基于10T-SRAM的带符号乘法与乘累加运算电路

    公开(公告)号:CN117608519A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202410094858.2

    申请日:2024-01-24

    Abstract: 本发明属于静态随机存储器领域,具体涉及一种基于10T‑SRAM的带符号乘法与乘累加运算电路及其芯片。基本电路由8个NMOS管和2个PMOS管构成。P0、P1和N0~N3构成实现数据存储功能的基本单元;其余构成计算单元。其中,N4和N6的栅极连接在存储节点Q上,N4与N5的漏极相连;N6与N7的漏极相连;N4的源极与位线BL相连;N6的源极连接位线BLB。N5、N7的源极接VSS。N5的栅极连接正相输入字线;N5的栅极连接负相输入字线。本发明方案提供独立的数据读通道实现读写分离,能够防止传统6T‑SRAM开启多行而引起的读破坏问题,并且可以同时支持带符号数和无符号数间的多比特乘法和乘累加运算。

    基于SRAM的电流镜互补存内计算宏电路、及芯片

    公开(公告)号:CN117271436B

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311551254.8

    申请日:2023-11-21

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明涉及集成电路技术领域,更具体的,涉及基于SRAM的电流镜互补存内计算宏电路、及芯片。本发明公开了基于SRAM的电流镜互补存内计算宏电路,包括阵列运算模块、读写选择模块、互补充放电模块、电流镜模块、输入模块、输出模块。本发明可以实现32组5bit带符号数乘以1bit权重结果的同或累加计算。本发明通过电流镜模块为互补充放电模块提供互补的栅极控制电压,使充放电单元的充放电能力完全相同,从而保证BL单位时间的充电或放电量是相同的,以保证计算结果的精度。本发明的电流镜模块采用双层结构,可以有效降低驱动电流,使得功耗较小。本发明解决了现有存内计算结构进行同或累加运算(56)对比文件朱陈宇.基于RRAM的存内乘累加电路及逻辑运算电路设计.中国优秀硕士论文电子期刊.2023,全文.Zhiting Lin;Chunyu Peng.CascadeCurrent Mirror to Improve Linearity andConsistency in SRAM In-MemoryComputing.IEEE Journal of Solid-StateCircuits.2021,2550-2562.Zhiting Lin.In Situ Storing 8T SRAM-CIM Macro for Full-Array Boolean Logicand Copy Operations.IEEE Journal ofSolid-State Circuits.2022,1472-1486.

    基于8T-SRAM和电流镜的存内计算电路

    公开(公告)号:CN117219140B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202311451934.2

    申请日:2023-11-03

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明涉及集成电路技术领域,更具体的,涉及基于8T‑SRAM和电流镜的存内计算电路。本发明包括存储部、存内计算部、传输控制部、电流镜部、反相器部、关断控制部。本发明一方面将1bit权重存储在8T‑SRAM单元内,另一方面将5bit带符号数分为1bit符号位和4bit无符号数两部分、并分别输入到8T‑SRAM单元、传输控制部,从而在近存内计算的方式下实现5bit带符号数与1bit权重相乘及同或累加。本发明没有引入电容等非线性器件,可以保证计算结果精度,避免单元面积变大。本发明采用电流镜复制参考电流源Iref,使存内计算部充放电速度相等,可以极大程度减少充放电非线性,保证计算结果的准确性。

    基于8T-SRAM和电流镜的存内计算电路

    公开(公告)号:CN117219140A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202311451934.2

    申请日:2023-11-03

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明涉及集成电路技术领域,更具体的,涉及基于8T‑SRAM和电流镜的存内计算电路。本发明包括存储部、存内计算部、传输控制部、电流镜部、反相器部、关断控制部。本发明一方面将1bit权重存储在8T‑SRAM单元内,另一方面将5bit带符号数分为1bit符号位和4bit无符号数两部分、并分别输入到8T‑SRAM单元、传输控制部,从而在近存内计算的方式下实现5bit带符号数与1bit权重相乘及同或累加。本发明没有引入电容等非线性器件,可以保证计算结果精度,避免单元面积变大。本发明采用电流镜复制参考电流源Iref,使存内计算部充放电速度相等,可以极大程度减少充放电非线性,保证计算结果的准确性。

    一种用于DRAM非易失存内计算的电路

    公开(公告)号:CN113658628B

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202110846566.6

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 本发明公开了一种用于DRAM非易失存内计算的电路,包括以3T1R1C单元为基本单元设置的N行N列内存单元阵列、N个NMOS管和2N个PMOS管构成的开关组、N个存储电容构成的存储共享电容组,每一列进行单独的逻辑与运算累加,再将结果共享到每一列总线上的存储电容上进行量化;基于该电路,根据3T1R1C单元中电容写入的一位二进制数,在掉电前,将数据转换成RRAM的阻态保存下来;在上电后,再根据RRAM阻态的不同,由源极线SL通过RRAM向3T1R1C单元中的电容恢复相应的数据。利用该电路能够实现正确的逻辑与运算以及结果的累加量化、完成DRAM掉电前的数据恢复、同时能够保证在上电时向电容中恢复数据。

    一种8T-SRAM单元及基于该种8T-SRAM单元的运算电路、芯片

    公开(公告)号:CN116206650A

    公开(公告)日:2023-06-02

    申请号:CN202310091912.3

    申请日:2023-01-17

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明涉及存内计算技术领域,更具体的,涉及一种8T‑SRAM单元,基于该种8T‑SRAM单元的运算电路,以及基于该种运算电路构建的运算芯片。本发明提供的8T‑SRAM单元用于构建进行同或累加运算的电路,相较于现有的8T1C节省了电容,相较于现有的10T、12T节省了若干晶体管,可实现节省面积,提高能效的效果。本发明提供的8T‑SRAM单元相较于传统6T‑SRAM单元,增加了N5、N6的栅极分别连接出存储节点Q、QB,在读操作、计算操作中关闭字线WL,利用位线RBL、RBLB及字线IN、INB进行读取和计算,不再用写入数据的N3、N4进行数据读取,具有读写分离的特性,避免了传统6T‑SRAM读干扰,提高了单元的稳定性,也能保证单元的精确度。

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