一种非成像型星载激光告警系统

    公开(公告)号:CN107462325A

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201710602264.8

    申请日:2017-07-21

    CPC classification number: G01J3/28 G01J3/0208 G01J3/0213 G01S1/70

    Abstract: 本发明公开了一种非成像型星载激光告警系统,包括光谱分析系统和定位系统,该光谱分析系统由动反射镜、衰减片、分光镜、第一光谱仪、第二光谱仪和电机组成,电机连接动反射镜,衰减片设置在动反射镜和分光镜之间,电机控制和转动动反射镜来调节目标激光的入射角,使目标激光穿过衰减片,经过分光镜分为两路激光,两路激光一路穿过透镜进入第一光谱仪,另一路穿过透镜进入第二光谱仪,第一光谱仪、第二光谱仪分析目标激光的光谱范围。本发明能够探测地面待测激光,提供精确的待测激光的光谱信息和激光光源方位,从而实现告警待测激光。

    用于从传感器数据估计输入光谱的方法和系统

    公开(公告)号:CN107407599A

    公开(公告)日:2017-11-28

    申请号:CN201680008436.2

    申请日:2016-02-03

    Inventor: S·利凡斯

    Abstract: 本发明涉及用于从通过光学传感器组装件(200)采集的传感器数据估计输入光谱的方法,该光学传感器组装件(200)包括光圈(210)、法布里-珀罗干涉仪(220)以及光学传感器元件(230),该方法包括:获取表示所述光学传感器组装件(200)对所述光圈(210)的第一设置的光谱响应函数的第一校准数据(110);从所述第一校准数据计算第二校准数据(120),所述第二校准数据表示所述光学传感器组装件(200)对所述光圈(210)的第二设置的光谱响应函数,其中所述第二设置对应于在所述传感器数据的所述采集期间应用的设置;以及因变于所述第二校准数据和所述传感器数据来估计所述输入光谱(130)。本发明还涉及对应的用于估计输入光谱的系统。

    一种投影光谱仪系统
    193.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107290052A

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201610226444.6

    申请日:2016-04-13

    CPC classification number: G01J3/28 G03B21/14 G03B21/28

    Abstract: 本发明公开了一种投影光谱仪系统,该系统包括依次设置在光路中的光源模块、狭缝或准直器、扩束准直透镜组模块﹑光栅和聚焦放大透镜组,还包括设置在聚焦放大透镜组前端的投影屏幕。从光源模块输出的光束,经过狭缝或准直器和扩束准直透镜组模块准直扩束后,经光栅衍射分光后,再经过聚焦放大透镜组实现光谱图像的形成和聚焦放大,后投影到屏幕或墙体或板面等空白处。本发明将投影显示与光谱分析相结合,将光谱仪产生的光谱图像投影到教室、实验室、办公室等大实体的墙面上,实现了从小图像到大图像的显示转变,从而方便光谱仪在教学、实验、办公等方面实现高分辨率示范性演示。

    一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法

    公开(公告)号:CN107084791A

    公开(公告)日:2017-08-22

    申请号:CN201710294764.X

    申请日:2017-04-28

    CPC classification number: G01J3/28

    Abstract: 本发明公开了一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法,使用了聚乙烯薄膜、面源黑体和傅里叶变换式中波红外光谱仪等物品,经过多个步骤,获取70℃、80℃、90℃时黑体干涉数据和聚乙烯薄膜干涉数据,再将数据进行傅立叶变换,得到70℃、80℃、90℃时黑体和聚乙烯薄膜测量光谱数据;将同一温度下聚乙烯薄膜和黑体测量光谱对应求差值,得到聚乙烯薄膜的特征吸收峰位置曲线,从该曲线得到两个吸收峰位置为A和B;根据吸收峰位置A,经过计算公式计算得到吸收峰位置B对应的光谱位置,至此实现了中波红外光谱仪的光谱定标。与现有技术相比,本发明单次定标精度高、稳定性好,并且节约了成本。

    波长方程参数粒子群和最值寻优的光谱仪波长校正方法

    公开(公告)号:CN106895918A

    公开(公告)日:2017-06-27

    申请号:CN201710281034.6

    申请日:2017-04-26

    Applicant: 吉林大学

    CPC classification number: G01J3/28 G01J2003/2879

    Abstract: 本发明公开一种波长方程参数粒子群和最值寻优的光谱仪波长校正方法,该校正方法是采用粒子群寻优确定机械位置误差波长校正方程参数,最值寻优确定调整参数,并以硬件调整、软件修正实现光谱仪波长校正。基于机械位置误差的波长方程,用两种寻优算法确定方程参数、调节杆长和修正波长补偿值的方法,对光栅正弦扫描型单色仪或光谱仪的扫描波长误差进行了有效校正。解决了单色仪光栅扫描机构由于光零位置误差和滚子导向误差引起的波长扫描误差大、无法满足仪器波长精度问题,解决了波长方程参数无法求解问题。该方法软硬件相结合,易于操作,校正后无需对每次仪器的光谱数据进行计算处理,适用于单色仪或光谱仪产品检验调试时的波长修正。

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