公开(公告)号：CN106248615B

公开(公告)日：2019-04-23

申请号：CN201510299847.9

申请日：2015-06-05

Applicant: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

Inventor： 秦华 ,  郑中信 ,  孙建东 ,  张志鹏

IPC: G01N21/3581 ,  G01J4/04

Abstract: 本发明公开一种太赫兹波检偏器，其包括：总漏极、总电子沟道、若干太赫兹波探测器；所述总漏极位于所述总电子沟道之上；所述若干太赫兹波探测器间隔排列在所述总电子沟道上，且所述太赫兹波探测器与所述总电子沟道连通。本发明通过利用自混频太赫兹波探测器的太赫兹天线的极化探测特性，通过利用一组太赫兹波探测器的组合来实现太赫兹波偏振特性的快速检测，从而通过利用自混频太赫兹波探测器高速、高灵敏度和低噪音的优异特性实现太赫兹波偏振特性的超快检测。

公开(公告)号：CN109297602A

公开(公告)日：2019-02-01

申请号：CN201811264232.2

申请日：2018-10-29

Applicant: 中山科立特光电科技有限公司

Inventor： 不公告发明人

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明涉及一种基于霍尔效应的圆偏振光检测模块，包括基底层，形成在所述基底层上的金属层，以及形成在所述金属层的至少部分上方的石墨烯层；所述金属层的左右设置有电极，金属层的前后两侧垂直于电流方向设置有磁场；所述金属层包括金属片层和金属结构层，所述金属结构层和石墨烯层的组合结构为水平方向周期排列的手性结构。不同偏振的圆偏振光入射到该模块表面时，激发出的表面等离激元光场叠加产生了具有不同拓扑荷的涡旋光场，导致金属层中的载流子浓度和迁移速率不同，从而使该结构的霍尔电势对不同圆偏振光有不同的数值。通过对电势大小的检测，来反映圆偏振光的偏振特性。

公开(公告)号：CN108088564A

公开(公告)日：2018-05-29

申请号：CN201711350438.2

申请日：2017-12-15

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 金鹏 ,  朱帅帅 ,  林杰 ,  张宇

IPC: G01J4/04 ,  G01J4/00 ,  G01N21/21

CPC classification number: G01J4/04 ,  G01J4/00 ,  G01J2004/005 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明提出一种快照式光场-偏振成像仪及成像方法，其结构为：沿光线方向依次设置的物镜、视场光阑、准直镜、微透镜阵列一、波片阵列、偏振片阵列、微透镜阵列二以及光电探测器及信号处理部件；目标物的光线经过物镜汇聚到视场光阑上，经过准直镜准直达到微透镜阵列一；再经过波片阵列和偏振片阵列并在微透镜阵列一的后焦面上生成一系列子图像；所述子图像经过微透镜阵列二成像到光电探测器及信号处理部件上。在成像方法上，在不同波长的子区域内分别做目标物的图像以及深度重建，并计算其偏振；本发明可以在探测器一次积分时间内获取目标物的图像、偏振以及深度四维信息；同时，通过平均所有波段的目标物深度，可以大幅提高目标物深度的精度。

公开(公告)号：CN106989822B

公开(公告)日：2018-04-06

申请号：CN201710216330.8

申请日：2017-04-05

Applicant: 长春理工大学

Inventor： 刘智颖 ,  朱启凡 ,  付跃刚 ,  丁秋伟

IPC: G01J4/04

Abstract: 仿虾蛄眼谱段可选偏振态探测装置与方法属于目标的光学探测技术领域。现有技术获得的仅仅是偏振度图像信息，并未获得偏振态信息。本发明之探测装置由成像物镜、偏振通道、光电探测器各4个以相同排布方式，并以以下4种形式依次构成45°、‑45°、0°、90°偏振态探测通道：成像物镜、45°偏振片、光电探测器依次同轴排列；成像物镜、‑45°偏振片、光电探测器依次同轴排列；成像物镜、45°1/4波片、0°偏振片、光电探测器依次同轴排列；成像物镜、45°1/4波片、90°偏振片、光电探测器依次同轴排列。本发明之探测方法由可切换滤光片组确定探测谱段λi，根据45°、‑45°、0°、90°偏振态探测通道探测到的目标光强I1、I2、I3、I4判断目标光的偏振态，包括左旋圆偏振、右旋圆偏振、线偏振和椭圆偏振。

公开(公告)号：CN105300524B

公开(公告)日：2018-04-03

申请号：CN201510121772.5

申请日：2015-03-19

Applicant: 优志旺电机株式会社

Inventor： 吉田启二

IPC: G01J4/04 ,  G01N21/21 ,  G01N21/01

Abstract: 一种偏振轴检测器、偏振测定装置、偏振测定方法和偏振光照射装置，在来自光源的光存在随时间的照度变动时，仍能高精度检测偏振光的偏振轴。偏振轴检测器具备：第一偏振光检测部(311)，具有用于检测偏振轴的可旋转的检测用偏振器(311a)和检测通过了检测用偏振器(311a)的来自光源的偏振光的照度信息的第一照度传感器(311b)；以及第二偏振光检测部(312)，与第一偏振光检测部(311)并列设置，具有直接检测来自光源的偏振光的照度信息的第二照度传感器(312a)。偏振测定装置根据第一偏振光检测部(311)检测到的照度信息和第二偏振光检测部(312)检测到的照度信息来运算来自光源的偏振光的偏振特性。

公开(公告)号：CN107024278A

公开(公告)日：2017-08-08

申请号：CN201710287025.8

申请日：2017-04-27

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 全伟 ,  刘峰 ,  段利红 ,  房建成 ,  姜丽伟 ,  范文峰 ,  任丹阳

IPC: G01J4/04

CPC classification number: G01J4/04

Abstract: 本发明公开了一种在线消除光弹调制微小光旋角检测中偏振器件安装误差的装置及方法，利用设计的光路结构及偏振检测输出特性精确优化偏振器件的光轴位置，该方法涉及激光器、起偏器、光弹调制器、待测样品、四分之一波片和检偏器等光学器件以及光电探测器、锁相放大器和信号采集与处理系统等测量仪器。首先根据起偏器与检偏器透光轴正交消光的特性，确定检偏器的初始偏振轴位置；然后根据系统输出信号的误差特性，精确优化检偏器、光弹调制器的光轴位置，最终确定光弹调制器与起偏器及检偏器的相对角度。利用本方法，可在线高精度消除因器件安装偏差引入待测信号中的偏振及相位误差，提高检测系统信噪比，实现高精度微小光旋角的偏振检测。

公开(公告)号：CN104932112A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201510364569.0

申请日：2015-06-26

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 瞿荣辉 ,  徐丹 ,  杨飞 ,  卢斌 ,  陈迪俊 ,  蔡海文

IPC: G02B27/28 ,  G02B27/00 ,  G01J4/04 ,  G01J9/02

CPC classification number: G02B27/28 ,  G01J4/04 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0261 ,  G01J2009/0284 ,  G02B27/0012

Abstract: 一种实时光场重构结构，包括偏振分束器、第一耦合器、第二耦合器、基于3×3耦合器的第一迈克尔逊干涉仪和第二迈克尔逊干涉仪、第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、第四光电探测器、第五光电探测器、第六光电探测器、第七光电探测器、第八光电探测器、数据采集卡以及计算机。本发明能同时解调出待测激光的振幅、相位以及偏振态，并且根据解调出的信号对光场矢量进行重构，不需要额外的控制手段，对待测激光没有任何限制，提高了光场重构的完整性、实时性和可靠性。

公开(公告)号：CN103403528B

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201280010861.7

申请日：2012-02-28

Applicant: 国立大学法人香川大学

Inventor： 石丸伊知郎

IPC: G01N21/23 ,  G01J4/04 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01N21/23 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/453 ,  G01J3/4535

Abstract: 经由偏振器到达试样(S)的直线偏振光通过试样(S)附加延迟之后，经由第一偏振片(9)和第二偏振片(11)到达移相器(13)的可移动镜部(131)和固定镜部(132)。而且，由这些镜部反射的测量光经由检偏振器(15)通过成像透镜(17)在检测器(19)的受光面形成干涉图像。此时，通过移动可移动镜部(131)来使由该可移动镜部(131)反射的光束与由固定镜部(132)反射的光束之间的光路长度差连续地发生变化，因此由检测器(19)检测的干涉图像的成像强度连续地发生变化，从而能够获取类似于干涉图的合成波形。通过对此进行傅里叶变换，能够得到每个波长的振幅和每个波长的双折射相位差。

公开(公告)号：CN103308175B

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201310250980.6

申请日：2013-06-21

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 曾爱军 ,  刘龙海 ,  邓柏寒 ,  朱玲琳 ,  黄惠杰

IPC: G01J4/04

Abstract: 一种线性双折射测量装置与方法，该装置包括光源模块和测量模块，光源模块由准直光源、起偏器、光弹调制器、光弹控制器和一维光栅组成，测量模块由两个检偏器、两个光电探测器、两个锁相放大器和计算机组成。本发明光源模块和测量模块位于待测双折射样品的同一端，可以通过单端扫描测量双折射样品的相位延迟量分布和快轴方位角分布，同时测量光束两次通过双折射样品，测量精度提高一倍。

公开(公告)号：CN104535190A

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201410853994.1

申请日：2014-12-31

Applicant: 中国人民解放军63655部队

Inventor： 张华良 ,  谢永杰 ,  赵岩 ,  张颂 ,  龙建乾 ,  焦娇 ,  伊凯

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明角剪切型空间频率调制全偏振成像探测装置，包括沿光传输方向顺序设置的前置光学系统、角剪切型偏振调制模块、成像镜组、信号面阵探测器，和与信号面阵探测器相连接的数据采集处理模块；前置光学系统用于采集并准直目标光，消除杂散光；偏振调制系统用于将准直后的入射光调制到不同的空间频率上，使其在空间频率上相互分离；成像镜组用于将调制后的入射光聚焦到信号面阵探测器上；信号面阵探测器用于接收成像镜组的出射光，获取目标光的图像和全部偏振信息，并输出的电信号到数据采集处理模块；数据采集处理系统用于对电信号进行滤波和傅里叶变换，解调出目标的二维空间图像和包括四个Stokes矢量的全部偏振信息，并显示为伪彩色图片。