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公开(公告)号：CN107768230A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201711050765.6
申请日：2017-10-31
Applicant: 天津大学
CPC classification number: H01J49/10 , H01J49/061
Abstract: 本发明提供了一种二阶质子转移反应离子源装置及其使用方法，包括漂移管，其前端设有电离源区，漂移管内腔靠近电离源区的部分设有一阶质子转移反应区，一阶质子转移反应区的后侧与带偏转结构腔体的左侧进样口相连，带偏转结构腔体的下侧设有二阶质子转移反应区；一阶质子转移反应区的前侧设有伸入漂移管内腔的第一引入管，带偏转结构的腔体上侧设有分子泵；偏转结构的主体是由四个偏转电极组成，二阶质子转移反应区的上侧设有伸入漂移管内腔的第二引入管。本发明所述的用于二阶质子转移反应的带偏转的离子源装置及其使用方法，使得质子转移反应具有选择性，可以排除一些干扰离子的影响，并有效地区分同分异构化合物。
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公开(公告)号：CN105637613B
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201480057061.X
申请日：2014-10-07
Applicant: DH科技发展私人贸易有限公司
Inventor： 尼克·G·布鲁姆菲尔德 , 弗兰克·隆德里
IPC: H01J49/26
CPC classification number: H01J49/0036 , H01J49/0027 , H01J49/004 , H01J49/061 , H01J49/40 , H01J49/4215 , H01J49/427
Abstract: 使对每一种前驱体离子具有恒定前驱体离子传输速率的传输窗跨质量范围步进，从而跨所述质量范围产生一系列重叠传输窗。将每一步长处产生的所述前驱体分段。分析所得产物离子，从而针对所述传输窗的每一步长产生产物离子谱且针对所述质量范围产生多个产物离子谱。对于所述多个产物离子谱中的至少一个产物离子，计算描述当使所述传输窗跨所述质量范围步进时来自所述多个产物离子谱的所述至少一个产物离子的强度如何随着前驱体离子质量变化的函数。根据所述函数识别所述至少一个产物离子的前驱体离子。还可根据所述函数确定洗脱图。
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公开(公告)号：CN104126116B
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201380010226.3
申请日：2013-02-14
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Inventor： A·马卡洛夫
IPC: G01N27/62
CPC classification number: G01N27/622 , H01J49/0031 , H01J49/004 , H01J49/061 , H01J49/063 , H01J49/24
Abstract: 一种用于离子迁移谱的方法，包括：(i)向一个漂移空间中引入一个离子包；(ii)使这些离子穿过该漂移空间，其中这些离子根据其离子迁移率分离；并且(iii)将已穿过该漂移空间的这些离子反射或偏转回到该漂移空间中，其中这些离子可以根据其离子迁移率进一步分离，其中该反射或偏转发生在处于低于该漂移空间的压力下的一个区域中。该漂移空间可以重复使用多次，以延长分离路径长度。可以实现离子分离的高分辨率。该方法可以使得在具有不同分辨率和分离速度的模式之间能够切换。具有低压的这些区域优选允许惯性离子运动，其中离子与气体的碰撞之间的平均自由程比在离子迁移分离阶段中显著更长。该低压反射或偏转区域使得能够提供离子的飞行时间聚焦，而在其中不发生离子迁移分离。
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公开(公告)号：CN107045970A
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201710181320.5
申请日：2017-03-24
Applicant: 西南交通大学
CPC classification number: H01J49/061 , H01J49/426
Abstract: 本发明针对现有技术电子枪发射电流密度低和寿命短的问题公开了一种二次电子倍增阴极电子枪，包括阴极杆、阳极筒和聚焦磁场产生装置。所述阴极杆由位于同一轴线上的圆柱形金属导体、圆台形金属导体、场致发射端头以及介质端头组成；所述阳极筒由位于同一轴线上依次相连的金属大圆筒、空心金属圆台和金属小圆筒组成；所述阳极筒与阴极杆共轴，所述阴极杆位于阳极筒内，所述介质端头朝向金属小圆筒这边；所述聚焦磁场产生装置包裹在阳极筒外部，用于产生磁场。本发明将场致发射和二次电子倍增发射方式结合起来，在阴极表面上实现单边二次电子倍增。本发明具有工作寿命长和稳定性高的特点，非常适合用于各类大功率微波源中，作为强流电子束的发射源。
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公开(公告)号：CN104040681B
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201280065644.8
申请日：2012-03-06
Applicant: 盛达欧米科有限公司
Inventor： 比约恩·万贝里
IPC: H01J49/48 , G01N23/227 , H01J37/05 , H01J49/00
CPC classification number: H01J49/48 , G01N23/2273 , G01N2223/085 , H01J37/05 , H01J49/0031 , H01J49/06 , H01J49/061 , H01J49/484 , H01J2237/0535
Abstract: 本发明涉及一种用于确定与从粒子发出样本(11)发出的带电粒子相关的至少一个参数的方法，例如，涉及粒子的能量、起始方向、起始位置或转速的参数。该方法包括以下步骤：通过透镜系统(13)，将带电粒子束引导至测量区域的入口中，并检测粒子在测量区域内的位置，其表示所述至少一个参数。此外，该方法包括以下步骤：在粒子束进入测量区域之前，使粒子束在相同的坐标方向上至少偏转两次。从而，能以这样的方式控制粒子束在测量区域(3)的入口(8)处的位置和方向，使得，一定程度上消除对样本(11)的物理操纵的需求。接着，这允许有效地冷却样本，使得能改进能量测量中的能量分辨率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104508475A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201380040768.5
申请日：2013-05-02
Applicant: 莱克公司
Inventor： A·N·维尔恩驰寇韦
IPC: G01N27/62
CPC classification number: G01N27/622 , H01J49/00 , H01J49/06 , H01J49/061 , H01J49/40
Abstract: 公开一种用于通过利用基于与切换DC场相对的局部RF场屏障的快速并且空间宽阔的离子门，改善离子迁移率谱测定的方法和设备。另一方面，通过布置后面是锥形同轴离子通道的同轴迁移单元，改善离子迁移率分离器的速度和电荷吞吐量。所述改善加速离子迁移率分析，并且改善IMS的电荷吞吐量和动态范围。本发明特别适合于快速双级气相色谱法，快速CE。最好，被加速并且大口径IMS耦接到具有快速编码正交加速的多反射飞行时间质谱仪。具有快速脉动MR-TOF的IMS的速度和灵敏度使在多个分析维度中，布置综合并且正交分离的分析方法变得可行。
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公开(公告)号：CN103875057A
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201280049341.7
申请日：2012-10-10
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 岩崎光太
IPC: H01J49/06 , H01J37/252 , H01J49/10 , H01J49/40
CPC classification number: H01J49/061 , G01N23/2258 , H01J49/0004 , H01J49/0031 , H01J49/142 , H01J49/40
Abstract: 为了在质谱分析中解决由于落在一次射束的阴影下的凸凹表面的阴影部分导致的发射离子的分布与测量对象表面上的物质分布相互不同的问题，本装置的一次离子光学系统（12）包括被配置为以一次离子在飞行的过程中与二次离子的飞行空间相交的方式偏转一次离子的偏转单元（7）。
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公开(公告)号：CN103650099A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201280030981.3
申请日：2012-06-19
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Inventor： A·马卡洛夫
CPC classification number: H01J49/0081 , H01J49/0031 , H01J49/004 , H01J49/0063 , H01J49/0422 , H01J49/061 , H01J49/40
Abstract: 描述了一种串联质谱仪和方法。在一个离子源（10）中产生前体离子并且一个离子注入器（21，23）经由一个单或多反射TOF装置（30）向一个下游离子导向器（50，60）注入离子，该单或多反射TOF装置该将离子根据它们的m/z分离为多个包。控制在离子注入器（21，23）与离子导向器（50，60）之间的前体离子的路径中的一个单通离子门（40），以使得只允许含有感兴趣的前体离子的前体离子包的一个子集继续传输至离子导向器（50，60）。提供一个高分辨率质谱仪（70）用于分析被允许穿过离子门（40）的那些离子，或者它们的碎片。该技术允许从宽质量范围的前体中选择多个m/z范围，任选地对这些所选择的离子种类中的一个或多个进行碎裂。
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公开(公告)号：CN103597574A
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201280027496.0
申请日：2012-04-20
Applicant: 英国质谱公司
Inventor： 斯特万·巴伊奇
CPC classification number: H01J49/10 , G01N27/624 , G01N30/724 , H01J49/0445 , H01J49/0468 , H01J49/061 , H01J49/14 , H01J49/16 , H01J49/24 , H01J49/26
Abstract: 本发明提供一种离子源，离子源包括雾化器1和靶材10。雾化器1布置成并适合于在使用中发射分析物微滴流，分析物微滴被引起撞击在靶材10上并且使分析物电离以形成多个分析物离子。
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公开(公告)号：CN103460330A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201280005990.7
申请日：2012-01-20
Applicant: 史密斯探测-沃特福特有限公司
Inventor： J·R·阿特金森
CPC classification number: H01J49/06 , G01N27/622 , H01J49/061
Abstract: 一种检测设备，包括离子化区域、包含两个电极的离子门、包含两个电极的离子改变器、漂移腔和集电极。所述离子门和所述离子改变器被结合在一起，以使所述离子门是所述离子改变器的电极中的一者。
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