Abstract:
An electrostatic adhesion tester for thin film conductors. In one embodiment, a device is provided for testing the adhesion strength of a thin film conductor that has been formed upon a substrate. The device includes an adhesion tester that is primarily comprised of a conducting portion. The conducting portion is applied to the thin film conductor so that it does not physically contact the thin film conductor, but leaves a small space therebetween. A power supply may further be provided for coupling to either the adhesion tester, the thin film conductor, or both in order to create a potential difference between the conducting portion and the thin film conductor. The potential difference creates an electric field between the conducting portion and the thin film conductor that induces stress in the thin film conductor. A measuring device may also be provided for coupling to the adhesion tester and the thin film conductor in order to measure an electrical parameter of the electric field, which is indicative of the adhesion strength.
Abstract:
그래픽 처리속도를 향상시킬 수 있는 듀얼포트를 갖는 고속 싱크로너스 메모리장치가 개시된다. 상기 싱크로너스 메모리장치에서는, 데이터 입력버퍼가, 제1클럭의 상승에지에 동기되어, 제1포트를 통해 입력되는 데이터를 버퍼링하여 메모리셀 어레이로 전달한다. 제1데이터 출력버퍼가, 상기 제1클럭의 상승에지에 동기되어, 상기 메모리셀 어레이로부터 출력되는 데이터를 버퍼링하여 상기 제1포트를 통해 외부로 출력한다. 일정량의 데이터 저장장소인 레지스터가, 상기 메모리셀 어레이로부터 출력되는 데이터를 일시적으로 저장한다. 제2데이터 출력버퍼가, 제2클럭의 상승에지 및 하강에지 모두에 동기되어, 상기 레지스터로부터 출력되는 데이터를 버퍼링하여 제2포트를 통해 외부로 출력한다. 상기 제2클럭은 상기 제1클럭과 주기가 다르고 동기하지 않는 서로 다른 클럭이며, 필요에 따라 상기 제2클럭으로서 상기 제1클럭과 동일한 클럭이 사용될 수 있다.
Abstract:
동기식 반도체 기억 장치를 위한 어드레스 래치 장치 및 방법이 개시된다. 이 장치는, 외부로부터 입력되는 외부 행 어드레스 또는 외부 모드 레지스터 세트(MRS) 어드레스를 입력하여 버퍼링하는 어드레스 버퍼와, 버퍼링된 외부 행 어드레스 또는 외부 MRS 어드레스를 내부 클럭 신호에 응답하여 전송하는 제1 신호 전송 수단과, 제1 신호 전송 수단으로부터 출력되는 어드레스를 래치하는 제1 래치와, 제1 래치에 래치된 어드레스를 제어 신호에 응답하여 전송하는 제2 신호 전송 수단과, 제2 신호 전송 수단으로부터 출력되는 어드레스를 래치하는 제2 래치와, 동기식 반도체 기억 장치가 MRS 상태이거나 행 활성 상태일 때만 제어 신호를 발생하는 제어 신호 발생 수단과, 제2 래치에 래치된 어드레스를 MRS 명령에 응답하여 내부 MRS 어드레스로서 출력하는 제1 어드레스 발생 수단 및 제2 래치에 래치된 어드레스를 행 활성 명령에 응� ��하여 내부 행 어드레스로서 출력하는 제2 어드레스 발생 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
Abstract:
셀프 리프레쉬 동작의 일부에 자동 리프레쉬 동작과 같은 방식을 포함하는 디램 장치의 리프레쉬 제어 방법을 개시한다. 자동 리프레쉬 명령이 입력되면, 리프레쉬 엔터 펄스를 발생시켜 RAS 마스터 신호를 인에이블하여 리프레쉬를 시작하고, 상기 리프레쉬 엔터 펄스에 의해 인에이블된 리프레쉬 마스터 신호에 의해 일정 시간뒤에 자동으로 발생된 펄스가 RAS 마스터 신호를 다시 디세이블하여 리프레쉬를 끝내는 자동 리프레쉬 제어 방법을 구비하는 디램 리프레쉬 제어 방법에 있어서, 셀프 리프레쉬 명령이 입력되면 첫번째 리프레쉬 주기는 상기 자동 리프레쉬 명령이 입력될 때 발생된 상기 리프레쉬 엔터 펄스가 발생하여 상기 자동 리프레쉬와 같은 방식으로 리프레쉬가 수행된다. 두번째 리프레쉬 주기부터는 셀프 리프레쉬 정보에 의해 인에이블된 셀프 리프레쉬 오실레이터의 출력으로부터 일정 주기의 펄스를 발생시켜 그 펄스가 상기 리프레쉬 엔터 펄스와 같은 입력으로 RAS 마스터 신호를 인에이블하여 상기 첫번째 리프레쉬 주기와 같이 리프레쉬를 수행하는 셀프 리프레쉬 제어 방법을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디램 리프레쉬 제어 방법을 제공한다.
Abstract:
A method, device, and a system for preventing refresh starvation in shared bank is provided to use a refresh generation counter which by including a memory system preventing the refresh shortage. A mobile device(200) comprises an antenna(204) used for connecting with a wireless telecommunications system while having a memory system(202) preventing the refresh shortage. A memory system comprises a modem chip(206), an LCD(210), an AP(Application Processor) / Media chip(212), a first memory apparatus(216), a second memory device(218), and a third memory device(220). A modem chip transmits/receives data to/from the wireless telecommunications system through an antenna. The modem chip comprises a modem data processor(208) for communications of the wireless telecommunications system.
Abstract:
프로세서와 비휘발성 메모리("NVM") 사이에 위치하는 중재기를 포함하는 메모리 장치 및 이 메모리 장치를 포함한 시스템이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 상기 메모리 장치는 상기 프로세서 또는 상기 NVM으로부터 데이터를 수신하여 저장하는 메모리; 및 상기 프로세서 또는 상기 NVM으로부터 상기 메모리의 접근을 제어하는 디렉트 메모리 엑세스 제어기 ("DMAC")를 포함하되, 상기 프로세서와 상기 DMAC, 상기 프로세서와 상기 메모리, 및 상기 DMAC와 상기 메모리 사이의 데이터 송수신을 조절하기 위하여 상기 DMAC는 중재기(Arbiter)를 포함하고 있다. 상기 중재기의 동작에 의하여 전체 시스템의 전원 소모의 감소 및 데이터 전송을 빠르게 할 수 있다.
Abstract:
고속동작에서의 리프레쉬 페일을 최소화하기 위한 리프레쉬 회로를 갖는 리프레쉬 타입 반도체 메모리 장치가 개시된다. 복수의 리프레쉬 타입 메모리 셀들과, 리프레쉬 동작을 외부의 명령없이 내부적으로 행하면서 데이터의 입출력을 행하는 리프레쉬 타입 반도체 메모리 장치는, 연속적인 라이트 동작시에 발생 가능한 리프레쉬 페일을 방지하기 위하여, 라이트 인에이블 신호의 액티브 천이에 응답된 신호와 리드동작 시에 발생되는 더미 리프레쉬 신호에 응답하여 리프레쉬 요청동작 차단신호를 디세이블 시키는 강제 리프레쉬 요청신호 발생부를 가지는 리프레쉬 회로를 구비함에 의해, 라이트 사이클 타임을 개선하고 아울러 리프레쉬 페일을 최소화한다.
Abstract:
PURPOSE: A refresh type semiconductor memory device having a refresh circuit is provided to minimize refresh fail at high speed operation. CONSTITUTION: According to the refresh type semiconductor memory device performing data input/output as performing a refresh operation internally without an external command, a main pulse generator(320) disables a refresh request operation block signal in response to a signal responding to active transition of a write enable signal and a dummy refresh signal generated during a read operation, in order to prevent refresh fail which is generated during a continuous write operation. The signal responding to the active transition of the write enable signal and the dummy refresh signal are pulse signals.
Abstract:
PURPOSE: A semiconductor memory device is provided to operate at an execution mode without inputting the external execution command signals by incorporating thereinto a circuit to generate a word line activation signal in the semiconductor chip. CONSTITUTION: A semiconductor memory device having a standby mode and an execution mode includes a first execution mode signal generation circuit for generating a first execution mode signal(PACT1) by receiving external execution command signals and a second execution mode signal generation circuit(20) for generating a second execution mode signal(PACT2) having a predetermined pulse width after a predetermined time is passed after the power-up signal is received and the power-up is accomplished. The semiconductor memory device is operated at the first execution mode when the input of the external execution command signals is allowable and the semiconductor memory device is operated at the second execution mode when the input of the external execution command signals is impossible.