公开(公告)号：CN1689134B

公开(公告)日：2010-04-28

申请号：CN03821954.9

申请日：2003-04-29

Applicant: 力可公司

Inventor： 阿纳托利·N.·韦伦奇克沃

IPC: H01J49/40

CPC classification number: H01J49/406 ,  H01J49/004

Abstract: 为了提供综合(即快速和灵敏)的MS-MS分析，发明人采用使用两个飞行时间(TOF)质谱仪的时间嵌套分离。母离子在工作于低离子能(1至100eV)下的慢速和较长TOF1中被分离，碎片离子在工作于高得多的keV能量下的快速和较短TOF2中被质量分析。TOF1和TOF2之间的低能分裂单元被设计为主要通过缩短单元和利用较高的气压，来加速分裂和阻尼步骤。由于TOF1中的分离需要毫秒时间，TOF2中的质量分析需要微秒时间，所以本发明提供了在每单个离子脉冲进行多个前体离子的综合MS-MS分析。利用引入新颖的TOF1分析器，TOF1中的慢速分离变得可能。TOF-TOF可利用静态TOF1来实施，这里与旋束管、具有筛空间聚焦离子镜的平面和圆柱形多路分离器相关地描述了静态TOF1。利用新颖的混合TOF1分析器，其组合了射频(RF)和二次DC场，可期望更佳性能。RF场在TOF1分析器之内保持低能离子，同时二次DC场通过补偿相对大的能量扩展度来改善分辨率。

公开(公告)号：CN107833823A

公开(公告)日：2018-03-23

申请号：CN201711141044.6

申请日：2006-10-11

Applicant: 莱克公司

Inventor： A·N·沃恩特奇科夫 ,  M·I·雅格 ,  Y·卡·辛

IPC: H01J49/40

CPC classification number: H01J49/401 ,  H01J49/406

Abstract: 本发明公开了一种具有正交加速的多次反射飞行时间质谱仪(MR-TOF MS)(11)，包括一对无网格离子镜(12)、漂移空间(13)、正交离子加速器(14)、可任选的偏转器(15)、离子检测器(16)、周期透镜组(17)、以及边缘偏转器(18)。为提高MR-TOF MS中的由长飞行限定的低重复率的离子注入的占空比，可进行多路测量。输入的离子束和加速器可以基本取向为穿过MR-TOF中的离子路径，同时通过倾斜加速器以及使离子束转向相同角度对离子束的初始速度进行补偿。可通过离子导向器对轴向离子速度进行调制来对离子束进行时间压缩。可通过将离子束捕获在静电阱中来提高离子在加速器中的驻留时间。在加速器中具有延长驻留时间的设备对灵敏度和分辨率均进行了提高。

公开(公告)号：CN103907171B

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201280053166.9

申请日：2012-10-29

Applicant: 莱克公司

Inventor： A·N·维伦切科夫 ,  M·I·亚沃尔 ,  T·V·波莫佐夫

IPC: H01J49/40

CPC classification number: H01J49/061 ,  H01J49/282 ,  H01J49/405 ,  H01J49/406

Abstract: 本公开涉及静电离子镜。公开一种提供五阶时间每能量聚焦的静电离子镜。改进的离子镜具有在分辨力高于100,000情况下高达18％的能量接受度。公开多组离子镜参数(电极的形状、长度及电压)。利用从至少三个电极进入离子转折区域的提高的(高于10％)电势穿透形成高等时场。通过具有吸引电势的电极的伸长或通过增加具有吸引电势的第二电极来进一步改进这种镜的交叉项空间‑能量飞行时间像差。

公开(公告)号：CN104781905B

公开(公告)日：2017-03-15

申请号：CN201380058419.6

申请日：2013-11-08

Applicant: 莱克公司

Inventor： A·N·维尔恩驰寇韦

IPC: H01J49/26

CPC classification number: H01J49/406 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/405 ,  H01J2237/121

Abstract: 本发明公开了一种通过设置圆筒型分析器提高多次反射式TOF质谱仪(MR-TOF)的分辨率和占空比的方法和装置，该圆筒型分析器具有适当的径向偏转装置，用于限制离子切向发散度的装置，以及提供小于1mm*deg的离子包发散度的脉冲源。还公开了用于五阶聚焦圆筒型离子反射镜的实施例。不同的实施例提供了单个圆筒型MR-TOF中的并行级联MS-MS。

公开(公告)号：CN105051530A

公开(公告)日：2015-11-11

申请号：CN201480013910.1

申请日：2014-03-14

Applicant: 莱克公司

Inventor： A·N·维尔恩驰寇韦

IPC: G01N30/88

CPC classification number: H01J49/0045 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/406

Abstract: 公开了一种数据独立MS-MS分析的方法。该方法包括：在第一母粒子选择质谱仪(MS1)中以宽(至少10amu)母粒子质量窗口的小阶梯改变或以阶梯方式变化，通过轴向气流或通过轴向DC场或通过行进RF波，安排通过碰撞室的快速离子转移，频繁地利用一串时间编码脉冲驱动正交加速器，在多反射时间飞行质谱仪中分析碎片离子，以数据记录格式获取数据，并且对与母粒子质量的整个扫描对应的信号串进行解码，从而基于碎片和母粒子质量之间的时间关联形成碎片谱。尽管在第一MS中使用宽得多的质量窗口，但预期频繁驱动以恢复具有大约1Th的准确性的母粒子和碎片时间关联。

公开(公告)号：CN102449728B

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201080023528.0

申请日：2010-05-27

Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

Inventor： 亚历山大·马卡洛夫 ,  阿娜斯塔赛奥斯·吉安娜卡欧普勒斯

IPC: H01J49/40 ,  H01J49/36

CPC classification number: H01J49/40 ,  H01J49/406 ,  H01J49/4245

Abstract: 在此提供了飞行时间质谱测定法的多种方法及分析仪。一种分离带电粒子的方法，包括以下步骤：提供一个分析仪，该分析仪包括两个相对的反射镜，每个反射镜包括沿一个轴线z伸长的、内部和外部的限定场的电极系统，该外部系统围绕该内部系统并且在其间限定一个分析仪体积，这些反射镜在该分析仪体积内产生一个电场，该电场包括沿z的多个相对电场，该电场沿z的场强在一个z＝0平面处是一个最小值；致使一束带电粒子飞过该分析仪、在该分析仪体积内绕z轴线做轨道运行、从一个反射镜到另一个反射镜进行至少一次反射，由此在一个反射镜内限定一个最大转折点；该电场沿z的场强在该最大转折点处是X，并且在该平面z＝0与每个反射镜内的最大转折点之间沿z的距离的占不大于2/3的部分上，该电场沿z的绝对场强小于|X|/2；根据这些带电粒子的飞行时间将其分离；并且将这些具有多个m/z的带电粒子中的至少一些粒子从该分析仪中喷射出来或者对这些具有多个m/z的带电粒子中的至少一些粒子进行检测，该喷射或检测是在这些粒子已经经历了相同数目的围绕轴线z的轨道之后进行的。

公开(公告)号：CN102449729B

公开(公告)日：2015-07-08

申请号：CN201080023647.6

申请日：2010-05-27

Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

Inventor： 亚历山大·马卡洛夫 ,  阿娜斯塔赛奥斯·吉安娜卡欧普勒斯

IPC: H01J49/40 ,  H01J49/36

CPC classification number: H01J49/40 ,  H01J49/406 ,  H01J49/4245

Abstract: 提供了一种使用分析仪将带电粒子分离的方法，该方法包括：致使一个带电粒子束飞行穿过该分析仪、并且在沿一个主飞行路径围绕一个分析仪轴线(z)做轨道运行的同时在该分析仪体积内在该轴线(z)方向上经历至少一个全振荡；限制该射束在飞行通过该分析仪时的圆弧散度；并且根据这些带电粒子的飞行时间将其分离。还提供了一种用于实施该方法的分析仪。优选使用至少一个圆弧聚焦透镜来限制散度，该圆弧聚焦透镜可以包括位于射束的两侧上的一对相对的电极。可以使用多个基本上位于相同z坐标处的圆弧聚焦透镜的一个阵列，该阵列中的这些圆弧聚焦透镜在该圆弧方向上间隔开并且该阵列至少部分地围绕z轴线延伸，由此在该射束飞行通过该分析仪时对它的圆弧散度进行多次限制。

公开(公告)号：CN103635988A

公开(公告)日：2014-03-12

申请号：CN201280033278.8

申请日：2012-06-19

Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

Inventor： A·詹纳考普洛斯

IPC: H01J49/00 ,  H01J49/40

CPC classification number: H01J49/0031 ,  H01J49/164 ,  H01J49/406 ,  H01J49/408

Abstract: 披露了一种多反射飞行时间（MRTOF）质谱仪（12）以及用于识别样品的方法。在一个离子源（15）处产生样品离子。该MRTOF是在一个反射轴（XX′）上具有相对的第一和第二离子镜（20，20′）的一个闭合镜安排。该MRTOF（12）还包括在该轴（XX′）上的一个双向离子偏转器（50）。该偏转器（50）在时间t0时将离子作为一个短脉冲偏转到该反射轴上，在其中它们振荡多次，根据离子m/z在飞行时间中进行分离。在一个稍后的时间t，将以沿该轴（XX′）在两个方向上行进的离子通过该双向偏转器（50）喷射出该MRTOF（12）至一个离子检测器安排（55）。飞行时间中的离子分离允许由该检测器安排（55）产生一个生物样品的“指纹”，而无需给每个峰指定一个质量。与一个指纹的库的比较允许进行识别。

公开(公告)号：CN102884608A

公开(公告)日：2013-01-16

申请号：CN201080063985.2

申请日：2010-11-24

Applicant: 莱克公司

Inventor： A·沃伦奇科夫

IPC: H01J49/48 ,  H01J49/46 ,  H01J49/42

CPC classification number: H01J49/282 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/0036 ,  H01J49/062 ,  H01J49/40 ,  H01J49/401 ,  H01J49/406 ,  H01J49/4245

Abstract: 本公开涉及离子阱质谱仪。提供用于测量多个等时离子振荡的频率的静电阱质谱仪的装置41和操作方法。为了改进吞吐量和空间电荷容量，所述阱基本上在一个Z方向上延伸，形成再现的两维场。为阱Z延伸提供了多种几何结构。分析的吞吐量通过对静电阱进行复用来改进。频率分析通过下述方式来加速，即，缩短离子包，并且对镜像电流信号进行小波拟合分析、或者使用用于对每次振荡的离子的小部分进行采样的飞行时间检测器。为了对静电阱中的离子注入进行最优化，建议多个脉冲式转换器。

公开(公告)号：CN101627455A

公开(公告)日：2010-01-13

申请号：CN200780039136.1

申请日：2007-10-17

Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

Inventor： A·A·马卡洛夫

IPC: H01J49/00 ,  H01J49/40

CPC classification number: H01J49/406 ,  H01J49/004 ,  H01J49/025 ,  H01J49/061 ,  H01J49/408

Abstract: 公开了一种质谱仪和质谱测量方法，其中束中的带电粒子经受多次变向。检测装置检测带电粒子束的第一部分，并基于带电粒子束的被检测的第一部分的强度提供第一输出。检测装置检测带电粒子束的第二部分并基于带电粒子束的被检测的第二部分提供第二输出，其中带电粒子束的第二部分比带电粒子束的第一部分行进更长的通过质谱仪的路径长度。控制器基于检测装置的第一输出调节带电粒子束和/或检测装置的参数，以便调节检测装置的第二输出。