基于导光管取样的级联衰减结构及安装方法、探测阵列

    公开(公告)号:CN114674425B

    公开(公告)日:2025-01-21

    申请号:CN202210306604.3

    申请日:2022-03-25

    Abstract: 本发明涉及基于导光管取样的级联衰减结构及安装方法、探测阵列,解决强光衰减器的衰减倍数难以大范围调节,强光防护和衰减取样高度耦合导致防护能力提升受限的难题。本发明包括防护板、导光管以及衰减器;防护板前表面设置有激光防护层,轴向设置有通孔;导光管位于通孔内,且其一端与激光防护层的前表面平齐,另一端连接衰减器的前端;衰减器后端连接有输出板,衰减器与输出板相互配合形成衰减器腔;衰减器前端设置有与导光管另一端对应的输入孔;输出板上设置有输出孔;衰减器腔内安装有若干挡光片,挡光片将衰减器腔分为多个小型衰减器腔;挡光片上设置有至少一个光通道。本发明用于高能量密度激光测量。

    一种基于多重反射的光压测量装置及方法

    公开(公告)号:CN118836975A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202410861110.0

    申请日:2024-06-28

    Abstract: 本发明涉及激光参数测量装置及方法,具体涉及一种基于多重反射的光压测量装置及方法,为解决现有基于多重反射的光压测量装置中光压传感反射镜与隔热材料自重过大侵占高精度天平量程,以及待测激光多重反射引起的透射光总能量增大导致天平托盘表面产生温升,进而影响天平测量结果稳定性和准确性的技术问题,光压测量装置包括高精度天平、隔热支架、隔热罩、N级光压传感反射镜以及M级转折反射镜,其中,N≥2,M=N+1;M级转折反射镜设置在N级光压传感反射镜上方;隔热罩设置在高精度天平外部,将高精度天平与外部环境隔离,隔热支架与隔热罩之间设有间距;同时还提供一种利用上述装置进行光压测量的方法。

    一种消除激光热影响的大量程光压测量装置及方法

    公开(公告)号:CN118518200A

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202410700103.2

    申请日:2024-05-31

    Abstract: 本发明涉及激光参数测量装置与测量方法,具体涉及一种消除激光热影响的大量程光压测量装置及方法,为解决现有光压测量方法中存在激光热效应影响测量的准确性、测量精度与测量量程无法兼得、光压传感用的高反镜自重影响实际测量量程的不足之处。本发明的大量程光压测量装置包括光压传感模块、压力传递模块以及测量模块;光压传感模块包括光压接收反射镜,光压接收反射镜设置在压力传递模块的一端,用于接收待测激光,测量模块设置在压力传递模块的另一端,用于测量压力传递模块的另一端压力变化。同时本发明还提供一种基于上述消除激光热影响的大量程光压测量装置的光压测量方法。

    一种消除偏振影响的光压法高能激光功率测量装置

    公开(公告)号:CN114993462B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202210351481.5

    申请日:2022-04-02

    Abstract: 本发明具体涉及一种消除偏振影响的光压法高能激光功率测量装置,解决了现有激光因偏振态未知带来的反射镜传输效率计算误差较大的问题,实现了高能激光功率的高精度测量。一种消除偏振影响的光压法高能激光功率测量装置,包括光路系统以及机壳组件;所述光路系统位于壳体组件内;所述光路系统包括光压转换模块和沿光线传播方向级联设置的第一级输入反射镜、第二级输入反射镜、光压接收反射镜和输出反射镜,光压接收反射镜的背光面紧贴在光压转换模块测量面上;所述第一级输入反射镜和第二级输入反射镜正交放置;入射至所述光压接收反射镜的激光的方向与反射镜法线夹角为θ,θ=5°~10°。本发明实现了高能激光功率的高精度测量。

    一种测量物质超高温熔点的实验系统及方法

    公开(公告)号:CN117451772A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311430786.6

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 本发明提供了一种测量物质超高温熔点的实验系统及方法,用于解决现有超高温涂层熔点测量系统及方法存在的无法精确测量熔点及表征熔点不确定度的技术问题。本发明提供的测量物质超高温熔点的实验方法,首先基于第一积分球和第二积分球的原理获得激光辐照某时刻测得的电压信号,进而获得试样的激光能量吸收率;同时通过熔点测量单元进行激光加热实验,获取试样前后表面温度随激光辐照时间的变化;建立激光加热下试样的温度响应数值模型并求解,在确定试样未发生氧化后,开展熔点的不确定度分析,最终完成物质超高温熔点测量与表征。

    一种红外探测器室温响应参数测试方法及系统

    公开(公告)号:CN116295870A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310306011.1

    申请日:2023-03-27

    Abstract: 本发明涉及红外光探测技术,具体涉及一种红外探测器室温响应参数测试方法及系统,为解决现有技术中存在的中红外波段的激光器光斑分布稳定性较差,探测器光敏面通常小于激光光斑,使得探测器饱和阈值等响应参数测试与标定结果不准确,测量结果误差较大的不足之处。本发明红外探测器室温响应参数测试方法包括以下步骤:交流光信号和直流光信号合束形成合束光信号,控制合束光信号辐照在被测探测器的光敏面,提取被测探测器输出的交流电信号并测得其对应电压值,记录直流光信号的光功率最小值和最高值,计算对应的光功率密度,得到被测探测器线性动态范围和饱和阈值,计算被测探测器的响应率。

    一种基于积分电路的脉冲激光功率测量方法

    公开(公告)号:CN115389017A

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202211008049.2

    申请日:2022-08-22

    Abstract: 本发明为解决现有脉冲激光功率测量方法存在测量条件苛刻且测量精度较低的问题,而提供了一种基于积分电路的脉冲激光功率测量方法,适用于数据采样频率较低且无同步触发信号的条件。该测量方法是利用典型RC积分电路对脉冲激光辐照光电探测器产生的电压信号进行信号调理放大,利用模拟数字转换器对放大后的电压信号进行等间隔采样,根据积分电路特性以及激光功率解析表达式回推计算,当回推计算结果满足误差时,可以确定脉冲激光出光零时刻,进一步计算待测脉冲激光功率。

    一种激光光束匀化衰减器
    29.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109579984B

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN201811614442.X

    申请日:2018-12-27

    Abstract: 本发明提供一种激光光束匀化衰减器,包括衰减腔;衰减腔为中空密封腔体,内壁经漫反射表面处理,形成漫反射层;衰减腔相对两端同轴开设取样入射孔与出射孔,衰减腔内部靠近出射孔的一端固定有对激光高透射的透射体,透射体表面正对取样入射孔的位置处设置对激光高反射率的漫反射膜,漫反射膜的直径大于取样入射孔直径。具有结构紧凑、加工方便、不同衰减器的衰减系数一致性较佳的特性,克服了传统积分球球体带来的空间尺寸较大、在排布成二维阵列时无法实现高空间分辨率的激光参数测量的问题。

Patent Agency Ranking