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公开(公告)号：CN107741274B
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN201710979343.0
申请日：2017-10-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种微型偏振光谱成像探测系统及方法，包括前置光学系统、大面阵探测器组件、像素化偏振膜片与线性渐变滤光片，分别用于实现光束的偏振信息获取和窄带滤光；线性渐变滤光片集成在大面阵探测器组件感光面前方，像素化偏振膜片集成在线性渐变滤光片上；或像素化偏振膜片集成在大面阵探测器组件感光面前方，线性渐变滤光片集成在像素化偏振膜片上；目标反射光经过前置光学系统，再通过像素化偏振膜片与线性渐变滤光片后，在大面阵探测器组件上形成目标像。大幅减轻探测系统重量和体积，如同普通相机中，加入两片薄膜片，重量体积几乎等同于普通相机，光机系统结构复杂度远低于基于现有技术方案的偏振光谱成像装置，有利于系统的微型化。
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公开(公告)号：CN117146975A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202210559211.3
申请日：2022-05-22
Applicant: 杭州谱育科技发展有限公司
Abstract: 本发明提供了提高干涉仪分辨率稳定性的方法，具体为：以扭簧无形变时角锥反射镜的位置为位移零点，音圈电机驱动所述角锥反射镜来回摆动，激光信号入射到干涉仪，光电开关输出高低电平信号，同时，探测器输出余弦信号；将所述余弦信号转换为第一方波信号，给出第一方波信号中周期T1和干涉仪无倾角时输出的第二方波信号周期T0的变化量ΔT；第一级调节，根据分辨率R得出角锥反射镜工作周期T2和第一方波信号周期T1间关系T2＝4N·T1；调整音圈电机的输出驱动力，使得经过4N·T1后，所述角锥反射镜来回摆动一个周期T2；第二级调节，根据所述变化量ΔT得出干涉信号中波峰的漂移量Δx，根据所述漂移量Δx纠正波峰的漂移。本发明具有分辨率稳定性好等优点。
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公开(公告)号：CN111504456B
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202010423199.4
申请日：2020-05-19
Applicant: 宝宇(武汉)激光技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种精细光谱探测装置及方法，该装置包含一DFB激光器，两光纤耦合器、两相位调制器、两高频信号源、一光纤环形器、一光纤光栅、一高速光电探测器及一频谱分析仪；该方法是先采用DFB激光器输出单频激光，经一光纤耦合器分为两束，一束通过较高频率的相位调制后进行窄带滤波，获得与DFB光源存在一定波长偏移的激光；另一束受到较低频率的相位调制；然后通过另一光纤耦合器将两束激光合束形成拍频信号并传递到高速光电探测器，通过高速光电探测器将光信号转换为电信号，最后再传输到频谱分析仪，通过频谱分析仪可观察到与光谱对应的频谱。本发明优点是：避免了不同DFB激光器间频率抖动带来的影响，能形成稳定拍频信号，实现精细光谱探测。
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公开(公告)号：CN117109738A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202310953537.9
申请日：2023-08-01
Applicant: 宁波永新光学股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种多光谱探测光路，特点是包括准直组、至少两个分光滤光模组和反射滤光模组，准直组、分光滤光模组和反射滤光模组沿光路依次连接，准直组用于将来自共聚焦显微镜的光束准直为初始平行光束，分光滤光模组用于得到中间反射光和透射光，并筛选中间反射光中波长为预设的中间选定值的光线，反射滤光模组用于反射最后一组分光滤光模组的透射光得到最终反射光，并筛选最终反射光中波长为预设的最终选定值的光线；优点是通过分光滤光模组和反射滤光模组将各个待测波段的光逐段分开并筛选，最后采用光电倍增管探测信号，能够对与各个选定值对应的至少三个所需波长的光线进行探测；各个光学元件分布均匀，位置合理。
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公开(公告)号：CN113865705B
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN202110982552.7
申请日：2021-08-25
Applicant: 爱博能(广州)科学技术有限公司
Abstract: 本发明提供了一种共用光路双通道光路系统及光谱仪。本发明的光谱仪包括第一狭缝、第二狭缝、光阑、准直镜、光栅、聚焦镜、探测器，光从第一狭缝、第二狭缝射入，经光阑射至准直镜，准直镜将光反射至光栅，光经光栅衍射后反射至聚焦镜，聚焦镜将衍射后的光反射至探测器。本发明的光谱仪的特定光路结构使得两路光路具有高度一致的温度特性以及高度一致光栅、聚焦镜、准直镜和探测器的响应函数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117041436A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310995750.6
申请日：2023-08-08
Applicant: 西湖大学
Abstract: 本发明提供一种单曝光多层微纳结构成像装置，包括单曝光光谱成像模块、照明系统、彩色面阵相机、控制器、运动台、压电陶瓷促动器、大色差物镜，样品放置于运动台上；彩色面阵相机、单曝光光谱成像模块和压电陶瓷促动器均连接控制器；照明光线经过样品和大色差物镜后被单曝光光谱成像模块和彩色面阵相机接收；照明系统发出照明光线具有特定的光谱波段，照射光线的光谱曲线平滑且各波长的光照强度的波动范围小于光谱曲线光照强度最大值的20％；大色差物镜的色差大于70μm，使照明光线中不同波长的光成像在样品中的不同高度层面上。本发明同时实现了高速、高分辨、低成本、多层和无损成像的要求。
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公开(公告)号：CN116989896A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202310966473.6
申请日：2023-08-02
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及光学成像探测技术领域，尤其涉及一种测量宽波段全斯托克斯参数的偏振干涉成像装置及方法，装置沿光路方向设置前置光学模块、萨法尔偏光镜、偏振分束器、反射光栅模块、检偏器、成像模块以及面阵探测器，待测光束通过萨法尔偏光镜横向剪切后获得两束线偏光束，偏振分束器和反射光栅模块对两束线偏光束进行纵向剪切，获得的四束光束依次通过检偏器、成像模块，最后通过面阵探测器获得待测光束对应的偏振干涉图像，测量并解析偏振干涉图像即可获得整个待测光束在宽波段的全斯托克斯参数信息；将偏振参数编码在相互垂直的空间频率中，实现待测光束全斯托克斯参数的宽波段快照测量，数据处理简单快速，整个成像装置结构紧凑，节省成本。
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公开(公告)号：CN116989894A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202310899615.1
申请日：2023-07-20
Applicant: 孝感华中精密仪器有限公司
Abstract: 本发明公开了一种宽光谱检测设备，涉及光学仪器检校技术领域，包括平行光管和扩束镜组件。平行光管包括管体和光源，管体内设有光腔，光源设于管体的一端，光源发出的光线能够照射于光腔。扩束镜组件包括第一反光镜和第二反光镜，第一反光镜和第二反光镜相互平行并与光腔的中心轴呈夹角设置，第二反光镜位于光腔在参照面的投影以内，第一反光镜位于光腔在参照面的投影以外，参照面为垂直于光腔的中心轴的平面，可理解为第一反光镜不在光腔的平行光线照射范围内。被测光电仪器不在光腔直射范围内的一部分光线经过第一反光镜的反射之后经过第二反光镜，再经过第二反光镜之后即可进入光腔，从而增加了被测光电仪器的出光口径，扩展了使用范围。
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公开(公告)号：CN111465829B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN201880080373.0
申请日：2018-12-12
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Abstract: 公开了一种光谱仪系统(110)和一种光谱仪设备(112)，其适合于研究或监控目的，特别是在红外(IR)光谱区域中，并且适于检测热、火焰、火或烟。本文中，光谱仪设备(112)包括：光学元件(122)，其被设计用于接收来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)传输到长度可变滤波器(118)，其中，光学元件(122)包括光学聚光器设备(124)，其中，光学聚光器设备(124)沿反方向(126)操作，其中，光学聚光器设备(124)具有适于反射入射光的单个侧壁(128)，其中，单个侧壁(128)被设计为圆形侧壁；长度可变滤波器(118)，其被指定用于将入射光(114)分离成组成波长信号的光谱；以及包括多个像素化传感器(144)的检测器阵列(120)，其中，每个像素化传感器(144)适于接收组成波长信号之一的至少一部分，其中，每个组成波长信号与每个组成波长的强度有关。光谱仪设备(112)允许捕获来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)以特别高的聚光效率传输到长度可变滤波器(118)。除了光谱仪设备(112)之外，光谱仪系统(110)还包括评估单元(150)，评估单元(150)被指定用于通过评估由光谱仪设备(112)提供的检测器信号(204、204'、204”)来确定与对象(116)的光谱有关的信息。
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公开(公告)号：CN116972969A
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202310767611.8
申请日：2023-06-27
Applicant: 中国科学院上海高等研究院
Abstract: 本发明提供一种基于二维色散光谱重构的光谱探测装置，包括依次排布的通光孔、准直镜、具有二维色散能力的色散元件、成像镜和二维探测器，色散元件对待测光进行二维空间色散，得到二维光谱空间分布，二维探测器接收二维光谱空间分布，得到光谱二维强度分布信息；数据映射模块将光谱二维强度分布信息和定标矩阵进行数据映射，得到待测光的光谱信息。本发明还提供相应的基于二维色散光谱重构的光谱探测方法。本发明的装置采用具有二维色散能力的色散元件对待测光进行二维空间的色散，通过二维探测器的高采样率和宽尺寸实现高分辨率、宽探测范围的光谱探测；此外，其利用定标矩阵和关联重构的算法，实现光谱信息的重构与探测。
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