微米至亚微米级颗粒物折射率的测量装置及其方法

    公开(公告)号:CN1257400C

    公开(公告)日:2006-05-24

    申请号:CN200410051398.8

    申请日:2004-09-09

    Abstract: 微米至亚微米级颗粒物折射率的测量装置,是在现有动态光散射仪包括激光器、光源聚光镜、样品瓶、样品池、针孔、散射光聚光镜、光纤、光电倍增管、信号放大甄别器、脉冲计数器、光子相关器、计算机、匹配液过滤装置和温控装置的基础上增加一个改进的静态光散射法的采集与处理装置,它由含聚光镜的多头光纤传感器、六维调节架、电荷耦合器件、驱动电路、数据采集卡和计算机连接构成。本发明还涉及该装置的测量方法。本装置和方法可以有效地测量微米至亚微米级颗粒物的折射率,尤其适用于300nm~3μm的颗粒物,具有适用性好、结构较简单的特点。

    大气颗粒物监测的六工位自动循环与控制方法及其装置

    公开(公告)号:CN1766542A

    公开(公告)日:2006-05-03

    申请号:CN200510100283.8

    申请日:2005-10-14

    Abstract: 本发明涉及基于称重法原理的大气环境颗粒物自动监测仪中的六工位工作自动循环与控制的方法及其装置,所述方法是将大气颗粒物的监测仪的工作分解成六个过程,将采集大气颗粒物的滤膜组件自由地放置在转臂上,分别在六个工位上实现所述六个过程;实现所述方法的装置包括转臂、滤膜组件、转臂的升降和转位装置、工位1-6。本发明将称重法用于大气颗粒物PM10与PM2.5采集的自动连续监测工作,使颗粒物采样、称重、更换滤膜组件、称滤膜组件毛重、返回第一工位等待采样的工作循环;或采样—称重工作之间的工作循环实现自动化。

    测量薄膜折射率的方法及装置

    公开(公告)号:CN1447111A

    公开(公告)日:2003-10-08

    申请号:CN03113652.4

    申请日:2003-01-23

    Abstract: 测量薄膜折射率的方法及其装置,是利用光栅通过透镜产生多个极大点,在频谱面上放置二元滤波器及薄膜样品,在光栅共轭象面上获得干涉条纹,利用输出与测量结构在象面上进行接收和观察,并测量干涉条纹的周期和错位量,从而求得薄膜的折射率。它能够解决折射率不确定性问题,测量过程简单,装置调节方便,测量稳定可靠,且易于实现。本发明测量条纹的精度达λ/10~λ/20,测量折射率精度为0.01~0.005。

    偏振片转角自动检测与控制装置

    公开(公告)号:CN2581942Y

    公开(公告)日:2003-10-22

    申请号:CN02249112.0

    申请日:2002-11-05

    Abstract: 一种偏振片转角自动检测与控制装置,由安装支架、轴角编码器、电机、主动齿轮、从动齿轮、主动轮轴、从动轮轴、偏振片座、偏振片、挡光片、光耦合器和计算机接口电路共同连接构成。该装置能实时自动检测偏振片的实际转角,并能使偏振片精确定位于某一转角,有较高的检测和定位精度。

    半导体激光光束处理装置
    25.
    实用新型

    公开(公告)号:CN2490598Y

    公开(公告)日:2002-05-08

    申请号:CN01242799.3

    申请日:2001-07-26

    Abstract: 半导体激光光束处理装置,由依次共轴安装的半导体激光管、准直透镜组、振幅滤波器和位相滤波器构成,振幅滤波器的光强透过率满足高斯函数分布,位相滤波器的厚度与激光波长的关系满足d(no-ne)=(m+1/2)λ/2的要求,激光管与透镜组的距离等于透镜组的焦距,位相滤波器的快轴与激光偏振方向成45°角。经处理后的激光束光斑为圆形,光强分布接近高斯函数分布,光偏振方向均匀。本装置结构紧凑、性能稳定且造价低。

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