公开(公告)号：CN107064022A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201710262969.X

申请日：2017-04-20

Applicant: 陕西科技大学

Inventor： 范应娟 ,  孙立蓉 ,  张方晖 ,  张婵婵 ,  李亭亭 ,  王江南 ,  聂屈洋 ,  刘晋红

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01N21/27 ,  G01J3/28 ,  G01N2201/023 ,  G01N2201/062

Abstract: 本发明提供一种测量量子点的发光光谱随温度变化规律的装置及方法，装置包括蓝光或紫外LED照明光源，设置在蓝光或紫外LED照明光源上的空心圆柱体，设置在空心圆柱体中间的镀有量子点薄膜的透明薄片，环绕在空心圆柱体上的电阻丝，内插在电阻丝和空心圆柱体外表面之间的万用表温度探头，固定在空心圆柱体顶端的光电探头。点亮LED照明光源后利用电阻丝加热空心圆柱体内的量子点薄膜，利用光电探头采集经过LED照明光源照射量子点膜所形成的发光光源的信号，根据获得的不同温度下量子点的发光光谱等发光特性参数，获得量子点的发光光谱等随温度变化的规律。

公开(公告)号：CN106908396A

公开(公告)日：2017-06-30

申请号：CN201611198087.3

申请日：2016-12-22

Applicant: IMEC 非营利协会

Inventor： J·博瑞曼斯 ,  A·兰布雷切茨 ,  J·巴隆

IPC: G01N21/31 ,  G01J3/42 ,  G01N21/64 ,  G01N21/65 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55 ,  G01N21/59 ,  G01J3/44

CPC classification number: H04N5/332 ,  G01C3/08 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2823 ,  G01J2003/2826 ,  G06T7/90 ,  G06T2207/10016 ,  H04N5/23212 ,  H04N5/23222 ,  H04N5/23293 ,  G01N21/314 ,  G01J3/42 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/4412 ,  G01J2003/423 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55 ,  G01N21/59 ,  G01N21/64 ,  G01N21/6408 ,  G01N21/65 ,  G01N2021/3144 ,  G01N2021/3148 ,  G01N2021/3166 ,  G01N2021/3181 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/062

Abstract: 根据本发明的一方面，提供了一种用户设备，包括：相机，其被适配成获取落入该相机的视野内的景象的至少一个图像；分光计模块，其被适配成获取来自景象内的一区域的光谱信息，该区域落入该分光计模块的视野内；以及处理单元，其被适配成基于将分光计模块的视野与相机的视野进行相关的信息来确定所述至少一个图像内的与所述区域相对应的分光计模块目标区域，并将显示数据输出给用户设备的屏幕以在显示器上提供所述目标区域的指示。

公开(公告)号：CN106840396A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201611148898.2

申请日：2016-12-13

Applicant: 鸿利智汇集团股份有限公司

Inventor： 吕天刚 ,  王跃飞 ,  杜友珍 ,  杨永发

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种光谱测试调整方法和测试调整装置。测试调整方法包括(1)采集被检测的光谱并形成光谱图；(2)在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域；(3)根将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域；(4)分别计算Si和Si；(5)计算光谱图与标准光谱图在X轴上对应段的面积比值Ai＝Si，/Si；(6)计算X值，并与A值进行比较；(7)判断X值是否落入到A值范围内。测试装置为以上测试方法对应的单元。本发明能较为精确的测试光谱，并能进行光谱的调整。

公开(公告)号：CN106840392A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201510882148.7

申请日：2015-12-03

Applicant: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司

Inventor： 肖德志

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28 ,  G05D25/02

CPC classification number: G01J3/0216 ,  G01J3/28 ,  G05D25/02

Abstract: 本发明提供了一种助于光谱信号收集的装置、光谱信号系统及半导体设备。该助于光谱信号收集的装置包括透镜、筒体和可调通光件；其中，筒体，不透明且可长度可调；透镜，安装在筒体的一端；可调通光件，其上设置有开口且开口的大小可调，安装在筒体的另一端。本发明提供的助于光谱信号收集的装置，可以有效地抑制本地噪声且避免收集到的光谱信号强度过饱和，有助于收集到所需高信噪比的光谱信号，因此，光谱信号系统能够监测工艺过程中的微小变化，也就能够精确地控制工艺过程，从而可以提高半导体设备的控制精度。

公开(公告)号：CN106644073A

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201610973168.X

申请日：2016-11-07

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 孙萍 ,  黄玉 ,  张正 ,  金晨

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种消除太赫兹光谱中的水汽噪声的方法，预先设置不同湿度信息对应的水汽传递函数，当太赫兹波信号在空气中传播并透过样品时，基于太赫兹波信号与空气中的水汽相互作用的传播因子公式，利用设置空气具有的湿度信息对应的水汽传递函数，消除根据透过样品的太赫兹波信号得到的太赫兹光谱中的水汽噪声。在这里，设置不同湿度信息对应的水汽传递函数是基于数值模拟出水汽的实折射率谱和吸收系数谱得到的。因此，本发明有效消除太赫兹波信号中的水汽噪声且保证有用的样品信息无损。

公开(公告)号：CN106595862A

公开(公告)日：2017-04-26

申请号：CN201611236187.0

申请日：2016-12-28

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 孙琪真 ,  艾凡 ,  程建伟 ,  张威 ,  刘德明

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/433 ,  G01J3/42 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/42 ,  G01J3/433 ,  G01J3/4338 ,  G01J2003/425 ,  G01J2003/4332

Abstract: 本发明涉及一种采用光栅对可调FP温度和非线性补偿的光谱分析装置，该装置包括宽谱光源、光学调制模块、环形器、光栅串、温度测量模块、耦合器、可调FP滤波模块、滤波模块、控制模块和探测模块。宽谱光源的光信号经光学调制模块频率调制和光栅串波长选择后为参考光与待测光混为一路光，进入可调FP滤波模块波长扫描，后经滤波模块滤波区分参考光和待测光。通过温度测量模块查询光栅串温度后，控制模块经参考光对待测光进行温度和非线性补偿，最终输出待测光的精确光谱。与现有技术相比，系统体积小，集成度高，可实现性好，可同时去除可调FP滤波模块非线性和温度的影响；补偿过程能自动处理，实现实时动态补偿。

公开(公告)号：CN104516085B

公开(公告)日：2017-04-26

申请号：CN201310464106.2

申请日：2013-09-30

Applicant: 香港纺织及成衣研发中心有限公司

Inventor： 沈会良 ,  王魏 ,  郑芝寰 ,  忻浩忠 ,  邵思杰

IPC: G02B7/04 ,  G01N21/25

CPC classification number: H04N5/23212 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0235 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/32 ,  G01J3/51 ,  G01J2003/2826 ,  G02B7/38

Abstract: 本发明公开了一种用于多光谱成像的快速调焦方法及装置，方法包括：在多个成像通道中选定一个作为基准通道，调节步进电机的转动位置，计算步进电机所有转动位置的对应聚焦清晰度，得到基准通道聚焦清晰度随步进电机转动位置变化的第一分布曲线；对其余每个通道，选取至少3个步进电机转动位置，将所选位置的聚焦清晰度与第一分布曲线进行匹配，得到待调焦通道聚焦清晰度随步进电机转动位置变化的第二分布曲线与第一分布曲线的偏移值，根据该偏移值计算待调焦通道的调焦清晰位置；以计算得到的调焦清晰度位置为中心，以步进电机转动最小间隔进行细调焦，得到精确的调焦清晰位置。实施本发明可实现多光谱成像快速调焦，得到清晰的多光谱图像。

公开(公告)号：CN104422516B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201410454212.7

申请日：2014-09-05

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 湊浩之

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/2866

Abstract: 本发明涉及一种分光器所用的波长校准方法以及分光光度计。提供一种用于通过将来自发光强度包含预定周期的变化的标准光源的光照射到分光器的衍射光栅上并且测量该衍射光栅所反射的光的强度来进行具有衍射光栅的分光器的波长校准的方法。该方法包括以下步骤：在与包括标准光源所生成的亮线光谱光的峰值波长的范围的各波长相对应的衍射光栅的各转动位置处，在该周期内至少两次测量来自衍射光栅的反射光的强度；基于该转动位置处所获得的所有测量值来确定该转动位置处的强度值(201)；以及将强度值(201)最大的波长确定为亮线光谱光的峰值波长。

公开(公告)号：CN106338382A

公开(公告)日：2017-01-18

申请号：CN201610952506.1

申请日：2016-11-03

Applicant: 河南平原光电有限公司

Inventor： 张金涛 ,  张永奇 ,  谭瑞军 ,  李志强 ,  李帅 ,  刘文昭 ,  张晓静 ,  陈龙飞

IPC: G01M11/02 ,  G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01M11/02 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种通用多光谱分划系统，包括电源、波段信号分划标志生成系统和分划板，所述波段信号分划标志生成系统包括白光、光电波段信号分划标志生成系统、微光波段信号分划标志生成系统、红外波段信号分划标志生成系统；本发明的有益效果是：涵盖白光、光电，微光及红外等光谱范围，选用波段开关对分划的生成进行控制。操作简单，维护方便，通用性强，环境适应性好。

公开(公告)号：CN106225925A

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：CN201610648981.X

申请日：2016-08-09

Applicant: 北京博晖创新光电技术股份有限公司

Inventor： 李国栋 ,  陈凯 ,  黄鑫 ,  李瑞超 ,  郝帅 ,  杨奇

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/0205 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种分光器以及应用该分光器的光谱仪，本发明的分光器包括滤光轮以及安装在滤光轮上的1个以上的滤光片；滤光轮通过旋转利用所述1个以上的滤光片实现对入射光线的分光，从而实现对单通道或多通道的光谱仪进行分光，分光效率高，有效提高了光谱仪的分光性能。