光谱芯片的工作方法
    302.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116929548A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202211031454.6

    申请日:2022-08-26

    Abstract: 本申请涉及一种光谱芯片的工作方法,所述光谱芯片的工作方法包括:获取数据库,其中,所述数据库包括至少两类特征数据;通过所述光谱芯片获取待识别对象的第一识别数据;以及,基于所述第一识别数据分别与所述至少两类特征数据之间的匹配度,确定所述光谱芯片的工作模式。所述光谱芯片的工作方法能够根据实际情况选择对应的工作模式,有选择地控制所述光谱芯片的工作区域,使得所述光谱芯片在特定应用场景中仅部分结构处于工作状态,通过这样的方式,降低所述光谱芯片的功耗,提高所述光谱芯片的工作效率。

    一种利用空位缺陷调节过渡金属硫族化合物宽光谱探测的方法

    公开(公告)号:CN116924352A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202310769296.2

    申请日:2023-06-28

    Abstract: 一种利用空位缺陷调节过渡金属硫族化合物宽光谱探测的方法,属于二维材料领域。本方法采用过渡金属氧化物作为金属源,两种不同的硫族元素作为硫源,使用化学气相沉积的方法生长出元素均匀分布的单层三元过渡金属硫族化合物。利用合金元素之间化学键的稳定性差异,通过氢气辅助退火的方式使不稳定的化学键断裂,产生的硫族元素空位缺陷均匀分布在三元过渡金属硫族化合物中。硫族元素空位缺陷在过渡金属硫族化合物的导带和价带之间引入缺陷能级,产生新的光致发光峰,拓宽了其光谱探测范围。该实验方法工艺简单,重复性好,对缺陷的种类、分布和数量能进行精确调控,适合大规模生产。

    一种基于高光谱数据升维的特征光谱提取方法

    公开(公告)号:CN116881814A

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202310838600.4

    申请日:2023-07-10

    Abstract: 本发明提供了一种基于高光谱数据升维的特征光谱提取方法,适用于任意具有高光谱反射率物体的特征光谱提取。该方法包括使用光谱仪采集被测样本和白板的高光谱辐亮度,并对其进行预处理,求出被测样本的高光谱反射率;然后,通过数学运算将被测样本的高光谱一维反射率升维得到高光谱二维矩阵,再进行特征提取得到特征向量,并将其应用于分类或回归模型的训练和验证,得到高精度分类或回归模型;最后,将特征向量映射回高光谱波长,得到相应的高精度分类或回归模型的特征光谱。与传统的降维方法通过降低光谱波长的数量相比,该方法能最大程度上挖掘出高光谱数据中的信息,提取出对应问题的特征光谱,并提高分类或回归模型的精度。

    一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法

    公开(公告)号:CN113566961B

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202110782919.0

    申请日:2021-07-12

    Abstract: 本发明公开了一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法,该固定装置包括底座,光栅压片、光挡片和改进的姿态调整机构,该改进的姿态调整机构包括:光栅第一调节安装块、光栅第二调节安装块、轴钉、螺纹副调节轴组件、弹簧组件和旋转板组件;该固定装置结构简单,组装方便,仅需完成螺纹副调节轴组件及弹簧组件的组装,即可实现中阶梯光栅姿态的三维姿态和空间高度的调整调试。该固定装置简单,组装方便,光栅的俯仰、倾斜和水平高度可分别调试,避免相互干扰,利于实现产业化。

    基于液晶可调谐滤波器的近红外高光谱成像方法及系统

    公开(公告)号:CN116862819A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310639819.1

    申请日:2023-05-29

    Inventor: 李晖 李诗琦

    Abstract: 本发明提出了基于液晶可调谐滤波器的近红外高光谱成像方法及系统,涉及计算机成像技术领域;该方法包括以下步骤:获得目标场景下的目标可见光图像;通过预先训练的网络模型,得到与所述目标可见光图像对应的多张近红外高光谱目标图像,多张所述近红外高光谱目标图像均在指定波段内;在保证图像的质量的前提下,采用低成本获取可见光‑近红外高光谱数据集的方案,利用网络模型达到生成可见光‑近红外高光谱图像,实现了将光谱重构从可见光扩展到近红外,适用于各个场景各类领域,用于需要获取此类数据集的并且没有昂贵高光谱相机的研究领域。

    一种基于超表面计算重构的中红外光谱分析系统及方法

    公开(公告)号:CN116858797A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202311127252.6

    申请日:2023-09-04

    Abstract: 本申请实施例提供一种基于超表面计算重构的中红外光谱分析系统及方法,涉及光谱分析技术领域。该中红外光谱分析系统包括超表面芯层、衬底和光电探测器阵列;超表面芯层、衬底层叠设置,且超表面芯层设置有超表面结构阵列,超表面结构阵列包括多个超表面结构,且多个超表面结构的光谱响应各不相同,超表面结构阵列中所有超表面结构的光谱响应集合为传输矩阵;超表面芯层设置于光电探测器阵列的上方,光电探测器阵列包括多个光电探测器,多个光电探测器与多个超表面结构一一对应;光电探测器用于接收待测中红外入射光经过对应的超表面结构后产生的光信号,并根据超表面结构阵列的传输矩阵和光信号进行计算重构,获得待测中红外入射光的光谱信息。

    一种光谱仪测试方法及测试系统
    309.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116858381A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310831013.2

    申请日:2023-07-07

    Abstract: 本发明涉及一种光谱仪测试方法,包括如下步骤:编写测试用例库,所述用例库包括但不限于指令验证、通讯协议解析、时序数据校验、软件开发工具包正常调用情况;接收输入的操作指令,所述操作指令包括执行操作指令、任务创建指令或自定义指令;基于所接收的操作指令创建新的任务或创建自定义指令;基于所接收的操作指令执行测试,查找得到用例库中相对应的用例,并将所得到的用例发送给光谱仪执行并接收所述光谱仪的反馈;根据所述光谱仪的反馈输出光谱仪测试结果。

    压缩编码与轴向衍射联合调制的光谱成像装置及设计方法

    公开(公告)号:CN116858378A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310785577.7

    申请日:2023-06-29

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明公开了一种压缩编码与轴向衍射联合调制的光谱成像装置及设计方法。成像装置包括沿光路方向依次设置前置光学系统、联合优化的编码掩膜、衍射透镜和面阵探测器。目标物体光线由前置光学系统汇聚通过编码掩膜的振幅调制后到达衍射透镜,衍射透镜将对入射光进行轴向色散,探测器接收到的是一个二维混叠图像,经基于深度学习的重构算法处理后得到待复原场景的空间光谱图像数据。本发明提供的光谱成像装置设计方法,采用深度学习网络优化光学元件和重建光谱图像,有效提高了光谱图像重构效率和质量;提供的光谱成像装置结构紧凑,一次曝光即可获得目标的多光谱图像,实时性强,适用于动态或瞬态目标场景。

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