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公开(公告)号:CN101617219B
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN200880005951.0
申请日:2008-02-22
Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司
CPC classification number: G01J3/12 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0256 , G01J3/0264 , G01J3/0272 , G01J3/0283 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/0297 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J3/443 , G01N21/33 , G01N21/67 , G01N21/718 , G01N2201/0221
Abstract: 用于分析样本的成分的手持、自容式、电池供电的测试仪器包括用于激发样本的至少一部分的激发器、用于接收来自样本被激发部分的光信号的交叉色散光谱仪和用于处理关于来自光谱仪的光信号的光谱数据的处理器。激发器可包括火花发生器和反电极、激光或其他用于从样本的一部分生成光信号的设备。光谱仪具有足够宽的波长范围以使测试仪器能够探测并确定碳、磷、硫、锰、硅、铁和其他识别常见合金所必要的元素的相对含量。光谱仪包括由重量轻的材料制成的结构件,这种材料具有小的热膨胀系数(CTE)。光谱仪在期望的环境温度范围内结构稳定,不需要控制光谱仪的温度。
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公开(公告)号:CN102762966A
公开(公告)日:2012-10-31
申请号:CN201080064168.9
申请日:2010-04-29
Applicant: 台湾超微光学股份有限公司
Inventor: 柯正浩
CPC classification number: G02B6/34 , G01J3/0256 , G01J3/04 , G01J3/20 , G01J3/2803 , G02B6/26
Abstract: 一种具有锥状狭缝(34)的微型光谱仪的光机模块及其狭缝结构(30)。其中,微型光谱仪的光机模块包含一输入部(20)以及一微型绕射光栅(40)。输入部(20)包含一狭缝结构(30),其接收一第一光学信号(S1)并输出一第二光学信号(S2)沿着一第一光路(OP1)行进。狭缝结构(30)包含一基板(32)及一狭缝(34),狭缝(34)贯穿基板(32),且狭缝(34)从基板(32)的一第一面(32A)到基板(32)的一第二面(32B)具有渐缩的尺寸。微型绕射光栅(40)设置于第一光路(OP1)上,接收第二光学信号(S2)并将第二光学信号(S2)分离成多个光谱分量(C)沿着一第二光路(OP2)行进。本发明实施例的微型光谱仪的光机模块及其狭缝结构,可以利用半导体制造工艺来大量生产,降低成本,并且可使狭缝具有平滑的表面,以免对于入射光造成反效果。
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公开(公告)号:CN102680094A
公开(公告)日:2012-09-19
申请号:CN201210071529.3
申请日:2012-03-16
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor: 中村纪元
CPC classification number: G02B5/20 , G01J3/0205 , G01J3/0256 , G01J3/0289 , G01J3/28 , G01J3/36 , G01J2003/1226 , H01L27/1462 , H01L27/14623
Abstract: 本发明涉及分光传感器以及角度限制滤光器,所述角度限制滤光器包括:第一遮光层,其包含第一遮光性材料,且设置有第一开口部;第二遮光层,其包含第二遮光性材料,且位于至少部分包围第一遮光层的区域内;第三遮光层,其包含第一遮光性材料,且设置有至少部分与第一开口部重合的第二开口部,并且位于第一遮光层的上方;第四遮光层,其包含第二遮光性材料,并且位于至少部分包围第三遮光层的区域内且第二遮光层的上方。
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公开(公告)号:CN1766533B
公开(公告)日:2011-10-12
申请号:CN200510093571.5
申请日:2005-08-26
Applicant: 安华高科技ECBUIP(新加坡)私人有限公司
Inventor: 肯·A·尼诗玛若
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/50 , G01J3/502
Abstract: 光学色彩传感器使用衍射元件。半导体制造工艺被用来形成衍射光栅作为光电传感器的一部分。在第一实施例中,诸如光电二极管的光电传感器被形成在衬底上,并且使用半导体制造技术公知的金属化层来形成固定间隔的衍射光栅。在第二实施例中,在衬底上形成线性光电二极管阵列,并且在金属层中形成具有变化间隔的衍射光栅,进而提供连续色彩传感器。可以使用在半导体加工技术中常用的其它金属层来提供需要的孔径。
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公开(公告)号:CN101548162B
公开(公告)日:2011-05-11
申请号:CN200780032570.7
申请日:2007-07-20
Applicant: 特瑞恩股份有限公司
CPC classification number: G01J3/1804 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0256 , G01J3/0264 , G01J3/0294 , G01J3/18
Abstract: 本文描述了一种用于表征光学材料的光学表征系统。该系统通常包括衍射元件(104)、检测器(106)和光学元件(102)。光学元件(102)因此通常适于接收射束,该射束可以是材料的照射响应。光学元件(102)通常具有用于将射束折射地准直到衍射元件(104)上的折射面以及用于将经衍射的射束反射到检测器(106)上的反射面。光学元件(102)还适于与被放置在光学元件(102)同一侧的衍射元件(104)和检测器(106)协作,其中光学元件(102)的该侧与用于接收射束的接收侧相反。
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公开(公告)号:CN101711341A
公开(公告)日:2010-05-19
申请号:CN200880020745.7
申请日:2008-04-21
Applicant: 克莫麦特公司
Inventor: 波库·昂费达盛
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01B9/02076 , G01B9/02068 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0256 , G01J3/06 , G01J3/453 , H01L41/0946 , H01L41/0973
Abstract: 本发明涉及干涉仪的至少一个可动装置相对于干涉仪主体的移动。根据本发明的系统包括至少两个干涉仪促动器,所述干涉仪促动器能够被独立操作,从而使得至少两个促动器能够移动干涉仪的至少一个可动装置。当激励至少两个干涉仪促动器中的至少一个时,干涉仪的至少一个可动装置以矫正诸如倾斜的情况的最低需要移动。在优选配置中,根据本发明的系统和方法包括三个能够被独立操作的干涉仪促动器。
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公开(公告)号:CN100451700C
公开(公告)日:2009-01-14
申请号:CN200580029584.4
申请日:2005-08-19
Applicant: 凯米映像公司
CPC classification number: G02B6/06 , A61B1/00165 , A61B1/043 , A61B1/063 , A61B1/0638 , A61B1/0646 , A61B1/07 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0227 , G01J3/024 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/0286 , G01J3/44 , G01J2003/1213
Abstract: 本发明涉及一种用于纤维镜的方法和设备。在一个实施例中,本发明涉及化学成像纤维镜,用于成像和从样本中收集光谱,该纤维镜包括:至少一条照明光纤,用于传输来自第一光源和第二光源的光到纤维镜的远端;设置在所述纤维镜远端的二向色反射镜,因此,来自所述第一光源的光基本沿直线传输通过所述反射镜,和来自所述第二光源的预定波长的光基本上被所述反射镜反射到所述样本,从而照明所述样本;和至少一条收集光纤,用于接收来自所述被照明样本的光并传输被接收的光到一个光学装置。
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公开(公告)号:CN101295050A
公开(公告)日:2008-10-29
申请号:CN200710097562.2
申请日:2007-04-27
Applicant: 柯正浩
Inventor: 柯正浩
CPC classification number: G01J3/0256 , G01J3/0208 , G01J3/18
Abstract: 本发明提供的是一种光学系统,包括输入部,用以接收光学信号,预先设定的输出面;以及绕射光栅,绕射光栅具有绕射表面,绕射表面具有第一轮廓,第一轮廓是由多个点组成,各个点是由不同的方程式所决定,用以将来自输入部的光学信号分离成多个光谱分量,且各个光谱分量会聚焦在预先设定的输出面。
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公开(公告)号:CN101095036A
公开(公告)日:2007-12-26
申请号:CN200580045325.0
申请日:2005-11-16
Applicant: 数据色彩控股股份公司
IPC: G01J3/46
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/10 , G01J3/465 , G01J3/50 , G01J3/51 , G01J3/513 , G01J2001/4247 , G01J2003/1213
Abstract: 在单个半导体芯片上制成一种三原色比色计,该芯片至少有三个检测器,在每个检测器上被涂敷染料滤波器,每个滤波器至少有一层,而至少一个滤波器有双层。根据滤波器和检测器的输入,比色计确定入射光的CIE三原色值。在包含全部检测器和电子元件的单个硅芯片上,可以制成有集成染料滤波器的比色计,而在每个检测器上涂敷被沉积的滤波器层。着色剂可以被直接地沉积到滤波器上,而不是利用滤波器的塑料基片。
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公开(公告)号:CN100345013C
公开(公告)日:2007-10-24
申请号:CN200510119553.X
申请日:2005-11-18
CPC classification number: G02B6/4215 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/1895 , G02B6/2852 , G02B6/29323
Abstract: 本发明的一般(或广泛、广义)特征是一个光学装置,该装置中有一个光波导,该光波导中有一个倾斜光栅使得至少部分光从导模耦合入一个或多个辐射光束。倾斜光栅辐射出的光被聚焦成中间像平面上预定位置的中间像,中间像的位置取决于光波长以及光所耦合出的导模的有效折射率。本发明可以在中间像平面上放置一个空间光调制器用以控制光束的相位和(或)幅度。更为显著的是,本发明还包含了一个末级聚焦器件用以将从空间光调制器透过的光聚焦成局部区域内的末级像,从而使得光强提高,也就提高了探测的灵敏度,该末级聚焦器件可以是一个透镜。该发明还包含了一个光接收器,该光接收器可以是光纤或光探测器或用以探测末级像的光探测器阵列。
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