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公开(公告)号：KR101320173B1
公开(公告)日：2013-10-22
申请号：KR1020110044393
申请日：2011-05-12
Applicant: 삼성전기주식회사
CPC classification number: H01L51/5253 , H01L51/5215
Abstract: 본 발명은 기판상에 형성된 양극; 나노 클레이 및 그래파이트 옥사이드(graphite oxide) 중 적어도 하나를 함유하는 무기재료층이 1층 이상 적층된 보호층; 상기 보호층 상에 형성된 발광 고분자층; 및 상기 발광 고분자층 상에 형성된 음극;을 포함하는 유기 발광 다이오드 및 이의 제조방법을 제공한다. 본 발명에 따른 유기 발광 다이오드는 정공의 주입 농도를 조절하고, 소자의 안정성을 높이고 수명을 연장하는 효과가 있다.
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公开(公告)号：KR1020130021694A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：KR1020110084113
申请日：2011-08-23
Applicant: 삼성전기주식회사
CPC classification number: H01L51/5215 , H01L29/1606 , H01L51/529 , H01L51/0034 , H01L51/0037 , H01L51/5088
Abstract: PURPOSE: An organic light emitting diode and a manufacturing method thereof are provided to efficiently discharge heat from a device by forming a graphene multilayer structure with a thickness of a nanometer scale on a hole injection layer. CONSTITUTION: An anode(2) is formed on a substrate(1). A thin film layer(12) including a graphene is formed on the anode. A light emitting polymer layer(4) is formed on the thin film layer. A cathode(6) is formed on the light emitting polymer layer. A hole injection layer(3) is formed between the anode and the thin film layer including the graphene.
Abstract translation: 目的：提供一种有机发光二极管及其制造方法，通过在空穴注入层上形成厚度为纳米级的石墨烯多层结构，有效地从器件排出热量。 构成：在基板（1）上形成阳极（2）。 在阳极上形成包括石墨烯的薄膜层（12）。 在薄膜层上形成发光聚合物层（4）。 在发光聚合物层上形成阴极（6）。 在阳极和包括石墨烯的薄膜层之间形成空穴注入层（3）。
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公开(公告)号：KR1020150057778A
公开(公告)日：2015-05-28
申请号：KR1020130141560
申请日：2013-11-20
Applicant: 삼성전기주식회사
IPC: G01N19/04
CPC classification number: G01N19/04 , G01N33/442 , G01N2203/0091 , G01N2203/0282
Abstract: 본발명은연성기판의박리강도측정장치에관한것으로, 연성기판상에박막층이형성된피검용기판과점착되는스테이지, 상기박막층상에배치되는제1 로드부, 상기박막층과점착되고, 상기제1 로드부와독립적으로배치되는제2 로드부및 상기연성기판과상기스테이지를점착시키는점착층을포함하고, 상기점착층과상기스테이지를통해상기피검용기판의벤딩을방지한다. 따라서, 상기스테이지와연성기판의점착을통해연성기판의벤딩을방지하여박막층의박리강도를정확하게측정할수 있다.
Abstract translation: 本发明涉及柔性基板的薄膜层的剥离强度测定装置，其特征在于，包括：作为形成有薄膜层的挠性基板的目标物体附着的台阶; 设置在薄膜层上的第一杆部件; 粘附在薄膜层上并与第一棒部分别设置的第二棒部分; 以及使阶段粘附到柔性基板上的粘附层。 目标物体的弯曲被粘附层和载物台阻止。 因此，柔性基板的薄膜层剥离强度测量装置能够通过防止柔性基板随着载物台与柔性基板的粘附而弯曲而精确地测量薄膜层的剥离强度。
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公开(公告)号：KR1020150051810A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：KR1020130133784
申请日：2013-11-05
Applicant: 삼성전기주식회사
IPC: G01N3/42
CPC classification number: G01N3/46 , G01N2203/0078 , G01N2203/0282
Abstract: 박막경도측정방법이개시된다. 박막이형성된기판을제공하는단계; 상기박막상에표면층을형성하는단계; 시험팁이상기표면층을인식하는단계; 상기시험팁이상기표면층을관통하여상기박막내부에위치하도록상기시험팁에하중을인가하는단계; 및상기시험팁에인가되는상기하중과상기박막에대한상기시험팁의압입깊이를이용하여상기박막의경도를산출하는단계를포함하는박막경도측정방법이제공된다.
Abstract translation: 公开了一种测量薄膜硬度的方法。 测量薄膜硬度的方法包括以下步骤：提供形成薄膜的基片; 在薄膜上形成表面层; 通过测试头识别表面层; 将重量施加到测试头，使得测试尖端穿透表面层并位于薄膜内部; 并且通过使用测试头的相应深度与施加到测试头的重量以及薄膜来计算薄膜的硬度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020140136583A
公开(公告)日：2014-12-01
申请号：KR1020130056469
申请日：2013-05-20
Applicant: 삼성전기주식회사
Abstract: 본 발명은 패키지 검사 장치 및 패키지 검사 방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예에 따른 패키지 검사 장치는 테스트 패키지를 제공하는 테스트 패키지 제공부, 패키지 검사 조건을 설정하는 설정부, 테스트 패키지를 설정된 패키지 검사 조건에서 테스트를 수행하는 테스트 수행부, 테스트가 수행된 테스트 패키지에 리플로우를 수행하는 리플로우부 및 테스트 패키지의 불량을 검출하는 불량 검출부를 포함할 수 있다.
Abstract translation: 本发明涉及包装检查装置和包装检查方法。 根据本发明的实施例的包装检查装置包括：测试包提供单元，用于提供测试包; 用于设置包装检查条件的设置单元; 测试执行单元，用于在设定的包装检查条件下对测试包进行测试; 用于在执行测试的测试包中执行回流的回流单元; 以及用于检测所述测试包的缺陷的缺陷检测单元。
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公开(公告)号：KR101309351B1
公开(公告)日：2013-09-17
申请号：KR1020110124117
申请日：2011-11-25
Applicant: 삼성전기주식회사
Abstract: 본 발명의 가속도 평가 장치는 안내 레일; 상기 안내 레일에 이동 가능하게 설치되는 받침대; 회전력을 제공하는 구동 수단; 상기 구동 수단의 회전력을 상기 받침대의 직선 왕복 운동으로 변환시키는 캠 수단; 및 상기 받침대와 상기 안내 레일을 수용하는 밀폐실, 및 상기 구동 수단을 수용하는 기계실을 포함하는 몸체;를 포함하고, 상기 캠 수단은 상기 받침대에 형성되는 캠 홈; 상기 구동 수단의 회전 축과 결합하는 회전 부재; 및 일단이 상기 회전 부재와 결합하고 타단이 상기 캠 홈에 끼워지는 핀 부재;를 포함하고, 상기 구동 수단은 감속 모터일 수 있다.
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公开(公告)号：KR1020130058222A
公开(公告)日：2013-06-04
申请号：KR1020110124117
申请日：2011-11-25
Applicant: 삼성전기주식회사
Abstract: PURPOSE: An acceleration evaluating device is provided to evaluate the durability of electronic devices or electronic parts under a condition similar to an actual environmental use of the electronic device. CONSTITUTION: An acceleration evaluating device(100) comprises a guide rail(30), a support(20), a driving member, and a cam member. The support is installed in the guide rail to be movable. The driving member provides the torque. The cam member converts the torque of the driving member into a linear reciprocating motion of the support.
Abstract translation: 目的：提供一种加速度评估装置，用于在类似于电子设备的实际环境使用的条件下评估电子设备或电子部件的耐久性。 构成：加速度评估装置（100）包括导轨（30），支撑件（20），驱动构件和凸轮构件。 支架安装在导轨上可移动。 驱动构件提供扭矩。 凸轮构件将驱动构件的扭矩转换成支撑件的线性往复运动。
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公开(公告)号：KR1020120119382A
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：KR1020110037261
申请日：2011-04-21
Applicant: 삼성전기주식회사
CPC classification number: C04B37/026 , B32B15/02 , B32B15/04 , B32B2457/00 , C04B2235/945 , C04B2237/12 , C04B2237/123 , C04B2237/124 , C04B2237/125 , C04B2237/348 , C04B2237/40 , C04B2237/405 , C04B2237/407 , C04B2237/408 , C04B2237/597 , C04B2237/704 , C04B2237/706 , C04B2237/708 , C23C18/1657 , C25D1/006 , H01G4/12 , H01G4/1227 , H01G4/30
Abstract: PURPOSE: A ceramic sheet product for ceramic electronic components, a laminated ceramic electronic component using the same and a method of manufacture thereof are provided to reduce intervals between inner electrodes. CONSTITUTION: A ceramic sheet product for ceramic electronic components comprises a metal layer(2), a ceramic layer, and metal nano-structures(3). The metal layer is formed on the ceramic layer. The metal nano-structures are in contact with the metal layer. The metal nano-structure is projected from the metal layer to the inner side of the ceramic layer. The height of the metal nano-structure is lower than the height of the ceramic layer. The metal nano-structure has a cylindrical shape. The metal nano-structure has the same material as the metal layer.
Abstract translation: 目的：提供一种用于陶瓷电子部件的陶瓷片产品，使用其的层压陶瓷电子部件及其制造方法，以减少内部电极之间的间隔。 构成：用于陶瓷电子部件的陶瓷片产品包括金属层（2），陶瓷层和金属纳米结构（3）。 金属层形成在陶瓷层上。 金属纳米结构与金属层接触。 金属纳米结构从金属层突出到陶瓷层的内侧。 金属纳米结构的高度低于陶瓷层的高度。 金属纳米结构具有圆筒形状。 金属纳米结构具有与金属层相同的材料。
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公开(公告)号：KR100750741B1
公开(公告)日：2007-08-22
申请号：KR1020060089815
申请日：2006-09-15
Applicant: 삼성전기주식회사
IPC: H01L21/28
Abstract: A cap wafer, a semiconductor chip with the same, and a manufacturing method thereof are provided to improve the yield and to reduce fabrication costs by preventing the generation of crack or void using a penetrating electrode with a tilted cross-section. A cap wafer(110) includes a cap wafer substrate(111), at least one penetrating electrode, and at least one electrode pad. The penetrating electrode(112) penetrates into the cap wafer. The electrode pad is connected with a lower portion of the penetrating electrode at a lower surface of the cap wafer substrate. The penetrating electrode has a tilted cross-section, so that the size of a lower portion is larger than that of an upper portion.
Abstract translation: 提供帽晶片，具有该晶片的半导体芯片及其制造方法，以通过防止使用具有倾斜横截面的穿透电极产生裂纹或空隙来提高成品率并降低制造成本。 盖晶片（110）包括盖晶片衬底（111），至少一个穿透电极和至少一个电极焊盘。 穿透电极（112）穿入帽晶片中。 电极焊盘在帽晶片衬底的下表面处与穿透电极的下部连接。 穿透电极具有倾斜横截面，使得下部的尺寸大于上部的尺寸。
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