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公开(公告)号：CN101952981B
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN200880123564.7
申请日：2008-12-25
Applicant: 精工电子有限公司
CPC classification number: H01L31/101 , G01J1/02 , G01J1/0209 , G01J1/0214 , G01J1/0488 , G01J1/18 , G01J1/32 , G01J1/4204 , G01J1/4228 , G01J1/44 , G02F2201/58
Abstract: 本发明提供小型且灵敏度良好的光检测装置。光检测装置(10)中使不同光谱特性的光电二极管(1、2)的阴极端子或设置光学滤波器的光电二极管(1)和设置遮光层的光电二极管(2)成为开路端状态，在一定时间的期间从蓄积在它们中的电荷的差分检测所希望波长区域的光强度。光电二极管(1、2)采用蓄积电荷的方式，因此即便光电流较小也能将它蓄积而得到检测所需的电荷，能够实现形成光电二极管(1、2)的半导体装置的小型化/高探测能力化。此外，可根据光强度，使电荷的蓄积时间可变，由此实现较宽的动态范围，或者在差分检测时间歇驱动差分检测所需的元素而抑制耗电量，或者将输出平均化而减小闪烁的影响。
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公开(公告)号：CN103150571A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201210269989.7
申请日：2012-07-31
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Inventor： P·法贝尔
IPC: G06K9/62
CPC classification number: G01J1/18 , G06K9/00825
Abstract: 本发明涉及一种用于区分具有至少一个大灯（104）的车辆（100）的摄像机（106）的检测区域中的自发光物体和反射物体（300）的方法（200）和设备（102），其中所述物体被所述大灯（104）照射；其中所述方法（200）包括从所述摄像机（106）接收（202）物体相对于车辆（100）的相对位置和物体的亮度值的步骤。此外，所述方法还包括将所述亮度值与在所述相对位置处所预期的自发光值和在所述相对位置处所预期的反射值进行比较（204）的步骤。此外，所述方法还包括当亮度值位于自发光值周围的自发光公差范围以内时将物体分类（206）为自发光的或者当亮度值位于反射值周围的反射公差范围以内时将物体分类（206）为反射的步骤。
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公开(公告)号：CN102879088A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201210240807.3
申请日：2012-07-11
Applicant: 徕卡显微系统复合显微镜有限公司
CPC classification number: G01J3/027 , G01J1/0228 , G01J1/18 , G01J1/44 , G01J3/2803 , G01J3/36
Abstract: 用于探测光的装置，用在显微镜、光谱仪或照相机中，包括至少一个硅光电倍增管（SiPM），其由多个单光子雪崩二极管（SPADs）的阵列组成，该阵列的面积大于入射光的面积，其中仅仅激活和/或分析那些以特定最小强度的光入射其上的SPADs。采用该装置的方法。
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公开(公告)号：CN101911315B
公开(公告)日：2012-06-06
申请号：CN200880122825.3
申请日：2008-12-25
Applicant: 精工电子有限公司
CPC classification number: H01L27/14645 , G01J1/02 , G01J1/0488 , G01J1/18 , G01J1/4228 , G01J1/44 , H01L27/14621 , H04N5/37457
Abstract: 本发明提供小型且灵敏度良好的光检测装置。光检测装置(10)将光谱特性不同的光电二极管(1、2)的阴极端子设为开路端状态，根据在一定时间内蓄积在光电二极管(1、2)中的电荷的差分，检测期望的波长区域的光的强度。光电二极管(1、2)为电荷蓄积方式，因此，即使光电流很小，也能进行蓄积而得到在检测中需要的电荷，能够实现形成有光电二极管(1、2)的半导体装置的小型化/高检测能力化。另外，可根据光强来改变电荷的蓄积时间，能够实现很大的动态范围，并且，能够在差分检测时对差分检测中需要的要素进行间歇驱动来抑制功耗量，或者，通过对输出进行平均化，能够降低闪烁的影响。
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公开(公告)号：CN102203572A
公开(公告)日：2011-09-28
申请号：CN201080003100.X
申请日：2010-03-23
Applicant: 罗姆股份有限公司
CPC classification number: G01J1/4228 , G01J1/02 , G01J1/0228 , G01J1/18 , G01J1/32 , G01J1/4204 , G01J1/46 , H01L31/02019 , H03M1/124 , H03M1/14 , H03M1/60 , H04M2250/12 , H04W52/027
Abstract: 本发明提供一种照度传感器、使用该照度传感器的电子设备及半导体装置。在该照度传感器中，光电变换器(1)包括3个光传感器(PS)，各光传感器(PS)输出受光特性不同的2个光敏二极管(PDA、PDB)产生的光电流之差的电流。3个光传感器(PS)中的2个光敏二极管(PDA、PDB)的受光面积之比相互不同，3个光传感器(PS)的输出电流中的正电流之和不依赖于光源的种类，相对于一定的照度是一定的。运算控制部(7)基于3个光传感器(PS)的输出电流中的正电流之和求出照度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109581462A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811149476.6
申请日：2018-09-29
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 提供了一种用于验证辐射探测器的完整性的系统，所述系统包括一个或多个数据模块、一条或多条数据线以及控制器。所述一条或多条数据线将辐射探测器的一个或多个探测器元件电子连接至一个或多个数据模块。所述探测器元件中的每者可操作以探测电磁辐射。控制器可操作以在一个或多个探测器元件内感应电压，经由一个或多个数据模块获得来自一个或多个探测器元件的读数，以及至少部分地基于将读数与基准进行比较而判断辐射探测器的完整性是否受到了损害。
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公开(公告)号：CN104508462B
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201380041133.7
申请日：2013-05-16
Applicant: 奥林巴斯株式会社
Inventor： 山口光城
CPC classification number: G01J1/18 , G01B11/14 , G01N21/6458 , G01N2001/282 , G01N2035/0493 , G02B21/00 , G02B21/0048 , G02B21/0076 , G02B21/06 , G02B21/26 , G02B27/1006
Abstract: 本发明提供一种在使用用于扫描分子计数法、FCS、FIDA、PCH等光分析技术的共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统的光分析技术中能够在光强度测量前判定在光学系统中是否实现了预定的状态的技术。在本发明的测量来自配置在样本溶液中的光检测区域的光强度并进行光强度的分析的光分析技术中，根据一边使光检测区域相对于样本容器的位置移动一边由光检测器输出的信号强度的大小来执行判定处理，在该判定处理中，对光检测区域是否被配置在样本溶液中且是否能够执行来自光检测区域的光强度的测量和/或能够执行光强度的测量的上述光检测区域相对于样本容器的位置或该位置的范围进行判定。
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公开(公告)号：CN104718703B
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201380043913.5
申请日：2013-08-01
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor： 野村林太郎
CPC classification number: G01J1/18 , G01J1/44 , G01J2001/186 , G01J2001/444 , G01J2001/4466 , H03M1/1038 , H04B10/69
Abstract: 本发明的目的是，通过在光学模块中安装信号光的光接收功率监测器的校正装置，利用较少资源快速且精确地将光接收功率的测量值校正成实际值。校正装置配备有校正表，当校正信号光的光接收功率的测量值时参考校正表，并且在这个校正表中，基于多个参考值和多个实际值之间的对应关系，预先存储多个校正值。在校正表中，相比于其中实际值的变化相对于测量值的变化大的区间，对于其中实际值的变化相对于测量值的变化小的区间，来使得参考值之间的间隔更小并且存储更多的校正值。当指示信号光的光接收功率的测量值的输入值匹配校正表中的参考值时，校正装置从校正表读取与参考值对应的校正值。当输入值不匹配校正表中的参考值时，校正装置根据基于输入值的预定计算公式来计算校正值。
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公开(公告)号：CN102879088B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201210240807.3
申请日：2012-07-11
Applicant: 徕卡显微系统复合显微镜有限公司
CPC classification number: G01J3/027 , G01J1/0228 , G01J1/18 , G01J1/44 , G01J3/2803 , G01J3/36
Abstract: 用于探测光的装置，用在显微镜、光谱仪或照相机中，包括至少一个硅光电倍增管（SiPM），其由多个单光子雪崩二极管（SPADs）的阵列组成，该阵列的面积大于入射光的面积，其中仅仅激活和/或分析那些以特定最小强度的光入射其上的SPADs。采用该装置的方法。
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公开(公告)号：CN104008620B
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201410066156.X
申请日：2014-02-26
Applicant: 霍尼韦尔国际公司
IPC: G08B13/186
CPC classification number: G01J1/18 , G08B13/08 , G08B13/186
Abstract: 本发明涉及在位置检测器中使用光导管的装置和方法。一种位置检测器包括诸如红外光的辐射能的源。传感器与所述源间隔。所述源和所述传感器可以彼此间隔开地由外壳携带。由所述外壳所携带的控制电路被耦合到所述源和所述传感器。由所述源所发射的脉冲辐射能仅当被具有相对于所述外壳的预定定向的固体光学介质所传输时才入射在所述传感器上。当所述介质具有预定定向时，所述传感器从所述源接收所传输的辐射能。当所述介质从预定定向移开时，所述传感器停止从所述源接收所传输的辐射能并且所述控制电路能够生成警报指示器。
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