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公开(公告)号：CN102171548A
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200980138658.6
申请日：2009-09-24
Applicant: 森谢尔公司
Inventor： 汉斯·戈兰·埃瓦尔德·马丁 , 帕威尔·齐里阿诺夫
IPC: G01N21/03 , G01J3/04 , G01N33/497
CPC classification number: G01N21/3504 , G01N21/0303
Abstract: 本发明包括一种适于进行光谱分析的设备(“A”)，所述设备具有：适用于电磁辐射(“S”)的传送装置(10)；采用腔的形式并用作测量池的有限空间(11)，其意在能够限定光学测量距离(T”)；从所述传送装置(10)通过所述光学测量距离(“L”)的所述电磁辐射(“S”、“Sa1”、“Sa2”)的检测装置(12)；以及执行光谱分析并至少连接到所述检测装置(12)的单元(13)。电磁辐射的所述检测装置(12)以光电方式适于对预期落入一光谱范围内的电磁辐射(“Sb”、4a)具有灵敏性，所选取的该光谱范围的波长分量或谱元将成为执行光谱分析的单元(13)中的分析对象，以便在该单元中通过计算确定谱元的相对辐射强度。所述电磁辐射(“S”、“SaT1、“Sa2”)适于通过存在气体样品(G)的空间(11)。空间(11)内的所述光学测量距离(“L”)被选取为很短，至少短于15毫米，因此样品气体(G)必须相对于被评估的气体部分而呈现出高浓度。
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公开(公告)号：CN102109377A
公开(公告)日：2011-06-29
申请号：CN200910312127.6
申请日：2009-12-23
Applicant: 天津市拓普仪器有限公司
Inventor： 常敬
Abstract: 本发明公开了一种调节信号强度的方法及设备，旨在提供一种通过增益自动调整和狭缝自动调整相配合来实现调节信号强度，使全谱段均有较高的信噪比的调节信号强度的方法及设备。将狭缝设定在用户需要的光谱带宽位置；将自动增益调整系统的增益调整范围设定为1-100；自动增益调整系统检测光接收器当前接收的能量值，经放大后送到调节控制器，调节控制器判断如果能量值低于或高于设定的阈值，则输出控制指令给自动增益调整系统改变总体增益值，直到转换后的能量达到阈值标准；如果增益达到了最大值时，转换后的能量不能达到阈值标准，则信号强度调整控制器输出控制指令控制狭缝伺服电机带动狭缝打开，直到转换后的能量达到阈值标准。
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公开(公告)号：CN101915613A
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：CN201010242597.2
申请日：2010-08-02
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J3/04
Abstract: 一种可双向调节缝宽的狭缝调整装置，涉及光学精密机械技术领域，它解决了现有可调狭缝装置的机械结构复杂、加工工艺性不好、尺寸较大，并且组装困难，同时存在成本较高的问题，本发明装置包括调节螺杆、两个狭缝刀片、带主体基座、上盖、导向叶片、拉紧弹簧、止推轴承、支撑板；采用对称布置的导向叶片保证狭缝刀片的直线运动；采用绕过小滑轮的细钢丝连接两个刀片，保证两个刀片做相反方向运动时的对称性；采用拉紧弹簧对两刀片施加预紧力保证钢丝张紧并消除螺杆爬行和空回误差。本发明易于加工制造、成本低、并保证双向调节、安装简便、缝宽调整范围大。本发明适用于精密机械加工领域。
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公开(公告)号：CN101010575A
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN200580028719.5
申请日：2005-07-29
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： F·J·P·舒尔曼斯 , M·C·范比克 , M·范德沃特
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/04 , G01J3/36 , G01J2003/047 , G01J2003/1278
Abstract: 本发明提供一种基于多元的分光镜系统的自动校准，该基于多元的分光镜系统优选被制作为基于多元的分光计。分光镜系统基于多元光学元件，该多元光学元件提供入射光学信号的光谱加权。光谱加权是基于光谱分量的空间分离以及随后利用空间光调制器进行的空间滤光来进行的。分光镜系统的校准是基于空间光调制器的专用校准段，该空间光调制器的位置对应于入射光学信号的特征的校准或参考波长。优选地，所述校准与参考波长由光源产生的激发辐射的波长给出，所述光源用于在感兴趣体积区中引发散射过程。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119826973A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411988117.5
申请日：2024-12-31
Applicant: 安徽创谱仪器科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光谱仪和光谱仪的测试方法，光谱仪包括：光谱仪主体，光谱仪主体内形成有真空腔；至少一个光学元件，至少一个光学元件安装于真空腔内，至少一个光学元件形成有光学路径；气体放电光源、狭缝组件和探测器组件，气体放电光源、狭缝组件和探测器组件均安装于真空腔外，气体放电光源发出的光线适于经过狭缝组件后进入到真空腔内，且沿光学路径发射后进入探测器组件。本发明实施例的光谱仪，可用于对紫外光进行光谱分析，可增大光谱仪的适用范围，且使气体放电光源发出的光线可经过狭缝组件后进入真空腔，在真空腔内沿着光学路径传播后进入探测器组件，以实现光谱仪的光谱分析功能或对光谱仪的准确性和分辨率等进行评估。
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公开(公告)号：CN119595105A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411692725.1
申请日：2024-11-25
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明涉及一种用于无人机的推扫式高光谱成像系统，其中，线面结合光阑开设有狭缝和矩形窗口，前置镜头对目标场景成像至矩形窗口，经由准直透镜准直以产生平行光，再经过色散棱镜未发生色散，最后通过聚焦透镜到达焦平面探测器，获得高分辨率图像，通过对比相邻帧之间的高分辨率图像，得到位姿变化信息；前置镜头还对目标场景成像至狭缝，经由准直透镜准直以产生平行光，再经过色散棱镜发生色散，最后通过聚焦透镜到达焦平面探测器，获得多光谱图像；利用位姿变化信息对当前帧的多光谱图像进行校准，校准后再进行拼接得到最终的目标场景高光谱图像。本发明结构简单易用，无需额外系统来辅助图像拼接。
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公开(公告)号：CN119573882A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411830663.6
申请日：2024-12-12
Applicant: 北矿检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及光谱检测技术领域，提供了一种多光栅宽波段光谱检测装置，通过在罗兰圆结构的底座上布置三光栅结构，利用三光栅结构对入射光线进行分级，从而将入射光分为连续分布的不同波段的光线，同时采用对应的探测组件分别对对应波段的光线分别进行检测，从而实现130nm‑780nm的宽波段检测，波长涵盖卤素和碱性金属，极大的拓展了光谱检测装置的应用领域。
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公开(公告)号：CN119509699A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411969262.9
申请日：2024-12-30
Applicant: 苏州创视智能技术有限公司
Abstract: 本发明是一种线光谱共焦测头，包括狭缝和镜筒，所述狭缝设置在在镜筒一端，用于将固定带宽的复色线光源引入镜筒，在所述镜筒内且沿着狭缝发射光路分布有色散透镜组，使得复色光经色散透镜组分离聚焦，不同波长的光聚焦在光轴方向不同位置，并随着波长递增而依次分布，用于将被测物放入测头色散区域内，根据被测物表面反射光光谱的峰值信息获取被测物当前相对色散透镜组的位置。本发明测头的线光源可实现线视场探测，同时获取被测物轴上和轴外视场位置信息，在保证纵向测量范围的同时，提高横向测量效率，其纵向测量范围可达±3.6mm，横向测量范围可达±8.5mm。
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公开(公告)号：CN119085848A
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202411397751.1
申请日：2024-10-08
Applicant: 北京湃科数智科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于鸿蒙的光谱信号处理分析系统，包括信号处理平台和设置于暗室环境中的光谱采集系统，信号处理平台与光谱采集系统相配合使用，信号处理平台包括分布式采集单元、检测驱动单元和数据填充单元，本发明涉及光谱信号处理技术领域。该基于鸿蒙的光谱信号处理分析系统，利用多重反射的方式，配合三个光电传感器以分布式布局获取不同的光谱图，利用鸿蒙分布式架构实现数据的迅速传输，过程中，利用反射损耗降低光束能量，避免能量溢出的同时，结合预先对单色光在反射过程中损耗量的判断，实现对光谱图的填充，后通过缺失比对填充的方式获取检测结果更为精准的光谱图，光谱信号处理高效的同时，获取光谱结果更为精准。
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