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公开(公告)号：CN112729543B
公开(公告)日：2023-01-03
申请号：CN202011501092.3
申请日：2020-12-18
Applicant: 上海安杰智创科技股份有限公司
IPC: G01J3/10
Abstract: 本发明涉及一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质，所述背景校正方法用于对光学检测系统进行误差校正，该方法包括以下步骤：获取光学检测系统的光学检测系统原始检测数据；基于预先获得的背景校正系数对所述原始检测数据进行背景校正；其中，所述背景校正系数通过以下方式获得：获取一组该光学检测系统的检测数据，通过反向推演及验证的方式获得最优的所述背景校正系数。与现有技术相比，本发明具有有效降低误差、提高精度，无须硬件变更等优点。
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公开(公告)号：CN111201425B
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：CN201880065906.8
申请日：2018-10-18
Applicant: 大日本印刷株式会社
Abstract: 本发明通过提供如下的色彩校正用观察器而解决上述课题。一种用在色彩校正的色彩校正用观察器，当将波长440nm以上且470nm以下的第一波段的峰顶的发光强度设为1时，波长505nm的相对强度是0.80以上且0.95以下，且波长620nm的相对强度是0.65以上且0.80以下，当将波长505nm的发光强度设为A、将波长620nm的发光强度设为B时，A及B的比值A/B是1.00以上且1.46以下。
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公开(公告)号：CN115507947A
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202211015243.3
申请日：2022-08-23
Applicant: 北京赛凡光电仪器有限公司
Inventor： 张驰
Abstract: 本申请公开了一种光栅光谱仪波长校准方法,包括以下步骤：建立标准光源的特征峰的峰值与控制光栅角度的电机步数之间的函数关系；计算出照射到多点探测器上非中心波长的落点相对于中心波长落点的距离D；计算出多点探测器与光栅的等效距离L；计算照射到多点探测器上非中心波长与中心波长的角度偏差αn；计算照射到多点探测器上非中心波长的衍射角θn；计算出照射到多点探测器上非中心波长的波长值λn；计算出光谱仪波长校准系数。本申请与传统的采用多条校准谱线进行校准的方式相比，本申请仅需通过一条标准谱线即可完成对光谱仪的校准，简化了校准步骤，降低了传统校准方法的繁琐性，在保障校准结果准确的前提下有效提高了校准效率。
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公开(公告)号：CN115479669A
公开(公告)日：2022-12-16
申请号：CN202211085278.4
申请日：2022-09-06
Applicant: 深圳市摩西尔电子有限公司
Abstract: 本申请涉及光谱采集技术的领域，尤其是涉及一种绝对光谱采集方法及系统，绝对光谱采集系统方法包括：获取光学通道内入射光路的光线；将入射光路分成第一光路和第二光路；将第一光路的光线传播至绝对光谱采集模块；将第二光路的光线传播至图像传感器；基于图像传感器的感应信号，得到校准光学影像；绝对光谱采集模块对位于探测画面中的采集区域的光线进行数据采集，得到被测对象的绝对光谱信息。利用第二光路在图像传感器中的光学成像可以确定被测对象的光线能否通过第一光路准确地入射到绝对光谱采集模块中，从而使绝对光谱采集模块能够准确地对被测对象进行数据采集，减少了测量误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109348727B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN201780019817.5
申请日：2017-01-26
Applicant: 耐克创新有限合伙公司
IPC: G01J3/10 , G01N21/3554 , G01N21/3563 , G01N21/359 , G01N33/483
Abstract: 一种系统、可佩戴设备和方法包括：光发射器，该光发射器被配置为发射在近似900纳米和1000纳米之间的第一波长的光和近似1350纳米的第二波长的光；第一光检测器，该第一光检测器与光发射器以第一距离间隔开；以及第二光检测器，该第二光检测器与光发射器以第二距离间隔开，该第二距离近似是第一距离的两倍。基于由第二光检测器检测到的来自肌肉组织的反向散射光和由第一光检测器检测到的来自非肌肉组织的反向散射光之间的关系，可以确定肌肉组织的水合和糖原中的至少一个。
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公开(公告)号：CN114942228B
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202210857832.X
申请日：2022-07-21
Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
Abstract: 本发明提出一种材料瞬态特性的精准测量装置及方法，包括：脉冲激光器、第一色散元件、第一耦合器、光纤延迟线、光程补偿元件、第二耦合器、待测样品、第二色散元件、第三色散元件和测试设备。传统测量瞬态特性采用自相关技术、时间透镜技术和泵浦‑探测技术等方法，只能测量长时间的平均信号、单发测量，且易受背景噪声的影响，测量灵敏度低，同时测量结果受示波器的时间分辨率和泵浦脉冲的脉宽等的限制。本发明不受传统电子仪器测量响应速度限制，可以实现对脉冲的精确单次测量，测量精度可以达到阿秒量级，对材料瞬态特性实现精准测量。
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公开(公告)号：CN110073200B
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN201780077706.X
申请日：2017-10-24
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 自动分析装置具备：产生中心波长为340nm以下的光的光源；被上述光源的光激励而发光，且与上述光源的透射光结合而产生波长340nm～800nm的光的荧光体；聚光透镜；至少一个狭缝；保持试样和试剂混合而成的反应溶液且供来自上述光源的光和来自上述荧光体的光入射的反应池；以及对透过上述反应池的光进行检测的检测器，上述光源、上述荧光体、上述聚光透镜以及上述狭缝沿与光轴一致的直线配置，上述狭缝的开口部的宽度为上述狭缝的位置处的形成上述光源的像的光线的宽度以下。
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公开(公告)号：CN115066598A
公开(公告)日：2022-09-16
申请号：CN202080083857.8
申请日：2020-12-02
Applicant: 艾迈斯传感器德国有限责任公司
Inventor： 甘特·西塞斯
IPC: G01J3/02 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/42 , G01J3/50 , G01J3/52 , G01N21/25
Abstract: 一种对表面的颜色进行测量的方法。装置定位在表面的上方。该装置包括光学传感器和显示屏。光学传感器对多个光谱波道中的可见光水平进行测量，每个波道具有不同的光谱灵敏度特征。该装置定位成使得传感器对从表面反射的光进行测量。多个图案依次显示在显示屏上，每个图案在距光学传感器各自不同的距离处包括照射区域。光学传感器用于在每个图案的显示期间对由表面反射的光进行测量。确定对应于测得的由表面反射的光的强度的第一局部最大值的从光学传感器至照射区域的距离的值，该第一局部最大值是图案的漫反射的最大值。基于对应于与第一局部最大值对应的距离的值的每个光谱波道中的可见光水平来确定与表面的颜色或表面的反射光谱相对应的颜色空间中的位置。
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公开(公告)号：CN115004098A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202080084078.X
申请日：2020-12-03
Applicant: 加州理工学院
Abstract: 一种相干纠缠光子源，在多光子非线性过程中使用连续波激光代替脉冲光子激发源。在各种实施例中，该装置包括产生特定频率和窄线宽的电磁辐射的连续波光子激光器。发射光束可以由光纤调节，以允许与非线性晶体的有效相互作用。非线性材料以特定方式设计和制造，使得具有明确定义的能量的单个光子的量子力学过程能够被转换成显示量子相关性的两个或更多个光子。非线性材料和随后的光纤或自由空间部件控制时间、空间和偏振相关的量子相关性，使得纠缠光子可以在多光子非线性过程中产生信号，该信号与脉冲光子源的信号相同或超过脉冲光子源的信号，但处于连续波激光器的平均功率和峰值功率。
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