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公开(公告)号：KR1020120121321A
公开(公告)日：2012-11-05
申请号：KR1020110039241
申请日：2011-04-26
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: H04M1/0216 , G06F1/1616 , G06F1/1681 , Y10T16/53834 , Y10T16/540243 , Y10T16/540247 , Y10T16/540255 , Y10T16/557 , H04B1/38 , G06F1/16 , H04M1/02
Abstract: PURPOSE: A hinge apparatus of a portable terminal is provided to promote the reliability of portable terminal quality by stably opening and closing the portable terminal. CONSTITUTION: A first driving cam(43) is fixed to the one side of a hinge shaft(42) using a fixing apparatus. The first driving cam is rotated. A second driving cam(44) is rotated with the first driving cam. The second driving cam is oscillated according to the hinge shaft. A driven cam(45) is oscillated according to the hinge shaft by operating the first and the second driving cam. An elastic member(46) is arranged between the hinge housing unit and the second driving cam.
Abstract translation: 目的：提供便携式终端的铰链装置，通过稳定地打开和关闭便携式终端来提高便携式终端品质的可靠性。 构成：使用定影装置将第一驱动凸轮（43）固定到铰链轴（42）的一侧。 第一个驱动凸轮旋转。 第二驱动凸轮（44）与第一驱动凸轮一起转动。 第二驱动凸轮根据铰链轴摆动。 通过操作第一和第二驱动凸轮，从动凸轮（45）根据铰链轴摆动。 弹性构件（46）设置在铰链壳体单元和第二驱动凸轮之间。
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公开(公告)号：KR101185953B1
公开(公告)日：2012-09-26
申请号：KR1020050029450
申请日：2005-04-08
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: D06F39/08
Abstract: 본 발명은 스팀발생장치를 갖춘 세탁기를 개시한다. 본 발명에 따른 스팀발생장치를 갖춘 세탁기는 내부에 히터가 장착된 하우징과 상기 하우징 내부에 유입된 물이 가열되어 스팀으로 분사되는 분사노즐과 상기 분사노즐이 막혔을 때에도 상기 하우징 내부압력이 일정이상 올라가지 않도록 분사노즐과 별도의 유로를 형성하며 상기 하우징의 내부압력이 소정이상 상승하면 개방되는 바이패스노즐을 포함함으로써, 분사노즐이 막혔을 경우에도 하우징내부의 압력을 일정하게 유지할 수 있어 하우징내부의 압력상승으로 인해 급수호스 또는 스팀발생장치가 손상되는 것을 막을 수 있다.
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公开(公告)号：KR100909963B1
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：KR1020070041585
申请日：2007-04-27
Applicant: 삼성전자주식회사 , 리전츠 오브 더 유니버스티 오브 미네소타
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B20/10055 , G11B20/1833 , G11B2020/1836 , G11B2020/1863 , H03M13/41 , H04L1/0054 , H04L1/0064
Abstract: 본 발명은 포스트 비터비(post-Viterbi) 에러 정정 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 오정정이 발생할 수 있는 확률을 줄이는 포스트 비터비 에러 정정 방법, 이에 적합한 기록 매체 그리고 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 포스트 비터비 에러 정정 방법은 코드워드에 에러 검출 코드를 적용하여 신드롬을 산출하는 과정; 신드롬 값이 0이 아니라면, 신드롬 값을 기반으로 각각의 에러 이벤트에 대하여 에러 시작 위치들을 획득하는 과정; 에러 이벤트 패턴 및 상기 에러 시작 위치들에서의 상기 코드워드의 비트 극성(polarity)을 참조하여, 상기 에러 이벤트 패턴이 발생할 가능성이 없는 에러 시작 위치들을 제외시켜서 각각의 에러 이벤트에 대하여 발생 가능한 에러 시작 위치들을 획득하는 과정; 상기 발생 가능한 에러 시작 위치들에서의 상기 코드워드의 비트 패턴들에 대하여 에러 이벤트와의 신뢰치들을 검출하는 과정; 및 가장 큰 신뢰치를 가지는 에러 이벤트의 종류(에러 종류) 및 에러 시작 위치를 선택하여 발생된 에러 이벤트를 정정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 에러 정정 방법은 에러 이벤트에 대한 신드롬 값의 주기성 및 코드워드의 비트 극성을 이용하여 에러 발생 가능성이 높은 에러 시작 위치들을 탐색한 후 이들에 대해서만 에러 이벤트와의 신뢰치를 산출함에 의해 포스트 에러 정정을 위한 연산을 간단하게 하고 또한 잘못된 에러 종류 선택 및 잘못된 에러 위치 지정에 의한 오정정을 효과적으로 방지하는 이점을 가진다.Abstract translation: 在纠错方法中，码字通过嘈杂的通信信道传输并由接收设备检测。 然后将错误检测码应用于检测到的码字以生成综合征。 在症状不全为零的情况下，码字被确定为包含一些错误。 因此，该方法基于对应于综合征的综合症值计算多个错误事件的一组潜在错误开始位置。 接下来，针对精化集合中的每个潜在错误开始位置处的多个错误事件中的每一个计算置信度值，并且最终基于错误事件和相应电位来校正检测到的码字中最可能的错误事件 具有最高置信度值的错误开始位置。
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公开(公告)号：KR1020080043680A
公开(公告)日：2008-05-19
申请号：KR1020070041585
申请日：2007-04-27
Applicant: 삼성전자주식회사 , 리전츠 오브 더 유니버스티 오브 미네소타
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B20/10055 , G11B20/1833 , G11B2020/1836 , G11B2020/1863 , H03M13/41 , H04L1/0054 , H04L1/0064
Abstract: A post-Viterbi error correction method, a recording medium, and an apparatus therefor are provided to reduce probability of false error correction by using periodicity for each error event and bit polarity of a code word. A syndrome is produced by applying an error detection code to a code word(S402). An error starting point for each of error events is obtained on the basis of a syndrome value if the syndrome value is not 0(S404). A possible error starting position for each error event is obtained by excluding error starting points as impossibility of error event patterns by referring to bit polarity of the code word at an error event pattern and an error starting point(S406). The correlation of the error event to a bit pattern of the code word at the possible error starting position is detected. The error event is corrected by selecting the kind of error events and the error starting point having the largest correlation.
Abstract translation: 提供后维特比纠错方法，记录介质及其装置，以通过使用每个错误事件的周期性和码字的位极性来降低误差校正的概率。 通过将错误检测码应用于码字来产生综合症（S402）。 如果校正子值不为0，则基于校正子值获得每个错误事件的错误起始点（S404）。 通过参考错误事件模式和错误起始点处的代码字的位极性，将错误起始点排除为不可能的错误事件模式，可以获得每个错误事件的可能的错误开始位置（S406）。 检测错误事件与可能的错误开始位置处的代码字的位模式的相关性。 通过选择错误事件的种类和具有最大相关性的错误起始点来纠正错误事件。
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公开(公告)号：KR1020080043679A
公开(公告)日：2008-05-19
申请号：KR1020070040925
申请日：2007-04-26
Applicant: 삼성전자주식회사 , 리전츠 오브 더 유니버스티 오브 미네소타
IPC: H03M13/09
CPC classification number: H03M13/15 , H03M13/17 , H03M13/6331
Abstract: An error correction method and an error correction apparatus are provided to enhance performance by reducing error possibility and correcting additional error patterns. A Viterbi decoder(108) receives a transmitted code word and generates the detected code word. A syndrome calculation unit(112) receives the detected code word and generates a syndrome by applying a generating polynomial expression to the detected code word. The generating polynomial expression is used for generating a syndrome set discriminated from error patterns generated within the code word in a transmission process through a communication channel. An error kind decision and generating position list unit(116) decides kinds of error patterns within the detected code word on the generated syndrome and decides latent starting positions of the error patterns. A soft metric calculation unit(114) receives the transmitted code word, the detected code word, and the latent starting positions, and calculates the stating positions of the error patterns within the detected code word. An error correction unit(118) corrects the error patterns within the detected code word on the basis of the kinds of error patterns and the starting points.
Abstract translation: 提供纠错方法和纠错装置，以通过减少错误可能性和校正附加错误模式来增强性能。 维特比解码器（108）接收发送的码字并产生检测到的码字。 校正子计算单元（112）接收检测到的代码字，并通过对所检测的代码字应用生成多项式表达来产生校正子。 生成多项式表达式用于生成通过通信信道在传输过程中由码字内生成的错误模式区分的校正子集合。 错误种类决定和生成位置列表单元（116）决定检测出的代码字中的错误模式的种类，并生成错误模式的开始位置。 软度量计算单元（114）接收所发送的码字，检测码字和潜在起始位置，并计算检测码字内的错误模式的说明位置。 错误校正单元118基于错误模式和起始点的种类校正检测到的代码字中的错误模式。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100773399B1
公开(公告)日：2007-11-05
申请号：KR1020060103156
申请日：2006-10-23
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/8247
CPC classification number: H01L29/861 , H01L21/76224 , H01L27/105 , H01L27/1052
Abstract: A semiconductor device and a manufacturing method thereof are provided to improve an operation reliability of the semiconductor device by forming a workout-free clamp diode. A semiconductor device includes a semiconductor substrate(110), a first conductive type low voltage well(LV P-well), a second conductive type high voltage dopant region(112), a second conductive type high concentration dopant region(114), and a first conductive type floating dopant region(115'). The semiconductor substrate includes a device isolation film which defines an active region. The first conductive type low voltage well is provided in the active region. The second conductive type high voltage dopant region is formed in the active region over the first conductive type low voltage well. The second conductive type high concentration dopant region is formed in the second conductive type high voltage dopant region to be apart from the device isolation film. The first conductive type floating dopant region is arranged on the semiconductor substrate between the device isolation film and the second conductive type high concentration dopant region.
Abstract translation: 提供半导体器件及其制造方法，通过形成无电压钳位二极管来提高半导体器件的操作可靠性。 半导体器件包括半导体衬底（110），第一导电型低压阱（LV P阱），第二导电型高电压掺杂区域（112），第二导电型高浓度掺杂区域（114）和 第一导电型浮动掺杂区域（115'）。 半导体衬底包括限定有源区的器件隔离膜。 第一导电型低压阱设置在有源区中。 在第一导电型低压阱上的有源区中形成第二导电型高电压掺杂区。 在第二导电型高电压掺杂剂区域中形成第二导电型高浓度掺杂剂区域以与器件隔离膜分离。 第一导电型浮动掺杂剂区域布置在器件隔离膜和第二导电型高浓度掺杂剂区域之间的半导体衬底上。
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公开(公告)号：KR1020070073145A
公开(公告)日：2007-07-10
申请号：KR1020060000710
申请日：2006-01-03
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: D06F39/008 , D06F39/04 , Y02B40/50
Abstract: A washing machine is provided to prevent a surface area of an evaporation passage from being reduced by removing scales from a wall surface of a water supplying passage. A washing machine includes a steam generator(50). The steam generator supplies a steam to an inside of a tub. The steam generator includes a body(52), a heater(54), a temperature sensor(55), and a scale separation member(56). An evaporation path is provided at the body. The heater heats the body. The temperature sensor measures a temperature of the body in order to control the heater. The scale separation member is installed inside an evaporation path and separates scales deposited on a wall surface of an evaporation path.
Abstract translation: 提供一种洗衣机，以通过从供水通道的壁表面去除垢而防止蒸发通道的表面积减小。 洗衣机包括蒸汽发生器（50）。 蒸汽发生器将蒸汽供应到桶的内部。 蒸汽发生器包括主体（52），加热器（54），温度传感器（55）和刻度分隔部件（56）。 在身体处设置有蒸发路径。 加热器加热身体。 温度传感器测量身体的温度以控制加热器。 刻度分离部件安装在蒸发路径的内部并分离沉积在蒸发路径的壁表面上的鳞片。
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公开(公告)号：KR1020070071095A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：KR1020050134271
申请日：2005-12-29
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: D06F39/08
CPC classification number: Y02B40/56 , D06F39/08 , D06F39/083 , D06F2220/00 , Y02B40/50
Abstract: A drum type washing machine is provided to reduce the amount of the residual water remaining in a circulation hose by forming a draining pump at the peripheral surface of a water tank to shorten the length of the circulation hose. A drum type washing machine includes a water tank(20), a rotary tub(30), and a washing water circulation unit(60). Washing water is contained in the water tank. The rotary tub is provided in the water tank. The washing water in the water tank is introduced into the rotation tub by the washing water circulation unit. The washing water circulation unit includes a draining pump(61) and a circulation hose(63) connected to the draining pump to guide the washing water to the rotation tub. The draining pump is provided on the outer surface of the water tank so that the length of the circulation hose can be shortened to reduce the amount of the washing water remaining in the circulation hose.
Abstract translation: 提供一种滚筒式洗衣机，通过在水箱的周面形成排水泵，缩短循环软管的长度，减少残留在循环软管中的残留水量。 滚筒式洗衣机包括水箱（20），旋转桶（30）和洗涤水循环单元（60）。 洗涤水包含在水箱中。 旋转桶设置在水箱中。 水箱中的洗涤水通过洗涤水循环单元被引入旋转桶中。 洗涤水循环单元包括排水泵（61）和连接到排水泵的循环软管（63），以将洗涤水引导到旋转桶。 排水泵设置在水箱的外表面上，从而可以缩短循环软管的长度，以减少循环软管中剩余的洗涤水量。
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公开(公告)号：KR1020070034876A
公开(公告)日：2007-03-29
申请号：KR1020050089515
申请日：2005-09-26
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G11C7/18
Abstract: 테스트 모드에서 테스트 가능한 불량 유형의 범위를 넓힐 수 있으며 테스트 시간을 단축시킬 수 있는 오픈 비트라인 구조의 반도체 메모리 장치가 개시된다. 상기 반도체 메모리 장치는 복수 개의 메모리 셀 블록을 구비하고, 상기 메모리 셀 블록 중 에지 블록은 복수의 노멀 비트라인(normal bit line)들 및 상기 복수의 노멀 비트라인들과 교대로 배치된 복수의 더미 비트라인(dummy bit line)들을 구비하며, 상기 반도체 메모리 장치의 테스트 모드에서, 상기 복수의 더미 비트라인들중 적어도 하나의 더미 비트라인으로 서로 다른 전압레벨을 갖는 테스트 신호가 인가되도록, 상기 복수의 더미 비트라인들중 적어도 하나의 더미 비트라인은 타 더미 비트라인과 서로 다른 라인을 통해 테스트 신호를 입력받는 것을 특징으로 한다.
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