中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

449 records (took 0.044 seconds)

    Optical detection apparatus and method thereof
    254.
    发明公开
    Optical detection apparatus and method thereof 审中-公开
    Optische Detektoranordnung undzugehörigesVerfahren

    公开(公告)号：EP1757923A2

    公开(公告)日：2007-02-28

    申请号：EP06011289.3

    申请日：2006-05-31

    Applicant: DR. Chip Biotechnology Incorporation

    Inventor： Chen, Chien-An ,  Wang, Han-Wei ,  Hung, Chi-Fu

    IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

    CPC classification number: G02B21/0048 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/6456 ,  G01N2201/105 ,  G02B21/0036 ,  G02B21/0064 ,  G02B21/0076

    Abstract: An optical detection apparatus and method thereof is provided, which is applicable for detecting the image signals of a labeled sample. First, a laser module provides excitation light, and the excitation light is continuously reflected by a scan module for providing linear scanning light by changing a reflection angle. The carrier moves the light module in a direction nonparallel to the linear direction so as to provide a two-dimensional testing zone. The labeled sample placed in the testing zone is excited by the linear scanning light and generates emission light to be received by the light receiver. Therefore, the light receiver forms the image signals of the labeled sample corresponding to the emission light.

    Abstract translation: 提供了一种可用于检测标记样品的图像信号的光学检测装置及其方法。 首先，激光模块提供激发光，并且激发光被扫描模块连续地反射，以通过改变反射角来提供线性扫描光。 载体将光模块沿与线性方向不平行的方向移动，以提供二维测试区域。 放置在测试区域中的标记样品被线性扫描光激发，并产生由光接收器接收的发射光。 因此，光接收器形成对应于发射光的标记样品的图像信号。

    A SYSTEM AND METHOD FOR INDUCING AND DETECTING MULTI-PHOTON PROCESSES IN A SAMPLE
    257.
    发明申请
    A SYSTEM AND METHOD FOR INDUCING AND DETECTING MULTI-PHOTON PROCESSES IN A SAMPLE 审中-公开
    用于在样品中诱导和检测多光子过程的系统和方法

    公开(公告)号：WO2015185620A1

    公开(公告)日：2015-12-10

    申请号：PCT/EP2015/062371

    申请日：2015-06-03

    Applicant: LUDWIG-MAXIMILIANS-UNIVERSITÄT MÜNCHEN

    Inventor： HUBER, Robert Alexander ,  KARPF, Sebastian ,  EIBL, Matthias

    IPC: H01S3/10 ,  H01S3/30 ,  H01S3/094

    CPC classification number: G01N21/6456 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/10 ,  G01J3/44 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6408 ,  G01N21/65 ,  G01N2021/6484 ,  G01N2201/06146 ,  G01N2201/0635 ,  G01N2201/105 ,  G01N2201/11 ,  G01N2201/12 ,  H01S3/06712 ,  H01S3/06754 ,  H01S3/094007 ,  H01S3/10015 ,  H01S3/1618 ,  H01S3/2316 ,  H01S3/302 ,  H01S2301/02

    Abstract: Described is a system for inducing and detecting multi-photon processes, in particular multi- photon fluorescence or higher harmonic generation in a sample. The system comprises a dynamically-controllable light source, said dynamically-controllable light source comprising a first sub-light source, said first sub-light source being electrically controllable such as to generate controllable time-dependent intensity patterns of light having a first wavelength, and at least one optical amplifier, thereby allowing for active time-control of creation of multi-photon-excitation. The system further comprises a beam delivery unit for delivering light generated by said dynamically-controllable light source to a sample site, and a detector unit or detector assembly for detecting signals indicative of said multi-photon process, in particular multi-photon fluorescence signals or higher harmonics signals.

    Abstract translation: 描述了用于诱导和检测多光子过程的系统，特别是样品中的多光子荧光或更高次谐波产生。 该系统包括动态可控光源，所述动态可控光源包括第一子光源，所述第一子光源是电可控制的，以便产生具有第一波长的光的可控时间依赖强度图案， 和至少一个光放大器，从而允许对多光子激发的产生的主动时间控制。 该系统还包括用于将由所述动态可控光源产生的光传送到采样部位的光束传送单元，以及用于检测指示所述多光子过程，特别是多光子荧光信号的信号的检测器单元或检测器组件， 高次谐波信号。

    VARIABLE IMAGE FIELD CURVATURE FOR OBJECT INSPECTION
    258.
    发明申请
    VARIABLE IMAGE FIELD CURVATURE FOR OBJECT INSPECTION 审中-公开
    用于对象检查的可变图像场曲线

    公开(公告)号：WO2015148610A1

    公开(公告)日：2015-10-01

    申请号：PCT/US2015/022397

    申请日：2015-03-25

    Applicant: KLA-TENCOR CORPORATION

    Inventor： HORN, Paul

    IPC: H01L21/66

    CPC classification number: G01N21/8851 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/9501 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/105 ,  H01L22/12

    Abstract: Field curvature of an optical system is modified based on topography of the surface of a wafer such that an image of each of the segments of the surface is in focus across the segment. The wafer may be non-planar. The optical system may be a multi-element lens system connected to a controller that modifies the field curvature by changing position of the lens elements. The wafer may be held by a chuck, such as an edge grip chuck. Multiple optical systems may be arranged across a dimension of the wafer.

    Abstract translation: 基于晶片的表面的形貌来修改光学系统的场曲率，使得表面的每个段的图像跨越该段聚焦。 晶片可以是非平面的。 光学系统可以是连接到通过改变透镜元件的位置来改变场曲率的控制器的多元件透镜系统。 晶片可以由诸如边缘夹头卡盘的卡盘保持。 多个光学系统可以跨越晶片的尺寸布置。

    蛍光検出装置
    259.
    发明申请
    蛍光検出装置 审中-公开
    荧光检测装置

    公开(公告)号：WO2014077158A1

    公开(公告)日：2014-05-22

    申请号：PCT/JP2013/079960

    申请日：2013-11-06

    Applicant: シャープ株式会社

    Inventor： 川向　良平

    IPC: G01N21/64 ,  G01N27/447

    CPC classification number: G01N21/6486 ,  G01N21/6454 ,  G01N21/6456 ,  G01N27/44721 ,  G01N27/44778 ,  G01N2021/6463 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/10 ,  G01N2201/103 ,  G01N2201/105

    Abstract: 　励起光を第１の方向に出射する光源と、光源が取り付けられた基部(３０)と、基部(３０の光源に対して第１の方向側に設けられた開口部(３０a)と、開口部(３０a)の内縁側から開口部(３０a)の中央側に向かって延在するように基部(３０)に片持ち支持された片持ち梁部(３１)と、片持ち梁部(３１)の自由端側に固定され、光源から出射された励起光の進行方向を第１の方向と異なる第２の方向に変換して、第２の方向に変換した励起光を測定対象物に照射する光路変換部(２０)と、開口部(３０a)に対して測定対象物と反対の側に配置され、励起光が照射された測定対象物から発する蛍光のうちの開口部(３０a)を通過した蛍光を検出する光検出素子とを備える。これにより、光検出素子に導かれる蛍光の損失を少なくでき、蛍光検出効率を向上できる蛍光検出装置を提供する。

    Abstract translation: 本发明提供有：用于沿第一方向发射激发光的光源; 安装有光源的基部（30）; 在所述基部（30）上相对于所述光源的第一方向侧设置的开口部（30a） 由所述基部（30）以从所述开口部（30a）的内缘朝向所述开口部（30a）的中心延伸的方式以悬臂方式支撑的悬臂梁部（31）。 用于将从光源发射的激发光的传播方向转换为不同于第一方向的第二方向并将向第二方向转换的激发光照射到测量对象的光路转换部（20），光路转换部 部分（20）固定在悬臂梁部分（31）的自由端侧上; 以及光检测元件，用于从由激发光照射的测量对象产生的荧光中检测已经穿过开口部分（30a）的荧光，光检测元件设置在开口部分（30a）的相反侧，从 测量对象。 由此可以提供荧光检测装置，其中可以减少引导到光检测元件的荧光损失，并且可以提高荧光检测的效率。

    試料保持担体およびそれを用いた蛍光検出システム、蛍光検出装置
    260.
    发明申请
    試料保持担体およびそれを用いた蛍光検出システム、蛍光検出装置 审中-公开
    样品保持载体和荧光检测系统以及使用相同的荧光检测装置

    公开(公告)号：WO2013146364A1

    公开(公告)日：2013-10-03

    申请号：PCT/JP2013/057462

    申请日：2013-03-15

    Applicant: 三洋電機株式会社 ,  パナソニック株式会社

    Inventor： 松村　吉晋 ,  永冨　謙司 ,  中谷　将也 ,  沖　明男 ,  中谷　守雄 ,  林　拓哉 ,  葉山　雅昭

    IPC: G01N21/64 ,  G01N21/03

    CPC classification number: G01N21/645 ,  B01L3/5085 ,  B01L2300/024 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0803 ,  B01L2300/0806 ,  B01L2300/0819 ,  B01L2300/0893 ,  B01L2300/168 ,  G01N21/03 ,  G01N21/6447 ,  G01N21/6452 ,  G01N35/00069 ,  G01N2021/6463 ,  G01N2021/6482 ,  G01N2201/105 ,  G11B7/00 ,  G11B7/09

    Abstract: 【課題】簡素な構成により精度良く試料を測定することが可能な試料保持担体およびそれを用いた蛍光検出システム、蛍光検出装置を提供する。 【解決手段】バイオセンサ基板（１０）は、下面から励起光が入射されるベース基板（１１）と、ベース基板（１１）の上面に配置され、励起光の一部を反射する反射膜（１４）と、反射膜（１４）の上面側に配置され、底面部（１３ａ）を有する複数のウエル（１３）と、を備える。励起光は、収束されてベース基板（１１）に対して入射する。反射膜（１４）とベース基板（１１）との界面である反射面（１１ａ）と、ウエル（１３）の底面部（１３ａ）との間の間隔ｄ３が、励起光の焦点深度以下である。これにより、ウエル（１３）の底面部（１３ａ）に収容された試料に対して、励起光を確実かつ効率的に照射することができ、精度良く試料を測定することができる。

    Abstract translation: [问题]提供一种能够通过简单的配置精确测量样品的样品保持载体和使用其的荧光检测系统和荧光检测装置。 [解决方案]生物传感器基板（10）具有从其下表面入射有激发光的基板（11），设置在基板（11）的上表面的反射膜（14） 并且反射部分激发光，以及设置在反射膜（14）的上表面侧上并且各自具有底表面部分（13a）的多个阱（13）。 激发光会聚并入射到基底（11）上。 作为反射膜（14）与基底基板（11）的界面的反射面（11a）与阱（13）的底面部（13a）之间的距离（d3）不大于焦点 激发光的深度。 因此，激发光能够可靠且有效地施加到容纳在井（13）的底面部（13a）中的样品，并且可以精确地测量样品。

Patent Agency Ranking