测量波长很小带宽很窄的高功率激光器的光谱输出带宽的方法和设备

    公开(公告)号:CN1813167A

    公开(公告)日:2006-08-02

    申请号:CN200480018076.1

    申请日:2004-06-14

    Inventor: R·J·拉法克

    Abstract: 本发明公开了一种控制激光器系统的设备和方法,它可以包括用来测量由激光器发射的激光的光谱未知宽度的光谱仪,该光谱仪可包含光学带宽测量单元,用于提供作为输出的测量参数,其表示被测光谱未知带宽的参数;报道参数计算单元,按照下面的公式来计算被测光谱未知带宽的报道参数:报道参数(“RP”)=A*(测量参数(“MP”))+C,其中RP和MP是不同类型的参数,而A和C的数值则是根据光学带宽测量单元中MP对已知RP数值的光的响应的校准来确定的。光学带宽测量单元可以包含诸如标准具的干涉测量的或者色散的光学仪器。RP可以是在,譬如说FWXM处,而MP可以在FWX’M处,其中X≠X’。RP可以是在,譬如说EX%处,而MP可以是例如在FWXM处。

    具有背景校正功能的原子吸收分光光度计

    公开(公告)号:CN1254673C

    公开(公告)日:2006-05-03

    申请号:CN200410038521.2

    申请日:2004-04-29

    CPC classification number: G01J3/42 G01J3/28

    Abstract: 一种包括自反转型空心阴极灯和光电倍增管的原子吸收分光光度计还包括:初步测量执行器,用于在改变施加到光电倍增管的阴极和阳极之间的电压V时,测量在向空心阴极灯提供较小电流时的信号强度L和在向空心阴极灯提供较大电流时的信号强度H。其还包括:最佳电压检测器,在任意选择电压V的两个值V1和V0从而使信号H的数值H1与数值H0的比值或信号L的数值L1与数值L0的比值为预定值的条件下,检测电压V的数值V0,在该数值V0处,超比值U最靠近1。将数值V0用在以下样本分析的适当测量中,以将电压V施加到光度计检测器的光电倍增管上,向空心阴极灯交替提供较大电流和较小电流,以进行背景校正。这样,自动地改进了背景校正的精确度。

    具有背景校正功能的原子吸收分光光度计

    公开(公告)号:CN1550772A

    公开(公告)日:2004-12-01

    申请号:CN200410038521.2

    申请日:2004-04-29

    CPC classification number: G01J3/42 G01J3/28

    Abstract: 一种包括自反转型空心阴极灯和光电倍增管的原子吸收分光光度计还包括:初步测量执行器,用于在改变施加到光电倍增管的阴极和阳极之间的电压V时,测量在向空心阴极灯提供较小电流时的信号强度L和在向空心阴极灯提供较大电流时的信号强度H。其还包括:最佳电压检测器,在任意选择电压V的两个值V1和V0从而使信号H的数值H1与数值H0的比值或信号L的数值L1与数值L0的比值为预定值的条件下,检测电压V的数值V0,在该数值V0处,超比值U最靠近1。将数值V0用在以下样本分析的适当测量中,以将电压V施加到光度计检测器的光电倍增管上,向空心阴极灯交替提供较大电流和较小电流,以进行背景校正。这样,自动地改进了背景校正的精确度。

    平面被测对象的逐个像素光电测量装置

    公开(公告)号:CN1363826A

    公开(公告)日:2002-08-14

    申请号:CN01140227.X

    申请日:2001-12-06

    Inventor: 汉斯·奥特

    Abstract: 用于平面被测量对象的逐个像素光电测量的装置包括将被测对象成像在二维CCD传感器上的投影装置、设置在成像光路中的用于投射在图像传感器上的测量光的波长选择滤光的滤色片装置、处理由图像传感器产生的电信号并将其转换为相应的数字原始测量数据的信号处理装置以及用于把该原始测量数据处理成表示被测对象的各个像素颜色的图像数据的数据处理装置。此外,设置有照明装置,该照明装置包括在入射角基本上为45°±5°的条件下用至少一个主平行光束照射被测对象的一个菲涅耳透镜。包括至少一个构成为菲涅耳透镜的远程镜头的投影装置被构造为一个焦阑成像光学系统,该光学系统在基本上0°的相同观察角下并以最大为5°的相同孔径角将被测对象的每个点成像在光转换元件阵列上。数据处理装置进行大范围的校正测量。

    能谱测量中用于谱处理的方法和设备

    公开(公告)号:CN1079948C

    公开(公告)日:2002-02-27

    申请号:CN96198168.7

    申请日:1996-10-31

    Inventor: 芦边惠美

    CPC classification number: G01J3/42 G01J3/28

    Abstract: 用来在能谱测量中进行谱处理的设备包括:一个测量部分10,用来测量来自一个待测物体的用于测量的光的能谱;一个添加部分11,用来在用于测量的光的能谱上添加一个预定值;以及一个转换部分12,用来通过对添加了预定值的用于测量的光的能谱进行吸收率转换获得具有减小了噪声的吸收谱。

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