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公开(公告)号：CN106289545A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610757472.0
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 一种高分辨率飞秒激光脉冲宽度测量仪，包括沿光路依次放置的盘式可变倍率反射式衰减器、第一反射镜以及五五分光镜，该五五分光镜将入射光一分为二，一路透射光经过第二反射镜和第三反射镜组成的延迟器之后，再经过第四反射镜进入相关晶体；另一路反射光经过第五反射镜、第六反射镜、第七反射镜之后同样进入相关晶体，并将相关信号成像到探测器中，最后通过计算机处理相关信号，得到被测飞秒激光脉冲的宽度。本发明可以对被测脉冲进行自动衰减，从而保证相关晶体和探测器的安全以及测量结果的准确性；同时消除了由于入射光束发散度对测量结果的影响，非常方便地满足了超短飞秒激光系统中对飞秒激光脉冲宽度精确测量的需求。
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公开(公告)号：CN106017698A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610318478.8
申请日：2016-05-13
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 一种超短脉冲宽度测量装置及其测量方法，该装置包括CCD探测器、第一平面反射镜、第二平面反射镜、第三平面反射镜、第四平面反射镜、第五平面反射镜、第六平面反射镜、第一分束片、第二分束片、聚焦透镜和步进平台，本发明可对任意方向的入射的超短脉冲的宽度实时测量，具有光路调节简化、适用的光谱范围宽的特点。
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公开(公告)号：CN105865639A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610316543.3
申请日：2016-05-11
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于倾斜光纤光栅的传感系统，由底座，封装外壳，锁模激光器，光纤夹持器，倾斜光纤光栅，质量块，螺钉，夹具，色散元件，光电探测器，固定孔组成。由锁模激光器发出的激光入射到倾斜光纤光栅，再通过色散元件映射到光电探测器输出，由光电探测器输出啁啾微波波形；倾斜光纤光栅的倾斜角度不同，透射光谱也就改变，当透射谱波长涵盖了由锁模激光器发出的激光带宽范围，波长与频率成线性关系，再通过色散元件，波长与时间成映射关系，从而由光电探测器输出线性啁啾微波波形，通过测量倾斜光纤光栅的倾斜角度，得到啁啾微波波形，该发明体积小，损耗低，稳定性更好，并且有很高的集成能力，具有良好的应用前景。
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公开(公告)号：CN105737995A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201610176815.4
申请日：2016-03-25
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC classification number: G01J11/00 , G01J1/4257 , G01J3/28
Abstract: 本发明提供了一种基于积分球的高功率激光多参数测量装置，由缩束镜、积分球、光电管、能量计、光纤耦合器、示波器、光谱仪和计算机组成。其特点在于：大口径待测激光经缩束镜缩束，进入一个四开口积分球，在三个出光口分别测量出射光的光谱、能量、时间波形，通过简单的运算可以恢复待测激光的光谱参数、能量参数、时间波形参数。本发明可以消除能量计的面均匀性误差、提高测量精度，对待测激光入射方向的宽容度高、空间体积小、易于集成。
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公开(公告)号：CN105651399A
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201610028749.6
申请日：2016-01-15
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种时域相位恢复全光纤激光脉冲弱相位测量装置和测量方法，装置构成包括：沿待测激光脉冲输入方向是光纤分束器,该光纤分束器将待测激光脉冲分为强、弱两束光，沿强光束方向依次是可调光纤延时器、高速光纤相位调制器、色散光纤和示波器，沿弱光束方向依次是高速PIN光电管、任意波形发生器、电信号放大器，该电信号放大器的输出端接所述的高速光纤相位调制器的调制输入端。本发明利用全光纤结构对激光脉冲进行相位调制与色散传输，具有结构紧凑、简单灵活的特点，并且不同于其它激光脉冲相位测量方式，本发明可以测量具有弱相位的皮秒或者纳秒激光脉冲，适用于高重复频率以及低重复频率情况下。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105466577A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201610030465.0
申请日：2016-01-18
Applicant: 河南科技大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 基于光强分析的完美涡旋光束拓扑荷值的测量装置及方法，其涉及微粒光操纵和光学测试领域，包括一连续波激光器；所述连续波激光器发出光束的前进方向设有针孔滤波器，经针孔滤波器后的光束前进方向依次设有凸透镜Ⅰ、小孔光阑Ⅰ，起偏器和反射式空间光调制器，经反射式空间光调制器反射后产生的光束，其前进方向上依次设有检偏器、小孔光阑Ⅱ、凸透镜Ⅱ和CCD相机，通过相位补偿使空间光调制器中黑栅产生的衍射正负一级在CCD相机中干涉成像，其干涉条纹图像传输到计算机进行处理。本方案不需要对光进行分束，且省去外部干涉光学元件，简化了光路；实现整数阶涡旋光束拓扑荷值的测量；具有原理简洁、成本低廉、参数可实时在线调节且易于操作等优点。
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公开(公告)号：CN103733036B
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201280020289.2
申请日：2012-03-30
Applicant: 费姆托激光产品股份有限公司
Inventor： 格奥尔格·格哈德·保卢斯 , 马克斯韦尔·阿图尔·塞勒 , 蒂姆·拉特耶 , 马克斯·默勒 , 多米尼克·霍夫
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明的目标是能够对激光脉冲（包括多周期脉冲）进行特别是实时的快速CE相位评估。所述目标通过提供用于在相位上改变待评估的激光脉冲（7）的极化选通级（8）和用于测量所改变的激光脉冲的相位位置的随后的相位评估级（15）实现。本发明例如用在用于产生并监测单周期脉冲的激光技术中。
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公开(公告)号：CN104025398A
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201280038705.1
申请日：2012-08-01
Applicant: 相干公司
CPC classification number: H01S3/1301 , G01J11/00 , H01S3/0057 , H01S3/0085 , H01S3/1106 , H01S3/1305 , H01S3/1307 , H01S3/1312 , H01S3/136 , H01S3/2308
Abstract: 激光器(12)和放大器(42)的组合在预定脉冲重复频率PRF下传递光脉冲序列。干涉仪(54)产生代表具有与PRF对应的间隔的脉冲的载波包络相位(CEP)的信号。信号(56)包括从DC至PRF的频率分量。该信号(56)被分成高(64)和低频率(65)范围。高和低频率范围(64,65)被发送至单独的高频(64)和低频(60)控制电子装置，其分别驱动高频CEP控制器(36)和低频控制器(40)以稳定序列中的脉冲的CEP。
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公开(公告)号：CN1925369B
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN200610128083.8
申请日：2006-09-01
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 菊池信彦
IPC: H04B10/08
Abstract: 本发明提供一种可适用于相位调制信号或现有强度调制信号等所有的高速调制光信号的光电场波形的简易观测法。以高的时间倍率来精密测定光信号的电场波形。在分支激光光源(101)的输出光，用光调制器(108)调制一个输出光，由延迟线同量延迟另一输出光后，输入到相位分散电路(113)，构筑零差干涉仪。光输入采样示波器测试头(120-1)以图案同步信号(109)为基准，稳定化可变光移相器(110)，使特定时刻的光相位变为一定值，另一方面，光输入采样示波器测试头(120-2)取得光波形，重复实施平均化，CPU(122)三维显示去除噪声后的光电场波形。
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公开(公告)号：CN102426062A
公开(公告)日：2012-04-25
申请号：CN201110288183.8
申请日：2011-09-26
Applicant: 复旦大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明属于激光技术领域，具体为一种基于准位相匹配的激光脉冲高保真度信噪比单次测量装置。该装置主要由取样光产生单元、高保真度非共线和频互相关单元和高灵敏度信号接收单元三部分构成。发明提出一种特殊的晶体设计，将其引入信噪比单次测量装置，作为非线性互相关晶体，将两类由相关过程引入的假信号分别移至窗口之外和主脉冲之后，从而消除了假信号对测量结果的影响，实现了对脉冲前沿信噪比的保真单次测量，同时不会对测量装置其它参数产生显著影响。本装置可适用于多种波长的高功率激光的信噪比测量。
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