光学微型光谱仪
    293.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101263372A

    公开(公告)日:2008-09-10

    申请号:CN200680026072.7

    申请日:2006-05-17

    CPC classification number: G01J3/0256 G01J3/0208 G01J3/20

    Abstract: 一种具有多晶片结构的光谱仪(10,20,30,40,50)。该结构可以利用MEMS技术来制造。该光谱仪可以与流体分析器(110)集成。连同光发射点(17)和检测器(19)一起位于罗兰圆(15)的圆周上的诸如衍射或全息光栅的反射光栅(14)可以是光谱仪的配置。一些配置可使用外部光源,其中光可被光学传送到该圆上的发射点(17)。可以存在拉曼配置,其中光和流体分析器中的通道的样品或交互式薄膜(49)的相互作用是光谱仪的光发射点。在光谱仪的一些配置中,光栅(14,55)和/或薄膜可以是反射的或透射的。

    光收集系统
    296.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100342260C

    公开(公告)日:2007-10-10

    申请号:CN200380101112.6

    申请日:2003-10-07

    CPC classification number: G01J3/28 G01J3/0208 G01J3/024

    Abstract: 该系统收集由至少一个光源(52)发出的光并将其聚焦到至少一个光检测设备(54)上。优选地,它包括一个第一反射镜(58),其收集由光源发出的光并将其聚焦到第二反射镜(60)上,第二反射镜(60)依次将光聚焦到设备上。该系统设有一个对所有光线特别是紫外线不透明的腔体,并且在其内设有光源、光检测设备和反射镜,以及在该腔体内产生真空并用对紫外线透明的气体填充腔体的装置。

    平面被测对象的逐个像素光电测量装置

    公开(公告)号:CN1363827A

    公开(公告)日:2002-08-14

    申请号:CN01140231.8

    申请日:2001-12-06

    Inventor: 汉斯·奥特

    Abstract: 用于平面被测量对象的逐个像素光电测量的装置包括将被测对象成像在二维CCD传感器上的投影装置、设置在成像光路中的用于投射在图像传感器上的测量光的波长选择滤光的滤色片装置、处理由图像传感器产生的电信号并将其转换为相应的数字原始测量数据的信号处理装置以及用于把该原始测量数据处理成表示被测对象的各个像素颜色的图像数据的数据处理装置。此外,设置有照明装置,该照明装置包括在入射角基本上为45°±5°的条件下用至少一个主平行光束照射被测对象的一个菲涅耳透镜。包括至少一个构成为菲涅耳透镜的远程镜头的投影装置被构造为一个焦阑成像光学系统,该光学系统在基本上0°的相同观察角下并以最大为5°的相同孔径角将被测对象的每个点成像在光转换元件阵列上。数据处理装置进行大范围的校正测量。

    一种分布式光度计的测试装置及使用方法

    公开(公告)号:CN109632097A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201910122214.9

    申请日:2019-02-19

    CPC classification number: G01J3/0202 G01J3/0208

    Abstract: 本发明公开了一种分布式光度计的测试装置,包括底座,所述底座的顶部一端安装有液压缸,所述液压缸的端部安装有固定板,所述底座的顶部另一端固定连接有支撑底,所述支撑底的内部安装有轴承,所述摇摆臂的顶部安装有反射镜,所述转轴的另一端固定连接于伺服电机的输出轴上。本发明所提供的一种适用于LED灯珠的配光曲线的测试装置及方法,在被测LED灯珠和光探测器之间加一个反射镜,测量中固定LED灯珠和光探测器的位置,通过伺服电机旋转反射镜并采集不同预设角度下的发光强度,该测试方法与灯具转动式测试方法相比,能够避免灯具转动过程中由于气流、温度变化带来的测量误差,更加适合对于温度敏感的LED灯具的测量。

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