公开(公告)号：KR1020080087285A

公开(公告)日：2008-10-01

申请号：KR1020070029281

申请日：2007-03-26

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김봉철 ,  김선기 ,  박용석

IPC: H04L12/18

CPC classification number: H04L47/806 ,  H04L45/245 ,  H04L45/745 ,  H04L49/354

Abstract: A multicast packet processing system and a method thereof are provided to transmit flooding multicast packets after copying the packets within each output board, thereby reducing an amount of internal traffic and loads of reception boards. A VLAN(Virtual Local Area Network) setup unit(401) of a main board(400) sets an Ethernet switch port to one VLAN. MFCE(Multicast Forwarding Cache Entry) tables extract/store local OIF(Ongoing Interface) information only existing within a packet processing board of various OIF lists. LAG information tables store link aggregation information of an overall system. Plural multicast packet processing/copying units(600-603) copy into plural packets based on the OIF lists.

Abstract translation: 提供了一种组播分组处理系统及其方法，用于在复制每个输出板中的分组之后传输洪泛组播分组，从而减少内部业务量和接收板的负载。 主板（400）的VLAN（虚拟局域网）设置单元（401）将以太网交换机端口设置为一个VLAN。 MFCE（Multicast Forwarding Cache Entry）表提取/存储仅存在于各种OIF列表的分组处理板内的本地OIF（正在进行的接口）信息。 LAG信息表存储整个系统的链路聚合信息。 基于OIF列表，多个组播数据包处理/复制单元（600-603）复制成多个数据包。

公开(公告)号：KR1020080086247A

公开(公告)日：2008-09-25

申请号：KR1020070028211

申请日：2007-03-22

Applicant: 삼성전자주식회사 ,  주식회사 케이티

Inventor： 손성일 ,  김선기 ,  남기성 ,  문강영 ,  박태성 ,  민병두

IPC: H04B10/079 ,  H04B10/03 ,  H04B10/50 ,  H04B10/25

Abstract: An apparatus and a method for controlling an optical output in an ONU(Optical Network Unit) are provided to operate an overall PON(Passive Optical Network) system stably by preventing an influence of malfunction of a laser diode on other normally operating ONUs. An optical transmission module(310) transmits an optical signal including data inserted into an allocated time slot to an OLT(Optical Line Termination)(100). An optical output control module(330) detects the transmitted optical signal. If the optical signal is detected for longer than a pre-set time, the optical output control module controls to prevent the optical signal transmitted to the OLT. An optical detecting unit(332) detects the optical signal transmitted from the optical transmission module to the OLT. If the detect time of the optical signal in the optical detecting unit is longer than the pre-set time, a controller(334) determines that the optical transmission module malfunctions and prevent an optical output of the optical transmission module.

Abstract translation: 提供了一种用于控制ONU（光网络单元）中的光输出的装置和方法，用于通过防止激光二极管对其他正常操作的ONU的故障的影响来稳定地操作整个PON（被动光网络）系统。 光传输模块（310）将包括插入到分配的时隙中的数据的光信号发送到OLT（光线路终端）（100）。 光输出控制模块（330）检测所发送的光信号。 如果检测到光信号长于预设时间，则光输出控制模块控制以防止发送到OLT的光信号。 光检测单元（332）检测从光传输模块向OLT发送的光信号。 如果光检测单元中的光信号的检测时间长于预设时间，则控制器（334）确定光传输模块发生故障并防止光传输模块的光输出。

公开(公告)号：KR100819298B1

公开(公告)日：2008-04-03

申请号：KR1020020003306

申请日：2002-01-21

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김선기

IPC: G06F1/00

Abstract: 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야:
주장치에서 보조장치의 탑재 유무를 감지하는 방법을 개시한다.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제:
주장치에서 그라운드 신호를 이용하여 보조장치의 탑재 유무를 감지한다.
3.발명의 해결 방법의 요지:
보조장치의 그라운드 신호선을 탑재 감지 신호선과 연결하여 루프 커넥션을 형성하고, 보조장치가 탑재될 경우 상기 탑재 감지 신호선이 로우기 되도록 함으로써 주장치에서 보조장치의 탑재 유무를 감지하는 방법을 제공하는 것이다.
4.발명의 중요한 용도:
주장치와 보조장치를 가진 시스템

풀업저항, 레지스터, 루프 커넥션

公开(公告)号：KR100738535B1

公开(公告)日：2007-07-11

申请号：KR1020050122161

申请日：2005-12-12

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 정수환 ,  김영한 ,  최재덕 ,  권택정 ,  김선기

IPC: H04L9/32 ,  H04L12/28

CPC classification number: H04L63/08 ,  H04L63/1441

Abstract: 본 발명은 IPv4 및 IPv6 주소 전환 기술인 DSTM(Dual Stack Transition Mechanism) 통신망에서 DSTM 서버의 인증을 통한 IPv4 주소 할당에 관한 것으로서, DSTM 통신망에 있는 DSTM 노드와 DSTM 서버간에 IPv4 주소 할당시 수행하는 인증 시스템 및 그 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, DSTM노드에서 IPv4주소 할당 요구시 DSTM 서버에서 DSTM 노드를 인증 한 후 IPv4 주소를 할당하기 때문에 DoS 공격을 통한 DSTM 서버의 IPv4 pool 주소 고갈 문제를 해결 할 수 있어 IPv4 및 IPv6 전환 과정에서 문제가 되었던 보안에 대한 해결책을 제시하고 있다.

公开(公告)号：KR1020070057308A

公开(公告)日：2007-06-07

申请号：KR1020050116087

申请日：2005-12-01

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김선기

IPC: G02F1/1335

CPC classification number: G02F1/133608 ,  G02F1/133308 ,  G02F2001/133325 ,  G02F2201/46

Abstract: An LCD(Liquid Crystal Display) and a method for assembling the same are provided to improve the workability and efficiency in a manufacturing process of the LCD, by inserting a slider installed on the LCD panel into a space between a mold frame and a top chassis after joining the mold frame and a top chassis. A mold frame(20) receives a backlight unit. A top chassis(16) is fixed to produce a space into which the mold frame and an LCD panel(10) are inserted. A slider(17) is mounted on the LCD panel, and inserted into the space between the top chassis and the mold frame in a sliding type. The slider is formed along three sides of the edge portion of the top chassis. Insertion grooves are formed in the three sides of the slider, and the LCD panel is inserted into the insertion grooves of the slider.

Abstract translation: 提供LCD（液晶显示器）及其组装方法，以通过将安装在LCD面板上的滑块插入模架和顶架之间的空间来提高LCD的制造过程中的可操作性和效率 在连接模具框架和顶部底盘之后。 模具框架（20）接收背光单元。 顶部底盘（16）被固定以产生模具框架和LCD面板（10）插入其中的空间。 滑块（17）安装在LCD面板上，以滑动方式插入到顶板和模架之间的空间中。 滑块沿着顶部机架的边缘部分的三侧形成。 在滑块的三侧形成有插入槽，并且将LCD面板插入到滑块的插入槽中。

公开(公告)号：KR100604929B1

公开(公告)日：2006-07-28

申请号：KR1020050005071

申请日：2005-01-19

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 심문보 ,  곽주석 ,  김성수 ,  양윤보 ,  김선기

IPC: G01R19/165

CPC classification number: G01R31/3008

Abstract: 본 발명은 반도체 패캐지의 대기전류 테스트 방법에 관한 것이다. 본 발명은 (a) 웨이퍼 테스터가 소정의 웨이퍼 런 넘버가 할당된 웨이퍼에 형성된 반도체 칩들을 테스트한 후, 상기 반도체 칩들의 대기전류 측정치들을 수집하여 데이터베이스로 전송하는 단계; (b) 반도체 패캐지 테스터가 테스트될 반도체 패캐지들의 웨이퍼 런 넘버를 인식하는 단계; (c) 상기 반도체 패캐지 테스터가 상기 웨이퍼 런 넘버에 해당하는 대기전류 측정치들을 상기 데이터베이스로부터 다운로딩(down-loading)하는 단계; (d) 상기 반도체 패캐지 테스터가 상기 대기전류 측정치들로부터 소정의 상위 값들을 포함하는 경계치를 추출하는 단계; (e) 상기 반도체 패캐지 테스터가 상기 경계치를 상기 반도체 패캐지를 테스트하는 프로그램의 대기전류 리미트로 설정하는 단계; 및 (f) 상기 반도체 패캐지 테스터가 상기 설정된 대기전류 리미트를 기준하여 상기 반도체 패캐지들을 테스트하는 단계를 포함한다. 따라서, 신뢰성 테스트용 반도체 패캐지들을 분류하기 위하여 최종 테스트 공정의 테스트 프로그램의 대기전류 리미트를 재조정하기 위한 작업이 불필요하게 되어 인력 낭비가 방지되며, 최종 테스트 시간이 대폭적으로 단축된다.

公开(公告)号：KR1020060084272A

公开(公告)日：2006-07-24

申请号：KR1020050005071

申请日：2005-01-19

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 심문보 ,  곽주석 ,  김성수 ,  양윤보 ,  김선기

IPC: G01R19/165

CPC classification number: G01R31/3008

Abstract: 본 발명은 반도체 패캐지의 대기전류 테스트 방법에 관한 것이다. 본 발명은 (a) 웨이퍼 테스터가 소정의 웨이퍼 런 넘버가 할당된 웨이퍼에 형성된 반도체 칩들을 테스트한 후, 상기 반도체 칩들의 대기전류 측정치들을 수집하여 데이터베이스로 전송하는 단계; (b) 반도체 패캐지 테스터가 테스트될 반도체 패캐지들의 웨이퍼 런 넘버를 인식하는 단계; (c) 상기 반도체 패캐지 테스터가 상기 웨이퍼 런 넘버에 해당하는 대기전류 측정치들을 상기 데이터베이스로부터 다운로딩(down-loading)하는 단계; (d) 상기 반도체 패캐지 테스터가 상기 대기전류 측정치들로부터 소정의 상위 값들을 포함하는 경계치를 추출하는 단계; (e) 상기 반도체 패캐지 테스터가 상기 경계치를 상기 반도체 패캐지를 테스트하는 프로그램의 대기전류 리미트로 설정하는 단계; 및 (f) 상기 반도체 패캐지 테스터가 상기 설정된 대기전류 리미트를 기준하여 상기 반도체 패캐지들을 테스트하는 단계를 포함한다. 따라서, 신뢰성 테스트용 반도체 패캐지들을 분류하기 위하여 최종 테스트 공정의 테스트 프로그램의 대기전류 리미트를 재조정하기 위한 작업이 불필요하게 되어 인력 낭비가 방지되며, 최종 테스트 시간이 대폭적으로 단축된다.

公开(公告)号：KR1020040002168A

公开(公告)日：2004-01-07

申请号：KR1020020037610

申请日：2002-06-29

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김선기

IPC: F24C15/16

CPC classification number: H05B6/6411

Abstract: PURPOSE: A microwave oven, a guide roller, a cooking tray, and a dish are provided to keep a cooking state uniform without regard to regions of foods to be cooked in the microwave oven, to save energy by shortening cooking time even in generating the same electric power, and to prevent empty containers from being twisted by temperature variation to overheating in the idle of the microwave range. CONSTITUTION: A microwave oven comprises a guide roller(202) arranged to a lower part of a cooking chamber to smoothly rotate foods and a cooking tray(204) put on the guide roller to supply power to the guide roller and rotated with the guide roller to support foods. A high frequency absorbing pad(203) is attached to the lower part of the cooking chamber of the microwave oven, the guide roller, the cooking tray, or a plate.

Abstract translation: 目的：提供微波炉，导辊，烹饪托盘和餐具，以保持烹饪状态均匀，而不考虑在微波炉中烹饪的食物的区域，以通过缩短烹饪时间来节省能量，甚至在产生 相同的电力，并且防止空容器在微波范围的空闲中被温度变化扭曲而过热。 构成：微波炉包括布置在烹饪室的下部以平滑地旋转食物的引导辊（202）和放置在导辊上的烹饪盘（204），以向引导辊供电并随着导向辊 支持食物。 高频吸收垫（203）附着在微波炉，导辊，烹调盘或板的烹调室的下部。

公开(公告)号：KR1020030065140A

公开(公告)日：2003-08-06

申请号：KR1020020005623

申请日：2002-01-31

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 정석용 ,  김선기

IPC: H04L7/033

Abstract: PURPOSE: An apparatus for providing a network synchronous clock is provided which enables a user to insert a clock board into a desired slot and reduces the number of pins using a point to multi-point method. CONSTITUTION: A clock board(20) receives a reference clock provided from an upper clock supply source device and then generates clocks required by a plurality of line interface cards(30,32) and then sends them to the corresponding line interface card respectively. A universal slot(44) has a structure where the plurality of line interface cards and the clock board is inserted together. And an operation and spare buses(40,42) support point to multi-point clock connection in the above universal slot.

Abstract translation: 目的：提供一种用于提供网络同步时钟的装置，其使得用户能够将时钟板插入到期望的时隙中并且使用点到多点方法来减少引脚的数量。 构成：时钟板（20）接收从上部时钟源设备提供的参考时钟，然后产生多个线路接口卡（30,32）所需的时钟，然后将它们分别发送到相应的线路接口卡。 通用槽（44）具有将多个线路接口卡和时钟板插入到一起的结构。 并且一个操作和备用总线（40,42）支持在上述通用插槽中指向多点时钟连接。

公开(公告)号：KR1020030059675A

公开(公告)日：2003-07-10

申请号：KR1020020000403

申请日：2002-01-04

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김선기

IPC: F24C15/00

Abstract: PURPOSE: A method is provided to reduce costs and achieve improved productivity by using a general purpose socket rather than an additional transformer and socket. CONSTITUTION: A method comprises a step(S110) of spraying a blue paint to the outer surface of a glass unit of a lamp; a step(S120) of heating the glass unit at the first preset temperature; a step(S130) of judging whether the first preset time period has lapsed after start of the heating; a step(S140) of heating the glass unit at the second preset temperature if the first preset time period has lapsed; a step(S150) of judging whether the second preset time period has lapsed; and a step(S160) of stopping heating if the second preset time period has lapsed.

Abstract translation: 目的：提供一种通过使用通用插座而不是额外的变压器和插座来降低成本并提高生产率的方法。 构成：一种方法包括将蓝色涂料喷射到灯的玻璃单元的外表面的步骤（S110） 在第一预设温度下加热玻璃单元的步骤（S120）; 判断在加热开始后第一预设时间段是否已经过去的步骤（S130） 如果第一预设时间段已经过去，则在第二预设温度下加热玻璃单元的步骤（S140）; 判断第二预设时间段是否已经过去的步骤（S150） 以及如果第二预设时间段已经过去则停止加热的步骤（S160）。