公开(公告)号：WO2016144925A1

公开(公告)日：2016-09-15

申请号：PCT/US2016/021294

申请日：2016-03-08

Applicant: CORNING INCORPORATED

Inventor： ERTEL, John Phillip ,  KING, Jeffrey Stapleton

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18

CPC classification number: G01J3/427 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18 ,  G01J3/1895 ,  G01J3/26 ,  G01N21/31 ,  G01N21/43 ,  G01N21/552 ,  G01N21/648 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/024

Abstract: A spectrophotometer optics system is provided. The spectrophotometer optics system includes an optical sensing array and an optical waveguide including an input side and an output side. The input side of the optical waveguide receives input light and the optical sensing array is located at the output side of optical waveguide. The optical waveguide is configured to carry light to be analyzed by total internal reflection to the output side of the optical waveguide and to direct the light to be analyzed toward the optical sensing array. The spectrophotometer optics system includes an optical dispersive element configured to separate the light to be analyzed into separate wavelength components, and the optical dispersive element is supported by the optical waveguide.

Abstract translation: 提供分光光度计光学系统。 分光光度计光学系统包括光学感测阵列和包括输入侧和输出侧的光波导。 光波导的输入侧接收输入光，光感测阵列位于光波导的输出侧。 光波导被配置为将通过全内反射分析的光携带到光波导的输出侧，并将待分析的光引导到光学感测阵列。 分光光度计光学系统包括被配置为将要分析的光分离成分离的波长分量的光学色散元件，并且光学色散元件由光波导支撑。

公开(公告)号：WO2015008435A1

公开(公告)日：2015-01-22

申请号：PCT/JP2014/003333

申请日：2014-06-20

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 伊藤　達男 ,  楠亀　弘一 ,  米田　亜旗

IPC: G01N21/35

CPC classification number: G01J3/427 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/10 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/32 ,  G01J3/42 ,  G01J3/433 ,  G01J2001/4242 ,  G01J2003/064 ,  G01J2003/102 ,  G01J2003/104 ,  G01J2003/106 ,  G01N21/359

Abstract: 　物体(16)による所定の吸収率を持つ波長λ１の光と、物体(16)による吸収率が波長λ１よりも小さい波長λ２の光とを、二次元方向に走査してターゲットに照射する光照射部(11a,11b,12,51,52)と、波長λ１の光及び波長λ２の光がターゲットで反射した散乱光をそれぞれ受光する受光部(17)と、受光部(17)が受光した波長λ１及び波長λ２による２つの散乱光の差に基づいて、ターゲットにおける物体(16)の検出に利用される情報を生成する計測部(18)と、光照射部(11a,11b,12,51,52)による走査及び計測部(18)で生成された情報に基づいて、ターゲットにおける物体の存在有無を二次元領域の情報で出力する出力部(53)とを備える。

Abstract translation: 本发明提供一种用于扫描物质（16）具有规定吸光度的波长λ1的光的照射单元（11a，11b，12,51,52），并且物质（16）具有较小的波长λ2的光 接收单元（17），用于接收由反射波长λ1的光引起的散射光，并且由目标接收波长λ2的光， 基于由所述接收部（17）接收到的所述散射波长λ1光和所述散射波长λ2光的差，生成用于检测所述物体（16）的信息的测量部（18），以及 输出单元（53），用于根据光照射单元（11a，11b，12,51,52）的扫描和由测量单元（18）生成的信息输出关于该物质的存在的信息 在目标中作为二维区域信息。

公开(公告)号：WO2012160856A1

公开(公告)日：2012-11-29

申请号：PCT/JP2012/055967

申请日：2012-03-08

Applicant: 株式会社村田製作所 ,  土基 博史 ,  志牟田 亨

Inventor： 土基　博史 ,  志牟田　亨

IPC: A61B5/0245 ,  A61B5/1455 ,  G01J1/42 ,  G01N21/27 ,  H03K17/78

CPC classification number: G01J1/44 ,  A61B5/02433 ,  A61B5/14552 ,  A61B5/6826 ,  A61B5/6829 ,  A61B5/7203 ,  G01J3/427 ,  G01J2001/444 ,  G01N21/256 ,  G01N21/3151

Abstract: 　光センサ装置（１）は、２波長の光を所定周波数（ｆ）で点滅発光して生体（Ｂ）に照射する発光器（２）と、生体（Ｂ）からの光を受光する受光器（７）とを備える。受光器（７）は、各波長に対応した第１，第２の検出信号（Ｓ1），（Ｓ2）を出力する。第１，第２の検出信号（Ｓ1），（Ｓ2）は、フィルタ回路（９）によって所定周波数（ｆ）の信号を振幅変調した変調信号（Ｓ1m），（Ｓ2m）を抽出する。変調信号（Ｓ1m），（Ｓ2m）は、後段増幅器（１０）で変調信号（Ｓ1M），（Ｓ2M）に増幅された後に、ＡＤコンバータ（１４）によってデジタル信号に変換され、演算処理部（１５）に取り込まれる。演算処理部（１５）は、デジタル信号化した変調信号（Ｓ1M），（Ｓ2M）を用いて、第１，第２の検出信号（Ｓ1），（Ｓ2）の直流成分（Ｓ1d），（Ｓ2d）と交流成分（Ｓ1a），（Ｓ2a）を演算する。

Abstract translation: 光传感器装置（1）包括以预定频率（f）间歇地向生物体（B）闪烁两个波长的光的光发射器（2），以及接收来自活体（B）的光的光接收器 ）。 感光体（7）输出对应于每个波长的第一和第二检测信号（S1），（S2）。 从第一和第二检测信号（S1），（S2）中，滤波电路（9）提取作为预定频率（f）的幅度调制信号的调制信号（S1m），（S2m）。 调制信号（S1m），（S2m）被后级放大器（10）放大为由AD转换器（14）转换成数字信号的调制信号（S1M），（S2M），并输入到运算处理 单位（15）。 算术处理单元（15）使用数字化调制信号（S1M），（S2M）计算第一和第二检测的直流分量（S1d），（S2d）和交流分量（S1a），（S2a） 信号（S1），（S2）。

公开(公告)号：WO2010118175A3

公开(公告)日：2011-03-31

申请号：PCT/US2010030299

申请日：2010-04-07

Applicant: RARE LIGHT INC ,  MESSERSCHMIDT ROBERT G

Inventor： MESSERSCHMIDT ROBERT G

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/28 ,  G01N21/43

CPC classification number: G01N21/552 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/42 ,  G01J3/427

Abstract: Spectroscopy apparatuses oriented to the critical angle of the sample are described that detecting the spectral characteristics of a sample wherein the apparatus consists of an electromagnetic radiation source adapted to excite a sample with electromagnetic radiation introduced to the sample at a location at an angle of incidence at or near a critical angle of the sample; a transmitting crystal in communication with the electromagnetic radiation source and the sample, the transmitting crystal having a high refractive index adapted to reflect the electromagnetic radiation internally; a reflector adapted to introduce the electromagnetic radiation to the sample at or near an angle of incidence near the critical angle between the transmitting crystal and sample; and a detector for detecting the electromagnetic radiation from the sample. Also, provided herein are methods, systems, and kits incorporating the peri-critical reflection spectroscopy apparatus.

Abstract translation: 描述了定向到样品的临界角的光谱装置，其检测样品的光谱特性，其中该装置由电磁辐射源组成，该电磁辐射源适于用在入射角处的位置处引入样品的电磁辐射来激发样品 或接近样品的临界角; 与电磁辐射源和样品通信的透射晶体，透射晶体具有适于在内部反射电磁辐射的高折射率; 反射器，其适于将电磁辐射引入接近接近发射晶体和样品之间的临界角的入射角; 以及用于检测来自样品的电磁辐射的检测器。 此外，本文提供了包含周边反射光谱仪的方法，系统和试剂盒。

公开(公告)号：WO2006022841A3

公开(公告)日：2007-03-29

申请号：PCT/US2005005986

申请日：2005-02-24

Applicant: ULTRADENT PRODUCTS INC ,  SCOTT ROBERT R ,  MCLEAN BRUCE S

Inventor： SCOTT ROBERT R ,  MCLEAN BRUCE S

IPC: G01J1/42 ,  A61C1/00

CPC classification number: G01J3/36 ,  A61C19/004 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/4228 ,  G01J3/427 ,  G01J2001/4252

Abstract: A light meter (200) for detecting two or more different wavelengths of light and methods for determining whether a light source configured to emit light at two or more dominant wavelengths is working properly. The inventive light meter (200) includes a housing (201), two or more receiving means (202, 204), for example, LEDs for receiving light energy emitted by an external light source wherein each receiving LED (202, 204) is configured to receive light energy of a desired wavelength, and display means, for example LED bar displays (206) for providing a visual indication of the existence and intensity of one or more wavelengths of light energy received by the receiving means.

Abstract translation: 用于检测两个或更多个不同波长的光的光度计（200）和用于确定被配置为发射两个或更多个主波长的光的光源是否正常工作的方法。 本发明的光度计（200）包括壳体（201），两个或更多个接收装置（202,204），例如用于接收由外部光源发射的光能的LED，其中每个接收LED（202,204）被配置 以接收期望波长的光能，以及显示装置，例如用于提供由接收装置接收的一个或多个波长的光能的存在和强度的视觉指示的LED条显示器（206）。

公开(公告)号：WO2005034187A3

公开(公告)日：2006-02-02

申请号：PCT/US2004029383

申请日：2004-09-10

Applicant: ADVANCED TECH MATERIALS ,  ARNO JOSE I

Inventor： ARNO JOSE I

IPC: G01N21/05 ,  G01N21/15 ,  G01N21/35 ,  H01L20060101 ,  H01L21/00 ,  H01L21/302 ,  H01L21/50

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01J3/32 ,  G01J3/427 ,  G01N21/05 ,  G01N21/15 ,  G01N21/85 ,  G01N2021/151 ,  G01N2021/8411 ,  H01L21/67253

Abstract: The present invention relates to a semiconductor processing system that employs infrared-based thermopile detector for process control, by analyzing a material of interest, based on absorption of infrared light at a characteristic wavelength by such material. Specifically, an infrared light beam is transmitted through a linear transmission path from an infrared light source through a sampling region containing material of interest into the thermopile detector. The linear transmission path reduces the risk of signal loss during transmission of the infrared light. The transmission path of the infrared light may comprise a highly smooth and reflective inner surface for minimizing such signal loss during transmission.

Abstract translation: 本发明涉及一种采用基于红外线热电堆检测器进行过程控制的半导体处理系统，通过基于这种材料对特征波长的红外光的吸收，分析感兴趣的材料。 具体地说，将红外光束从红外光源通过包含感兴趣的材料的采样区域传送到热电堆检测器的线性传输路径。 线性传输路径降低了红外光传输期间信号丢失的风险。 红外光的传输路径可以包括高度平滑和反射的内表面，用于在传输期间最小化这种信号损失。

公开(公告)号：WO2005034187A2

公开(公告)日：2005-04-14

申请号：PCT/US2004/029383

申请日：2004-09-10

Applicant: ADVANCED TECHNOLOGY MATERIALS, INC. ,  ARNO, Jose, I.

Inventor： ARNO, Jose, I.

IPC: H01L

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01J3/32 ,  G01J3/427 ,  G01N21/05 ,  G01N21/15 ,  G01N21/85 ,  G01N2021/151 ,  G01N2021/8411 ,  H01L21/67253

Abstract: The present invention relates to a semiconductor processing system that employs infrared-based thermopile detector for process control, by analyzing a material of interest, based on absorption of infrared light at a characteristic wavelength by such material. Specifically, an infrared light beam is transmitted through a linear transmission path from an infrared light source through a sampling region containing material of interest into the thermopile detector. The linear transmission path reduces the risk of signal loss during transmission of the infrared light. The transmission path of the infrared light may comprise a highly smooth and reflective inner surface for minimizing such signal loss during transmission.

Abstract translation: 本发明涉及一种采用基于红外线热电堆检测器进行过程控制的半导体处理系统，通过基于这种材料对特征波长的红外光的吸收，分析感兴趣的材料。 具体地说，将红外光束从红外光源通过包含感兴趣的材料的采样区域传送到热电堆检测器的线性传输路径。 线性传输路径降低了红外光传输期间信号丢失的风险。 红外光的传输路径可以包括高度平滑和反射的内表面，用于在传输期间最小化这种信号损失。

公开(公告)号：WO2003081190A2

公开(公告)日：2003-10-02

申请号：PCT/US2003/008103

申请日：2003-03-17

Applicant: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.

Inventor： COLE, Barrett, E. ,  KRISHNANKUTTY, Subash ,  SUBRAMANIAN, Arunkumar ,  HIGASHI, Robert, E.

IPC: G01J3/00

CPC classification number: G02B5/284 ,  G01B11/272 ,  G01J3/26 ,  G01J3/36 ,  G01J3/427 ,  G01J5/20 ,  G02B26/001 ,  H01L27/14621 ,  H01L31/02024 ,  H01L31/02162 ,  H01L31/02325 ,  H01L2224/05568 ,  H01L2224/05573 ,  H01L2224/13 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2924/00014

Abstract: A spectrally tunable optical detector and methods of manufacture therefore are provided. In one illustrative embodiment, the tunable optical detector includes a tunable bandpass filter, a detector and readout electronics, each supported by a different substrate. The substrates are secured relative to one another to form the spectrally tunable optical detector.

Abstract translation: 因此提供了光谱可调光学检测器及其制造方法。 在一个说明性实施例中，可调谐光学检测器包括可调谐带通滤波器，检测器和读出电子器件，每个电子器件由不同的衬底支撑。 基片相对于彼此固定以形成光谱可调光学检测器。

公开(公告)号：WO01050101A1

公开(公告)日：2001-07-12

申请号：PCT/IB2000/001249

申请日：2000-09-06

IPC: G01J3/26 ,  G01J3/427 ,  G01J3/51 ,  G01N21/31

CPC classification number: G01J3/36 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01J3/427 ,  G01J2003/1213 ,  G01N21/31

Abstract: The invention relates to a sensor for determining a substance concentration based on optical absorption or emission characteristics. Said sensor comprises a light source (1), a measuring chamber (3) for the medium to be determined, a filter device (5) and a measuring cell device (7). Light transmitted through the medium to be determined is filtered through the filter device (5) and analyzed in the measuring device (7).The filter device consists of a checkered matrix comprising band pass filters having two different transmission wavelengths. The temperature difference between neighbouring measuring cells is determined directly using thermocouples located in the measuring cell device (7). The thermovoltage generated thereby correlates with the substance concentration to be measured.

Abstract translation: 一种用于测量浓度由于光吸收或发射特性的传感器具有光源（1），测量空间（3），用于将被测量的介质，过滤器装置（5）和一个测量单元装置（7）。 通过介质传输的光被测定光进行过滤的过滤器装置（5）和（7）中被分析的测量装置。 该过滤器组件包括带通滤波器具有两个不同透射波长棋盘状阵列的。 在测量单元装置（7）可以通过热电偶来直接确定，相邻的测量单元的温度差。 以这种方式产生的热电电压是针对待测物质的浓度的量度。

公开(公告)号：JP6312000B2

公开(公告)日：2018-04-18

申请号：JP2015527159

申请日：2014-06-20

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 伊藤 達男 ,  楠亀 弘一 ,  米田 亜旗

IPC: G01N21/3554

CPC classification number: G01J3/427 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/10 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/32 ,  G01J3/42 ,  G01J3/433 ,  G01J2001/4242 ,  G01J2003/064 ,  G01J2003/102 ,  G01J2003/104 ,  G01J2003/106 ,  G01N21/359