分光特性的测量控制部。

公开(公告)号：CN102449449A

公开(公告)日：2012-05-09

申请号：CN200980159509.8

申请日：2009-05-29

Applicant: 丰田自动车株式会社

Inventor： 船山龙士 ,  川真田进也 ,  横地泰容 ,  远藤雅人 ,  吉田康浩 ,  北浜谦一

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/02 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0235 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/04 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36

Abstract: 本发明提供一种针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象，能够缩短测定来自各测定部分的光的光谱测定所需的测定时间的光谱测定装置。光谱测定装置具备：具有两条以上的狭缝(12b)的狭缝组(12G)；分光器(14)，该分光器按照各条狭缝(12b)对由狭缝组(12G)提取出的光进行分光；以及测定器(15)，该测定器测定由分光器(14)分光后的各条狭缝(12b)的光的各成分的强度。针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象(20)，各狭缝(12b)从来自该测定对象(20)的光中提取来自各测定部分的光。

公开(公告)号：CN102338662A

公开(公告)日：2012-02-01

申请号：CN201110147474.5

申请日：2011-06-02

Applicant: 北京智朗芯光科技有限公司

Inventor： 刘涛 ,  李国光 ,  艾迪格·基尼欧 ,  马铁中 ,  严晓浪

IPC: G01J3/447 ,  G01J3/02 ,  G01B11/06 ,  G01B11/24 ,  G01N21/21 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明提供了一种易于调节聚焦的、可实现无色差的、可保持偏振特性的、且结构简单的斜入射宽带光谱仪。该斜入射宽带光谱仪包含至少两个偏振器、至少一个相位补偿元件、至少两个曲面反射元件和至少两个平面反射元件的斜入射宽带光谱仪。斜入射宽带光谱仪利用平面反射元件改变光束传播方向，并且可补偿因反射聚光单元引起的偏振变化，使得光束经相位补偿元件后的偏振特性在斜入射并会聚于样品表面时保持不变。本发明的斜入射宽带光谱仪，能够高精确度地测量样品材料的光学常数、薄膜厚度和/或用于分析周期性结构的样品的临界尺度(CD)或三维形貌。

公开(公告)号：CN102265140A

公开(公告)日：2011-11-30

申请号：CN200980152349.4

申请日：2009-12-22

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 原田邦男 ,  足立作一郎 ,  山崎功夫

IPC: G01N21/59 ,  G01N35/04

CPC classification number: G01N21/59 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/10 ,  G01N21/0332 ,  G01N2201/062

Abstract: 在检测在试样中包含的成分量的分析系统中，使光度计小型、低价格化，并且在系统全体中可以同时测定大量样本。使用发热少、寿命长的LED作为光源，通过使光轴不为一条直线地弯曲来进行小型化，通过共用弯曲光轴的部件和在为了确保光量而聚光中使用的部件来减少部件个数，同时，通过小型化减少部件个数以及一体化，容易进行光轴调整，实现高精度的测量。