Abstract:
PURPOSE: A dry etching apparatus for chemically and physically removing layers to be etched by using a plasma state of reactant gas is provided to prevent failures and drawbacks caused by a slit port liner and an EPD port liner projected from a chamber wall. CONSTITUTION: The dry etching apparatus(10) has the chamber wall(13) forming a chamber(11) used for wafer fabrication. And, the apparatus(10) has the slit port liner(33), the EPD port liner(37) and a chamber wall liner(41), all joined to the chamber wall(13). Particularly, the slit port liner(33) and the EPD port liner(37) are inserted in respective corresponding grooves(32,36) formed in the chamber wall(13), and the chamber wall liner(41) is directly attached to an inner surface of the chamber wall(13) without a gap therebetween.
Abstract:
여기에 개시된 반도체 메모리 장치의 리던던시 회로는 리던던시 디코더 회로와 리던던시 디코더 활성화 회로(200)로 구성된다. 리던던시 디코더 회로는 임의의 결함 셀 대신에 대응하는 리던던트 셀이 대체되는 경우에 입력된 어드레스 신호들에 응답하여 리던던트 워드 라인 또는 리던던트 비트 라인을 선택한다. 리던던시 디코더 활성화 회로는 칩 인에이블 또는 선택 신호의 활성화에 응답하여 실질적인 동작 모드(독출, 기입 동작 등) 동안에만 또는 동작 모드가 종료될 때까지만 외부로부터 입력되는 클럭 신호에 동기되어서 활성화되는 리던던시 제어신호(DESEL)를 발생하며, 이 리던던시 제어신호의 비활성화에 의해 리던던시 디코더 회로로의 전류 공급 통로가 차단된다. 이로써 스탠 바이 모드시 리던던시 회로 내의 전류 공급 통로를 차단하여 전력의 손실을 줄일 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A multiplexer circuit is provided to prevent data transition within one cycle upon bypassing and increase the data processing speed, thereby stabilizing the output operation of a semiconductor memory device at a high speed and improving a memory performance. CONSTITUTION: A multiplexer circuit(52A) outputs data selectively to be bypassed into a data output buffer. The multiplexer circuit includes at least one unit multiplexing part. In the unit multiplexing part, the first switch transmits the data responding to the first state of a bypass control signal. A latch section(L1) latches data output through the first switch. The second switch transmits the data output to the latch section responding to the second state of the bypass control signal. The first switch is a CMOS transmission gate. The second switch is a clocked CMOS invertor. The latch section consists of cross-coupled invertors.
Abstract:
PURPOSE: An internal voltage converting circuit is provided to prevent a physical damage of elements in a memory device by suppressing an increment of an internal voltage at a standby mode. CONSTITUTION: The internal voltage converting circuit comprises a first internal voltage generator(100), a second internal voltage generator(200), and a control transistor(MP7). The first internal voltage generator(100) has a first comparator(101) and a first driving transistor(MN3) and generates an internal voltage at standby and active modes. The second internal voltage generator(200) has a second comparator(201) and a second driving transistor(MN6) and generates an internal voltage at the active mode. The control transistor(MP7) generates an output voltage signal for turning off the second driving transistor so that the internal voltage is outputted from the first internal voltage generator(100) at the standby mode.
Abstract:
본 발명의 박막 형성 장치는 웨이퍼가 로딩되는 카세트를 포함하는 스토리지 엘리베이터(storage elevator)와, 상기 스토리지 엘리베이터의 상부에 질소 퍼지를 위한 질소 퍼지 라인과, 상기 질소 퍼지 라인에 연결되어 스토리지 엘리베이터 내부에 위치하는 확산기(diffuser)와, 상기 스토리지 엘리베이터 하단에 위치하는 펌핑 포트(pumping port)와, 상기 스토리지 엘리베이터의 웨이퍼가 이동하여 대기하는 로드락 챔버(loadlock chamber)와, 상기 로드락 챔버에 펌핑 라인을 통하여 연결되고 상기 펌핑 포트에 연결되어 펌핑하는 건식 펌프(dry pump)와, 상기 로드락 챔버와 연결되어 있고 로드락 챔버의 웨이퍼를 받아 웨이퍼 상에 막을 형성하는 공정 챔버로 구성된다. 이로써, 본 발명의 박막 형성 장치는 질소의 흐름이 스토리지 엘리베이터 위에서 아래로 자연스럽게 이동되며, 질소 퍼지 라인에 확산기를 설치하여 와류로 인한 파티클의 발생을 방지할 수 있다.
Abstract:
본 발명은 웨이퍼 지지대 상에 놓여진 웨이퍼를 고정시키기 위한 섀도우 클램프에 관한 것으로, 웨이퍼의 가장자리 상부에 위치하도록 링 형태를 갖는 몸체와, 상기 몸체의 내측부 아래에 웨이퍼 가장자리의 소정영역과 접촉되도록 돌출된 복수 개의 웨이퍼 접촉부를 구비한다.