分光测量装置及分光测量方法

    公开(公告)号:CN104568155A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201410545537.6

    申请日:2014-10-15

    Inventor: 多津田哲男

    CPC classification number: G01J3/32 G01J3/26 G01J3/2803

    Abstract: 本发明涉及分光测量装置及分光测量方法。分光测量装置(1)具备:从入射光选择性地出射规定的波长的光且能够改变出射的光的波长的波长可变干涉滤波器(5);通过曝光从波长可变干涉滤波器(5)出射的光而输出与曝光量对应的检测信号的受光元件(11);对多个波长分别获取曝光量不同的多个检测信号的检测信号获取部(23);以及在获取的多个检测信号中选择信号电平小于与受光元件(11)的饱和曝光量对应的最大信号电平的、且为最大的检测信号。

    分光光度计
    302.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102414545B

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201080018226.4

    申请日:2010-05-05

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0259 G01J3/2803

    Abstract: 公开了一种分光光度计,其包括单块半导体基底、一个或多个波长色散装置、以及一个或多个波长探测装置,其中所述单块基底(1)具有波导装置(2)和一个或多个谐振器(3-14),这些谐振器充当特定光线波长的探测器,且被布置成靠近波导装置,使得针对所述光波长可出现逐渐消失的光耦合。

    绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法

    公开(公告)号:CN104296661A

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201410617422.3

    申请日:2014-10-31

    Abstract: 绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法,属于绝对式光栅尺测量领域,为克服光照强度不均匀、绝对编码刻线质量不高以及光电二极管阵列光电响应不均匀等导致最终输出的具有绝对位置的电信号不一致问题,该方法包括上位机通过存储器给绝对式光栅尺的光电二极管阵列的一致性校正结构的增益校正电路和偏置校正电路分别输入两组初始值;将n个光电二极管在m档光源偏置电流下经过一致性校正结构后输出的电压响应曲线进行直线性拟合;选取一条作为目标直线,并将剩余其他n-1条响应直线向该目标响应直线拟合;全部直线取平均值;全部直线向该平均值移动;输出电压的响应直线的离散度满足要求为止及进行线性范围扩展,直到离散度和线性范围满足要求为止。

    能接收零阶光谱分量及一阶光谱分量的微型光谱仪

    公开(公告)号:CN102812340B

    公开(公告)日:2014-12-10

    申请号:CN201080065211.3

    申请日:2010-04-02

    Inventor: 柯正浩

    CPC classification number: G01J3/0256 G01J3/0262 G01J3/2803

    Abstract: 一种能接收零阶光谱分量(SO0)及一阶光谱分量(SO1)的微型光谱仪(1),包括:接收光学信号的输入部(10)、微型绕射光栅(20)和光感测器(30)。绕射光栅(20)具有一聚焦曲面(23)及形成在聚焦曲面(23)上的绕射图案(24),接收光学信号(SO)并将光学信号(SO)分离成多个光谱分量,该光谱分量包含零阶光谱分量(SO0)及一阶光谱分量(SO1)。光感测器(30)具有第一感测区段及第二感测区段(34),接收被微型绕射光栅(20)分离并聚焦的多个光谱分量。第一感测区段(32)接收零阶光谱分量(SO0),而第二感测区段(34)接收一阶光谱分量(SO1)。

    固体摄像装置
    305.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101981698B

    公开(公告)日:2014-11-26

    申请号:CN200980111025.6

    申请日:2009-03-24

    CPC classification number: H04N5/3692 G01J3/2803 H01L27/14825 H04N5/3535

    Abstract: 固体摄像装置(1)具备多个光电转换部(3)、多个第1传输部(5)、多个电荷存储部(7)、多个第2传输部(9)以及移位寄存器(11)。各光电转换部(3)具有:平面形状为由两条长边和两条短边形成的大致矩形的光感应区域(13)、和形成沿着从形成光感应区域(13)的平面形状的一个短边侧朝向另一个短边侧的第1方向变高的电位梯度的电位梯度形成区域(15)。各第1传输部(5)配置于形成对应的光感应区域(13)的平面形状的另一个短边侧,将从对应的光感应区域(13)取得的电荷在第1方向上传输。各电荷存储部(7)存储从对应的第1传输部(5)传输的电荷。由此,实现了图像处理不烦杂并且可以高速地读出光感应区域中产生的电荷的固体摄像装置。

    用于光谱分析的光谱仪器和方法

    公开(公告)号:CN104040308A

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201180076109.8

    申请日:2011-12-28

    CPC classification number: G01J3/45 G01B9/02091 G01J3/2803

    Abstract: 一种光谱仪器(38)包括:第一光学部件(48),所述第一光学部件(48)用于对入射到所述第一光学部件(48)上的多色光束(46)进行空间光谱分离;物镜(50),所述物镜(50)将多种不同光谱区(B1,B2,B3)的分离光束(46a,46b,46c)发送到不同的空间区域(52a,52b,52c)上;以及传感器(54),所述传感器(54)在所述分离光束(46a,46b,46c)的光路中位于所述物镜(50)的下游,所述传感器(54)具有多个光敏传感器元件(54a,54b,54c)。所述传感器元件(54a,54b,54c)以下述的方式被布置在所述分离光束46a、46b、46c的光路中,即,使得每个所述传感器元件(54a,54b,54c)记录所述光束(46)的光谱扇区(A1,A2,A3)的强度,并且所述光谱扇区(A1,A2,A3)的中值(Mk1,Mk2,Mk3)彼此等距地位于k空间中,其中(k)表示波数。

    时间和/或空间序列文件的多组分回归/多组分分析

    公开(公告)号:CN104024830A

    公开(公告)日:2014-09-03

    申请号:CN201280050878.5

    申请日:2012-10-17

    Abstract: MCR(多组分回归)估算如从红外或其他光谱学提取的纯组分时间和/或空间序列光谱,这些光谱能够与参考库中的光谱进行比较以找出最佳匹配。然后这些最佳匹配光谱各自进而可以与这些参考光谱相组合,其中也对这些组合进行筛选,以找出对估算的纯组分时间序列光谱中的任一光谱的最佳匹配。然后,这些结果最佳匹配也可以经历上述组合与比较步骤。若希望,该过程可以按此方式以不受限制的方式重复进行,直到达到一个适当的停止点,例如,当标识出希望数量的最佳匹配、当已经执行了某一预定数量的迭代、等等。如果考虑参考光谱的所有可能的组合,本方法能够用少得多的计算步骤以及更快的速度来返回最佳匹配光谱。

    具有锥状狭缝的微型光谱仪的光机模块及其狭缝结构

    公开(公告)号:CN102762966B

    公开(公告)日:2014-08-06

    申请号:CN201080064168.9

    申请日:2010-04-29

    Inventor: 柯正浩

    Abstract: 一种具有锥状狭缝(34)的微型光谱仪的光机模块及其狭缝结构(30)。其中,微型光谱仪的光机模块包含一输入部(20)以及一微型绕射光栅(40)。输入部(20)包含一狭缝结构(30),其接收一第一光学信号(S1)并输出一第二光学信号(S2)沿着一第一光路(OP1)行进。狭缝结构(30)包含一基板(32)及一狭缝(34),狭缝(34)贯穿基板(32),且狭缝(34)从基板(32)的一第一面(32A)到基板(32)的一第二面(32B)具有渐缩的尺寸。微型绕射光栅(40)设置于第一光路(OP1)上,接收第二光学信号(S2)并将第二光学信号(S2)分离成多个光谱分量(C)沿着一第二光路(OP2)行进。本发明实施例的微型光谱仪的光机模块及其狭缝结构,可以利用半导体制造工艺来大量生产,降低成本,并且可使狭缝具有平滑的表面,以免对于入射光造成反效果。

    分光传感器
    309.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103842783A

    公开(公告)日:2014-06-04

    申请号:CN201280049208.1

    申请日:2012-09-10

    Abstract: 分光传感器(1)具备:具有空腔层(21)以及经由空腔层(21)而相对的第1以及第2镜层(22,23)并且对应于入射位置选择性地使规定的波长范围的光透过的干涉滤光部(20)、被配置于第1镜层(22)侧并且使入射到干涉滤光部(20)的光透过的光透过基板(3)、被配置于第2镜层(23)侧并且检测透过了干涉滤光部(20)的光的光检测基板(4)、被配置于干涉滤光部(20)与光透过基板(3)之间的第1耦合层(11)。空腔层(21)以及第1耦合层(11)是硅氧化膜。

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