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公开(公告)号：CN101997054B
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201010267198.1
申请日：2010-08-24
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 夏秋和弘
IPC: H01L31/101
CPC classification number: G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/51 , G01J3/513 , H01L27/14621 , H01L27/14645
Abstract: 本发明提供一种半导体光电探测器元件和半导体装置，该半导体光电探测器元件的制造成本被降低且精度被提高。该半导体光电探测器元件包括：第一光电二极管，形成在P型硅基板中；第二光电二极管，形成在P型硅基板中并且具有与第一光电二极管相同的结构；由绿色滤色器形成在第一光电二极管上方的滤色器层；由黑色滤色器形成在第二光电二极管上方的滤色器层；以及运算电路部，将第二光电二极管的检测信号从第一光电二极管的检测信号减去。
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公开(公告)号：CN103207014A
公开(公告)日：2013-07-17
申请号：CN201310011928.5
申请日：2013-01-11
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 横田佳澄
IPC: G01J3/06
Abstract: 一种旋转驱动机构和具有该旋转驱动机构的光色散系统，该旋转驱动机构(1)可用于驱动具有高波长移动速度和高波长分辨力的光色散元件，包括：步进电动机(11)，用作旋转驱动源；更新信息设置器(12)，针对每次从外部输入的脉冲信号，设置与在输入信号表示的驱动时刻电动机应旋转的改变量对应的更新信息；位置信息更新器(13)，保存用于指定电动机旋转位置的位置信息，以及基于来自更新信息设置器的更新信息更新位置信息；绕组励磁状态确定器(14)，基于位置信息更新器提供的已更新的位置信息确定经过电动机绕组的电流量或电流比；以及驱动控制器(15)，基于来自绕组励磁状态确定器的控制信号控制电流，从而实现由绕组励磁状态确定器确定的各绕组的励磁状态。
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公开(公告)号：CN102818792A
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN201210109429.5
申请日：2012-04-13
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 小田龙太郎
CPC classification number: G01N21/31 , G01J3/0208 , G01J3/0216 , G01J3/024 , G01J3/027 , G01J3/06 , G01J3/18 , G01J3/4406 , G01J2003/2869 , G01N21/274 , G01N21/64 , G01N2021/6417
Abstract: 本发明提供一种光谱测量装置，包括：数据存储器，用于存储第一和第二荧光光谱，第一荧光光谱是通过使用不包含目标组分的溶剂作为上述试样而得到的，第二荧光光谱是通过使用包含目标组分的溶剂作为上述试样而得到的，第一和第二荧光光谱中的每一个都是通过在预定的波长范围内改变激发波长得到的；最佳波长确定器，用于根据第一和第二荧光光谱计算目标组分在各波长上的荧光强度的值，根据第一荧光光谱计算各波长上因溶剂引起的噪声量的估计值，以及根据目标组分的荧光强度的值和噪声量的估计值确定在各波长上的灵敏度指数。
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公开(公告)号：CN102639977A
公开(公告)日：2012-08-15
申请号：CN201080052872.2
申请日：2010-10-08
Applicant: 国家技术研究中心VTT , 奥卢大学
CPC classification number: G01N21/65 , G01J3/02 , G01J3/027 , G01J3/2803 , G01J3/44
Abstract: 喇曼辐射的测量。一种包括多个检测元件和一加法器的设备。每一检测元件接收和检测响应被引向该物体的至少一个光激励脉冲所形成的喇曼辐射谱的不同波段。该检测元件和/或加法器，接收在检测元件中启动检测结果的登记的命令以及在喇曼辐射期间或其后禁止登记的命令。该加法器分别登记在至少两个检测元件中喇曼辐射的检测结果，以便根据该检测结果，给出关于物体的数据。
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公开(公告)号：CN102540311A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110406763.2
申请日：2011-12-08
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 一种可变波长干涉滤波器、光模块以及光分析装置。该可变波长干涉滤波器具备：第一电极，其设在第一基板上；第二电极，其设在具有可动部的第二基板上，并与第一电极对置；第一电极线，其被设置成从第一电极向第一基板的外周边缘延伸出；第二电极线，其被设置成从第二电极向第二基板的外周边缘延伸出；第一对置电极线，其被设置成与第一电极线相对且与第二电极绝缘；以及第一导通部，其导通第一电极线和第一对置电极线，其中，第二电极线和第一对置电极线在从第二基板的厚度方向看的俯视图中，被形成为沿通过以可动部的中心点为中心的假想圆的中心点、并以等角度间隔分割假想圆的方向延伸出。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101308092B
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN200710196592.9
申请日：2007-12-05
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 军司昌秀
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01J3/4406 , G01J3/02 , G01J3/027 , G01J3/28
Abstract: 本发明可补偿光源发光强度的波动。本发明可利用第1分光部(12、13)将光源发出的光进行分光后，将具有特定的波长(λEx)的激发光入射到样品元件15。利用第2分光部(16、17)将来自样品元件部的光进行分光，并利用荧光检测部18来测定荧光强度(IEm)。另一方面，参照光检测部19检测未经第1分光部选择的光的特定的波长(λR)，将由所述参照光检测部检测出的光强度的输出储存于光谱数据储存部21中。根据光谱数据的激发光波长、参照光波长、参照光强度，算出激发光强度(IEx)。依据经测定的荧光强度(IEm)、经算出的激发光强度(IEx)，求得荧光分光光度计的输出。
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公开(公告)号：CN101997054A
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN201010267198.1
申请日：2010-08-24
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 夏秋和弘
IPC: H01L31/101
CPC classification number: G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/51 , G01J3/513 , H01L27/14621 , H01L27/14645
Abstract: 本发明提供一种半导体光电探测器元件和半导体装置，该半导体光电探测器元件的制造成本被降低且精度被提高。该半导体光电探测器元件包括：第一光电二极管，形成在P型硅基板中；第二光电二极管，形成在P型硅基板中并且具有与第一光电二极管相同的结构；由绿色滤色器形成在第一光电二极管上方的滤色器层；由黑色滤色器形成在第二光电二极管上方的滤色器层；以及运算电路部，将第二光电二极管的检测信号从第一光电二极管的检测信号减去。
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公开(公告)号：CN101614667A
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200810115790.2
申请日：2008-06-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01J3/44 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0291 , G01J3/28 , G01N21/65 , Y10S707/99933
Abstract: 本发明涉及一种拉曼光谱系统。该拉曼光谱系统包括检测中心，该检测中心包括至少一个光源，用于输出激发被检物产生拉曼散射光的激发光；分析装置，用于获得被检物的拉曼光谱。拉曼光谱系统还包括至少一个检测终端，每个检测终端包括至少一个拉曼探头，所述每个拉曼探头将激发光引导至被检物，并将被检物产生的拉曼散射光传送回检测中心。本发明还涉及一种测量拉曼光谱的方法。
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公开(公告)号：CN101393117A
公开(公告)日：2009-03-25
申请号：CN200810161703.7
申请日：2008-09-22
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 湊浩之
Abstract: 提供了一种能够在以旋转方式驱动波长色散元件时尽可能减小摆动影响并能够提高分析精度的分光光度计。当从荧光检测器获得荧光信号时，中央控制单元以采样间隔T1对荧光信号进行A/D转换，以进行摆动收敛判定，并向数据处理器提供结果数据(S1)。在执行摆动收敛判定(S2)时，数据处理器对所获得的数据信号执行预定信号处理(S3)，并判断已获得的最新数据之前给定时段内全部数据是否均等于或小于一指定值(S4)。如果全部数据都等于或小于所述指定值，就判定衍射光栅的摆动收敛，并终止摆动收敛判定操作。此后，中央控制单元将A/D转换的采样间隔变为间隔T2，以获取分析数据，并执行荧光分光光度测量。
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公开(公告)号：CN1659424A
公开(公告)日：2005-08-24
申请号：CN03810389.3
申请日：2003-03-06
Applicant: 埃斯柏克特瑞克斯公司
Inventor： 托马斯·W.·哈格勒
IPC: G01J3/04
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/0229 , G01J3/027 , G01J3/0289 , G01J3/06 , G01J3/1804 , G01J3/2846 , G01J3/42 , G01J2001/4242 , G01J2003/1217
Abstract: 使用分析器和编码器分析辐射的装置和方法，该分析器和编码器采用了按波长分散或沿直线成像的辐射的空间调制。
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