一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪

    公开(公告)号:CN113267486B

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202110758756.2

    申请日:2021-07-05

    Abstract: 本发明公开了一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪,属光谱仪器技术领域。该发射光谱仪包括进样系统、激发光源、色散系统、控制与检测系统和数据处理系统,所述进样系统、激发光源、色散系统和数据处理系统依次连接,所述控制与检测系统分别与进样系统、激发光源和数据处理系统连接,其中,所述色散系统采用背靠背双光栅扫描设计,还包括双滤光片和双PMT设计,其传动系统采用整涡轮盘设计。本发明提供的宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪,通过改进色散系统,在保证光谱分辨率的前提下,拓宽仪器的波长范围,降低基体干扰,提高系统灵敏度,能够实现多领域痕量及常量元素的分析。

    一种应用于ICP光谱仪的光电倍增管的自适应工作方法

    公开(公告)号:CN117517293A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202310037464.9

    申请日:2023-01-09

    Abstract: 本发明公开了一种应用于ICP光谱仪的光电倍增管的自适应工作方法,包括:设置光电倍增管初始的工作电压和电路增益作为初始条件,并将所述初始条件作为基准;在初始条件下,采集光电倍增管得到的光电信号的强度值;设定光电信号的最大强度值、工作电压和电路增益的最小值,当采集到的光电信号的强度值大于最大强度值,基于工作电压和电路增益的最小值对工作电压和电路增益进行调整,直至满足光电信号的强度要求,得到自适应工作条件;对自适应工作条件下的光电信号的强度值进行归一化处理。本发明能够针对不同样品自动确定光电倍增管工作条件,大大降低仪器对实验员的经验要求,大大降低实验员误操作的概率。

    一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法

    公开(公告)号:CN113566961B

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202110782919.0

    申请日:2021-07-12

    Abstract: 本发明公开了一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法,该固定装置包括底座,光栅压片、光挡片和改进的姿态调整机构,该改进的姿态调整机构包括:光栅第一调节安装块、光栅第二调节安装块、轴钉、螺纹副调节轴组件、弹簧组件和旋转板组件;该固定装置结构简单,组装方便,仅需完成螺纹副调节轴组件及弹簧组件的组装,即可实现中阶梯光栅姿态的三维姿态和空间高度的调整调试。该固定装置简单,组装方便,光栅的俯仰、倾斜和水平高度可分别调试,避免相互干扰,利于实现产业化。

    一种碳硫分析仪助剂自动称重添加装置及碳硫分析仪

    公开(公告)号:CN114113651A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202111396475.3

    申请日:2021-11-23

    Abstract: 本发明公开了一种碳硫分析仪助剂自动称重添加装置及碳硫分析仪,包括机架及设置于机架上的添料机构、称重机构和控制单元,添料机构的落料口与称重机构的称重料斗相对应,使助剂能够落入称重料斗内,称重机构能够对称重料斗及助剂进行称重,称重料斗的下料口上设置有投放机构,投放机构能够将助剂投入坩埚内,添料机构、称重机构和投放机构分别与控制单元电连接。本发明由于采用称重的方式直接得到助剂的重量,助剂的平均密度对添加质量无影响,添加量更加稳定;同时,本发明的装置可集成到自动化实验室系统中,利用该装置的助剂的全自动添加功能,辅助实现碳硫元素全自动在线测量。

    一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法

    公开(公告)号:CN113566961A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202110782919.0

    申请日:2021-07-12

    Abstract: 本发明公开了一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法,该固定装置包括底座,光栅压片、光挡片和改进的姿态调整机构,该改进的姿态调整机构包括:光栅第一调节安装块、光栅第二调节安装块、轴钉、螺纹副调节轴组件、弹簧组件和旋转板组件;该固定装置结构简单,组装方便,仅需完成螺纹副调节轴组件及弹簧组件的组装,即可实现中阶梯光栅姿态的三维姿态和空间高度的调整调试。该固定装置简单,组装方便,光栅的俯仰、倾斜和水平高度可分别调试,避免相互干扰,利于实现产业化。

    一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪

    公开(公告)号:CN113267486A

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN202110758756.2

    申请日:2021-07-05

    Abstract: 本发明公开了一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪,属光谱仪器技术领域。该发射光谱仪包括进样系统、激发光源、色散系统、控制与检测系统和数据处理系统,所述进样系统、激发光源、色散系统和数据处理系统依次连接,所述控制与检测系统分别与进样系统、激发光源和数据处理系统连接,其中,所述色散系统采用背靠背双光栅扫描设计,还包括双滤光片和双PMT设计,其传动系统采用整涡轮盘设计。本发明提供的宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪,通过改进色散系统,在保证光谱分辨率的前提下,拓宽仪器的波长范围,降低基体干扰,提高系统灵敏度,能够实现多领域痕量及常量元素的分析。

    一种快速测定稀土金属中多种元素含量的方法

    公开(公告)号:CN107340276B

    公开(公告)日:2020-08-25

    申请号:CN201710546554.5

    申请日:2017-07-06

    Abstract: 本发明属于稀土金属中元素成分测定技术领域,特别涉及一种基于全谱直读火花发射光谱法快速测定稀土金属中的稀土及非稀土元素含量的方法。该方法包括:(1)样品前处理;(2)设定火花光源激发条件;(3)选择分析线对;(4)建立工作曲线;(5)曲线校正;(6)样品分析。本发明不需要使用化学试剂,固体样品直接检测,测定时间由国标方法的几小时缩短到2分钟内,测定结果与国标方法一致,精密度好,填补了稀土金属元素成分快速测试领域的空白。

    高分辨率中阶梯光栅光谱仪二维偏差谱图分析与校正方法

    公开(公告)号:CN107101723B

    公开(公告)日:2018-05-01

    申请号:CN201710442950.3

    申请日:2017-06-13

    Abstract: 本发明属于光谱技术领域,特别涉及的一种高分辨率中阶梯光栅光谱仪二维偏差谱图的分析与校正方法。该方法包括如下步骤:步骤一,获得中阶梯光栅光谱仪的二维谱图;步骤二,对获得的二维谱图进行判读;步骤三,反演棱镜参数的偏差量和/或中阶梯光栅参数的偏差量;步骤四,对中阶梯光栅光谱仪的二维偏差谱图进行校正。本发明方法能够实现二维偏差谱图的定性分析及定量计算,同时能够实现二维偏差谱图的校正工作,对二维偏差谱图进行分析并校正后,能够充分发挥中阶梯光栅光谱仪高光谱分辨率、高灵敏度、低检出限等优势,同时该校正方法仅需对装调工装做微小改变,具有操作简单、易于实现等优点。

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